專利名稱：用于減小路徑損耗的方法和設(shè)備的制作方法
用于減小路徑損耗的方法和設(shè)備
背景技術(shù)：
本申請一般涉及測試電子設(shè)備，并且更具體地，涉及測試包括多個天線的電子設(shè)備。電子設(shè)備通常包含無線通信電路。例如，設(shè)備可以使用2. 4GHz和5. OGHz的W1-Fi (IEEE 802. 11)頻帶進行通信。在蜂窩電話電信頻帶和其它射頻頻帶中，無線通信也是可能的。在諸如天線分集方案之類的方案中，電子設(shè)備可以使用具有多個天線的陣列來處理無線通信。當大量制造這樣類型的多天線無線設(shè)備時，可以使用射頻測試站來評估每個設(shè)備上的無線通信電路的性能，以確保每個設(shè)備滿足設(shè)計準則。射頻測試站通常包括測試主機、測試器(例如，信號生成器)以及具有測試天線的電磁屏蔽測試外殼。信號生成器連接到測試主機。以這種方式進行布置，在產(chǎn)品測試期間，測試主機將信號生成器配置成經(jīng)由電磁屏蔽測試外殼的測試天線向相應(yīng)的被測電子設(shè)備(DUT)發(fā)送射頻信號。在傳統(tǒng)的射頻測試布置中，將只具有一個天線的無線DUT放置在電磁屏蔽測試外殼中。測試主機指導(dǎo)信號生成器向DUT廣播下行鏈路測試信號(B卩，信號生成器使用屏蔽測試外殼中的測試天線向DUT輻射測試信號)。DUT可以使用其天線來接收下行鏈路測試信號。DUT可以被配置成分析所接收到的下行鏈路測試信號，并確定其無線通信電路是否滿足性能準則。例如，DUT可以基于所接收到的下行鏈路信號來計算接收功率電平。如果接收功率電平小于預(yù)定閾值，則將DUT標記為通過的DUT。如果接收功率電平大于預(yù)定閾值，則將DUT標記為失敗的DUT。
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以這種方式測試多天線設(shè)備可能不適合測試至少包含第一天線和第二天線的DTU，并且可能產(chǎn)生不正確的結(jié)果，這是因為傳統(tǒng)的測試方法將DUT固定在電磁屏蔽測試外殼內(nèi)的固定位置。如果在該固定位置中，將第一天線放置得更接近測試天線，那么測量結(jié)果可能偏向第一天線(即，測試結(jié)果對于第一天線可能更正確，但是對于第二天線可能不太正確)。如果在該固定位置中，將第二天線放置得更接近測試天線，那么測量結(jié)果可能偏向第二天線(即，測試結(jié)果對于第二天線可能更正確，而對于第一天線可能不太正確)。還存在以下情況至少兩個天線與測試天線的距離相同，但是由于極化，與另一天線相比，設(shè)備的朝向有利于一個天線。因此，可能希望提供用于在生產(chǎn)環(huán)境中測試具有多個天線的電子設(shè)備的改善方式。

發(fā)明內(nèi)容
可以使用射頻測試系統(tǒng)中的測試站來對均至少具有第一天線結(jié)構(gòu)和第二天線結(jié)構(gòu)的被測無線設(shè)備(DUT)執(zhí)行射頻測試。每個測試站可以包括測試主機、測試單元(例如，頻譜分析器、向量網(wǎng)絡(luò)分析器、信號生成器等)以及測試外殼(例如，橫電磁室)。可以將諸如電感耦合器之類的測試天線放置在測試外殼內(nèi)，用以使用近場通信機制向DUT輻射射頻測試信號以及從DUT接收射頻測試信號。在測試之前，可以對參考DUT進行校準以確定在測試外殼內(nèi)的最佳DUT朝向。例如，可以在使得第一天線結(jié)構(gòu)與測試天線之間的射頻信號路徑損耗最小化的校準操作期間確定第一 DUT朝向(例如，將與第一天線結(jié)構(gòu)相關(guān)聯(lián)的主要電場極化和磁場同與測試天線相關(guān)聯(lián)的主要電場極化對齊的第一 DUT朝向)?？梢栽谑沟玫诙炀€結(jié)構(gòu)與測試天線之間的路徑損耗最小化的校準操作期間確定第二 DUT朝向(例如，將與第二天線結(jié)構(gòu)相關(guān)聯(lián)的主要電場極化同與測試天線相關(guān)聯(lián)的主要電場極化對齊的第二 DUT朝向)?！