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一種電池缺陷檢測方法、系統(tǒng)、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)與流程

文檔序號(hào):41948154發(fā)布日期:2025-05-16 14:05閱讀:2來源:國知局
一種電池缺陷檢測方法、系統(tǒng)、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)與流程

本發(fā)明涉及檢測,尤其涉及一種電池缺陷檢測方法、系統(tǒng)、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。


背景技術(shù):

1、鋰電池的表面缺陷直接影響電池的壽命和安全性,在鋰電池生產(chǎn)過程中,需要對鋰電池進(jìn)行缺陷檢測;但電池缺陷種類繁多,具有多樣性和動(dòng)態(tài)變化的特點(diǎn),傳統(tǒng)檢測方法依賴單一類型的電池圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行缺陷識(shí)別,檢測準(zhǔn)確性低;現(xiàn)有技術(shù)通過檢測模型對采集的多種電池圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行缺陷識(shí)別,存在過殺、誤殺現(xiàn)象,檢測準(zhǔn)確性低。


技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明實(shí)施例的目的主要是在于提供一種電池缺陷檢測方法、系統(tǒng)、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì),能夠提高檢測準(zhǔn)確性。

2、為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明實(shí)施例的一方面提供了一種電池缺陷檢測方法,所述方法包括:

3、對采集的電池圖像集進(jìn)行預(yù)處理,得到待檢測圖像數(shù)據(jù)集;

4、根據(jù)訓(xùn)練好的缺陷檢測模型對所述待檢測圖像數(shù)據(jù)集進(jìn)行處理,確定檢測結(jié)果;其中,所述待檢測圖像數(shù)據(jù)集包括待檢測電池的灰度圖像、輪廓圖像或深度圖像任意一種或多種;

5、根據(jù)預(yù)設(shè)的后處理模型對所述檢測結(jié)果進(jìn)行檢測,確定所述檢測結(jié)果的類型;將所述類型為真缺陷的檢測結(jié)果作為電池缺陷。

6、在一些實(shí)施例中,所述根據(jù)訓(xùn)練好的缺陷檢測模型對所述待檢測圖像數(shù)據(jù)集進(jìn)行處理,確定檢測結(jié)果,具體包括:

7、對所述待檢測圖像數(shù)據(jù)集進(jìn)行特征提取,確定若干個(gè)第一特征數(shù)據(jù);

8、對若干個(gè)所述第一特征數(shù)據(jù)進(jìn)行特征融合,得到第二特征數(shù)據(jù);

9、對所述第二特征數(shù)據(jù)進(jìn)行特征增強(qiáng),確定第三特征數(shù)據(jù);

10、根據(jù)所述第三特征數(shù)據(jù)進(jìn)行分割,確定所述檢測結(jié)果。

11、在一些實(shí)施例中,所述對所述待檢測圖像數(shù)據(jù)集進(jìn)行特征提取,確定若干個(gè)第一特征數(shù)據(jù),具體包括:

12、根據(jù)若干個(gè)預(yù)設(shè)卷積通道分別對所述待檢測圖像數(shù)據(jù)集進(jìn)行特征提取,得到若干個(gè)第二子特征圖數(shù)據(jù);

13、根據(jù)若干個(gè)預(yù)設(shè)注意力通道分別對若干個(gè)所述第二子特征圖數(shù)據(jù)進(jìn)行加權(quán)處理,得到若干個(gè)所述第一特征數(shù)據(jù)。

14、在一些實(shí)施例中,所述對若干個(gè)所述第一特征數(shù)據(jù)進(jìn)行特征融合,得到第二特征數(shù)據(jù),具體包括:

15、對若干個(gè)所述第一特征數(shù)據(jù)進(jìn)行特征拼接,得到第一子特征數(shù)據(jù);

16、根據(jù)預(yù)設(shè)卷積核對所述第一子特征數(shù)據(jù)進(jìn)行卷積,得到所述第二特征數(shù)據(jù)。

17、在一些實(shí)施例中,所述對所述第二特征數(shù)據(jù)進(jìn)行特征增強(qiáng),確定第三特征數(shù)據(jù),具體包括:

