專利名稱：一種弓形法反射率測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型屬于微波測試技術(shù)領(lǐng)域，涉及弓形法反射率測試技術(shù)，特別弓形法反射率測試裝置設(shè)計技術(shù)。
背景技術(shù)：
弓形法是測試隱身材料反射率的常用的方法，它對反射率的測試是通過測試金屬良導(dǎo)體平面和以同尺寸金屬平面為襯底的雷達(dá)吸波材料的回波功率而得到，該方法測試方便快捷，對測試儀器、電磁環(huán)境、定位精度等要求相對較低，但測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確度也相對較低，主要用于實驗室材料配方篩選和隱身性能的快速評價。該測試系統(tǒng)由標(biāo)量網(wǎng)絡(luò)分析儀或頻譜分析儀，掃頻信號源，定向耦合器，發(fā)射天線和接收天線，弓形架，連接電纜，測試軟件和控制計算機(統(tǒng)稱弓形法信號收發(fā)與處理系統(tǒng))和樣品樣品臺組成，結(jié)構(gòu)如附圖1所示。測試時，量值會發(fā)生一些漂移，需要采用標(biāo)準(zhǔn)樣板進(jìn)行校準(zhǔn)，對于量值的修正只能后期通過修正值對每個數(shù)據(jù)進(jìn)行修改，操作繁瑣。
發(fā)明內(nèi)容本實用新型的目的在于解決弓形法反射率測試中的誤差修正問題，提供一種簡便易行的反射率測試裝置。本實用新型的目的是這樣實現(xiàn)的:采用適宜的方式調(diào)整樣品臺的位置狀態(tài)，通過樣品臺面的偏轉(zhuǎn)角度，調(diào)整反射衰減量，通過調(diào)零補償測試系統(tǒng)的系統(tǒng)誤差，實現(xiàn)誤差主動修正。本實用新型涉及的弓形法反射率測試裝置，由弓形法信號收發(fā)與處理系統(tǒng)和樣品臺組成，其特征在于:樣品臺面I的方向可調(diào)節(jié)，樣品臺面的偏轉(zhuǎn)軸平行于弓形支架2的直徑，結(jié)構(gòu)如附圖2所示。本實用新型涉及的弓形法反射率測試裝置，其特征在于:所述樣品臺面的偏轉(zhuǎn)角度Θ介于0.1° 5°之間。本實用新型涉及的弓形法反射率測試裝置，其特征在于:所述樣品臺面I為回轉(zhuǎn)調(diào)節(jié)結(jié)構(gòu)，結(jié)構(gòu)如附圖3所示。本實用新型涉及的弓形法反射率測試裝置，其特征在于:所述樣品臺面I為傾斜調(diào)節(jié)結(jié)構(gòu)，結(jié)構(gòu)如附圖4所示。本實用新型涉及的弓形法反射率測試裝置，可對測試結(jié)果進(jìn)行硬件修正，能夠達(dá)到修正系統(tǒng)誤差的目的，避免了人工修正數(shù)據(jù)的繁瑣與不便，使用靈活，便于調(diào)節(jié)，當(dāng)軟件系統(tǒng)無法調(diào)整或不便調(diào)整時可對系統(tǒng)測試量值做出必要修正。

圖1弓形法測試裝置基本組成示意圖圖2本發(fā)明涉及的方向可調(diào)樣品臺弓形法測試裝置結(jié)構(gòu)示意圖[0012]圖3本發(fā)明涉及的弓形法測試裝置回轉(zhuǎn)式樣品臺結(jié)構(gòu)示意圖圖4本發(fā)明涉及的弓形法測試裝置傾斜式樣品臺結(jié)構(gòu)示意圖圖中:1_樣品臺面，2-弓形支架，3-回轉(zhuǎn)滑塊，4-固定滑塊，5-調(diào)節(jié)旋鈕，6-傾斜板，7-固定板，8-固定鉸鏈，9-調(diào)節(jié)螺栓。
具體實施方式
