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一種空間環(huán)境下集成電路閂鎖保護(hù)系統(tǒng)及方法與流程

文檔序號(hào):11108098閱讀:1127來源:國知局
一種空間環(huán)境下集成電路閂鎖保護(hù)系統(tǒng)及方法與制造工藝

本發(fā)明涉及一種空間環(huán)境下集成電路閂鎖保護(hù)系統(tǒng)及方法,屬于空間環(huán)境下的集成電路領(lǐng)域。



背景技術(shù):

在空間輻射等復(fù)雜環(huán)境中,電子系統(tǒng)中半導(dǎo)體器件容易受到單粒子閂鎖效應(yīng)的危害而產(chǎn)生異常,會(huì)導(dǎo)致電子器件局部電流、功耗增加以及熱能累積,若不及時(shí)處理,器件溫度將持續(xù)上升,最終造成永久性燒損,成為不可恢復(fù)的故障。因此,針對(duì)復(fù)雜環(huán)境下電子系統(tǒng)的單粒子閂鎖效應(yīng)的電源保護(hù)系統(tǒng)值得研究。

在空間環(huán)境下,充滿了各種粒子,如質(zhì)子、電子、α粒子、重離子、γ粒子等,這些粒子引起的輻射效應(yīng),尤其是單粒子效應(yīng),影響著電子設(shè)備的可靠性,本文所面向的問題是單粒子閂鎖效應(yīng)帶來的影響。單粒子閂鎖效應(yīng)多發(fā)生在CMOS集成電路中,出現(xiàn)寄生的PNPN半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),因?yàn)橛姓答佋?,?huì)產(chǎn)生低阻大電流現(xiàn)象。因?yàn)镃OMS器件本身具有的P+NPN+四層結(jié)構(gòu),形成兩個(gè)寄生三極管。如圖2所示,P+型漏區(qū),N型阱與P型襯底形成縱向寄生的PNP三級(jí)晶體管;N型阱、P型襯底與N+漏區(qū)形成橫向寄生NPN三級(jí)晶體管。一般情況下,寄生的三極管處在高阻關(guān)斷狀態(tài),當(dāng)高能粒子照射在器件上后,會(huì)在位于襯底中引發(fā)電子空穴對(duì),能夠引起晶體管導(dǎo)通,會(huì)有電流通過。因?yàn)榧纳龢O管工作在正向放大區(qū),通過正反饋原理,致使通過寄生三極管的電流一直增加,通過正反饋回路引起大電流再生狀態(tài),即閂鎖,閂鎖出現(xiàn)后,電流可以上升至毫安量級(jí),這樣的巨大電流會(huì)引起器件局部溫度過高,甚至?xí)蛊骷砻鏈囟冗_(dá)到上百攝氏度。高溫將導(dǎo)致器件永久性毀壞。如果器件在閂鎖狀態(tài),切斷輸入輸出信號(hào)也很難回到原來未閂鎖的狀態(tài),只能切斷電源,重新上電,使電路恢復(fù)正常工作。

目前的集成電路中,具有多樣的電源需求,需要多路電源供電,而且在系統(tǒng)啟動(dòng)過程中,對(duì)電源的上電順序有著比較嚴(yán)格的要求。因此,在多電源供電的集成電路中,對(duì)多路電源需要進(jìn)行集中管理,而且需要較為精確地控制其上電順序,保證系統(tǒng)能夠正常的啟動(dòng)。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

本發(fā)明的目的是為了解決現(xiàn)有技術(shù)的閂鎖在使用中可能由于電路急劇上升而導(dǎo)致器件永久性損壞,并且很難回到原來的未閂鎖狀態(tài)的缺點(diǎn),而提出一種空間環(huán)境下集成電路閂鎖保護(hù)系統(tǒng)及方法,空間環(huán)境下集成電路閂鎖保護(hù)系統(tǒng)包括FPGA芯片以及多電源供電集成電路,還包括多路電源限流電路,其中:

所述多路電源限流電路包括至少一個(gè)多路電源限流單元;所述多路電源限流單元包括限流芯片以及MOS管;

所述多電源供電集成電路包括與所述多路電源限流單元個(gè)數(shù)對(duì)應(yīng)的至少一個(gè)電源;

