本發(fā)明涉及顆粒物分析，特別是涉及一種顆粒分析設(shè)備及其使用方法。

背景技術(shù)：

1、顆粒物分析試驗(yàn)通過(guò)不同目數(shù)的分析篩對(duì)目標(biāo)顆粒物進(jìn)行分篩，使得不同粒徑范圍的顆粒物分組，進(jìn)而能夠定量描述目標(biāo)顆粒物中各個(gè)粒徑范圍的顆粒物含量。顆粒物分析試驗(yàn)常用于環(huán)境保護(hù)、食品、藥品等行業(yè)，例如可對(duì)土壤、顆粒狀食物、顆粒狀藥品等目標(biāo)物進(jìn)行分析。

2、傳統(tǒng)技術(shù)中一般通過(guò)人工操作的方式使用分析篩和稱(chēng)重儀進(jìn)行上述的顆粒物分析試驗(yàn)，由于需要疊放多個(gè)分析篩并在振動(dòng)后逐個(gè)對(duì)分析篩進(jìn)行稱(chēng)重，因此人工操作不僅費(fèi)時(shí)費(fèi)力還容易出現(xiàn)錯(cuò)誤。相關(guān)技術(shù)中也有針對(duì)特定行業(yè)的自動(dòng)化顆粒分析裝置，但其僅能針對(duì)特定場(chǎng)景應(yīng)用。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本申請(qǐng)旨在一定程度上解決相關(guān)技術(shù)中的技術(shù)問(wèn)題之一。為此，本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N顆粒分析設(shè)備及其使用方法。

2、為了達(dá)到上述目的，本申請(qǐng)采用如下技術(shù)方案：一種顆粒分析設(shè)備，包括：

3、振動(dòng)裝置，其形成有第一放置位；

4、稱(chēng)重裝置，其形成有第二放置位；

5、篩盤(pán)抓取裝置，其被配置為能夠抓取篩盤(pán)并帶動(dòng)篩盤(pán)在所述第一放置位、所述第二放置位與指定存放位之間切換位置；以及，

6、放料裝置，其包括驅(qū)動(dòng)單元和樣品放置盒，所述樣品放置盒具有可開(kāi)閉的出料口，所述驅(qū)動(dòng)單元用于驅(qū)動(dòng)所述樣品放置盒動(dòng)作以使得所述出料口位于目標(biāo)篩盤(pán)的敞口的上方，所述目標(biāo)篩盤(pán)為疊放于所述第一放置位上的多個(gè)篩盤(pán)中位于最高位置的篩盤(pán)。

7、在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述放料裝置還包括機(jī)架以及滑動(dòng)設(shè)置或轉(zhuǎn)動(dòng)設(shè)置于所述機(jī)架上的安裝架，所述安裝架形成有第一安裝位，所述樣品放置盒設(shè)置于所述第一安裝位上；所述驅(qū)動(dòng)單元包括第一驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)，所述第一驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)與所述安裝架連接并用于驅(qū)動(dòng)所述安裝架沿水平方向相對(duì)機(jī)架滑動(dòng)或轉(zhuǎn)動(dòng)。樣品放置盒既可以通過(guò)直線移動(dòng)動(dòng)作移動(dòng)至目標(biāo)篩盤(pán)的正上方，也可以通過(guò)轉(zhuǎn)動(dòng)動(dòng)作轉(zhuǎn)動(dòng)至目標(biāo)篩盤(pán)的正上方。

8、在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述第一安裝位設(shè)置有多個(gè)，多個(gè)所述第一安裝位沿所述安裝架的動(dòng)作方向依次分布。通過(guò)設(shè)置多個(gè)第一安裝位便于一次性設(shè)置多個(gè)樣品放置盒，由此就能夠在一次試驗(yàn)操作過(guò)程中連續(xù)對(duì)相同或不同的目標(biāo)樣品進(jìn)行相同或不同的試驗(yàn)條件的分篩試驗(yàn)，以取得較高的試驗(yàn)效率。

9、在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述機(jī)架包括支撐柱以及滑動(dòng)設(shè)置于所述支撐柱上的升降板，所述第一驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)和所述安裝架均位于所述升降板上；所述驅(qū)動(dòng)單元還包括第二驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)，所述第二驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)與所述升降板連接并用于驅(qū)動(dòng)所述升降板及第一驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)和安裝架相對(duì)支撐柱升降。通過(guò)設(shè)置升降板可根據(jù)疊放的篩盤(pán)的高度對(duì)樣品放置盒的高度進(jìn)行調(diào)整，進(jìn)而可使得樣品放置盒的出料口與目標(biāo)篩盤(pán)的敞口具有適宜距離，提升樣品投料的準(zhǔn)確度。

