專利名稱：分析裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明的實施方式涉及分析裝置。
背景技術(shù)：
作為分析被檢試樣的分析裝置，有各種各樣的裝置。例如，自動分析裝置是一種在反應管內(nèi)分注人的血液或尿等被檢試樣和試劑，攪拌混和后，在一定溫度下使其反應，通過測量該反應產(chǎn)生的變化，來測量被檢試樣中的被測量物質(zhì)或者酶的濃度/活性的裝置。作為這種自動分析裝置中應用的測量方法，有比色測量和比濁測量。比色測量是通過將來自光源的光(從近紫外波段到近紅外波段為止的波長的光) 向反應管內(nèi)的混合液(混合有被檢試樣和試劑的反應液)照射，對經(jīng)由混合液所得到的光分光后，用光檢測器進行檢測，來檢測被反應液吸收的特定波長成分的變化(吸光度)的方法。此外，比濁測量一般是向含有膠乳粒子的試劑與被檢試樣攪拌混和后的混合液照射來自光源的光，然后，通過對經(jīng)由該混合液所得到的光分光后，用光檢測器進行檢測，來檢測伴隨著膠乳粒子凝集作用的混合液濁度(透射度)的方法。

發(fā)明內(nèi)容
在此，在比濁測量的情況下，混合液內(nèi)存在散射體。從而，在利用使用了透鏡的光學系統(tǒng)進行比濁測量的情況下，會產(chǎn)生由散射體導致的多次散射的問題。即，由于在檢測光中混入了多次散射所產(chǎn)生的光，因此對檢測的精度、準確度帶來壞影響。此外，象透鏡這樣的光學元件，根據(jù)光的波長而折射率不同。從而，在利用使用了透鏡的光學系統(tǒng)進行比色測量或比濁測量的情況下，會產(chǎn)生因為色差而在期望的成像位置上按照每個波長而像不同等問題。在這樣地利用使用了透鏡的光學系統(tǒng)進行比色測量或比濁測量的情況下，存在妨礙測量的主要因素。因而，在實施方式中，為了解決上述問題，對在使用了透鏡的光學系統(tǒng)中使比濁測量的測量性能提高的結(jié)構(gòu)進行說明。實施方式中記載的分析裝置具有對反應管內(nèi)的混合液照射來自光源的光的照射光學部。此外，檢測光學部對透射了混合液后的光進行檢測。此外，照射光學部在前側(cè)焦點位置上配置光源，具有會聚來自光源的光的第一光學元件。此外，第二光學元件將通過了第一光學元件后的光引導到反應管。此外，在第一光學元件的后側(cè)設(shè)置入射數(shù)值孔徑調(diào)整部件，對使來自光源的光入射到反應管時的數(shù)值孔徑進行調(diào)整。
根據(jù)實施方式記載的分析裝置，通過調(diào)整入射數(shù)值孔徑，能夠抑制比濁測量中的散射光的影響。從而能夠使比濁測量的測量性能提高。


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圖構(gòu)的框圖。
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I是第一實施方式和第二實施方式涉及的自動分析裝置的外觀圖。
2是示出第一實施方式和第二實施方式涉及的自動分析裝置的測光單元的結(jié)
3是示出第一實施方式涉及的照射光學部的結(jié)構(gòu)的框圖。
4是示出第一實施方式涉及的檢測光學部的結(jié)構(gòu)的框圖。
5是示出第一實施方式涉及的測光單元的光學系統(tǒng)的圖。
6是示出第一實施方式涉及的效果的圖。
7是示出第一實施方式涉及的效果的圖。
8是示出第一實施方式的變形例涉及的效果的圖。
9是示出第二實施方式涉及的照射光學部的結(jié)構(gòu)的框圖。
10是示出第二實施方式涉及的測光單元的光學系統(tǒng)的圖。