所述MOS管的柵極與所述FPGA芯片的MOS管控制端連接,用于根據(jù)從所述MOS管控制端的控制信號(hào)進(jìn)行開啟或關(guān)斷;所述MOS管的源極與所述限流芯片的電壓輸入端連接;所述MOS管的漏極與所述限流芯片的電壓輸出端連接;

所述限流芯片具有電壓輸入端、電壓輸出端、使能端以及過流信號(hào)輸出端;所述電壓輸入端與外部電源連接;所述電壓輸出端與所述多電源供電集成電路的電壓輸入端連接,用于控制與所述限流芯片對(duì)應(yīng)的電源上電;所述使能端與所述FPGA芯片的限流使能控制端連接,所述過流信號(hào)輸出端與FPGA芯片的過流處理端連接。

本發(fā)明還提供了一種空間環(huán)境下集成電路閂鎖保護(hù)方法,包括如下步驟:

復(fù)位步驟,在接收到復(fù)位信號(hào)后,關(guān)斷MOS管和限流芯片,將用于表征第i路電源等待時(shí)間的等待時(shí)間數(shù)組time[i]其中的i設(shè)置為1,將用于表征電源上電后已等待時(shí)間的計(jì)時(shí)變量count的值設(shè)置為0;

上電步驟,根據(jù)集成電路的上電順序,控制第i路多路電源限流單元的MOS管導(dǎo)通,以使第i路電源上電,并使count由0開始每個(gè)時(shí)鐘周期加1,當(dāng)count的值大于time[i]的值時(shí),對(duì)第i+1路電源進(jìn)行上電,直到全部N路電源上電;

上電判斷步驟,根據(jù)集成電路啟動(dòng)成功的標(biāo)志信號(hào)判斷系統(tǒng)是否上電成功,如果上電失敗,則執(zhí)行復(fù)位步驟;如果上電成功,則進(jìn)入監(jiān)控狀態(tài),使能各路限流芯片,在各路限流芯片均進(jìn)入工作狀態(tài)后,關(guān)斷各路的MOS管,并檢測(cè)各路限流芯片的過流信號(hào);

過流判斷步驟,若過流信號(hào)有效,則表示電源電流異常,則執(zhí)行復(fù)位步驟;若過流信號(hào)無效,則表示電源電流正常,繼續(xù)保持監(jiān)控狀態(tài)。

本發(fā)明的有益效果為:可以調(diào)節(jié)限制電流,能根據(jù)電阻分壓等原理調(diào)節(jié)限流電流值;可以電壓輸出來使能控制信號(hào);當(dāng)通過限流芯片的電流超過設(shè)定的電流值后,會(huì)產(chǎn)生過流信號(hào),從而防止由于過流而導(dǎo)致的器件永久性損壞。并且同是結(jié)合了MOS管和限流芯片,在上電啟動(dòng)過程中,導(dǎo)通MOS管,電流從MOS管中通過,不限流,保證集成電路正常啟動(dòng);啟動(dòng)完成后,使能限流芯片,在限流芯片工作起來后,斷開MOS管,電流僅從限流芯片中通過,進(jìn)入電流限流監(jiān)控模式,保證系統(tǒng)不受閂鎖故障損壞。

附圖說明

圖1為本發(fā)明實(shí)施例的空間環(huán)境下集成電路閂鎖保護(hù)系統(tǒng)的原理圖;

圖2(a)為單粒子閂鎖效應(yīng)的原理示意圖;

圖2(b)為圖2(a)的示意圖對(duì)應(yīng)的等效電路圖;

圖3為本發(fā)明的多路電源限流電路的電路結(jié)構(gòu)圖;