18、根據(jù)若干個(gè)預(yù)設(shè)卷積核分別對所述第二特征數(shù)據(jù)進(jìn)行特征捕捉,得到若干個(gè)上下文特征信息;

19、對若干個(gè)所述上下文特征信息進(jìn)行特征拼接,得到第三子特征數(shù)據(jù);根據(jù)預(yù)設(shè)降維卷積核對所述第三子特征數(shù)據(jù)進(jìn)行卷積,得到第四子特征數(shù)據(jù);

20、根據(jù)所述第四子特征數(shù)據(jù)和所述第二特征數(shù)據(jù)進(jìn)行殘差連接,得到所述第三特征數(shù)據(jù)。

21、在一些實(shí)施例中,所述根據(jù)預(yù)設(shè)的后處理模型對所述檢測結(jié)果進(jìn)行檢測,確定所述檢測結(jié)果的類型,具體包括:

22、根據(jù)預(yù)設(shè)均值向量與所述檢測結(jié)果的特征數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算,確定第一距離;將所述第一距離與第一預(yù)設(shè)閾值進(jìn)行比較;其中,所述預(yù)設(shè)均值向量根據(jù)已知缺陷的特征數(shù)據(jù)確定;

23、若所述第一距離小于或等于所述第一預(yù)設(shè)閾值,確定所述電池缺陷的類型為真缺陷;

24、若所述第一距離大于所述第一預(yù)設(shè)閾值,根據(jù)所述特征數(shù)據(jù)計(jì)算所述檢測結(jié)果的灰度參數(shù),將所述灰度參數(shù)與預(yù)設(shè)范圍進(jìn)行比較;其中,所述灰度參數(shù)包括灰度均值、灰度最大值或灰度最小值任意一種或多種;

25、若所述灰度參數(shù)落在所述預(yù)設(shè)范圍內(nèi),確定所述檢測結(jié)果的類型為過殺;否則,確定所述檢測結(jié)果為未知缺陷。

26、在一些實(shí)施例中,所述方法還包括:

27、計(jì)算所述檢測結(jié)果的置信度分?jǐn)?shù),將所述置信度分?jǐn)?shù)與第二預(yù)設(shè)閾值進(jìn)行比較;

28、對所述置信度分?jǐn)?shù)小于所述第二預(yù)設(shè)閾值的電池缺陷進(jìn)行標(biāo)注,并將標(biāo)注后的檢測結(jié)果作為樣本數(shù)據(jù);

29、根據(jù)所述樣本數(shù)據(jù)對所述缺陷檢測模型進(jìn)行訓(xùn)練,確定參數(shù)更新后的缺陷檢測模型。

30、為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明實(shí)施例的另一方面提供了一種電池缺陷檢測系統(tǒng),包括:

31、第一模塊,用于對采集的電池圖像集進(jìn)行預(yù)處理,得到待檢測圖像數(shù)據(jù)集;

32、第二模塊,用于根據(jù)訓(xùn)練好的缺陷檢測模型對所述待檢測圖像數(shù)據(jù)集進(jìn)行處理,確定檢測結(jié)果;其中,所述待檢測圖像數(shù)據(jù)集包括待檢測電池的灰度圖像、輪廓圖像或深度圖像任意一種或多種;

33、第三模塊,用于根據(jù)預(yù)設(shè)的后處理模型對所述檢測結(jié)果進(jìn)行檢測,確定所述檢測結(jié)果的類型;將所述類型為真缺陷的檢測結(jié)果作為電池缺陷。

34、為實(shí)現(xiàn)上述目的,本申請實(shí)施例的另一方面提出了一種電子設(shè)備,所述電子設(shè)備包括存儲(chǔ)器和處理器,所述存儲(chǔ)器存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)前面所述的方法。

35、為實(shí)現(xiàn)上述目的,本申請實(shí)施例的另一方面提出了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)前面所述的方法。