具體實施例方式(裝置結(jié)構(gòu))首先，使用圖1，關(guān)于第一和第二實施方式中通用的自動分析裝置進行說明。再有， 實施方式是關(guān)于自動分析裝置的結(jié)構(gòu)，但是不限于此。也可以將本實施方式的結(jié)構(gòu)適用于各種分光分析裝置。自動分析裝置具有試劑瓶I、試劑架2a 2b、試劑庫3a 3b、反應管4、反應盤5、被檢試樣容器6、盤采樣器7、分注臂8a Sb、采樣臂9、攪拌單元10、測光單元11和清洗單元 12。試劑瓶I是裝有與被檢試樣的各種成分進行反應的試劑的容器。將試劑架2a以收納了多個試劑瓶I的狀態(tài)設(shè)置在試劑庫3a中。同樣，將試劑架2b以收納了多個試劑瓶 I的狀態(tài)設(shè)置在試劑庫3b中。反應管4是在使被檢試樣與試劑反應時所使用的容器。在反應盤5的圓周上配置多個反應管4。被檢試樣容器6是裝有被檢試樣的容器。在盤米樣器7上配置多個被檢試樣容器 6。利用分注臂8a或分注臂Sb，將試劑瓶I內(nèi)的試劑分注到反應管4內(nèi)。此外，還利用采樣臂9，將被檢試樣容器6內(nèi)的被檢試樣分注到反應管4內(nèi)。分注有被檢試樣和試劑的反應管4，通過反應盤5的轉(zhuǎn)動而被移動到攪拌單元10 的位置。攪拌單元10是對已裝入了被檢試樣和試劑的狀態(tài)下的反應管4進行攪拌，以使被檢試樣和試劑相混合的單元。將攪拌后的反應管4移動到測光單元11的位置。測光單元11是對反應管4照射光，并通過測量被檢試樣和試劑的混合液的吸光度變化等來進行被檢試樣的成分分析的單
清洗單元12是在將已完成成分分析的反應管4內(nèi)的混合液廢棄之后，對反應管4 內(nèi)進行清洗的單元。(測光單元11的結(jié)構(gòu))下面，使用圖2，關(guān)于第一和第二實施方式中通用的測光單元11的結(jié)構(gòu)進行說明。測光單元11具有光源20、照射光學部21、檢測光學部22、分光部23和檢測部24。 再有，在實施方式中，相對于照射光學部21 (或者檢測光學部22)的光程上所配置的光學元件等(后述)，有時將光源20側(cè)稱為“前側(cè)”，將檢測部24側(cè)稱為“后側(cè)”。光源20具有產(chǎn)生經(jīng)由照射光學部21照射向反應管4的光的功能。在本實施方式中，光源20是白色光源，在測量中使用從近紫外區(qū)域(340nm)至近紅外區(qū)域(850nm)之間的光。照射光學部21是用于將光源20中產(chǎn)生的光引導到反應管4的光學系統(tǒng)。此外， 檢測光學部22是用于將透射反應管4后的光引導到分光部23的光學系統(tǒng)。關(guān)于照射光學部21和檢測光學部22以后詳細敘述。分光部23具有將檢測光學部22所引導的光按每個波長進行分光的功能。分光部 23包含例如衍射光柵這樣的分光光學元件。檢測部24具有對分光部23分光后的光的強度進行檢測的功能。檢測部24包含例如PDA (Photodiode Array :光電二極管陣列)這樣的光檢測器。(第一實施方式)使用圖3至圖7，關(guān)于第一實施方式涉及的自動分析裝置進行詳細敘述。如圖3所示，第一實施方式中的測光單元11的照射光學部21具有透鏡211 (第一光學元件)、狹縫212 (第一狹縫)、濾光器213、平面鏡214、狹縫215 (第二狹縫)和凹面鏡 216 (第二光學兀件)。透鏡211配置在光源20的后側(cè)，是用于會聚來自光源20的光的光學元件。透鏡 211包括凸透鏡等光學透鏡。狹縫212配置在透鏡211的后側(cè)，是用于限制來自透鏡211的光的光通量(光量調(diào)整)的光闌。狹縫212可以是透射型，也可以是反射型。此外，也可以取代狹縫212而配置凹面鏡或平面鏡，用它的反射有效直徑調(diào)整光通量。在本實施方式中，有時包括凹面鏡或平面鏡在內(nèi)稱為“第一狹縫”。在此，在本實施方式中，在透鏡211的前側(cè)焦點位置配置光源20，在透鏡211的后側(cè)焦點位置配置狹縫212。