圖4為本發(fā)明的多路電源監(jiān)控模塊的工作狀態(tài)轉(zhuǎn)換圖。

具體實(shí)施方式

在空間輻射等復(fù)雜環(huán)境中,針對(duì)空間單粒子閂鎖效應(yīng)對(duì)集成電路可能造成的局部電流、功耗增加的危險(xiǎn),需要實(shí)時(shí)對(duì)各路電源的電流進(jìn)行監(jiān)控,當(dāng)發(fā)生閂鎖故障時(shí),某一路電源的電流會(huì)增加,因此,需要對(duì)各路電源進(jìn)行限流,設(shè)定合適的閾值,當(dāng)電流超出該閾值時(shí),進(jìn)行限流,并能產(chǎn)生過流信號(hào)提示控制器產(chǎn)生了單粒子閂鎖故障,進(jìn)行斷電重啟。但發(fā)生閂鎖故障時(shí),電流的增加是一個(gè)相對(duì)緩慢的過程,因此對(duì)電源控制的實(shí)時(shí)性要求不高,為毫秒級(jí)別。

在集成電路上電啟動(dòng)時(shí),往往比正常工作時(shí)需要的電流要大,因此在設(shè)計(jì)限流電路的時(shí)候需要考慮系統(tǒng)上電啟動(dòng)時(shí)需要較大電流的問題。

下面具體說明本發(fā)明的實(shí)施方式:

具體實(shí)施方式一:本實(shí)施方式的空間環(huán)境下集成電路閂鎖保護(hù)系統(tǒng),如圖1所示,包括FPGA芯片以及多電源供電集成電路,還包括多路電源限流電路,其中:

多路電源限流電路包括至少一個(gè)多路電源限流單元;多路電源限流單元包括限流芯片以及MOS管;

MOS管的柵極與所述FPGA芯片的MOS管控制端MOS_EN連接,用于根據(jù)從MOS管控制端MOS_EN的控制信號(hào)進(jìn)行開啟或關(guān)斷;MOS管的源極與限流芯片的電壓輸入端Vin連接;MOS管的漏極與限流芯片的電壓輸出端Vout連接;

限流芯片具有電壓輸入端Vin、電壓輸出端Vout、使能端EN以及過流信號(hào)輸出端Fault,電壓輸入端Vin與外部電源VCC連接,電壓輸出端Vout與多電源供電集成電路的電壓輸入端連接,使能端EN與FPGA芯片的限流使能控制端連接,過流信號(hào)輸出端Fault與FPGA芯片的過流處理端連接。

具體實(shí)施方式二:本實(shí)施方式與具體實(shí)施方式一不同的是:FPGA芯片包括多路電源監(jiān)控模塊以及至少一個(gè)輸入信號(hào)處理模塊,所述輸入信號(hào)處理模塊具有過流處理端,且與所述限流芯片的過流信號(hào)輸出端對(duì)應(yīng)連接;所述多路電源監(jiān)控模塊用于執(zhí)行如下步驟:

復(fù)位步驟,在接收到復(fù)位信號(hào)后,關(guān)斷MOS管和限流芯片,將用于表征第i路電源等待時(shí)間的等待時(shí)間數(shù)組time[i]其中的i設(shè)置為1,將用于表征電源上電后已等待時(shí)間的計(jì)時(shí)變量count的值設(shè)置為0;

上電步驟,根據(jù)集成電路的上電順序,控制第i路多路電源限流單元的MOS管導(dǎo)通,以使第i路電源上電,并根據(jù)time[i]的值等待預(yù)定的時(shí)長,當(dāng)達(dá)到預(yù)定的時(shí)長后,對(duì)第i+1路電源進(jìn)行上電,直到全部N路電源上電;

上電判斷步驟,根據(jù)集成電路啟動(dòng)成功的標(biāo)志信號(hào)判斷系統(tǒng)是否上電成功,如果上電失敗,則執(zhí)行復(fù)位步驟;如果上電成功,則進(jìn)入監(jiān)控狀態(tài),使能各路限流芯片,在各路限流芯片均進(jìn)入工作狀態(tài)后,關(guān)斷各路的MOS管,并檢測(cè)各路限流芯片的過流信號(hào);

過流判斷步驟,若過流信號(hào)有效,則表示電源電流異常,則執(zhí)行復(fù)位步驟;若過流信號(hào)無效,則表示電源電流正常,繼續(xù)保持監(jiān)控狀態(tài)。

其它步驟及參數(shù)與具體實(shí)施方式一相同。

具體實(shí)施方式三:本實(shí)施方式與具體實(shí)施方式一或二不同的是:所述輸入信號(hào)處理模塊用于濾波以及采沿,以剔除輸入信號(hào)的毛刺。

