本技術(shù)涉及金融,尤其涉及一種接口性能測試方法、裝置及電子設(shè)備。
背景技術(shù):
1、性能測試是金融信息系統(tǒng)開發(fā)和維護過程中至關(guān)重要的一環(huán),以確保系統(tǒng)能夠在實際使用中滿足業(yè)務(wù)需求和監(jiān)管要求,該性能測試是一種評估系統(tǒng)在特定工作負載下的性能的技術(shù),主要目標是確定金融信息系統(tǒng)在其設(shè)計的負載能力下的響應(yīng)時間、穩(wěn)定性和可靠性。
2、現(xiàn)有技術(shù)中,通過分析平均響應(yīng)時間、平均每秒事務(wù)數(shù)(transaction?persecond,tps)、tps波動標準差等統(tǒng)計學(xué)指標,進而分別將平均響應(yīng)時間與可接受的響應(yīng)時間閾值、平均tps與預(yù)先定義的性能基線、tps波動標準差與標準差閾值進行比較,以評估系統(tǒng)在特定負載條件下的響應(yīng)能力和穩(wěn)定性,確定系統(tǒng)可能存在的性能問題。
3、但是,使用平均數(shù)、標準差等統(tǒng)計學(xué)指標只能反映性能測試的粗略概況,難以分析測試過程中的細節(jié)變化,因此,使用統(tǒng)計學(xué)指標來評估系統(tǒng)性能,準確性較低。
技術(shù)實現(xiàn)思路
1、本技術(shù)提供一種接口性能測試方法、裝置及電子設(shè)備,用于解決現(xiàn)有評估系統(tǒng)性能,準確性較低的問題。
2、第一方面,本技術(shù)提供一種接口性能測試方法,所述方法包括:
3、收集接口的壓測數(shù)據(jù),對所述壓測數(shù)據(jù)進行預(yù)處理,確定目標數(shù)據(jù);
4、提取所述目標數(shù)據(jù)中的多個特征數(shù)據(jù),并基于所述目標數(shù)據(jù)和所述多個特征數(shù)據(jù)進行評分,確定至少一個得分數(shù)據(jù);所述多個特征數(shù)據(jù)包括用于表征響應(yīng)時間出現(xiàn)異常的第一數(shù)據(jù)、表征接口并發(fā)數(shù)出現(xiàn)異常的第二數(shù)據(jù)和基于每秒事務(wù)數(shù)tps確定的測試數(shù)據(jù);所述至少一個得分數(shù)據(jù)包括表征在不同時間點執(zhí)行壓測的響應(yīng)耗時對應(yīng)的至少一個維度的評分數(shù)據(jù);
5、將所述多個特征數(shù)據(jù)和所述至少一個得分數(shù)據(jù)輸入訓(xùn)練好的機器學(xué)習(xí)模型中,得到性能預(yù)測等級和置信度;
6、基于所述性能預(yù)測等級和所述置信度確定性能測試結(jié)果。
7、可選的,所述壓測數(shù)據(jù)為時序數(shù)據(jù);所述第一數(shù)據(jù)包括用于表征在第一時間段內(nèi)響應(yīng)時間大于第一閾值,且所述響應(yīng)時間對應(yīng)的偏離值大于第二閾值的毛刺數(shù)據(jù)、表征在第二時間段內(nèi)所述毛刺數(shù)據(jù)出現(xiàn)震蕩區(qū)間的第三數(shù)據(jù)、表征在所述第二時間段內(nèi)所述毛刺數(shù)據(jù)是否滿足周期性規(guī)律的第四數(shù)據(jù)、表征在所述第二時間段內(nèi)所述響應(yīng)時間出現(xiàn)斜率異常的第五數(shù)據(jù)、表征在所述第二時間段內(nèi)所述響應(yīng)時間出現(xiàn)異常且異?,F(xiàn)象維持預(yù)設(shè)時長的第六數(shù)據(jù)。
8、可選的,所述第二數(shù)據(jù)的特征提取過程包括:
9、獲取接口在當前梯度時間內(nèi)的第一并發(fā)數(shù)和上一梯度時間內(nèi)的第二并發(fā)數(shù),并計算所述當前梯度時間內(nèi)的平均響應(yīng)時間和平均tps;
10、基于所述平均響應(yīng)時間、所述平均tps、所述第一并發(fā)數(shù)和所述第二并發(fā)數(shù)確定所述接口并發(fā)數(shù)是否出現(xiàn)異常,得到第二數(shù)據(jù)。
11、可選的,基于所述目標數(shù)據(jù)和所述多個特征數(shù)據(jù)進行評分,確定至少一個得分數(shù)據(jù),包括:
12、對第二時間段內(nèi)多個目標數(shù)據(jù)進行正則化處理,得到多個性能數(shù)據(jù),并計算所述多個性能數(shù)據(jù)的平均值和標準差;
13、基于所述平均值和所述標準差,確定針對每一性能數(shù)據(jù)的波動率;
14、確定多個波動率中的最大值和最小值,基于所述最小值和所述最大值確定每一性能數(shù)據(jù)的初始評分;
15、基于所述第一數(shù)據(jù)和所述第二數(shù)據(jù),對每一性能數(shù)據(jù)的初始評分進行處理,確定至少一個得分數(shù)據(jù)。
16、可選的,所述機器學(xué)習(xí)模型的訓(xùn)練方法包括:
17、獲取數(shù)據(jù)集;所述數(shù)據(jù)集包括訓(xùn)練集和驗證集,所述數(shù)據(jù)集包括多個樣本,每一樣本包括接口的壓測數(shù)據(jù)對應(yīng)的多個特征數(shù)據(jù)、多個得分數(shù)據(jù)和性能等級;