從而，來自光源20的光利用透鏡211變成與光源20的光軸 01(參照圖5)平行的光，僅該光的一部分會通過狹縫212。即，通過限制來自光源20的光中的一部分光，來對入射到反應管4中的光束點(后述)的大小或光量進行調(diào)整。濾光器213配置在狹縫212的后側(cè)，是吸收通過了狹縫212后的光的熱成分的紅外線截止濾光器。再有，濾光器213的配置不限于狹縫212的后側(cè)。例如也可以設(shè)置在光源20和透鏡211之間。平面鏡214配置在濾光器213的后側(cè)，是使通過了狹縫212后的光反射的反射鏡。 在本實施方式中，假設(shè)在平面鏡214上反射后的光的光軸為光軸02(參照圖5)。通過使用平面鏡214來使光進行反射(返回)，與呈直線性地配置照射光學部21內(nèi)的照射光學系統(tǒng) (透鏡211、狹縫212、濾光器213、平面鏡214、狹縫215和凹面鏡216)的情況相比，能夠?qū)崿F(xiàn)節(jié)省空間化。狹縫215配置在平面鏡214的后側(cè)，是用于通過限制平面鏡214反射后的光的光通量來調(diào)整使來自光源20的光入射到反應管4時的數(shù)值孔徑(以下有時稱為“入射數(shù)值孔徑”)的光闌。即，在本實施方式中，狹縫215發(fā)揮“入射數(shù)值孔徑調(diào)整部件”的功能。狹縫215可以是透射型，也可以是反射型。此外，也可以取代狹縫215而配置凹面鏡或平面鏡，用它的反射有效直徑調(diào)整光通量。在本實施方式中，有時包括凹面鏡或平面鏡在內(nèi)稱為“第二狹縫”。再有，狹縫215也可以配置在凹面鏡216的后側(cè)。或者，也可以將狹縫215和凹面鏡216形成為一個整體，用I個光學元件起到狹縫215和凹面鏡216的作用。凹面鏡216配置在狹縫215的后側(cè)，是用于對通過了狹縫215后的光的色差進行修正，并將該修正后的光引導到反應管4中的光學元件。在本實施方式中使用凹面鏡的理由以后敘述。此外，如圖4所示，第一實施方式中的測光單元11的檢測光學部22由具有透鏡 221 (第三光學元件)、狹縫222 (第三狹縫)、透鏡223 (第四光學元件)和狹縫224 (第四狹縫)的檢測光學系統(tǒng)構(gòu)成。透鏡221配置在反應管4的后側(cè)，是用于校準透射反應管4后的光的光學元件。透鏡221例如包括準直透鏡。利用透鏡221，將透射反應管4后的光調(diào)整成與光軸03 (參照圖 5)平行的狀態(tài)。狹縫222配置在透鏡221的后側(cè)，是用于通過使透鏡221校準后的光的一部分通過，來調(diào)整對透射反應管4后的光進行檢測時的數(shù)值孔徑(以下有時稱為“檢測數(shù)值孔徑”) 的光闌。透鏡223配置在狹縫222的后側(cè)，是使通過了狹縫222后的光會聚并引導到狹縫 224的光學兀件。透鏡223包括凸透鏡等光學透鏡。狹縫224配置在透鏡223的后側(cè)，是用于使透鏡223會聚后的光的一部分通過的光闌。通過狹縫224后的光被分光部23分光，并由檢測部24按每個波長成分進行檢測。下面，使用圖5，關(guān)于本實施方式中的光的前進情況進行說明。假設(shè)光源20是點光源，從配置在透鏡211的前側(cè)焦點位置上的光源20產(chǎn)生的光 L0，被透鏡211變成與光源20的光軸01平行的光LI。光LI通過狹縫212而變成LI的光通量被部分限制后的光L2。光L2透射過濾光器213后，在平面鏡214上反射。在平面鏡 214上反射后的光L2，到達狹縫215。到達狹縫215的光L2，通過該狹縫215而變成光通量被部分限制的光L3。然后光L3抵達凹面鏡216。在此，優(yōu)選通過了狹縫215后的光L3入射到凹面鏡216上的角度，相對于凹面鏡 216的反射光軸03在10度以下。