專利名稱：觸控板檢測(cè)機(jī)臺(tái)的制作方法
觸控板檢測(cè)機(jī)臺(tái)技術(shù)領(lǐng)域
一種觸控板檢測(cè)機(jī)臺(tái)，尤其是供自動(dòng)化檢測(cè)待測(cè)的觸控板的觸控板檢測(cè)機(jī)臺(tái)。
技術(shù)背景
近年來觸控式電子產(chǎn)品的出現(xiàn)，改變以往人們與電子產(chǎn)品的溝通模式。使我們不再需要透過如鍵盤、滑鼠或各種實(shí)體的指令鈕輾轉(zhuǎn)傳輸使用者的指令給電子裝置。透過觸控式的溝通模式，我們與電子產(chǎn)品的溝通變得簡(jiǎn)單又直接；電子產(chǎn)品對(duì)使用者更為親近與友善。因此，深受消費(fèi)者喜愛的觸控式電子產(chǎn)品產(chǎn)生大量的市場(chǎng)需求，相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域也隨之更新。無論是「按壓」或「感應(yīng)」的電阻式或電容式觸控面板技術(shù)，到觸控板的檢測(cè)技術(shù)； 都不斷為提供消費(fèi)者便利、以及降低電子產(chǎn)品成本而努力翻新。
觸控板檢測(cè)技術(shù)從最早的人力檢測(cè)，到機(jī)臺(tái)搭配人力的半自動(dòng)檢測(cè)，進(jìn)一步更新為全自動(dòng)化的觸控板檢測(cè)機(jī)臺(tái)。此種技術(shù)變革主要就是為提升檢測(cè)效率；一方面是提升檢測(cè)速度、增加產(chǎn)出效率，另一方面是提升檢測(cè)精確度，增加產(chǎn)出良率。如中國(guó)臺(tái)灣第四5647 號(hào)發(fā)明專利 < 觸控式熒幕板測(cè)式方法及裝置 > 的「發(fā)明背景」自述該專利將面板檢測(cè)裝置自動(dòng)化的原因是「?jìng)鹘y(tǒng)制作工廠皆以人工……其效率低、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)不具客觀性……使得工廠的整體效率降低」。另外，第498161號(hào)發(fā)明專利〈觸控板的測(cè)試裝置及方法〉搭配電腦作業(yè)對(duì)檢測(cè)的精確度進(jìn)行自動(dòng)化改良，其原因是「必須采用具有效率且精確的品質(zhì)流程，方能保障觸控板產(chǎn)品的可靠度。因此，傳統(tǒng)的人工測(cè)試觸控板作業(yè)已不合時(shí)宜，而改采用專為觸控板設(shè)計(jì)的測(cè)試裝置來進(jìn)行測(cè)試作業(yè)」。這些發(fā)明都以提升效率為目標(biāo)，推動(dòng)從人工檢測(cè)提升至半自動(dòng)、全自動(dòng)化的技術(shù)更新。
然而，上述改良多偏向測(cè)試筆的操作檢驗(yàn)流程部分，對(duì)于待測(cè)物的進(jìn)出，則仍仰賴人工搬移，而人工操作不僅速度較慢，影響檢測(cè)速率，也會(huì)因?yàn)橹梅盼恢玫男┰S差異，降低檢測(cè)良率，使得檢測(cè)過程無論是速度或精密度都無謂地低落，無法符合產(chǎn)業(yè)需求。
另如圖1所示，也有業(yè)者將檢測(cè)機(jī)臺(tái)1設(shè)計(jì)為具有第一平臺(tái)11與第二平臺(tái)12 ；當(dāng)?shù)谝黄脚_(tái)11連接電腦13進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，操作人員可用人力將待測(cè)的面板放入第二平臺(tái)12上的待測(cè)位置；當(dāng)?shù)谝黄脚_(tái)11檢測(cè)完畢，測(cè)試臂可被平移至第二平臺(tái)12進(jìn)行檢測(cè)；再以人力將第一平臺(tái)11上的完測(cè)面板移開，重新將待測(cè)面板放入，等第二平臺(tái)12檢測(cè)完畢，再將測(cè)試臂移回第一平臺(tái)，人力取出第二平臺(tái)12的完測(cè)面板。