18、利用所述訓(xùn)練集對初始機器學(xué)習(xí)模型進行多輪循環(huán)訓(xùn)練,并基于所述驗證集確定每輪訓(xùn)練后的初始機器學(xué)習(xí)模型的損失函數(shù)值;
19、在預(yù)設(shè)輪次內(nèi)所述損失函數(shù)值均小于預(yù)設(shè)閾值,則從所述預(yù)設(shè)輪次內(nèi)訓(xùn)練后的初始機器學(xué)習(xí)模型中確定訓(xùn)練好的機器學(xué)習(xí)模型。
20、可選的,對所述壓測數(shù)據(jù)進行預(yù)處理,確定目標數(shù)據(jù),包括:
21、對所述壓測數(shù)據(jù)進行數(shù)值異常處理,得到第七數(shù)據(jù);
22、基于預(yù)設(shè)規(guī)則對所述第七數(shù)據(jù)進行邏輯異常處理,得到第八數(shù)據(jù);
23、對所述第八數(shù)據(jù)進行數(shù)據(jù)平滑處理,得到目標數(shù)據(jù)。
24、可選的,所述方法還包括:
25、確定所述第七數(shù)據(jù)的有效時長,在所述有效時長小于時長閾值的時,生成第一提示信息;
26、和/或,基于所述第八數(shù)據(jù),計算第一時間段內(nèi)的壓測成功率,在所述壓測成功率小于第三閾值時,生成第二提示信息。
27、可選的,基于所述性能預(yù)測等級和所述置信度確定性能測試結(jié)果,包括:
28、在確定所述置信度大于第四閾值時,基于所述性能預(yù)測等級確定性能測試結(jié)果;
29、在確定所述置信度小于或等于第四閾值時,將所述目標數(shù)據(jù)和所述性能預(yù)測等級發(fā)送至用戶終端進行人工復(fù)核,確定性能測試結(jié)果。
30、第二方面,本技術(shù)提供一種接口性能測試裝置,所述裝置包括:
31、預(yù)處理模塊,用于收集接口的壓測數(shù)據(jù),對所述壓測數(shù)據(jù)進行預(yù)處理,確定目標數(shù)據(jù);
32、特征提取模塊,用于提取所述目標數(shù)據(jù)中的多個特征數(shù)據(jù),并基于所述目標數(shù)據(jù)和所述多個特征數(shù)據(jù)進行評分,確定至少一個得分數(shù)據(jù);所述多個特征數(shù)據(jù)包括用于表征響應(yīng)時間出現(xiàn)異常的第一數(shù)據(jù)、表征接口并發(fā)數(shù)出現(xiàn)異常的第二數(shù)據(jù)和基于每秒事務(wù)數(shù)tps確定的測試數(shù)據(jù);所述至少一個得分數(shù)據(jù)包括表征在不同時間點執(zhí)行壓測的響應(yīng)耗時對應(yīng)的至少一個維度的評分數(shù)據(jù);
33、預(yù)測模塊,用于將所述多個特征數(shù)據(jù)和所述至少一個得分數(shù)據(jù)輸入訓(xùn)練好的機器學(xué)習(xí)模型中,得到性能預(yù)測等級和置信度;
34、確定模塊,用于基于所述性能預(yù)測等級和所述置信度確定性能測試結(jié)果。
35、第三方面,本技術(shù)提供一種電子設(shè)備,包括:處理器,以及與所述處理器通信連接的存儲器;
36、所述存儲器存儲計算機執(zhí)行指令;
37、所述處理器執(zhí)行所述存儲器存儲的計算機執(zhí)行指令,以實現(xiàn)如第一方面中任一項所述的方法。
38、綜上所述,本技術(shù)提供一種接口性能測試方法、裝置及電子設(shè)備,在進行接口性能測試時,收集大量的壓測數(shù)據(jù),對收集到的壓測數(shù)據(jù)進行預(yù)處理,以清洗和整理數(shù)據(jù),去除噪聲和異常值,進而確定用于后續(xù)特征提取和評分的目標數(shù)據(jù),提高后續(xù)處理數(shù)據(jù)的準確性,進一步的,從目標數(shù)據(jù)中提取多個特征數(shù)據(jù),這些特征數(shù)據(jù)包括:用于表征響應(yīng)時間出現(xiàn)異常的第一數(shù)據(jù),用于表征接口并發(fā)數(shù)出現(xiàn)異常的第二數(shù)據(jù)和基于tps確定的測試數(shù)據(jù),相應(yīng)的,基于這些特征數(shù)據(jù)和目標數(shù)據(jù),對接口性能進行評分,得到至少一個得分數(shù)據(jù),該得分數(shù)據(jù)表征在不同時間點執(zhí)行壓測時響應(yīng)耗時的評分數(shù)據(jù),該步驟可以選擇具有代表性的特征數(shù)據(jù),以便更好地捕捉接口性能的關(guān)鍵指標,進一步的,將特征數(shù)據(jù)和得分數(shù)據(jù)輸入到一個訓(xùn)練好的機器學(xué)習(xí)模型中,該模型輸出性能預(yù)測等級和置信度,性能預(yù)測等級表示接口性能的好壞,而置信度表示預(yù)測結(jié)果的可靠性,進而基于性能預(yù)測等級和置信度,可以確定接口的性能測試結(jié)果,這樣,本技術(shù)結(jié)合多個性能指標進行綜合分析,可以進行更全面的性能評估,這種結(jié)合了多維度的特征數(shù)據(jù)和評分數(shù)據(jù)的方式,可以幫助識別不同負載條件下的性能變化和趨勢,大大提高了性能評估的準確性。