┐_定了第一和第二朝向，就可以將產(chǎn)品DUT放置在相應(yīng)的測試固定裝置中，并將其插入到測試外殼(例如，諸如橫電磁室、測試箱等之類的屏蔽外殼)中。測試固定裝置可以由諸如DUT旋轉(zhuǎn)器之類的定位器支撐。DUT旋轉(zhuǎn)器可以用于使DUT圍繞期望軸旋轉(zhuǎn)/傾斜/轉(zhuǎn)動，或者可以用于垂直地/水平地移動DUT，以將DUT放置在測試外殼內(nèi)的不同朝向。例如，在測試第一天線結(jié)構(gòu)的性能時，DUT旋轉(zhuǎn)器可以將DUT定位在使第一天線結(jié)構(gòu)與測試天線之間的路徑損耗最小化的第一 DUT朝向。當正在測試第一天線結(jié)構(gòu)時，第二天線結(jié)構(gòu)可以被切出使用。隨后在測試第二天線結(jié)構(gòu)的性能時，DUT旋轉(zhuǎn)器可以將DUT定位在使第二天線結(jié)構(gòu)與測試天線之間的路徑損耗最小化的第二 DUT朝向。當正在測試第二天線結(jié)構(gòu)時，第一天線結(jié)構(gòu)可以被切出使用。當測試單元向DUT主動地輻射射頻測試信號并對從DUT接收到的相應(yīng)信號執(zhí)行測量時，可以固定DUT的位置。根據(jù)使用測試單元收集的測試結(jié)果，可以將DUT標記為通過的DUT或失敗的DUT。例如，如果第一和第二天線結(jié)構(gòu)的測試數(shù)據(jù)都是令人滿意的，那么可以將DUT標記為通過的DUT。如果第一和第二天線結(jié)構(gòu)中的至少一個的測試數(shù)據(jù)不能滿足設(shè)計準則，則可以將DUT標記為失敗的DUT。失敗的DUT可以返回重做，或者可以廢棄。根據(jù)附圖和以下詳細描述，本發(fā)明的其它特征、其特性和各種優(yōu)點將更加明顯。


圖1是根據(jù)本發(fā)明實施例的包括可以被測試的多個天線的類型的示例性電子設(shè)備的透視圖。圖2是根據(jù)本發(fā)明實施例的在圖1中所示的類型的示例性電子設(shè)備的俯視圖。圖3是根據(jù)本發(fā)明實施例的包括被測設(shè)備旋轉(zhuǎn)器的示例性測試站的圖。圖4A和4B是不出了根據(jù)本發(fā)明實施例可以如何使被測設(shè)備圍繞與測試室的底座垂直的軸旋轉(zhuǎn)的側(cè)視圖，其中在測試室中正在測試該被測設(shè)備。圖5和圖6是示出了根據(jù)本發(fā)明實施例可以如何使被測設(shè)備圍繞平行于測試室的底座的軸旋轉(zhuǎn)的側(cè)視圖，其中在測試室中正在測試該被測設(shè)備。圖7是根據(jù)本發(fā)明實施例使用結(jié)合圖3所示的類型的測試站來測試被測設(shè)備所涉及的示例性步驟的流程圖。
具體實施例方式可以給電子設(shè)備提供無線通信電路。無線通信電路可以用于支持多個無線通信頻帶中的無線通信。無線通信電路可以包括被布置成實現(xiàn)天線分集系統(tǒng)的多個天線。
天線可以包括環(huán)形天線、倒F天線、帶狀天線、平面倒F天線、槽孔天線、包括多于一個類型的天線結(jié)構(gòu)的混合天線、或者其它適當?shù)奶炀€。天線的導(dǎo)電結(jié)構(gòu)可以由導(dǎo)電電子設(shè)備結(jié)構(gòu)形成，例如導(dǎo)電殼體結(jié)構(gòu)，襯底上的跡線(諸如塑料、玻璃或陶瓷襯底上的跡線、柔性印刷電路板(“柔性電路”)上的跡線、剛性印刷電路板(例如，填充玻璃纖維的環(huán)氧板)上的跡線)，被圖形化的金屬箔的多個部分、導(dǎo)線、導(dǎo)體帶、其它導(dǎo)電結(jié)構(gòu)、或者由這些結(jié)構(gòu)的組合形成的導(dǎo)電結(jié)構(gòu)。在圖1中示出了可以被提供一個或多個天線的類型的示例性電子設(shè)備。電子設(shè)備10可以是便攜式電子設(shè)備或其它適當?shù)碾娮釉O(shè)備。