通過改變通過了狹縫215后的光L3入射到凹面鏡216上的角度，在凹面鏡216上反射的光L4進行成像時的狀態(tài)(成像狀態(tài))就發(fā)生變化。圖6是示出入射到反應管4中的光L4在直徑(光束點)上的強度分布的曲線圖。 縱軸表示強度，橫軸表示光束點在截面上的位置。從圖6的曲線圖可知，通過了狹縫215后的光L3入射到凹面鏡216的角度(入射角)，相對于凹面鏡216的反射光軸03在10度以下時，光L4具有均勻的強度分布。從而，因為能夠向反應管4內(nèi)的混合液照射均勻強度的光，所以可以實現(xiàn)良好的成像狀態(tài)。
將在凹面鏡216上反射后的光L4引導到反應管4內(nèi)，在反應管4內(nèi)進行成像。在此，一般在使用透鏡來進行成像時，其成像狀態(tài)根據(jù)光的波長而產(chǎn)生偏差，存在所謂的色差的問題。但是，在本實施方式中，通過使用凹面鏡216作為第二光學元件來消除色差問題。圖7是示出對反應管4內(nèi)的成像位置上的色差程度進行仿真的結(jié)果的曲線圖?？v軸表不強度，橫軸表不光束點上的位置。從該曲線圖可知，在使用凹面鏡216作為第二光學元件的情況下，從近紫外區(qū)域 (340nm)到近紅外區(qū)域(850nm)為止具有大致一定的強度。從而，因為不會產(chǎn)生波長差異所造成的色差問題，所以能夠得到均勻的成像狀態(tài)。此外，通過在測量中使用這樣的光，可以抑制空間上的模糊或強度不均。再有，第二光學元件只要是能夠修正色差即可。從而，也可以取代凹面鏡216而使用例如消色差透鏡。透射反應管4后的光L5，被透鏡221校準，并經(jīng)由狹縫222、透鏡223和狹縫224 引導到分光部23。到達分光部23后的光L5，在分光部23中按每個波長進行分光，然后利用檢測部 24按每個波長進行檢測。通過基于檢測出的光強度求吸光度或透射度，來進行被檢試樣的分析。再有，在分光部23中分光后的光在入射到檢測部24中時產(chǎn)生反射光。為了使該反射光不返回到分光部23，將檢測部24的光入射面配置成相對于分光部23的反射面的光軸04傾斜。(第一實施方式的作用效果)在本實施方式中，第二狹縫具有使通過了第一狹縫后的光的一部分通過的功能。 即，可以利用第二狹縫進行入射數(shù)值孔徑的調(diào)整。此外，在本實施方式中，第三狹縫具有使透射了反應管4后的光的一部分通過的功能。即，可以利用第三狹縫進行檢測數(shù)值孔徑的調(diào)整。此外，在本實施方式中，在將第二狹縫與第二光學元件形成一個整體的情況下，僅配置一個光學元件，就可以進行入射數(shù)值孔徑的調(diào)整。根據(jù)本實施方式，通過這樣地調(diào)整入射數(shù)值孔徑或檢測數(shù)值孔徑，能夠抑制比濁測量中的散射光的影響。從而能夠提高比濁測量的測量性能。此外，在本實施方式中，通過使用凹面鏡216作為第二光學元件，能夠消除色差。 從而可以提高比色測量和比濁測量的測量性能。(第一實施方式的變形例I)在本變形例中，在狹縫215上設(shè)置有為了調(diào)整入射數(shù)值孔徑而使該狹縫的寬度可以變化的可變機構(gòu)(未圖示)。通過設(shè)置可變機構(gòu)，可以按每個測量項目來調(diào)整入射數(shù)值孔徑。此外，與狹縫215同樣，也可以在狹縫222上設(shè)置可變機構(gòu)，可以按每個測量項目來調(diào)整檢測數(shù)值孔徑。圖8是示出基于入射數(shù)值孔徑(檢測數(shù)值孔徑)的比濁測光性能的比較結(jié)果的實驗結(jié)果曲線圖。圖8的橫軸示出被檢物質(zhì)濃度，縱軸示出由檢測部24檢測到的吸光度差。此外，圖8的A示出數(shù)值孔徑是0.05的情況。圖8的B示出數(shù)值孔徑是0.10的情況。圖 8的C示出數(shù)值孔徑是0. 25的情況。再有，在圖8中假設(shè)入射數(shù)值孔徑與檢測數(shù)值孔徑相
