專利名稱：一種醫(yī)用支架檢測方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及薄壁管材激光微加工技術(shù)，尤其涉及醫(yī)用支架的檢測方法。
背景技術(shù)：
醫(yī)用支架植入血管中可以起到支撐架的作用，從而保持血管的張開。醫(yī)用支架必須滿足嚴(yán)格的工作要求，如果支架包含任何粗糙的或是尖銳的邊，它將會(huì)損壞植入支架處的血細(xì)胞或血管壁，這將導(dǎo)致進(jìn)一步的血管疾病，以致會(huì)有潛在的生命危險(xiǎn)。一般的，制造工藝過程中參數(shù)的微小變化，如激光功率、管徑大小或機(jī)械顫振均能導(dǎo)致缺陷。因?yàn)橹Ъ茉诠δ苌系氖⒖赡軐?dǎo)致生命危險(xiǎn)，因此支架加工完成后的檢測環(huán)節(jié)尤其重要?，F(xiàn)有的檢測手段有人工檢測和視覺系統(tǒng)自動(dòng)檢測。人工檢測是由人通過顯微鏡對支架產(chǎn)品挨個(gè)檢測。但是，人工檢測存在較大的誤差。另外，人工檢測相對較慢且會(huì)使制造工藝的相對成本提升。而現(xiàn)有的視覺自動(dòng)檢測設(shè)備極其復(fù)雜，且整套設(shè)備價(jià)格昂貴。因此需要一種簡單、低成本且高效的支架檢測方法。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明旨在提供一種簡單、低成本且有效的用于檢測支架產(chǎn)品的方法。為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明公開了一種醫(yī)用支架檢測方法。該方法包括:旋轉(zhuǎn)支架樣品以便檢測支架樣品的各個(gè)區(qū)域；利用橫向照明光源照亮支架樣品的外表面區(qū)域；利用縱向照明光源照亮支架樣品的內(nèi)表面區(qū)域；用逐線掃描方式對支架樣品進(jìn)行掃描以獲得支架樣品的整體圖像；將測得的支架樣品的幾何特征尺寸與理論基準(zhǔn)數(shù)據(jù)相比較以確定兩者之間的誤差；以及在用戶界面上顯示這些誤差。其中，橫向照明光源發(fā)出的光與縱向照明光源發(fā)出的光的波長不同。本發(fā)明所提供的這種檢測方法操作簡單，能夠快速將合格和不合格的支架產(chǎn)品區(qū)分開。


圖1是支架的測量特征的示意 圖2是利用本發(fā)明檢測方法的裝置的結(jié)構(gòu)俯視圖；以及 圖3是利用本發(fā)明檢測方法的裝置的結(jié)構(gòu)主視圖。附圖標(biāo)記:
1.安裝側(cè)板，2.從動(dòng)滾軸，3.支架產(chǎn)品，4.卡套，5.主動(dòng)滾軸，6.聯(lián)軸器，7.電機(jī)，
8.電子線陣(XD，9.縱向照明光源，10.橫向照明光源，11.顯示裝置，12.基于PC的圖像處理裝置
具體實(shí)施例方式以下將討論本發(fā)明的各個(gè)較佳實(shí)施例。但本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，此處的詳細(xì)說明并不作為對本發(fā)明保護(hù)范圍的限制，本發(fā)明還可通過以下各實(shí)施例的變型或其它等同方式得以實(shí)現(xiàn)。支架加工后一般會(huì)出現(xiàn)污染、切口失效、接觸點(diǎn)、孤島狀缺陷、損傷、蝕損斑、變形等缺陷。概括而言，如圖1所示，常見的缺陷有如a所示的形狀缺陷，b所示的幾何誤差和c所示的邊界缺陷。圖3示出了適用于根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的檢測方法的裝置。如圖所示，該裝置主要包括:滾軸裝置、橫向照明光源、縱向照明光源、電子線陣CCD、顯示裝置、基于PC的圖像處理裝置。滾軸裝置用來帶動(dòng)支架樣品旋轉(zhuǎn)，以便檢測支架樣品的各個(gè)區(qū)域。作為示例，滾軸裝置可包括以下部件:安裝側(cè)板、從動(dòng)滾軸、卡套、主動(dòng)滾軸、聯(lián)軸器、電機(jī)，如圖2所示。