例如，電子設(shè)備10可以是膝上型計算機，平板計算機，諸如腕表設(shè)備、吊墜設(shè)備、耳機設(shè)備、聽筒設(shè)備或其它可佩戴或小型設(shè)備之類的稍微較小的設(shè)備，蜂窩電話、媒體播放器等。設(shè)備10可以包括諸如殼體12之類的殼體。殼體12有時可以稱為箱體，可以由塑料、玻璃、陶瓷、纖維組合物、金屬(例如不銹鋼、鋁等)、其它適當材料或這些材料的組合來形成。在一些情況中，殼體12的多個部分可以由電介質(zhì)或其它低導(dǎo)電性材料形成。在其它情況中，殼體12或者組成殼體12的結(jié)構(gòu)中的至少一些可以由金屬元素形成。如果希望的話，設(shè)備10可以具有諸如顯示器14之類的顯示器。顯示器14可以例如是包含電容式觸摸電極的觸摸屏。顯示器14可以包括由發(fā)光二極管(LED)、有機LED(0LED)、等離子光電元件、電子墨水元件、液晶顯示(IXD)組件或其它適當?shù)膱D像像素結(jié)構(gòu)形成的圖像像素。蓋玻片層可以覆蓋顯示器14的表面。顯示器14的多個部分，例如外圍區(qū)域201，可以是不活動的，并且可以不具有圖像像素結(jié)構(gòu)。顯示器14的多個部分，例如矩形中心部分20A (以虛線20為邊界)，可以與顯示器14的活動部分相對應(yīng)。在活動的顯示區(qū)域20A中，可以使用圖像像素陣列來為用戶顯示圖像。覆蓋顯示器14的蓋玻片層可以具有諸如用于按鈕16的圓形開口之類的開口以及諸如揚聲器端口開口 18 (例如，用于用戶的耳機揚聲器)之類的揚聲器端口開口。設(shè)備10還可以具有其它開口(例如，顯示器14和/或殼體12中的用于容納音量按鈕、振鈴按鈕、休眠按鈕和其它按鈕的開口，用于音頻插座、數(shù)據(jù)端口連接器、可移除介質(zhì)插槽的開口，等等)殼體12可以包括外圍導(dǎo)電元件，例如圍繞顯示器14和設(shè)備10的矩形輪廓延伸的金屬框或帶(作為例子)。天線可以作為延伸元件或可附接結(jié)構(gòu)而沿著設(shè)備10的邊緣、在設(shè)備10的后部或前部上進行設(shè)置，或者設(shè)置在設(shè)備10中的其它地方。使用一個適當?shù)牟贾?其在本文中有時被描述成例子)，可以在殼體12的下端24向設(shè)備10提供一個或多個天線，并且在殼體12的上端22向設(shè)備10提供一個或多個天線。在設(shè)備10的相對端(即，當設(shè)備10具有圖1中所示的類型的細長矩形形狀時，顯示器14和設(shè)備10的較窄端的區(qū)域)設(shè)置天線可以允許這些天線形成在離地結(jié)構(gòu)的適當距離處，其中地結(jié)構(gòu)與顯示器14的導(dǎo)電部分(例如，顯示器14的活動區(qū)域20A中的像素陣列和驅(qū)動器電路)相關(guān)聯(lián)。如果希望的話，可以將第一蜂窩電話天線設(shè)置在區(qū)域24中，并且可以將第二蜂窩電話天線設(shè)置在區(qū)域22中。還可以在區(qū)域22和/或24中提供用于處理諸如全球定位系統(tǒng)信號之類的衛(wèi)星導(dǎo)航信號或者諸如IEEE 802. 11 (
權(quán)利要求
1.一種用于使用測試站來測試被測產(chǎn)品設(shè)備的方法，所述被測產(chǎn)品設(shè)備至少包括第一天線結(jié)構(gòu)和第二天線結(jié)構(gòu)，其中，所述測試站包括測試外売，所述方法包括 將所述被測產(chǎn)品設(shè)備耦合到所述測試外殼內(nèi)的測試固定裝置； 在所述被測產(chǎn)品設(shè)備耦合到所述測試固定裝置吋，收集關(guān)于所述第一天線結(jié)構(gòu)的測試測量，以確定所述第一天線結(jié)構(gòu)是否滿足與所述第一天線結(jié)構(gòu)相關(guān)聯(lián)的預(yù)定性能準則；以及 在收集關(guān)于所述第一天線結(jié)構(gòu)的測試測量之后并且在所述被測產(chǎn)品設(shè)備仍然耦合到所述測試固定裝置吋，收集關(guān)于第二天線結(jié)構(gòu)的測試測量，以確定所述第二天線結(jié)構(gòu)是否滿足與所述第二天線結(jié)構(gòu)相關(guān)聯(lián)的預(yù)定性能準則。