乍看此種方法，似乎提升檢測(cè)速率，讓檢測(cè)裝置持續(xù)進(jìn)行檢測(cè)而無須停機(jī)等待；然而，一方面人力入料的偏差問題并沒有獲得解決；另方面檢測(cè)用的機(jī)械臂除Z軸方向的升降之外，還需要在第一平臺(tái)與第二平臺(tái)間往復(fù)移動(dòng)，在多軸向的來回震動(dòng)下，精度將逐漸下降；換句話說，入料與出料的速度與精度并無實(shí)質(zhì)提升，而檢測(cè)的精度卻會(huì)逐漸下降。發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于，提供一種觸控板檢測(cè)機(jī)臺(tái)；其能自動(dòng)化入/出料，增加檢測(cè)速度，提升檢測(cè)機(jī)臺(tái)的產(chǎn)出效率；能精準(zhǔn)入/出料，增高檢測(cè)的精準(zhǔn)度，提升檢測(cè)良率；能藉由旋轉(zhuǎn)方式移動(dòng)待測(cè)與完測(cè)觸控板，藉以減小機(jī)臺(tái)所占整體空間的觸控板檢測(cè)機(jī)臺(tái)。
為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明公開了一種觸控板檢測(cè)機(jī)臺(tái)，用以供檢測(cè)待測(cè)的觸控板， 其特征在于該機(jī)臺(tái)包含
一個(gè)包括一個(gè)供置放待測(cè)的上述觸控板的入料區(qū)、一個(gè)供置放完測(cè)的上述觸控板的出料區(qū)、及至少一個(gè)測(cè)試區(qū)的檢測(cè)基座；
一組旋轉(zhuǎn)承載裝置，包括
一個(gè)設(shè)置于上述檢測(cè)基座上、并可相對(duì)上述檢測(cè)基座旋轉(zhuǎn)的公轉(zhuǎn)部件；
多個(gè)受上述公轉(zhuǎn)部件驅(qū)動(dòng)、并可在一個(gè)對(duì)應(yīng)上述測(cè)試區(qū)的測(cè)試位置及至少一個(gè)入 /出料位置間相對(duì)上述公轉(zhuǎn)部旋轉(zhuǎn)移動(dòng)的自轉(zhuǎn)部件，前述各自轉(zhuǎn)部件分別具有至少一個(gè)供承載上述觸控板的承載部；及
一個(gè)在上述入料區(qū)/承載部、及上述承載部/出料區(qū)間搬移上述待測(cè)/完測(cè)的觸控板的移載裝置。
其中，上述觸控板分別包括一個(gè)具有一個(gè)接觸面及一個(gè)相反于該接觸面的背面的觸控板本體、及一個(gè)訊號(hào)連接該觸控板本體的連接接口，且上述測(cè)試區(qū)更分別包括
一個(gè)供相對(duì)上述承載部移動(dòng)的檢測(cè)臂；
一個(gè)設(shè)置于上述檢測(cè)臂、供訊號(hào)連接上述待測(cè)觸控板的連接接口、以輸出測(cè)試訊號(hào)至觸控板及/或接收觸控板受測(cè)時(shí)的響應(yīng)訊號(hào)的探針。
其中，更包含一個(gè)供驅(qū)動(dòng)上述旋轉(zhuǎn)承載裝置、移載裝置、并供輸上述測(cè)試訊號(hào)至上述至少一個(gè)測(cè)試區(qū)中的探針及/或接收由上述至少一個(gè)測(cè)試區(qū)中的探針?biāo)鶄鱽砩鲜鲰憫?yīng)訊號(hào)的控制裝置。
其中，上述公轉(zhuǎn)部件包括一組內(nèi)齒盤及/或一個(gè)位于該內(nèi)齒盤中的太陽齒輪；以及上述自轉(zhuǎn)部件包括多個(gè)受上述內(nèi)齒盤與太陽齒輪夾制驅(qū)動(dòng)的行星齒輪，且前述各行星齒輪上形成有上述承載部。
其中，上述各承載部分別形成有一個(gè)容置凹槽，且前述各容置凹槽分別形成有階級(jí)狀固定側(cè)壁。