坐寸o在此，在根據(jù)吸光度差求被檢查物質(zhì)的濃度的情況下，優(yōu)選吸光度差相對于被檢查物質(zhì)的濃度保持比例關(guān)系。例如，在圖8中考慮吸光度差a的情況。在C(數(shù)值孔徑0.25)的情況下，由于被檢查物質(zhì)濃度的值可以從3到Y(jié)取值，因此不能夠求出準確的被檢查物質(zhì)濃度。另一方面，在數(shù)值孔徑是A(0.05)的情況下，被檢物質(zhì)濃度為A。即，可以唯一地求出被檢物質(zhì)濃度。此外，數(shù)值孔徑是A(0. 05)時比數(shù)值孔徑是B(0. 10)時的曲線的傾斜大。即，數(shù)值孔徑小的可以進行精度高的分析。(第一實施方式的變形例2)通過調(diào)整凹面鏡216的成像位置，能得到各種各樣的效果。例如，通過將凹面鏡 216與反應管4的位置關(guān)系調(diào)整成反應管4的中心位于凹面鏡216的成像位置上，可以減少反應管4內(nèi)的混合液的量?；蛘撸ㄟ^將凹面鏡216與反應管4的位置關(guān)系調(diào)整成凹面鏡216的成像位置位于比反應管4的中心靠后側(cè),可以抑制被反應管4內(nèi)的混合液中包含的散射體散射后的光的檢測。(第二實施方式)下面，使用圖9和圖10進行對第二實施方式的說明。如圖9所示，第二實施方式中的測光單元11的照射光學部21具有透鏡211 (第一光學兀件)、狹縫212 (第一狹縫)、濾光器213和凸透鏡217 (第二光學兀件)。透鏡211配置在光源20的后側(cè)，是用于會聚來自光源20的光的光學元件。透鏡 211包括凸透鏡等光學透鏡。狹縫212配置在透鏡211的后側(cè)，是用于限制來自透鏡211的光的光通量(入射數(shù)值孔徑調(diào)整)的光闌。即，在本實施方式中，狹縫212發(fā)揮“入射數(shù)值孔徑調(diào)整部件”的功能。狹縫212可以是透射型，也可以是反射型。此外，也可以取代狹縫212而配置凹面鏡或平面鏡，用它的反射有效直徑調(diào)整光通量。在本實施方式中，有時包括凹面鏡或平面鏡在內(nèi)稱為“第一狹縫”。在此，在本實施方式中，在透鏡211的前側(cè)焦點位置配置光源20，在透鏡211的后側(cè)焦點位置配置狹縫212。從而，來自光源20的光被透鏡211變成與光源20的光軸05 (參照圖10)平行的光，僅該光的一部分會通過狹縫212。即，通過限制來自光源20的光中的一部分光，來進行入射數(shù)值孔徑的調(diào)整。濾光器213配置在狹縫212的后側(cè)，是吸收通過了狹縫212后的光的熱成分的紅外線截止濾光器。再有，濾光器213的配置不限于狹縫212的后側(cè)。例如也可以設(shè)置在光源20和透鏡211之間。凸透鏡217配置在狹縫212的后側(cè)，是用于將通過了狹縫212后的光引導到反應管4的光學元件。在本實施方式中，凸透鏡217起到第二光學元件的作用。此外，在本實施方式中，還在凸透鏡217的前側(cè)焦點位置(距凸透鏡217相隔其焦點距離的位置)上配置有狹縫212。檢測光學部22與第一實施方式同樣，由具有透鏡221 (第三光學元件)、狹縫 222(第三狹縫)、透鏡223(第四光學元件)和狹縫224(第四狹縫)的檢測光學系統(tǒng)構(gòu)成 (參照圖4)。透鏡221配置在反應管4的后側(cè)，是用于校準透射反應管4后的光的光學元件。透鏡221例如包括準直透鏡。利用透鏡221，將透射反應管4后的光調(diào)整成與光軸05平行的狀態(tài)。狹縫222配置在透鏡221的后側(cè)，是用于使透鏡221校準后的光的一部分通過的光闌(用于進行檢測數(shù)值孔徑調(diào)整的光闌)。透鏡223配置在狹縫222的后側(cè)，是使通過了狹縫222后的光會聚并引導到狹縫 224的光學兀件。