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，還包括 在收集關(guān)于所述第一天線結(jié)構(gòu)的測試測量之前，將所述被測產(chǎn)品設(shè)備定位在第一朝向；以及 在收集關(guān)于所述第一天線結(jié)構(gòu)的測試測量之后并且在收集關(guān)于所述第二天線結(jié)構(gòu)的測試測量之前，將所述被測產(chǎn)品設(shè)備定位在與所述第一朝向不同的第二朝向。
3.如權(quán)利要求2所述的方法，其中，將所述被測產(chǎn)品設(shè)備從所述第一朝向定位到所述第二朝向包括圍繞旋轉(zhuǎn)軸來旋轉(zhuǎn)所述被測產(chǎn)品設(shè)備。
4.如權(quán)利要求2所述的方法，其中，將所述被測產(chǎn)品設(shè)備從所述第一朝向定位到所述第二朝向包括圍繞與所述測試外殼的平面底座表面垂直的旋轉(zhuǎn)軸來旋轉(zhuǎn)所述被測產(chǎn)品設(shè)備。
5.如權(quán)利要求2所述的方法，其中，將所述被測產(chǎn)品設(shè)備從所述第一朝向定位到所述第二朝向包括沿著與所述測試外殼的平面底座表面垂直的軸垂直地移動所述被測產(chǎn)品設(shè)備。
6.如權(quán)利要求2所述的方法，其中，將所述被測產(chǎn)品設(shè)備從所述第一朝向定位到所述第二朝向包括沿著與所述測試外殼的平面底座表面平行的軸水平移動所述被測產(chǎn)品設(shè)備。
7.如權(quán)利要求2所述的方法，其中，所述測試外殼包括測試天線，并且其中，將所述被測產(chǎn)品設(shè)備定位在所述第一朝向包括定位所述被測產(chǎn)品設(shè)備，使得所述測試天線與所述第一天線結(jié)構(gòu)之間的射頻信號路徑損耗被最小化。
8.如權(quán)利要求7所述的方法，其中，將所述被測產(chǎn)品設(shè)備定位在所述第二朝向包括定位所述被測產(chǎn)品設(shè)備，使得所述測試天線與所述第二天線結(jié)構(gòu)之間的射頻信號路徑損耗被最小化。
9.如權(quán)利要求1所述的方法，還包括 響應(yīng)于確定所述第一天線結(jié)構(gòu)和所述第二天線結(jié)構(gòu)中的至少ー個未能滿足預(yù)定性能準則，將所述被測產(chǎn)品設(shè)備標記為需要重做的失敗的設(shè)備。
10.如權(quán)利要求1所述的方法，還包括 響應(yīng)于確定所述第一天線結(jié)構(gòu)和所述第二天線結(jié)構(gòu)滿足預(yù)定性能準則，將所述被測設(shè)備標記為通過的設(shè)備，并且將所述通過的設(shè)備封裝成全新的產(chǎn)品。
11.一種用于使用測試站來測試被測設(shè)備的方法，所述被測設(shè)備至少包括第一天線結(jié)構(gòu)和第二天線結(jié)構(gòu)，其中，所述測試站包括測試外殼和所述測試外殼內(nèi)的測試天線，所述方法包括 在所述被測設(shè)備與所述外殼內(nèi)的測試固定裝置配合吋，將所述被測設(shè)備定位在使在所述測試天線與所述第一天線結(jié)構(gòu)之間傳播的射頻信號的射頻信號路徑損耗最小化的第一朝向； 在所述被測設(shè)備處于所述第一朝向吋，對所述第一天線結(jié)構(gòu)執(zhí)行射頻測量； 在所述被測設(shè)備與所述測試固定裝置配合吋，將所述被測設(shè)備定位在使在所述測試天線與所述第二天線結(jié)構(gòu)之間傳播的射頻信號的射頻信號路徑損耗最小化的第二朝向；以及 在所述被測設(shè)備處于所述第二朝向吋，對所述第二天線結(jié)構(gòu)執(zhí)行射頻測量。