其它步驟及參數(shù)與具體實(shí)施方式一或二相同。

具體實(shí)施方式四:本實(shí)施方式與具體實(shí)施方式一至三之一不同的是:限流芯片可以為TPS2553芯片。但本領(lǐng)域內(nèi)技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)清楚,限流芯片還可以是其他型號(hào)的限流配電開關(guān),或者能夠滿足限流功能的其他芯片。

其它步驟及參數(shù)與具體實(shí)施方式一至三之一相同。

具體實(shí)施方式五:本實(shí)施方式與具體實(shí)施方式一至四之一不同的是:上電步驟中,控制第i路多路電源限流單元的MOS管導(dǎo)通,以使第i路電源上電的具體過程為:

多路電源監(jiān)控模塊通過控制輸入信號(hào)處理模塊的MOS管控制端,控制第i路多路電源限流單元的MOS管導(dǎo)通,從而使限流芯片輸入輸出短接,以使第i路電源上電。

其它步驟及參數(shù)與具體實(shí)施方式一至四之一相同。

具體實(shí)施方式六:本實(shí)施方式的空間環(huán)境下集成電路閂鎖保護(hù)方法包括如下步驟:

復(fù)位步驟,在接收到復(fù)位信號(hào)后,關(guān)斷MOS管和限流芯片,將用于表征等待時(shí)間的等待時(shí)間數(shù)組time[i]其中的i設(shè)置為1,將用于表征電源上電后已等待時(shí)間的計(jì)時(shí)變量count的值設(shè)置為0;

上電步驟,根據(jù)集成電路的上電順序,控制第i路多路電源限流單元的MOS管導(dǎo)通,以使第i路電源上電,并使count由0開始每個(gè)時(shí)鐘周期加1,當(dāng)count的值大于time[i]的值時(shí),對(duì)第i+1路電源進(jìn)行上電,直到全部N路電源上電;

上電判斷步驟,根據(jù)集成電路啟動(dòng)成功的標(biāo)志信號(hào)判斷系統(tǒng)是否上電成功,如果上電失敗,則執(zhí)行復(fù)位步驟;如果上電成功,則進(jìn)入監(jiān)控狀態(tài),使能各路限流芯片,在各路限流芯片均進(jìn)入工作狀態(tài)后,關(guān)斷各路的MOS管,并檢測(cè)各路限流芯片的過流信號(hào);

過流判斷步驟,若過流信號(hào)有效,則表示電源電流異常,則執(zhí)行復(fù)位步驟;若過流信號(hào)無效,則表示電源電流正常,繼續(xù)保持監(jiān)控狀態(tài)。

<實(shí)施例>

本發(fā)明是適用于空間飛行器領(lǐng)域的,空間飛行器往往要面臨空間輻射的問題,在空間輻射等復(fù)雜環(huán)境中,針對(duì)空間單粒子閂鎖效應(yīng)對(duì)集成電路可能造成的局部電流、功耗增加的危險(xiǎn),需要實(shí)時(shí)對(duì)各路電源的電流進(jìn)行監(jiān)控,當(dāng)發(fā)生閂鎖故障時(shí),某一路電源的電流會(huì)增加,因此,需要對(duì)各路電源進(jìn)行限流,設(shè)定合適的閾值,當(dāng)電流超出該閾值時(shí),進(jìn)行限流,并能產(chǎn)生過流信號(hào)提示控制器產(chǎn)生了單粒子閂鎖故障,進(jìn)行斷電重啟。但發(fā)生閂鎖故障時(shí),電流的增加是一個(gè)相對(duì)緩慢的過程,因此對(duì)電源控制的實(shí)時(shí)性要求不高,為毫秒級(jí)。

在集成電路上電啟動(dòng)時(shí),往往比正常工作時(shí)需要的電流要大,因此在設(shè)計(jì)限流電路的時(shí)候需要考慮系統(tǒng)上電啟動(dòng)時(shí)需要較大電流的問題。

針對(duì)集成電路存在的上述問題,本發(fā)明對(duì)集成電路多路供電電源進(jìn)行了監(jiān)控,其功能包括以下兩點(diǎn):