其中，上述公轉(zhuǎn)部件包括至少一個(gè)驅(qū)動(dòng)馬達(dá)、一組受前述驅(qū)動(dòng)馬達(dá)帶動(dòng)的塔輪、及多個(gè)分別受前述塔輪帶動(dòng)而驅(qū)動(dòng)上述各自轉(zhuǎn)部件的皮帶。
其中，該移載裝置包括一組供在上述入料區(qū)/承載部間搬移上述待測(cè)觸控板的入料機(jī)械臂、及一組供在上述承載部/出料區(qū)間搬移上述完測(cè)觸控板的出料機(jī)械臂。
其中，上述入/出料機(jī)械臂分別包括一組真空吸嘴。
其中，更包含一組擷取上述待測(cè)觸控板光學(xué)影像資料的光學(xué)監(jiān)測(cè)裝置。
通過本發(fā)明的旋轉(zhuǎn)承載裝置的設(shè)計(jì)，能一舉解決習(xí)知技術(shù)的兩個(gè)問題；一方面以自動(dòng)化入料與出料，有效提升移載速率與產(chǎn)出效率；并且藉由自動(dòng)化機(jī)械精準(zhǔn)地入料與出料，讓檢測(cè)的精準(zhǔn)度與可信度提升，讓產(chǎn)出良率獲得提升；尤其藉由旋轉(zhuǎn)方式入料與出料， 使得所占用空間無須過長(zhǎng)，也提供使用者更精簡(jiǎn)的場(chǎng)地需求，一舉解決上述所有問題。


圖1 為習(xí)知技術(shù)的指定代表圖2 為本發(fā)明第一較佳實(shí)施例的觸控板檢測(cè)機(jī)臺(tái)的平面
示意示意示意圖3 為本發(fā)明第一較佳實(shí)施例的測(cè)試區(qū)、旋轉(zhuǎn)承載裝置與移載裝置的連結(jié)關(guān)系圖4 為本發(fā)明第一較佳實(shí)施例的測(cè)試區(qū)的立體示意圖；圖5 為本發(fā)明第一較佳實(shí)施例的旋轉(zhuǎn)承載裝置的俯視示意圖；圖6 為本發(fā)明第一較佳實(shí)施例的公轉(zhuǎn)部件與自轉(zhuǎn)部件的運(yùn)作示意圖；圖7 為本發(fā)明第一較佳實(shí)施例的行星齒輪示意圖；圖8 為本發(fā)明第一較佳實(shí)施例行星齒輪的承載部剖面圖；圖9 為本發(fā)明第一較佳實(shí)施例的測(cè)試區(qū)、旋轉(zhuǎn)承載裝置與移載裝置的運(yùn)作方式圖10 為本發(fā)明第一較佳實(shí)施例的測(cè)試區(qū)、旋轉(zhuǎn)承載裝置與移載裝置的運(yùn)作方式圖11 為本發(fā)明第一較佳實(shí)施例的測(cè)試區(qū)、旋轉(zhuǎn)承載裝置與移載裝置的運(yùn)作方式圖12 為本發(fā)明第二較佳實(shí)施例的塔輪結(jié)構(gòu)的旋轉(zhuǎn)承載裝置運(yùn)作示意圖； 圖13 為本發(fā)明第三較佳實(shí)施例的光學(xué)監(jiān)測(cè)裝置的運(yùn)作示意圖。
具體實(shí)施方式
圖2所示，為本發(fā)明的觸控板檢測(cè)機(jī)臺(tái)平面圖，主要結(jié)構(gòu)都設(shè)置在一個(gè)檢測(cè)基座5 上方。在圖式左上方、檢測(cè)基座5的左側(cè)形成有一個(gè)入料區(qū)2，本例中，在入料區(qū)2上置放有一個(gè)待測(cè)觸控板的承載盤20，承載盤20上形成有多個(gè)置放槽，每一個(gè)置放槽可以容納一片待測(cè)的觸控板。當(dāng)然，如熟悉本技術(shù)領(lǐng)域者所能輕易理解，無論此處的入料區(qū)容許多個(gè)承載盤堆迭放置或平行放置，或者上述承載盤內(nèi)形成有回字型臺(tái)階等，都無礙于本案的實(shí)施。