12.如權(quán)利要求11所述的方法,其中,所述測試外殼包括橫電磁室。
13.如權(quán)利要求11所述的方法，還包括 在所述被測設(shè)備處于所述第一朝向時并且在所述第二天線結(jié)構(gòu)被切出使用吋，利用所述測試天線向所述第一天線結(jié)構(gòu)發(fā)送射頻測試信號，并從所述第一天線結(jié)構(gòu)結(jié)接收射頻測試信號。
14.如權(quán)利要求13所述的方法，還包括 在所述被測設(shè)備處于所述第二朝向時并且在所述第一天線結(jié)構(gòu)被切出使用時，利用所述測試天線向所述第二天線結(jié)構(gòu)發(fā)送射頻測試信號并從所述第二天線結(jié)構(gòu)接收射頻測試信號。
15.如權(quán)利要求11所述的方法，其中，將所述被測設(shè)備從所述第一朝向定位到所述第ニ朝向包括圍繞旋轉(zhuǎn)軸來旋轉(zhuǎn)所述被測設(shè)備。
16.如權(quán)利要求11所述的方法，其中，將所述被測設(shè)備從所述第一朝向定位到所述第ニ朝向包括沿著軸移動所述被測設(shè)備。
17.如權(quán)利要求11所述的方法，其中，所述測試天線包括近場通信元件，所述近場通信元件適合用于使用近場電磁耦合機制向所述被測設(shè)備發(fā)送射頻信號，并從所述被測設(shè)備接收射頻信號。
18.如權(quán)利要求11所述的方法，還包括 使用所述測試站來校準參考被測設(shè)備，以確定在測試所述被測設(shè)備時使用的所述第一朝向和所述第二朝向。
19.一種用于使用測試站來測試被測設(shè)備的方法，所述被測設(shè)備至少包括第一天線結(jié)構(gòu)和第二天線結(jié)構(gòu)，其中，所述測試站包括測試外殼和所述測試外殼內(nèi)的近場通信元件，所述方法包括 將所述被測設(shè)備定位在第一朝向； 在所述被測設(shè)備處于所述第一朝向時，利用所述近場通信元件使用近場電磁耦合來從所述被測設(shè)備接收射頻信號； 將所述被測設(shè)備定位在與所述第一朝向不同的第二朝向；以及 在所述被測設(shè)備處于所述第二朝向時，利用所述近場通信元件使用近場電磁耦合來從所述被測設(shè)備接收射頻信號。
20.如權(quán)利要求19所述的方法，其中，所述測試外殼包括橫電磁室。
21.如權(quán)利要求19所述的方法，其中，所述測試站還包括定位設(shè)備，并且其中，將所述被測設(shè)備從所述第一朝向定位到所述第二朝向包括利用所述定位設(shè)備圍繞至少ー個旋轉(zhuǎn)軸來旋轉(zhuǎn)所述被測設(shè)備。
22.一種用于使用測試站來測試被測產(chǎn)品設(shè)備的設(shè)備，所述被測產(chǎn)品設(shè)備至少包括第一天線結(jié)構(gòu)和第二天線結(jié)構(gòu)，其中，所述測試站包括測試外殼，所述用于使用測試站來測試被測產(chǎn)品設(shè)備的設(shè)備包括 用于將所述被測產(chǎn)品設(shè)備耦合到所述測試外殼內(nèi)的測試固定裝置的裝置； 用于在所述被測產(chǎn)品設(shè)備耦合到所述測試固定裝置吋，收集關(guān)于所述第一天線結(jié)構(gòu)的測試測量，以確定所述第一天線結(jié)構(gòu)是否滿足與所述第一天線結(jié)構(gòu)相關(guān)聯(lián)的預(yù)定性能準則的裝置；以及 用于在收集關(guān)于所述第一天線結(jié)構(gòu)的測試測量之后并且在所述被測產(chǎn)品設(shè)備仍然耦合到所述測試固定裝置時，收集關(guān)于第二天線結(jié)構(gòu)的測試測量，以確定所述第二天線結(jié)構(gòu)是否滿足與所述第二天線結(jié)構(gòu)相關(guān)聯(lián)的預(yù)定性能準則的裝置。
