本發(fā)明涉及斷路器檢驗,具體地,涉及用于斷路器的檢驗方法。
背景技術(shù):
目前,在檢驗斷路器的過程中,由于受到斷路器體積和重量的限制,在挪動的過程中,不僅容易損壞斷路器,此外,由于斷路器的棱角比較鋒利,容易危及到檢驗人員的安全。
因此,提供一種能夠在檢驗過程中保證檢驗人員安全且又能防止斷路器損壞的檢驗方法是本發(fā)明亟需解決的問題。
技術(shù)實現(xiàn)要素:
本發(fā)明的目的是提供一種用于斷路器的檢驗方法,該檢驗方法在檢驗過程中不僅能夠保證檢驗人員的安全又能防止斷路器損壞。
為了實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供了一種用于斷路器的檢驗方法,所述檢驗方法包括以下步驟:
步驟1)、將待檢驗件放置到檢驗工裝臺的升降板上;
步驟2)、上升所述升降板,以使得所述待檢驗件能夠移動到支撐框上;
步驟3)、將所述待檢驗件從第一滑槽移至第二滑槽;
步驟4)、調(diào)節(jié)吸附在所述檢驗工裝臺的面板上的多個短圓柱的位置,以使得多個所述短圓柱能夠與所述待檢驗件的多個檢驗處相配合;
所述檢驗工裝臺包括過渡機構(gòu)、支撐架和連接在所述支撐架上的面板;所述面板所在的平面與水平面相垂直,所述面板上吸附有多個短圓柱,且多個所述短圓柱與待檢驗件的多個檢驗處相配合;所述過渡機構(gòu)上設(shè)置有第一滑槽,所述支撐架上設(shè)置有第二滑槽,且第一滑槽所在長度方向上的直線和所述第二滑槽所在長度方向上的直線為同一條直線以使得所述待檢驗件能夠從所述第一滑槽滑動至所述第二滑槽;所述過渡機構(gòu)包括豎直設(shè)置的多個立柱、連接在多個所述立柱頂端的支撐框和設(shè)置在所述支撐框下方的氣缸;所述氣缸的伸縮桿上還固接有升降板且所述伸縮桿沿豎直方向伸縮以使得放置在所述升降板上的所述待檢驗件能夠移動到支撐框上;所述第一滑槽嵌入在所述支撐框上,且所述升降板能夠貫穿所述支撐框。
優(yōu)選地,所述過渡機構(gòu)還包括設(shè)置在所述支撐框下方的過渡框,且所述氣缸的伸縮桿能夠貫穿所述過渡框。
優(yōu)選地,步驟2)之后,步驟3)之前還包括將所述升降板貫穿所述支撐框以使得將所述待檢驗件放置到所述第一滑槽中。
優(yōu)選地,所述第一滑槽的槽口設(shè)置為豎直向上。
優(yōu)選地,所述第二滑槽包括兩個滑動單元,且兩個所述滑動單元所在長度方向上的直線相互平行;兩個所述滑動單元的槽口相對設(shè)置。
優(yōu)選地,所述第二滑槽沿所述支撐架的外部向內(nèi)部包括第一段槽和第二段槽,且所述第一段槽的槽口寬度小于所述第二段槽的槽口寬度。
根據(jù)上述技術(shù)方案,本發(fā)明提供的檢驗方法先將待檢驗件放置到檢驗工裝臺的升降板上,然后上升升降板,以使得待檢驗件能夠移動到支撐框上,接著在將待檢驗件從第一滑槽移動至第二滑槽,再調(diào)節(jié)吸附在檢驗工裝臺的面板上的多個短圓柱的位置,以使得多個短圓柱能夠和待檢驗件的多個檢驗處相配合。該種檢驗方法在檢驗過程中不需要頻繁挪動待檢驗件(即:斷路器)的位置,直接調(diào)整多個短圓柱的位置即可,因而不會增加檢驗人員的工作量,進而不會使得待檢驗件跌落到地上,危及檢驗人員的安全。因而,該種檢驗方法在檢驗過程中不僅能夠保證檢驗人員的安全還能防止斷路器被損壞。