檢測(cè)基座5相對(duì)于入料區(qū)2的相反側(cè)則形成有一個(gè)出料區(qū)3 ；在本例中，出料區(qū)3 置放有例如四個(gè)承載盤30，分別供容納例如通過檢測(cè)的良品、需重新檢測(cè)的待測(cè)品、未通過檢測(cè)的報(bào)廢品，以及一個(gè)作為后備的空盤。同樣地，此處所有承載盤也可以被堆迭置放或平行置放。其中，熟知本領(lǐng)域技術(shù)者可知承載盤30可形成有回字型凹槽，仍屬本發(fā)明的應(yīng)用領(lǐng)域。
檢測(cè)基座5在入料區(qū)2與出料區(qū)3之間，設(shè)置有一個(gè)測(cè)試區(qū)51及一組旋轉(zhuǎn)承載裝置7，并搭配一組移載裝置8共同作業(yè)。在本例中，移載裝置8更進(jìn)一步包括一組入料機(jī)械臂82、及一組出料機(jī)械臂84。請(qǐng)一并參照?qǐng)D3，開始測(cè)試時(shí)，先由控制裝置6指令入料機(jī)械臂82，以例如吸取的方式，將入料區(qū)2處的待測(cè)觸控板搬移至旋轉(zhuǎn)承載裝置7上。由控制裝置6指令旋轉(zhuǎn)承載裝置7把待測(cè)觸控板轉(zhuǎn)移至測(cè)試區(qū)51，待檢測(cè)完畢，再由控制裝置6接收來自測(cè)試區(qū)51的測(cè)試結(jié)果，并依照測(cè)試結(jié)果，指令出料機(jī)械臂84把完測(cè)的觸控板從旋轉(zhuǎn)承載裝置7移出，放到出料區(qū)3對(duì)應(yīng)的承載盤上，就此完成檢測(cè)與分類的動(dòng)作。
圖4為測(cè)試區(qū)51的立體示意圖，虛線部分表示測(cè)試區(qū)51。觸控板具有一觸控面、 一個(gè)相對(duì)觸控面的觸控板本體，觸控板本體上突出形成有連接接口。當(dāng)待測(cè)觸控板被旋傳承載裝置7轉(zhuǎn)移至測(cè)試區(qū)51時(shí)，檢測(cè)臂511會(huì)受控制裝置6指令下移，讓安裝于檢測(cè)臂511 上的探針512電氣接觸到待測(cè)觸控板的連接接口。藉由探針512與連接接口間的電氣導(dǎo)接， 測(cè)試訊號(hào)被輸入觸控板，確認(rèn)跨越各晶胞處的電極狀況正常。而檢測(cè)流程結(jié)束后，測(cè)試結(jié)果的訊息將傳輸至控制裝置6，作為后續(xù)分類的依據(jù)。
圖5為旋轉(zhuǎn)承載裝置7主要結(jié)構(gòu)的俯視示意圖，旋轉(zhuǎn)承載裝置7的圓盤狀設(shè)計(jì)使得本案在輸送觸控板時(shí)，所需占據(jù)的空間減小，搬移輸送距離縮減也同時(shí)能提升傳輸?shù)男?。本案的旋轉(zhuǎn)承載裝置7包括一個(gè)公轉(zhuǎn)部件71與多個(gè)自轉(zhuǎn)部件72，在本例中，自轉(zhuǎn)部件是以三個(gè)為例，但熟悉本領(lǐng)域的人士可以理解，兩個(gè)、四個(gè)或更多個(gè)自轉(zhuǎn)部件都是可行的。
請(qǐng)一并參考圖6，太陽齒輪712或內(nèi)齒盤711擇其一為公轉(zhuǎn)部件；相對(duì)的另一個(gè)部件則固定不動(dòng)，如位于中心的太陽齒輪712 (或內(nèi)齒盤711)被固定于檢測(cè)基座5時(shí)，最外圍的內(nèi)齒盤711(或太陽齒輪712)就作公轉(zhuǎn)部件、繞中心軸700進(jìn)行旋轉(zhuǎn)；運(yùn)作原理是內(nèi)齒盤 711(或太陽齒輪712)順時(shí)針旋轉(zhuǎn)、太陽齒輪712固定不動(dòng)，則夾制于被內(nèi)齒盤711與太陽齒輪712之間的三個(gè)行星齒輪721將被迫一方面繞中心軸700進(jìn)行公轉(zhuǎn)，另方面本身也產(chǎn)生順時(shí)針方向的自轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)，藉此，三個(gè)行星齒輪721分別帶動(dòng)三個(gè)承載部，從對(duì)應(yīng)入料臂的位置移動(dòng)至測(cè)試區(qū)，再由測(cè)試區(qū)移動(dòng)至對(duì)應(yīng)出料臂，最后返回對(duì)應(yīng)入料臂，在三個(gè)位置間同步公轉(zhuǎn)與自轉(zhuǎn)。