23.如權(quán)利要求22所述的設(shè)備，還包括 用于在收集關(guān)于所述第一天線結(jié)構(gòu)的測試測量之前，將所述被測產(chǎn)品設(shè)備定位在第一朝向的裝置；以及 用于在收集關(guān)于所述第一天線結(jié)構(gòu)的測試測量之后并且在收集關(guān)于所述第二天線結(jié)構(gòu)的測試測量之前，將所述被測產(chǎn)品設(shè)備定位在與所述第一朝向不同的第二朝向的裝置。
24.如權(quán)利要求23所述的設(shè)備，其中，用于將所述被測產(chǎn)品設(shè)備從所述第一朝向定位到所述第二朝向的裝置包括用于圍繞旋轉(zhuǎn)軸來旋轉(zhuǎn)所述被測產(chǎn)品設(shè)備的裝置。
25.如權(quán)利要求23所述的設(shè)備，其中，用于將所述被測產(chǎn)品設(shè)備從所述第一朝向定位到所述第二朝向的裝置包括用于圍繞與所述測試外殼的平面底座表面垂直的旋轉(zhuǎn)軸來旋轉(zhuǎn)所述被測產(chǎn)品設(shè)備的裝置。
26.如權(quán)利要求23所述的設(shè)備，其中，用于將所述被測產(chǎn)品設(shè)備從所述第一朝向定位到所述第二朝向的裝置包括用于沿著與所述測試外殼的平面底座表面垂直的軸垂直地移動所述被測產(chǎn)品設(shè)備的裝置。
27.如權(quán)利要求23所述的設(shè)備，其中，用于將所述被測產(chǎn)品設(shè)備從所述第一朝向定位到所述第二朝向的裝置包括用于沿著與所述測試外殼的平面底座表面平行的軸水平移動所述被測產(chǎn)品設(shè)備的裝置。
28.如權(quán)利要求23所述的設(shè)備，其中，所述測試外殼包括測試天線，并且其中，用于將所述被測產(chǎn)品設(shè)備定位在所述第一朝向的裝置包括用于定位所述被測產(chǎn)品設(shè)備，使得所述測試天線與所述第一天線結(jié)構(gòu)之間的射頻信號路徑損耗被最小化的裝置。
29.如權(quán)利要求28所述的設(shè)備，其中，用于將所述被測產(chǎn)品設(shè)備定位在所述第二朝向的裝置包括用于定位所述被測產(chǎn)品設(shè)備，使得所述測試天線與所述第二天線結(jié)構(gòu)之間的射頻信號路徑損耗被最小化的裝置。
30.如權(quán)利要求22所述的設(shè)備，還包括 用于響應(yīng)于確定所述第一天線結(jié)構(gòu)和所述第二天線結(jié)構(gòu)中的至少ー個未能滿足預(yù)定性能準則，將所述被測產(chǎn)品設(shè)備標記為需要重做的失敗的設(shè)備的裝置。
31.如權(quán)利要求22所述的設(shè)備，還包括 用于響應(yīng)于確定所述第一天線結(jié)構(gòu)和所述第二天線結(jié)構(gòu)滿足預(yù)定性能準則，將所述被測設(shè)備標記為通過的設(shè)備，并且將所述通過的設(shè)備封裝成全新的產(chǎn)品的裝置。
32.一種用于使用測試站來測試被測設(shè)備的設(shè)備，所述被測設(shè)備至少包括第一天線結(jié)構(gòu)和第二天線結(jié)構(gòu)，其中，所述測試站包括測試外殼和所述測試外殼內(nèi)的測試天線，所述設(shè)備包括 用于在所述被測設(shè)備與所述外殼內(nèi)的測試固定裝置配合吋，將所述被測設(shè)備定位在使在所述測試天線與所述第一天線結(jié)構(gòu)之間傳播的射頻信號的射頻信號路徑損耗最小化的第一朝向的裝置； 用于在所述被測設(shè)備處于所述第一朝向吋，對所述第一天線結(jié)構(gòu)執(zhí)行射頻測量的裝置； 用于在所述被測設(shè)備與所述測試固定裝置配合吋，將所述被測設(shè)備定位在使在所述測試天線與所述第二天線結(jié)構(gòu)之間傳播的射頻信號的射頻信號路徑損耗最小化的第二朝向的裝置；以及 用于在所述被測設(shè)備處于所述第二朝向吋，對所述第二天線結(jié)構(gòu)執(zhí)行射頻測量的裝置。