聯(lián)軸器將伺服電機(jī)的輸出軸與主動(dòng)滾軸相連接，電機(jī)的旋轉(zhuǎn)帶動(dòng)主動(dòng)滾軸旋轉(zhuǎn)。主動(dòng)滾軸和從動(dòng)滾軸通過卡套連接，因此當(dāng)主動(dòng)滾軸旋轉(zhuǎn)時(shí)，會(huì)帶動(dòng)從動(dòng)滾軸隨動(dòng)。在進(jìn)行檢測時(shí)，可將支架樣品放在兩個(gè)進(jìn)給滾軸上，這兩個(gè)進(jìn)給滾軸的旋轉(zhuǎn)帶動(dòng)支架旋轉(zhuǎn)，例如可帶動(dòng)支架進(jìn)行360度旋轉(zhuǎn)。操作人員僅僅需要放上和取下支架產(chǎn)品。電子陣列CCD用來檢測樣品，其安裝在支架產(chǎn)品的上方，以一條線一條線的精密掃描方式采集線陣的圖像數(shù)據(jù)。經(jīng)過一個(gè)完整的掃描過程后，就可獲得支架的整體圖像。本發(fā)明的檢測方法從外部引入橫向照明光源和縱向照明光源，其中橫向照明光源照亮被檢測支架產(chǎn)品的外表面，縱向照明光源照亮被檢測支架的內(nèi)表面。兩種光源采用不同顏色和材質(zhì)的光照，無強(qiáng)光的一致性照明提高了圖像質(zhì)量。本發(fā)明的檢測方法還涉及到基于PC的圖像處理裝置和用戶顯示界面。圖像處理裝置利用圖像處理算法對CCD采集的圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，以觀察多種不同類型的結(jié)構(gòu)或表面缺陷，并將這些缺陷與原定義的理論或設(shè)計(jì)基準(zhǔn)進(jìn)行比較，以顯示在計(jì)算機(jī)界面上。具體地，通過將在檢測過程中測得的支架幾何特征尺寸與支架的理論基準(zhǔn)數(shù)據(jù)相比較，確定支架測量數(shù)據(jù)與理論基準(zhǔn)數(shù)據(jù)之間的變化量。在誤差被觀察到后，將在計(jì)算機(jī)屏幕上可視化顯示這些誤差，從而得出判斷結(jié)果。
權(quán)利要求
1.一種醫(yī)用支架檢測方法，包括: 旋轉(zhuǎn)支架樣品以便檢測支架樣品的各個(gè)區(qū)域； 利用橫向照明光源照亮支架樣品的外表面區(qū)域； 利用縱向照明光源照亮支架樣品的內(nèi)表面區(qū)域； 用逐線掃描方式對支架樣品進(jìn)行掃描以獲得支架樣品的整體圖像； 將測得的支架樣品的幾何特征尺寸與理論基準(zhǔn)數(shù)據(jù)相比較以確定兩者之間的誤差；以及在用戶界面上顯示這些誤差， 其中，橫向照明光源發(fā)出的光與縱向照明光源發(fā)出的光的波長不同。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在檢測時(shí)，將支架樣品放在滾軸裝置的主動(dòng)滾軸和從動(dòng)滾軸上，主 動(dòng)滾軸和從動(dòng)滾軸兩者的旋轉(zhuǎn)帶動(dòng)支架樣品旋轉(zhuǎn)。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種醫(yī)用支架檢測方法。該方法包括旋轉(zhuǎn)支架樣品以便檢測支架樣品的各個(gè)區(qū)域；利用橫向照明光源照亮支架樣品的外表面區(qū)域；利用縱向照明光源照亮支架樣品的內(nèi)表面區(qū)域；用逐線掃描方式對支架樣品進(jìn)行掃描以獲得支架樣品的整體圖像；將測得的支架樣品的幾何特征尺寸與理論基準(zhǔn)數(shù)據(jù)相比較以確定兩者之間的誤差；以及在用戶界面上顯示這些誤差。其中，橫向照明光源發(fā)出的光與縱向照明光源發(fā)出的光的波長不同。
文檔編號G01B11/00GK103217439SQ201210015720
公開日2013年7月24日 申請日期2012年1月19日 優(yōu)先權(quán)日2012年1月19日
發(fā)明者魏志凌, 寧軍, 夏發(fā)平, 馬秀云 申請人:昆山思拓機(jī)器有限公司