其中公轉(zhuǎn)部件71是用來驅(qū)動(dòng)前述的自轉(zhuǎn)部件72，讓自轉(zhuǎn)部件72可以一方面在上述位置間轉(zhuǎn)動(dòng)，另方面，自轉(zhuǎn)部件72也被驅(qū)動(dòng)自體旋轉(zhuǎn)，因此藉由齒輪齒數(shù)的多寡比例設(shè)計(jì)，讓移載裝置在分別對(duì)應(yīng)入料區(qū)、測(cè)試區(qū)、及出料區(qū)各不同位置時(shí)，以方便各機(jī)械臂入料、 測(cè)試及出料的角度暫停，讓各機(jī)械臂的動(dòng)作趨于單一且簡(jiǎn)便。
各行星齒輪721上分別形成有一承載部，該承載部上至少形成有一容置凹槽 7211，而承載部在本例中是以多個(gè)容置凹槽7211呈現(xiàn)，每一個(gè)容置凹槽7211向上形成有一個(gè)開口 7212，供置入與取出觸控板，請(qǐng)一并參考圖7及圖8所示，每一容置凹槽7211可為固定尺寸/或者該兩側(cè)壁分別形成有多個(gè)階級(jí)狀固定側(cè)壁7213，供不同尺寸的待測(cè)觸控板安置于此，以防滑動(dòng)、掉落等情形發(fā)生。當(dāng)然，熟知本技術(shù)領(lǐng)域者可輕易推知，上述多個(gè)階級(jí)狀固定側(cè)壁7213能提供的待測(cè)觸控板定位、定向功能，可以搭配一真空吸嘴將待測(cè)觸控板吸附于承載部上來增強(qiáng)定位功能，或者由同步夾爪或單側(cè)靠邊來進(jìn)一步提供定位校正的功能。
在本例中，移載裝置8如圖9所示，包含一個(gè)將待測(cè)觸控板放入旋轉(zhuǎn)承載裝置7 的入料機(jī)械臂82，以及一個(gè)將已測(cè)觸控板從旋轉(zhuǎn)承載裝置7移至出料區(qū)置放的出料機(jī)械臂 84。其中入料機(jī)械臂82與出料機(jī)械臂84各具有吸著檢測(cè)觸控板的真空吸嘴821與真空吸嘴 841。
測(cè)試區(qū)、旋轉(zhuǎn)承載裝置與移載裝置三個(gè)部件會(huì)同時(shí)進(jìn)行作業(yè)，其具體的運(yùn)作方式介紹如下。請(qǐng)參考圖10，當(dāng)測(cè)試區(qū)51正在處理承載部A的待測(cè)觸控板的檢測(cè)時(shí)；出料機(jī)械臂84正在取出承載部B的已測(cè)觸控板，并移置出料區(qū)3的承載盤30 ；同時(shí)入料機(jī)械臂82正在把入料區(qū)2的待測(cè)觸控板從承載盤20移置承載部C。當(dāng)上述動(dòng)作完成后，如圖11旋轉(zhuǎn)承載裝置7就會(huì)向順時(shí)針移轉(zhuǎn)，讓承載部移至下一個(gè)對(duì)應(yīng)位置。圖11中的出料機(jī)械臂84正在取出承載部A的已測(cè)觸控板，并置放于出料區(qū)3的承載盤30 ；前一步驟中空出的承載部B 此時(shí)位移至入料區(qū)2，由入料機(jī)械臂82置入待測(cè)觸控板；測(cè)試區(qū)51則正在檢測(cè)新置入承載部C的待測(cè)觸控板。透過循環(huán)步驟，三個(gè)承載部分別搭配測(cè)試區(qū)51、旋承載轉(zhuǎn)裝置7與移載裝置8，可達(dá)到出入料、檢測(cè)的自動(dòng)化，提升產(chǎn)出的效率與檢測(cè)的良率。比較過往使用人工出入料的檢測(cè)機(jī)臺(tái)，本案能提升50%左右的檢測(cè)速度；由1200片/小時(shí)，提升為1500片/小時(shí)的高檢測(cè)產(chǎn)出。