本發(fā)明的其他特征和優(yōu)點將在隨后的具體實施方式部分予以詳細說明。
附圖說明
附圖是用來提供對本發(fā)明的進一步理解,并且構(gòu)成說明書的一部分,與下面的具體實施方式一起用于解釋本發(fā)明,但并不構(gòu)成對本發(fā)明的限制。在附圖中:
圖1是根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選實施方式的檢驗工裝臺的結(jié)構(gòu)示意圖。
附圖標記說明
1、支撐架 2、面板
3、短圓柱 4、第一滑槽
5、第二滑槽 6、立柱
7、過渡框 8、氣缸
9、升降板 10、支撐框
具體實施方式
以下結(jié)合附圖對本發(fā)明的具體實施方式進行詳細說明。應當理解的是,此處所描述的具體實施方式僅用于說明和解釋本發(fā)明,并不用于限制本發(fā)明。
在本發(fā)明中,在未作相反說明的情況下,“上、下、左、右、內(nèi)、外”等包含在術(shù)語中的方位詞僅代表該術(shù)語在常規(guī)使用狀態(tài)下的方位,或為本領(lǐng)域技術(shù)人員理解的俗稱,而不應視為對該術(shù)語的限制。
本發(fā)明提供一種用于斷路器的檢驗方法,該檢驗方法包括以下步驟:步驟1)、將待檢驗件放置到檢驗工裝臺的升降板9上;步驟2)、上升所述升降板9,以使得所述待檢驗件能夠移動到支撐框10上;步驟3)、將所述待檢驗件從第一滑槽4移至第二滑槽5;步驟4)、調(diào)節(jié)吸附在所述檢驗工裝臺的面板2上的多個短圓柱3的位置,以使得多個所述短圓柱3能夠與所述待檢驗件的多個檢驗處相配合;所述檢驗工裝臺包括過渡機構(gòu)、支撐架1和連接在所述支撐架1上的面板2;所述面板2所在的平面與水平面相垂直,所述面板2上吸附有多個短圓柱3,且多個所述短圓柱3與待檢驗件的多個檢驗處相配合;所述過渡機構(gòu)上設(shè)置有第一滑槽4,所述支撐架1上設(shè)置有第二滑槽5,且第一滑槽4所在長度方向上的直線和所述第二滑槽5所在長度方向上的直線為同一條直線以使得所述待檢驗件能夠從所述第一滑槽4滑動至所述第二滑槽5;所述過渡機構(gòu)包括豎直設(shè)置的多個立柱6、連接在多個所述立柱6頂端的支撐框10和設(shè)置在所述支撐框10下方的氣缸8;所述氣缸8的伸縮桿上還固接有升降板9且所述伸縮桿沿豎直方向伸縮以使得放置在所述升降板9上的所述待檢驗件能夠移動到支撐框10上;所述第一滑槽4嵌入在所述支撐框10上,且所述升降板9能夠貫穿所述支撐框10。本發(fā)明的宗旨是提供一種在檢驗過程中不僅能夠保證檢驗人員安全且又能防止斷路器損壞的檢驗方法,該檢驗方法先將待檢驗件放置到檢驗工裝臺的升降板9上,然后上升升降板9,以使得待檢驗件能夠移動到支撐框10上;接著在將待檢驗件從第一滑槽4移動至第二滑槽5,再調(diào)節(jié)吸附在檢驗工裝臺的面板2上的多個短圓柱3的位置,以使得多個短圓柱3能夠和待檢驗件的多個檢驗處相配合。該種檢驗方法在檢驗過程中不需要頻繁挪動待檢驗件(即:斷路器)的位置,直接調(diào)整多個短圓柱3的位置即可,因而不會增加檢驗人員的工作量,進而不會使得待檢驗件跌落到地上,危及檢驗人員的安全。因而,該種檢驗方法在檢驗過程中不僅能夠保證檢驗人員的安全還能防止斷路器被損壞。