(1)上電啟動(dòng)時(shí),進(jìn)入不限電流的供電模式,并控制各路電源順序上電,滿足集成電路在上電啟動(dòng)過程中的較大電流的需求,成功上電啟動(dòng);

(2)上電啟動(dòng)成功后,根據(jù)實(shí)際工作測(cè)試獲得的電流值,確定限流閾值,進(jìn)入限流供電模式,并對(duì)各路電源電流進(jìn)行監(jiān)測(cè),保證在集成電路發(fā)生單粒子閂鎖效應(yīng)時(shí),能夠快速發(fā)現(xiàn)并關(guān)斷電源,解除故障。

如圖1所示,F(xiàn)PGA對(duì)多電源供電集成電路N路供電電源進(jìn)行監(jiān)控,根據(jù)工作狀態(tài)(啟動(dòng)過程、正常工作過程)進(jìn)行不同的控制。系統(tǒng)由兩部分組成:多路電源限流電路和FPGA控制邏輯。下面具體說明本發(fā)明的各個(gè)部件:

一.多路電源限流電路:

如圖3所示,第i路電源VCCi(可以是經(jīng)過電源轉(zhuǎn)換芯片轉(zhuǎn)換輸出)經(jīng)過MOS管和限流芯片并聯(lián)后,輸出給集成電路,MOS管和限流芯片工作在不同的階段。

集成電路上電啟動(dòng)過程中往往需要較大的電流,本文的設(shè)計(jì)中,MOS管的作用是在集成電路上電啟動(dòng)過程中導(dǎo)通,將限流芯片輸入輸出短接,電流通過MOS管不限流,為集成電路提供較大的供電電流。如圖3所示,MOS管的柵極(圖3中MOS_EN信號(hào))由FPGA進(jìn)行控制,從而能夠比較精確的控制MOS管的通斷。

如圖3所示,限流芯片的作用是在集成電路啟動(dòng)正常后,對(duì)各路電源的供電電流進(jìn)行限流控制,當(dāng)電流超出設(shè)定的電流值時(shí),會(huì)產(chǎn)生過流信號(hào)(Fault管腳輸出),從而FPGA控制邏輯進(jìn)行相應(yīng)的判斷和處理,保護(hù)系統(tǒng)不受閂鎖故障影響。

需要說明的是,本文設(shè)計(jì)中使用的限流芯片需要有如下功能:

(1)可以調(diào)節(jié)限制電流:能根據(jù)電阻分壓等原理調(diào)節(jié)限流電流值;

(2)電壓輸出使能控制信號(hào):輸出使能控制信號(hào)用于使能Vout輸出;

(3)過流信號(hào):當(dāng)通過限流芯片的電流超過設(shè)定的電流值后,會(huì)產(chǎn)生過流信號(hào)。

在設(shè)計(jì)系統(tǒng)時(shí),可以根據(jù)上述的限流芯片功能,結(jié)合實(shí)際情況,選擇成熟的限流芯片,或者自行設(shè)計(jì)的限流電路。

結(jié)合MOS管和限流芯片,在上電啟動(dòng)過程中,導(dǎo)通MOS管,電流從MOS管中通過,不限流,保證集成電路正常啟動(dòng);啟動(dòng)完成后,使能限流芯片,在限流芯片工作起來后,斷開MOS管,電流僅從限流芯片中通過,進(jìn)入電流限流監(jiān)控模式,保證系統(tǒng)不受閂鎖故障損壞。

二.FPGA控制邏輯

FPGA中主要包括兩個(gè)模塊,輸入信號(hào)處理模塊和多路電源監(jiān)控模塊。

輸入信號(hào)處理模塊主要是對(duì)限流芯片產(chǎn)生的過流信號(hào)進(jìn)行處理,包括濾波和采沿等,避免因?yàn)橥饨珉姶鸥蓴_產(chǎn)生的毛刺而導(dǎo)致控制邏輯誤判,精確地才提升系統(tǒng)監(jiān)控的準(zhǔn)確性。