透鏡223包括凸透鏡等光學透鏡。狹縫224配置在透鏡223的后側(cè)，是用于使透鏡223會聚后的光的一部分通過的光闌。通過狹縫224后的光被分光部23分光，并由檢測部24按每個波長成分進行檢測。下面，使用圖10，關(guān)于本實施方式中的光的前進情況進行說明。從配置在透鏡211前側(cè)的光源20產(chǎn)生的光L6，利用透鏡211變成與光源20的光軸05平行的光L7。光L7通過狹縫212而變成L7的光通量被部分限制后(入射數(shù)值孔徑被調(diào)整后)的光L8。光L8透射過濾光器213后，抵達凸透鏡217。透射過凸透鏡217的光L9，入射到反應管4內(nèi)。透射反應管4后的光L10，被透鏡221校準，并經(jīng)由狹縫222、透鏡223和狹縫224 引導到分光部23。再有，通過將入射數(shù)值孔徑和檢測數(shù)值孔徑設(shè)定為期望的值，由反應管4 內(nèi)的散射物質(zhì)多次散射后的光就幾乎不會到達透鏡221。到達分光部23后的光LlO，在分光部23中按每個波長進行分光，利用檢測部24按每個波長進行檢測。通過基于檢測出的光強度求吸光度或透射度，來進行被檢試樣的分析。再有，在分光部23中分光后的光在入射到檢測部24中時產(chǎn)生反射光。為了使該反射光不返回到分光部23，將檢測部24的光入射面配置成相對于分光部23的反射面的光軸06傾斜。(第二實施方式的作用效果)以上，在本實施方式中，利用狹縫212調(diào)整了入射數(shù)值孔徑，利用狹縫222調(diào)整了檢測數(shù)值孔徑。通過將這些入射數(shù)值孔徑和檢測數(shù)值孔徑設(shè)定為期望的值，能夠抑制由反應管4內(nèi)的散射物質(zhì)多次散射后的光的檢測，因此，可以性能良好地進行比濁測量。(第一實施方式和第二實施方式中通用的事項)作為分析裝置的測光方法，有僅使用特定波長波段的光的單波長測光和使用2個不同波長波段的光測量它們的相對變化的二波長測光。根據(jù)第一實施方式和第二實施方式的結(jié)構(gòu)，即使在任意測光方法的情況下，都能夠性能良好地進行比色測量和比濁測量。在上述實施方式中，也可以在配置光源20的位置上配置光纖的出射端。該情況下，與測光單元11另行設(shè)置光源。通過將來自該光源的光經(jīng)由光纖引導到照射光學部21 內(nèi)，就可以進行與上述實施方式同樣的測光。已經(jīng)說明了本發(fā)明的幾個實施方式，但是這些實施方式只是作為例子而提示出， 并不是想限定發(fā)明范圍。這些新的實施方式可以以其他各種各樣的方式進行實施，可以在不脫離發(fā)明主旨的范圍內(nèi)進行各種各樣的省略、置換、變更。這些實施方式或其變形包含在發(fā)明范圍或主旨內(nèi)，并且也包含在權(quán)利要求書中記載的發(fā)明及其均等的范圍內(nèi)
1權(quán)利要求
1.一種分析裝置，其特征在于，具有照射光學部，對反應管內(nèi)的混合液照射來自光源的光；和檢測光學部，對透射了所述混合液后的光進行檢測，所述照射光學部具有第一光學元件，在前側(cè)焦點位置上配置有所述光源，會聚來自所述光源的光；第二光學元件，將通過了所述第一光學元件后的光引導到所述反應管；和入射數(shù)值孔徑調(diào)整部件，設(shè)置在所述第一光學元件的后側(cè)，對使來自所述光源的光入射到所述反應管時的數(shù)值孔徑進行調(diào)整。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的分析裝置，其特征在于，還具有第一狹縫，所述第一狹縫配置在所述第一光學元件的后側(cè)焦點位置上，使透射了所述第一光學元件后的光的一部分通過，所述入射數(shù)值孔徑調(diào)整部件是使通過了所述第一狹縫后的光的一部分通過的第二狹縫。