10、在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述放料裝置還包括蓋板機(jī)構(gòu)，所述蓋板機(jī)構(gòu)包括用于封蓋所述目標(biāo)篩盤(pán)的蓋板；所述安裝架上還形成有第二安裝位，所述第二安裝位沿所述安裝架的動(dòng)作方向與所述第一安裝位相鄰分布，所述蓋板機(jī)構(gòu)設(shè)置于所述第二安裝位；或，所述放料裝置還包括設(shè)置于所述升降板上的第三驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)，所述第三驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)與所述蓋板機(jī)構(gòu)相連并用于驅(qū)動(dòng)所述蓋板機(jī)構(gòu)動(dòng)作以使得所述蓋板位于所述目標(biāo)篩盤(pán)的正上方?？赏ㄟ^(guò)蓋板機(jī)構(gòu)中的蓋板封蓋目標(biāo)篩盤(pán)的敞口，防止目標(biāo)篩盤(pán)中的樣品在振動(dòng)過(guò)程中從目標(biāo)篩盤(pán)的敞口脫出，提升試驗(yàn)數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。

11、在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述蓋板機(jī)構(gòu)還包括線性驅(qū)動(dòng)器，所述線性驅(qū)動(dòng)器與所述蓋板相連并用于驅(qū)動(dòng)蓋板升降移動(dòng)。

12、在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述篩盤(pán)抓取裝置包括三維機(jī)械臂，所述三維機(jī)械臂設(shè)置有用于抓取篩盤(pán)的夾爪。

13、在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述顆粒分析設(shè)備還包括控制單元和輸入輸出單元，所述輸入輸出單元、振動(dòng)裝置、稱(chēng)重裝置、篩盤(pán)抓取裝置和放料裝置均與所述控制單元電連接且能夠在控制單元的控制下工作；所述輸入輸出單元用于向控制單元輸入操作指令以及通過(guò)所述控制單元獲取與所述操作指令相對(duì)應(yīng)的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。通過(guò)設(shè)置控制單元和輸入輸出單元便于操作人員操作，可通過(guò)輸入輸出單元向控制單元輸入與試驗(yàn)參數(shù)相關(guān)的操作指令，提升自動(dòng)化程度。

14、在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述顆粒分析設(shè)備還包括機(jī)座，所述機(jī)座包括支撐平臺(tái)，所述振動(dòng)裝置、稱(chēng)重裝置、篩盤(pán)抓取裝置和放料裝置均設(shè)置于所述支撐平臺(tái)上，所述支撐平臺(tái)上設(shè)置有所述指定存放位。通過(guò)設(shè)置機(jī)座便于布置振動(dòng)裝置、稱(chēng)重裝置、篩盤(pán)抓取裝置和放料裝置，同時(shí)可在支撐平臺(tái)上形成所述指定存放位，便于預(yù)先對(duì)篩盤(pán)抓取裝置的動(dòng)作路徑進(jìn)行設(shè)計(jì)。

15、為了達(dá)到上述目的，本申請(qǐng)采用如下技術(shù)方案：一種如上述技術(shù)方案中任一項(xiàng)所述的顆粒分析設(shè)備的使用方法，所述使用方法包括以下步驟：

16、所述篩盤(pán)抓取裝置從存放于所述指定存放位的多個(gè)篩盤(pán)中依次抓取預(yù)定數(shù)量的篩盤(pán)并依次疊放于所述第一放置位上；

17、所述驅(qū)動(dòng)單元驅(qū)動(dòng)樣品放置盒動(dòng)作并使得樣品放置盒的出料口位于目標(biāo)篩盤(pán)的上方，所述出料口打開(kāi)以向目標(biāo)篩盤(pán)投放樣品；

18、所述振動(dòng)裝置對(duì)放置于所述第一放置位上的篩盤(pán)進(jìn)行振動(dòng)分篩；

19、所述篩盤(pán)抓取裝置從所述第一放置位上依次抓取篩盤(pán)并將篩盤(pán)依次放置到所述第二放置位上；

20、所述稱(chēng)重裝置對(duì)放置于所述第二放置位上的篩盤(pán)依次進(jìn)行稱(chēng)重。

21、本申請(qǐng)?zhí)峁┑念w粒分析設(shè)備在應(yīng)用時(shí)可通過(guò)篩盤(pán)抓取裝置抓取篩盤(pán)在指定存放位與振動(dòng)裝置和稱(chēng)重裝置上切換位置，可按照分篩試驗(yàn)的操作步驟將篩盤(pán)放置于準(zhǔn)確位置。通過(guò)放料裝置中的驅(qū)動(dòng)單元可將樣品放置盒置于目標(biāo)篩盤(pán)的正上方，通過(guò)可開(kāi)閉的出料口可將位于樣品放置盒內(nèi)的樣品放置于目標(biāo)篩盤(pán)內(nèi)。再通過(guò)振動(dòng)裝置對(duì)篩盤(pán)進(jìn)行振動(dòng)分篩，在振動(dòng)分篩完成后，通過(guò)稱(chēng)重裝置對(duì)各個(gè)篩盤(pán)進(jìn)行稱(chēng)重，即可得到不同粒徑范圍的樣品占樣品總量的百分比。因此，該顆粒分析設(shè)備可自動(dòng)進(jìn)行放置篩盤(pán)、投放樣品、振動(dòng)分篩、稱(chēng)重分析等步驟，減少人工參與，避免因人員粗心等原因造成的試驗(yàn)數(shù)據(jù)錯(cuò)誤，并能夠提升試驗(yàn)效率。另外，通過(guò)設(shè)置不同數(shù)量的篩盤(pán)和樣品放置盒能夠?qū)ο嗤虿煌哪繕?biāo)樣品進(jìn)行相同或不同的試驗(yàn)條件的分篩試驗(yàn)，進(jìn)一步的提升試驗(yàn)效率。