以下結(jié)合附圖對本實用新型涉及的弓形法反射率測試裝置作進(jìn)一步詳細(xì)說明，但不作為對本實用新型涉及技術(shù)方案的限制。任何一種可以實現(xiàn)本實用新型目的的技術(shù)方案均構(gòu)成本實用新型的一部分。實施例一一種弓形法反射率測試裝置，由弓形法信號收發(fā)與處理系統(tǒng)回轉(zhuǎn)調(diào)節(jié)樣品臺組成?；剞D(zhuǎn)調(diào)節(jié)樣品臺由固定滑塊4、回轉(zhuǎn)滑塊3和調(diào)節(jié)旋鈕5組成，采用齒輪連接方式，回轉(zhuǎn)滑塊3的上表面作為樣品臺面1，結(jié)構(gòu)如附圖3所示。回轉(zhuǎn)臺的臺體呈正方形，固定滑塊4上部為邊長為60mm，弧度為20°凹形柱面，與回轉(zhuǎn)滑塊3底部的凸形柱面相匹配，形成滑動配合面，固定滑塊4、回轉(zhuǎn)滑塊3與調(diào)節(jié)旋鈕5分別通過齒條與蝸桿連接。通過旋轉(zhuǎn)調(diào)節(jié)旋鈕5，可使回轉(zhuǎn)滑塊3相對于固定滑塊4產(chǎn)生回轉(zhuǎn)滑動，從而帶動放置在回轉(zhuǎn)滑塊3上的樣品轉(zhuǎn)動一定的角度，最大回轉(zhuǎn)角度為10°，分辨率為5,。測試試驗時，被測樣板放置于樣品臺面I上，調(diào)節(jié)回轉(zhuǎn)臺的調(diào)節(jié)旋鈕5，調(diào)整試樣的響應(yīng)與實際值相符，避免繁瑣的偏差修正。實施例二一種弓形法反射率測試裝置，由弓形法信號收發(fā)與處理系統(tǒng)和傾斜調(diào)節(jié)樣品臺2組成。傾斜調(diào)節(jié)樣品臺2由傾斜板6、固定板7、固定鉸鏈8和調(diào)節(jié)螺栓9組成，傾斜板6表面作為樣片臺面I，結(jié)構(gòu)如附圖4所示。傾斜板6和固定板7為100mmX80mm的長方形平板，一端是壓緊彈簧與鋼珠組成的鉸鏈結(jié)構(gòu)8，另一端為細(xì)齒調(diào)節(jié)螺栓9，螺距為0.5mm，最大行程為7mm。旋轉(zhuǎn)調(diào)節(jié)螺栓9，可把傾斜板6頂起或落下，使樣品臺面I傾斜。測試試驗時，被測樣板放置于傾斜板6上，通過方向調(diào)節(jié)，使試樣的響應(yīng)與實際值相符。
權(quán)利要求1.一種弓形法反射率測試裝置，由弓形法信號收發(fā)與處理系統(tǒng)和樣品臺組成，其特征在于:樣品臺面(I)的方向可調(diào)節(jié)，樣品臺面的偏轉(zhuǎn)軸平行于弓形支架(2)的直徑。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的弓形法反射率測試裝置，其特征在于:所述樣品臺面(I)的偏轉(zhuǎn)角度Θ介于0.1° 5°之間。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2的弓形法反射率測試裝置，其特征在于:所述樣品臺面(I)為回轉(zhuǎn)調(diào)節(jié)結(jié)構(gòu)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2的弓形法反射率測試裝置，其特征在于:所述樣品臺面(I)為傾斜調(diào)節(jié)結(jié)構(gòu)。
專利摘要本實用新型屬于微波測試技術(shù)領(lǐng)域，涉及弓形法反射率測試技術(shù)。本實用新型涉及的弓形法反射率測試裝置，由弓形法信號收發(fā)與處理系統(tǒng)和樣品臺組成，樣品臺面1的方向可調(diào)節(jié)，樣品臺面的偏轉(zhuǎn)軸平行于弓形支架2的直徑。本實用新型涉及的弓形法反射率測試裝置，使用靈活，便于調(diào)節(jié)，當(dāng)軟件系統(tǒng)無法調(diào)整或不便調(diào)整時可對系統(tǒng)測試量值做出必要修正。通過樣品臺面的偏轉(zhuǎn)角度，調(diào)整反射衰減量，通過調(diào)零補償測試系統(tǒng)的系統(tǒng)誤差，對測試結(jié)果進(jìn)行硬件修正，實現(xiàn)誤差主動修正，避免了人工修正數(shù)據(jù)的繁瑣與不便。
文檔編號G01N22/00GK203053889SQ20122072896
公開日2013年7月10日 申請日期2012年12月25日 優(yōu)先權(quán)日2012年12月25日
發(fā)明者張雨, 荀其寧, 傅興天, 肖德凱, 張軍英, 姜維維, 張偉, 張寶芹 申請人:中國兵器工業(yè)集團(tuán)第五三研究所