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的分析裝置，其特征在于，所述第二狹縫配置在所述第二光學元件的前側(cè)焦點位置上。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的分析裝置，其特征在于，所述第二狹縫配置在所述第二光學元件與所述反應管之間。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的分析裝置，其特征在于，所述第二狹縫與所述第二光學元件形成為一個整體。
6.根據(jù)權(quán)利要求I所述的分析裝置，其特征在于，所述入射數(shù)值孔徑調(diào)整部件是第一狹縫，所述第一狹縫配置在所述第一光學元件的后側(cè)焦點位置上，使透射了所述第一光學元件后的光的一部分通過。
7.根據(jù)權(quán)利要求I所述的分析裝置，其特征在于，所述檢測光學部具有配置在所述反應管的后側(cè)且調(diào)整對通過了所述反應管后的光進行檢測時的數(shù)值孔徑的部件。
8.根據(jù)權(quán)利要求I所述的分析裝置，其特征在于，所述檢測光學部具有第三光學元件，對透射了所述反應管后的光進行校準；第三狹縫，使透射了所述第三光學元件后的光的一部分通過；第四光學元件，會聚通過了所述第三狹縫后的光；和第四狹縫，使由所述第四光學元件會聚后的光的一部分通過，所述分析裝置具有分光部，對通過了所述第四狹縫后的光進行分光；和檢測部，對在所述分光部中分光后的光進行檢測。
9 根據(jù)權(quán)利要求7或8所述的分析裝置，其特征在于，使來自所述光源的光入射到所述反應管時的數(shù)值孔徑，與在所述檢測部中對透射了所述反應管后的光進行檢測時的數(shù)值孔徑相等。
10.根據(jù)權(quán)利要求7或8所述的分析裝置，其特征在于，使來自所述光源的光入射到所述反應管時的數(shù)值孔徑和在所述檢測部中對透射了所述反應管后的光進行檢測時的數(shù)值孔徑，分別是O. I以下。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的分析裝置，其特征在于，使來自所述光源的光經(jīng)由所述第二光學元件入射到所述反應管時的數(shù)值孔徑和在所述檢測部中對透射了所述反應管后的光進行檢測時的數(shù)值孔徑，分別是O. 05以下。
12.根據(jù)權(quán)利要求I所述的分析裝置，其特征在于，所述第二光學元件是凹面鏡。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的分析裝置，其特征在于，對所述凹面鏡入射的光的入射角是10度以下。
全文摘要
本發(fā)明的實施方式涉及分析裝置。提供一種在使用了透鏡的光學系統(tǒng)中使比濁測量的測量性能提高的分析裝置。實施方式中記載的分析裝置具有對反應管內(nèi)的混合液照射來自光源的光的照射光學部。此外，檢測光學部對透射了混合液后的光進行檢測。此外，照射光學部在前側(cè)焦點位置上配置光源，具有會聚來自光源的光的第一光學元件。此外，第二光學元件將通過了第一光學元件后的光引導到反應管。此外，在第一光學元件的后側(cè)設(shè)置入射數(shù)值孔徑調(diào)整部件，對使來自光源的光入射到反應管時的數(shù)值孔徑進行調(diào)整。
文檔編號G01N35/00GK102590106SQ20121000688
公開日2012年7月18日 申請日期2012年1月11日 優(yōu)先權(quán)日2011年1月12日
發(fā)明者岡田直忠, 多田友行, 金山省一 申請人:東芝醫(yī)療系統(tǒng)株式會社, 株式會社東芝