36、實(shí)施本發(fā)明實(shí)施例包括以下有益效果:本實(shí)施例提供一種電池缺陷檢測方法、系統(tǒng)、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì),該方案通過對采集的電池圖像進(jìn)行預(yù)處理,得到待檢測圖像數(shù)據(jù)集,該待檢測圖像數(shù)據(jù)集包括電池灰度圖、輪廓圖或深度圖;再通過訓(xùn)練好的缺陷檢測模型對得到的待檢測圖像數(shù)據(jù)集進(jìn)行缺陷識(shí)別處理,確定待檢測圖像的檢測結(jié)果;再根據(jù)預(yù)設(shè)的后處理模型對缺陷檢測模型輸出的檢測結(jié)果進(jìn)行檢測,確定檢測結(jié)果的類型;將類型為真缺陷的檢測結(jié)果作為電池缺陷;通過構(gòu)建缺陷檢測模型對預(yù)處理后的待檢測圖像數(shù)據(jù)集進(jìn)行缺陷識(shí)別檢測,結(jié)合多種圖像數(shù)據(jù)提高缺陷檢測的準(zhǔn)確性;設(shè)置后處理模型對檢測結(jié)果進(jìn)行檢測,確定檢測結(jié)果的類型,減少過殺、誤殺現(xiàn)象,提高檢測準(zhǔn)確性。



技術(shù)特征:

1.一種電池缺陷檢測方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據(jù)訓(xùn)練好的缺陷檢測模型對所述待檢測圖像數(shù)據(jù)集進(jìn)行處理,確定檢測結(jié)果,具體包括:

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述對所述待檢測圖像數(shù)據(jù)集進(jìn)行特征提取,確定若干個(gè)第一特征數(shù)據(jù),具體包括:

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述對若干個(gè)所述第一特征數(shù)據(jù)進(jìn)行特征融合,得到第二特征數(shù)據(jù),具體包括:

5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述對所述第二特征數(shù)據(jù)進(jìn)行特征增強(qiáng),確定第三特征數(shù)據(jù),具體包括:

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據(jù)預(yù)設(shè)的后處理模型對所述檢測結(jié)果進(jìn)行檢測,確定所述檢測結(jié)果的類型,具體包括:

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:

8.一種電池缺陷檢測系統(tǒng),其特征在于,包括:

9.一種電子設(shè)備,其特征在于,包括:

10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其中存儲(chǔ)有處理器可執(zhí)行的程序,其特征在于,所述處理器可執(zhí)行的程序在由處理器執(zhí)行時(shí)用于執(zhí)行如權(quán)利要求1-7任一項(xiàng)所述的方法。


技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種電池缺陷檢測方法、系統(tǒng)、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì),該方案通過對采集的電池圖像進(jìn)行預(yù)處理,得到待檢測圖像數(shù)據(jù)集,該待檢測圖像數(shù)據(jù)集包括電池灰度圖、輪廓圖或深度圖;通過訓(xùn)練好的缺陷檢測模型對待檢測圖像數(shù)據(jù)集進(jìn)行缺陷識(shí)別,確定檢測結(jié)果;再根據(jù)預(yù)設(shè)的后處理模型對缺陷檢測模型輸出的檢測結(jié)果進(jìn)行檢測,確定檢測結(jié)果的類型;將類型為真缺陷的檢測結(jié)果作為電池缺陷;通過構(gòu)建缺陷檢測模型對預(yù)處理后的待檢測圖像數(shù)據(jù)集進(jìn)行缺陷識(shí)別檢測,結(jié)合多種圖像數(shù)據(jù)提高缺陷檢測的準(zhǔn)確性;設(shè)置后處理模型對檢測結(jié)果進(jìn)行檢測,確定檢測結(jié)果的類型,減少過殺、誤殺現(xiàn)象,提高檢測準(zhǔn)確性;本發(fā)明實(shí)施例可廣泛應(yīng)用于檢測技術(shù)領(lǐng)域。

技術(shù)研發(fā)人員:曹海霞,肖啟巡,張強(qiáng),邱毅,韋靖,羅博文
受保護(hù)的技術(shù)使用者:珠海華冠科技股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日:
技術(shù)公布日:2025/5/15
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