在本發(fā)明的一種優(yōu)選的實施方式中,如圖1所示,所述過渡機構(gòu)還包括設(shè)置在所述支撐框10下方的過渡框7,且所述氣缸8的伸縮桿能夠貫穿所述過渡框7。這里,因升降板9直接固接在氣缸8的伸縮桿上,這樣,升降板9在跟隨伸縮桿沿豎直方向移動時,升降板9容易搖晃,穩(wěn)定性得不到保障,因此,在支撐框10的下方設(shè)置過渡框7,能夠防止放置在升降板9上的待檢驗件跌落受到損傷。
在本發(fā)明的一種優(yōu)選的實施方式中,步驟2)之后,步驟3)之前還包括將所述升降板9貫穿所述支撐框10以使得將所述待檢驗件放置到所述第一滑槽4中。這樣,將待檢驗件放置到第一滑槽4中能夠較為順利的將待檢驗件滑動到第二滑槽5中。
在本發(fā)明的一種優(yōu)選的實施方式中,為使得待檢驗件在移動的過程中保持穩(wěn)定和不會危及檢驗人員的安全。所述第二滑槽5包括兩個滑動單元,且兩個所述滑動單元所在長度方向上的直線相互平行;兩個所述滑動單元的槽口相對設(shè)置。這樣,待檢驗件沿兩個滑動單元滑動,并且兩個滑動單元的槽口相對設(shè)置,在滑動的過程中不會產(chǎn)生打滑的現(xiàn)象,進一步保證檢驗人員的安全和防止斷路器不受損傷。
需要說明的是,本領(lǐng)域技術(shù)人員應該理解的是,待檢驗件能夠在第一滑槽4和第二滑槽5上滑動,需要在待檢驗件上設(shè)置分別與第一滑槽4和第二滑槽5相對應的凸起或者其他能夠保證待檢驗件能夠滑動的組件。
以上了解到,兩個滑動單元的槽口相對設(shè)置,進而,結(jié)合本發(fā)明了解到兩個滑動單元的槽口不是豎直向上的,而在本發(fā)明中,第一滑槽4的槽口設(shè)置為豎直向上,第一滑槽4設(shè)置在過渡架上,之所以將第一滑槽4的槽口設(shè)置為豎直向上是為了能夠使得檢驗人員能夠較為方便的將待檢驗件放置在過渡架的第一滑槽4上,然后滑動至兩個滑動單元上,結(jié)合本發(fā)明,當待檢驗件在支撐架1上時,盡可能的保證待檢驗件的穩(wěn)定性,提高待檢驗件的檢驗效率是更為重要的。
在一種優(yōu)選的實施方式中,為進一步保證待檢驗件的穩(wěn)定性,所述第二滑槽5沿所述支撐架1的外部向內(nèi)部包括第一段槽和第二段槽,且所述第一段槽的槽口寬度小于所述第二段槽的槽口寬度。
以上結(jié)合附圖詳細描述了本發(fā)明的優(yōu)選實施方式,但是,本發(fā)明并不限于上述實施方式中的具體細節(jié),在本發(fā)明的技術(shù)構(gòu)思范圍內(nèi),可以對本發(fā)明的技術(shù)方案進行多種簡單變型,這些簡單變型均屬于本發(fā)明的保護范圍。
另外需要說明的是,在上述具體實施方式中所描述的各個具體技術(shù)特征,在不矛盾的情況下,可以通過任何合適的方式進行組合,為了避免不必要的重復,本發(fā)明對各種可能的組合方式不再另行說明。
此外,本發(fā)明的各種不同的實施方式之間也可以進行任意組合,只要其不違背本發(fā)明的思想,其同樣應當視為本發(fā)明所公開的內(nèi)容。