多路電源監(jiān)控模塊用于監(jiān)控MOS管和限流芯片的工作狀態(tài)。

1)輸入信號(hào)處理模塊

當(dāng)集成電路發(fā)生閂鎖故障時(shí),限流芯片產(chǎn)生過流信號(hào)傳輸給FPGA管腳,但是電子系統(tǒng)工作工程中,不可避免地會(huì)受到內(nèi)部或者外部的電磁干擾,使信號(hào)在傳輸途徑上受到毛刺干擾,而一般情況下,F(xiàn)PGA的采樣頻率一般都高于輸入信號(hào)變化頻率,因此,很容易采集到毛刺信號(hào),造成誤判。本文設(shè)計(jì)的輸入信號(hào)處理模塊用于濾出輸入信號(hào)上的此類毛刺,提升判斷和控制的準(zhǔn)確性。

在FPGA中,對(duì)輸入信號(hào)濾除毛刺的方法有很多種,本文不做具體的說明。

2)多路電源監(jiān)控模塊:

多路電源監(jiān)控模塊主要是根據(jù)集成電路的不同工作狀態(tài)對(duì)MOS管和限流芯片進(jìn)行監(jiān)控,其控制邏輯工作狀態(tài)轉(zhuǎn)換圖4所示。

在圖4中,整個(gè)系統(tǒng)工作的各個(gè)狀態(tài)及功能如下所示:

復(fù)位:系統(tǒng)復(fù)位,關(guān)斷MOS管和限流芯片;

等待:上電過程中,各路電源有一定的上電時(shí)序,在第i路電源上電完成后需要等待一定的時(shí)間time[i]后對(duì)第i+1路電源進(jìn)行上電,因此,該狀態(tài)為等待狀態(tài),根據(jù)上電的路數(shù)i,保持時(shí)間為time[i](time[i]為根據(jù)實(shí)際情況設(shè)置的等待時(shí)間數(shù)組time[N]中的一個(gè)元素,對(duì)應(yīng)為第i路電源上電后的等待時(shí)間);

上電:控制第i路電源上電,控制對(duì)應(yīng)的MOS管導(dǎo)通;

監(jiān)控:使能所有N路的限流芯片輸出,關(guān)斷所有N路MOS管,監(jiān)測(cè)N路限流芯片的過流信號(hào);

根據(jù)圖4中的系統(tǒng)工作狀態(tài)轉(zhuǎn)換圖,整個(gè)系統(tǒng)的工作流程如下所示:

(1)系統(tǒng)復(fù)位,MOS管和限流芯片處于斷開狀態(tài),變量i初始化為1,計(jì)時(shí)變量count初始化為0;

(2)根據(jù)集成電路上電順序,控制第i路電源VCCi所對(duì)應(yīng)的MOS管導(dǎo)通,使第i路電源上電,并在根據(jù)實(shí)際情況的等待,計(jì)時(shí)變量為count,計(jì)時(shí)長度為time[i],直至完成VCC1~VCCN的全部N路電源上電;

(3)根據(jù)集成電路啟動(dòng)成功的標(biāo)志信號(hào)Power_ok,判斷系統(tǒng)是否成功上電;

(4)如果上電失敗,則進(jìn)入復(fù)位狀態(tài),進(jìn)行系統(tǒng)復(fù)位,系統(tǒng)重新上電;

(5)如果上電成功,則進(jìn)入監(jiān)控狀態(tài),使能N路限流芯片,在各路限流芯片完全工作起來后,關(guān)斷N路MOS管,并監(jiān)測(cè)N路限流芯片的過流信號(hào)(Fault),如果過流信號(hào)無效,即各路電源電流正常,則繼續(xù)保持監(jiān)控狀態(tài);

(6)如果過流信號(hào)有效,即電源電流異常,則進(jìn)入復(fù)位狀態(tài),進(jìn)行系統(tǒng)復(fù)位,對(duì)集成電路重新進(jìn)行上電。

本發(fā)明還可有其它多種實(shí)施例,在不背離本發(fā)明精神及其實(shí)質(zhì)的情況下,本領(lǐng)域技術(shù)人員當(dāng)可根據(jù)本發(fā)明作出各種相應(yīng)的改變和變形,但這些相應(yīng)的改變和變形都應(yīng)屬于本發(fā)明所附的權(quán)利要求的保護(hù)范圍。

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