技術(shù)特征：

1.一種顆粒分析設(shè)備，其特征在于，包括：

2.如權(quán)利要求1所述的顆粒分析設(shè)備，其特征在于，所述放料裝置（4）還包括機(jī)架（43）以及滑動(dòng)設(shè)置或轉(zhuǎn)動(dòng)設(shè)置于所述機(jī)架（43）上的安裝架（44），所述安裝架（44）形成有第一安裝位（440），所述樣品放置盒（40）設(shè)置于所述第一安裝位（440）上；

3.如權(quán)利要求2所述的顆粒分析設(shè)備，其特征在于，所述第一安裝位（440）設(shè)置有多個(gè)，多個(gè)所述第一安裝位（440）沿所述安裝架（44）的動(dòng)作方向依次分布。

4.如權(quán)利要求2所述的顆粒分析設(shè)備，其特征在于，所述機(jī)架（43）包括支撐柱（430）以及滑動(dòng)設(shè)置于所述支撐柱（430）上的升降板（431），所述第一驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)（41）和所述安裝架（44）均位于所述升降板（431）上；

5.如權(quán)利要求4所述的顆粒分析設(shè)備，其特征在于，所述放料裝置（4）還包括蓋板機(jī)構(gòu)（45），所述蓋板機(jī)構(gòu)（45）包括用于封蓋所述目標(biāo)篩盤(pán)（60）的蓋板（451）；

6.如權(quán)利要求5所述的顆粒分析設(shè)備，其特征在于，所述蓋板機(jī)構(gòu)（45）還包括線性驅(qū)動(dòng)器（450），所述線性驅(qū)動(dòng)器（450）與所述蓋板（451）相連并用于驅(qū)動(dòng)蓋板（451）升降移動(dòng)。

7.如權(quán)利要求1所述的顆粒分析設(shè)備，其特征在于，所述篩盤(pán)抓取裝置（3）包括三維機(jī)械臂，所述三維機(jī)械臂設(shè)置有用于抓取篩盤(pán)（6）的夾爪（30）。

8.如權(quán)利要求1至權(quán)利要求7中任一項(xiàng)所述的顆粒分析設(shè)備，其特征在于，所述顆粒分析設(shè)備還包括控制單元（7）和輸入輸出單元（8），所述輸入輸出單元（8）、振動(dòng)裝置（1）、稱(chēng)重裝置（2）、篩盤(pán)抓取裝置（3）和放料裝置（4）均與所述控制單元（7）電連接且能夠在控制單元（7）的控制下工作；

9.如權(quán)利要求1至權(quán)利要求7中任一項(xiàng)所述的顆粒分析設(shè)備，其特征在于，所述顆粒分析設(shè)備還包括機(jī)座（5），所述機(jī)座（5）包括支撐平臺(tái)（50），所述振動(dòng)裝置（1）、稱(chēng)重裝置（2）、篩盤(pán)抓取裝置（3）和放料裝置（4）均設(shè)置于所述支撐平臺(tái)（50）上，所述支撐平臺(tái)（50）上設(shè)置有所述指定存放位。

10.如權(quán)利要求1至權(quán)利要求9中任一項(xiàng)所述的顆粒分析設(shè)備的使用方法，其特征在于，所述使用方法包括以下步驟：

技術(shù)總結(jié)
本申請(qǐng)涉及一種顆粒分析設(shè)備及其使用方法，所述的顆粒分析設(shè)備包括：振動(dòng)裝置，其形成有第一放置位；稱(chēng)重裝置，其形成有第二放置位；篩盤(pán)抓取裝置，其被配置為能夠抓取篩盤(pán)并帶動(dòng)篩盤(pán)在第一放置位、第二放置位與指定存放位之間切換位置；放料裝置，其包括驅(qū)動(dòng)單元和樣品放置盒，樣品放置盒具有可開(kāi)閉的出料口，驅(qū)動(dòng)單元用于驅(qū)動(dòng)樣品放置盒動(dòng)作以使得出料口位于目標(biāo)篩盤(pán)的上方且對(duì)準(zhǔn)目標(biāo)篩盤(pán)的敞口，目標(biāo)篩盤(pán)為疊放于第一放置位上的多個(gè)篩盤(pán)中位于最高位置的篩盤(pán)。應(yīng)用本申請(qǐng)能夠自動(dòng)進(jìn)行放置篩盤(pán)、投放樣品、振動(dòng)分篩、稱(chēng)重分析等步驟，減少人工參與，避免因人員粗心等原因造成的試驗(yàn)數(shù)據(jù)錯(cuò)誤，并能夠提升試驗(yàn)效率。

技術(shù)研發(fā)人員：邵碧璐
受保護(hù)的技術(shù)使用者：杭州君辰機(jī)器人有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/5/15