1.一種用于利用多個(gè)光電峰的定量單光子發(fā)射計(jì)算機(jī)斷層掃描（SPECT）的方法，所述方法包括：
利用SPECT檢測器來檢測來自患者的發(fā)射，所述發(fā)射是以具有相應(yīng)多個(gè)光電峰的同位素的不同光電峰范圍；
在根據(jù)發(fā)射的重構(gòu)中針對所述不同光電峰范圍中的第一光電峰范圍而前向投影；
在根據(jù)發(fā)射的重構(gòu)中針對所述不同光電峰范圍中的第二光電峰范圍而前向投影；
在根據(jù)發(fā)射的重構(gòu)中后向投影，所述后向投影組合來自所述第一和第二光電峰范圍的反饋；以及
根據(jù)重構(gòu)而生成圖像。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中檢測包括檢測來自具有不同光電峰的放射性核素的發(fā)射，所述放射性核素在患者體內(nèi)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中檢測發(fā)射包括檢測以第一光電峰范圍的發(fā)射的第一集合以及以第二光電峰范圍的發(fā)射的第二集合，并且其中后向投影組合反饋包括分別對相對于所述第一和第二集合的第一和第二反饋進(jìn)行求和。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中針對所述第一和第二光電峰范圍而前向投影包括利用取決于光電峰的投影算子來前向投影，并且其中后向投影包括利用取決于光電峰的投影算子來后向投影。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中前向和后向投影包括利用單個(gè)圖像容積、針對所述不同的光電峰范圍來重構(gòu)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中后向投影包括將新梯度計(jì)算為在所述多個(gè)光電峰下的后向投影的總和。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中后向投影包括組合來自所述多個(gè)光電峰的共軛梯度。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中后向投影包括：
針對所述多個(gè)光電峰中的每一個(gè)，對所檢測的發(fā)射與針對所述多個(gè)光電峰中相應(yīng)一個(gè)的前向投影的差進(jìn)行后向投影；以及
組合后向投影的結(jié)果。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其中后向投影、前向投影的投影算子以及所檢測的發(fā)射是光電峰的函數(shù)。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中生成圖像包括生成定量SPECT圖像。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中生成圖像包括生成圖像作為從中檢測到發(fā)射的患者的代表。
12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中生成圖像包括生成對放射性濃度進(jìn)行表示的量的圖像。
13.一種非暫時(shí)性計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，所述非暫時(shí)性計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)已經(jīng)在其中存儲了對通過經(jīng)編程的處理器可執(zhí)行以用于利用多個(gè)發(fā)射能量的單光子發(fā)射計(jì)算機(jī)斷層掃描的指令進(jìn)行表示的數(shù)據(jù)，所述存儲介質(zhì)包括指令用于：
分別針對所述多個(gè)發(fā)射能量中的每一個(gè)、利用針對該能量的算子來進(jìn)行投影；以及
組合來自針對所述多個(gè)發(fā)射能量的投影的結(jié)果的梯度。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的非暫時(shí)性計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，其中投影包括從投影空間向圖像空間后向投影。
15.根據(jù)權(quán)利要求13所述的非暫時(shí)性計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，其中分別投影包括針對發(fā)射能量中的每一個(gè)而確定利用針對該能量的算子的前向投影與針對該能量的所測量發(fā)射的差，并且將所述差乘以針對該能量的算子的轉(zhuǎn)置。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的非暫時(shí)性計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，其中組合包括對針對所述多個(gè)發(fā)射能量的相乘的結(jié)果進(jìn)行求和。
17.根據(jù)權(quán)利要求13所述的非暫時(shí)性計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，其中組合包括組合新梯度作為來自投影的結(jié)果。
18.根據(jù)權(quán)利要求13所述的非暫時(shí)性計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，此外包括：
分別在所述多個(gè)能量中的每一個(gè)下前向投影；以及
重復(fù)投影并且與在所述多個(gè)能量下的前向投影的輸出相組合。
19.一種單光子發(fā)射計(jì)算機(jī)斷層掃描（SPECT）系統(tǒng)，所述SPECT系統(tǒng)包括：
檢測器，其用于檢測來自以第一和第二光電峰發(fā)射的同位素的、以所述第一和第二光電峰的發(fā)射；
處理器，其被配置成根據(jù)發(fā)射而在三維中重構(gòu)發(fā)射的分布，所述重構(gòu)使用共軛梯度，所述共軛梯度是以所述第一和第二光電峰二者的發(fā)射的函數(shù)；以及
顯示器，其被配置成顯示來自重構(gòu)的圖像。
20.根據(jù)權(quán)利要求19所述的SPECT系統(tǒng)，其中所述處理器被配置成分別針對以所述第一和第二光電峰的發(fā)射而后向投影并且對來自分別的后向投影的結(jié)果進(jìn)行求和，所述共軛梯度是總和的函數(shù)。