本發(fā)明第二較佳實(shí)施例改動(dòng)上述的旋轉(zhuǎn)承載裝置，其中旋轉(zhuǎn)承載裝置的轉(zhuǎn)動(dòng)樞機(jī)不是依靠齒輪，而是改由一塔輪結(jié)構(gòu)驅(qū)動(dòng)。圖12所示的主要部件包括公轉(zhuǎn)部件71、自轉(zhuǎn)部件72、驅(qū)動(dòng)馬達(dá)713、塔輪714與皮帶715。圖示中間的中心軸即為公轉(zhuǎn)部件71，其相互的連結(jié)關(guān)系為最底部的驅(qū)動(dòng)馬達(dá)713會(huì)轉(zhuǎn)動(dòng)公轉(zhuǎn)部件71，公轉(zhuǎn)部件71上安裝有塔輪714， 塔輪714又連接數(shù)條皮帶715，皮帶715則接續(xù)自轉(zhuǎn)部件72。因此，當(dāng)馬達(dá)713轉(zhuǎn)動(dòng)公轉(zhuǎn)部件71時(shí)會(huì)連帶轉(zhuǎn)動(dòng)塔輪714，塔輪714又會(huì)帶動(dòng)皮帶715進(jìn)一步驅(qū)動(dòng)自轉(zhuǎn)部件72，使上述自轉(zhuǎn)部件72用快于公轉(zhuǎn)部件71的轉(zhuǎn)速進(jìn)行自轉(zhuǎn)與公轉(zhuǎn)。
本發(fā)明第三較佳實(shí)施例是將檢測(cè)機(jī)臺(tái)安裝上光學(xué)監(jiān)測(cè)裝置，光學(xué)監(jiān)測(cè)裝置4設(shè)置于圖13所示的檢測(cè)機(jī)臺(tái)上方，該位置可以將入料、檢測(cè)到出料的流程盡覽無遺，能為光學(xué)監(jiān)測(cè)裝置4所擷取。這一個(gè)光學(xué)監(jiān)測(cè)裝置4例釋為內(nèi)含CCD晶體的攝像機(jī)器；目的在確認(rèn)檢測(cè)流程處于進(jìn)行狀態(tài)，并確保各個(gè)檢查流程正常運(yùn)作。
惟以上所述者，僅本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，當(dāng)不能以此限定本發(fā)明實(shí)施的范圍， 即大凡依本發(fā)明申請(qǐng)專利范圍及發(fā)明說明書內(nèi)容所作簡(jiǎn)單的等效變化與修飾，皆仍屬本發(fā)明專利涵蓋的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種觸控板檢測(cè)機(jī)臺(tái)，用以供檢測(cè)待測(cè)的觸控板，其特征在于，該機(jī)臺(tái)包含一個(gè)包括一個(gè)供置放待測(cè)的上述觸控板的入料區(qū)、一個(gè)供置放完測(cè)的上述觸控板的出料區(qū)、及至少一個(gè)測(cè)試區(qū)的檢測(cè)基座；一組旋轉(zhuǎn)承載裝置，包括一個(gè)設(shè)置于上述檢測(cè)基座上、并可相對(duì)上述檢測(cè)基座旋轉(zhuǎn)的公轉(zhuǎn)部件；多個(gè)受上述公轉(zhuǎn)部件驅(qū)動(dòng)、并可在一個(gè)對(duì)應(yīng)上述測(cè)試區(qū)的測(cè)試位置及至少一個(gè)入/出料位置間相對(duì)上述公轉(zhuǎn)部旋轉(zhuǎn)移動(dòng)的自轉(zhuǎn)部件，前述各自轉(zhuǎn)部件分別具有至少一個(gè)供承載上述觸控板的承載部；及一個(gè)在上述入料區(qū)/承載部、及上述承載部/出料區(qū)間搬移上述待測(cè)/完測(cè)的觸控板的移載裝置。
2.如權(quán)利要求1的觸控板檢測(cè)機(jī)臺(tái)，其特征在于，上述觸控板分別包括一個(gè)具有一個(gè)接觸面及一個(gè)相反于該接觸面的背面的觸控板本體、及一個(gè)訊號(hào)連接該觸控板本體的連接接口，且上述測(cè)試區(qū)更分別包括一個(gè)供相對(duì)上述承載部移動(dòng)的檢測(cè)臂；一個(gè)設(shè)置于上述檢測(cè)臂、供訊號(hào)連接上述待測(cè)觸控板的連接接口、以輸出測(cè)試訊號(hào)至觸控板及/或接收觸控板受測(cè)時(shí)的響應(yīng)訊號(hào)的探針。