33.如權(quán)利要求32所述的設(shè)備,其中,所述測試外殼包括橫電磁室。
34.如權(quán)利要求32所述的設(shè)備，還包括 用于在所述被測設(shè)備處于所述第一朝向時并且在所述第二天線結(jié)構(gòu)被切出使用時，利用所述測試天線向所述第一天線結(jié)構(gòu)發(fā)送射頻測試信號，并從所述第一天線結(jié)構(gòu)結(jié)接收射頻測試信號的裝置。
35.如權(quán)利要求34所述的設(shè)備，還包括 用于在所述被測設(shè)備處于所述第二朝向時并且在所述第一天線結(jié)構(gòu)被切出使用時，利用所述測試天線向所述第二天線結(jié)構(gòu)發(fā)送射頻測試信號并從所述第二天線結(jié)構(gòu)接收射頻測試信號的裝置。
36.如權(quán)利要求32所述的設(shè)備，其中，用于將所述被測設(shè)備從所述第一朝向定位到所述第二朝向的裝置包括用于圍繞旋轉(zhuǎn)軸來旋轉(zhuǎn)所述被測設(shè)備的裝置。
37.如權(quán)利要求32所述的設(shè)備，其中，用于將所述被測設(shè)備從所述第一朝向定位到所述第二朝向的裝置包括用于沿著軸移動所述被測設(shè)備的裝置。
38.如權(quán)利要求32所述的設(shè)備，其中，所述測試天線包括近場通信元件，所述近場通信元件適合用于使用近場電磁耦合機制向所述被測設(shè)備發(fā)送射頻信號，并從所述被測設(shè)備接收射頻信號。
39.如權(quán)利要求32所述的設(shè)備，還包括 用于使用所述測試站來校準參考被測設(shè)備，以確定在測試所述被測設(shè)備時使用的所述第一朝向和所述第二朝向的裝置。
40.一種用于使用測試站來測試被測設(shè)備的設(shè)備，所述被測設(shè)備至少包括第一天線結(jié)構(gòu)和第二天線結(jié)構(gòu)，其中，所述測試站包括測試外殼和所述測試外殼內(nèi)的近場通信元件，所述設(shè)備包括 用于將所述被測設(shè)備定位在第一朝向的裝置； 用于在所述被測設(shè)備處于所述第一朝向時，利用所述近場通信元件使用近場電磁耦合來從所述被測設(shè)備接收射頻信號的裝置； 用于將所述被測設(shè)備定位在與所述第一朝向不同的第二朝向的裝置；以及用于在所述被測設(shè)備處于所述第二朝向時，利用所述近場通信元件使用近場電磁耦合來從所述被測設(shè)備接收射頻信號的裝置。
41.如權(quán)利要求40所述的設(shè)備,其中,所述測試外殼包括橫電磁室。
42.如權(quán)利要求40所述的設(shè)備，其中，所述測試站還包括定位設(shè)備，并且其中，用于將所述被測設(shè)備從所述第一朝向定位到所述第二朝向的裝置包括 用于利用所述定位設(shè)備圍繞至少一個旋轉(zhuǎn)軸來旋轉(zhuǎn)所述被測設(shè)備的裝置。
全文摘要
本發(fā)明公開了用于減小路徑損耗的方法和設(shè)備。測試站可以包括測試主機、測試單元和測試外殼。在產(chǎn)品測試期間，可以將至少具有第一天線和第二天線的被測設(shè)備(DUT)放置在測試外殼中?？梢允褂脺y試外殼內(nèi)的測試天線來從測試單元向DUT傳送射頻測試信號。在測試第一天線的性能的第一時段中，可以將DUT定向在第一位置，使得第一天線與測試天線之間的路徑損耗最小化。在測試第二天線的性能的第二時段中，可以將DUT定向在第二位置，使得第二天線與測試天線之間的路徑損耗最小化。如果所收集的測試數(shù)據(jù)是令人滿意的，則將DUT標記為通過的DUT。
文檔編號H04B17/00GK103051390SQ20121036716
公開日2013年4月17日 申請日期2012年9月28日 優(yōu)先權(quán)日2011年10月12日
發(fā)明者J·G·尼科爾, M·帕斯科林尼, 申志一 申請人:蘋果公司