3.如權(quán)利要求2的觸控板檢測(cè)機(jī)臺(tái)，其特征在于，更包含一個(gè)供驅(qū)動(dòng)上述旋轉(zhuǎn)承載裝置、移載裝置、并供輸上述測(cè)試訊號(hào)至上述至少一個(gè)測(cè)試區(qū)中的探針及/或接收由上述至少一個(gè)測(cè)試區(qū)中的探針?biāo)鶄鱽砩鲜鲰憫?yīng)訊號(hào)的控制裝置。
4.如權(quán)利要求1、2、或3的觸控板檢測(cè)機(jī)臺(tái)，其特征在于，上述公轉(zhuǎn)部件包括一組內(nèi)齒盤及/或一個(gè)位于該內(nèi)齒盤中的太陽齒輪；以及上述自轉(zhuǎn)部件包括多個(gè)受上述內(nèi)齒盤與太陽齒輪夾制驅(qū)動(dòng)的行星齒輪，且前述各行星齒輪上形成有上述承載部。
5.如權(quán)利要求4的觸控板檢測(cè)機(jī)臺(tái)，其特征在于，上述各承載部分別形成有一個(gè)容置凹槽，且前述各容置凹槽分別形成有階級(jí)狀固定側(cè)壁。
6.如權(quán)利要求1、2、或3的觸控板檢測(cè)機(jī)臺(tái)，其特征在于，上述公轉(zhuǎn)部件包括至少一個(gè)驅(qū)動(dòng)馬達(dá)、一組受前述驅(qū)動(dòng)馬達(dá)帶動(dòng)的塔輪、及多個(gè)分別受前述塔輪帶動(dòng)而驅(qū)動(dòng)上述各自轉(zhuǎn)部件的皮帶。
7.如權(quán)利要求1、2、或3的觸控板檢測(cè)機(jī)臺(tái)，其特征在于，該移載裝置包括一組供在上述入料區(qū)/承載部間搬移上述待測(cè)觸控板的入料機(jī)械臂、及一組供在上述承載部/出料區(qū)間搬移上述完測(cè)觸控板的出料機(jī)械臂。
8.如權(quán)利要求7的觸控板檢測(cè)機(jī)臺(tái)，其特征在于，上述入/出料機(jī)械臂分別包括一組真空吸嘴。
9.如權(quán)利要求1、2、或3的觸控板檢測(cè)機(jī)臺(tái)，其特征在于，更包含一組擷取上述待測(cè)觸控板光學(xué)影像資料的光學(xué)監(jiān)測(cè)裝置。
全文摘要
一種供檢測(cè)待測(cè)觸控板的觸控板檢測(cè)機(jī)臺(tái)，該機(jī)臺(tái)包含一個(gè)檢測(cè)基座、一個(gè)移載裝置及一組旋轉(zhuǎn)承載裝置?；ü┲梅派鲜龃郎y(cè)觸控板的入料區(qū)、供置放完測(cè)的上述觸控板的出料區(qū)、及至少一個(gè)測(cè)試區(qū)。移載裝置則是在上述入料區(qū)/承載部、及上述承載部/出料區(qū)間搬移上述待測(cè)/完測(cè)的觸控板。旋轉(zhuǎn)承載裝置則包括一個(gè)設(shè)置于上述檢測(cè)基座上、并可相對(duì)上述檢測(cè)基座旋轉(zhuǎn)的公轉(zhuǎn)部件；及多個(gè)受上述公轉(zhuǎn)部件驅(qū)動(dòng)、并可在一個(gè)對(duì)應(yīng)上述測(cè)試區(qū)的測(cè)試位置及至少一個(gè)入/出料位置間相對(duì)上述公轉(zhuǎn)部件旋轉(zhuǎn)移動(dòng)的自轉(zhuǎn)部件，前述各自轉(zhuǎn)部件分別具有至少一個(gè)供承載上述觸控板的承載部。
文檔編號(hào)G01R31/00GK102520268SQ20111036611
公開日2012年6月27日 申請(qǐng)日期2011年11月18日 優(yōu)先權(quán)日2011年11月18日
發(fā)明者陳建名 申請(qǐng)人:致茂電子(蘇州)有限公司