本發(fā)明涉及液晶顯示技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種內(nèi)嵌式觸摸屏測(cè)試電路。

背景技術(shù)：

內(nèi)嵌式觸摸屏在壓合驅(qū)動(dòng)芯片以及柔性電路板之前，會(huì)對(duì)觸摸屏進(jìn)行線路通路短路測(cè)試，以防止線路有問題的觸摸屏被壓合驅(qū)動(dòng)芯片及柔性電路板，從而造成物料浪費(fèi)。

如圖1所示，內(nèi)嵌式觸摸屏包括觸控陣列、及位于觸控陣列上部的顯示陣列(圖中未示出)，觸控陣列形成與陣列基板101上，顯示陣列包括若干垂直相交的掃描線與數(shù)據(jù)線，掃描線與數(shù)據(jù)線形成若干像素單元。

現(xiàn)有的觸摸屏觸控線路測(cè)試，采用類似棋盤格的測(cè)試方法，面板中的觸控陣列包括若干方塊形的觸控電極每一個(gè)觸控電極通過一條金屬線連接一個(gè)薄膜晶體管104；為了方便說明,將各觸控電極分為奇型觸控電極102與偶型觸控電極103，奇型觸控電極102與偶型觸控電極103呈棋盤格方式排列；其中，各觸控電極與相對(duì)應(yīng)的薄膜晶體管104的漏極連接，各觸控電極對(duì)應(yīng)連接的薄膜晶體管104的柵極連接sw(控制信號(hào)線)，各偶型觸控電極103對(duì)應(yīng)連接的薄膜晶體管104的源極連接tp1(第一測(cè)試信號(hào)線)，各奇型觸控電極102對(duì)應(yīng)連接的薄膜晶體管104的源極連接tp2(第二測(cè)試信號(hào)線)。

測(cè)試時(shí)，sw信號(hào)線給高電平，使sw信號(hào)線控制的薄膜晶體管104導(dǎo)通；tp1信號(hào)線和tp2信號(hào)線分別給不同電壓，例如，tp1給0v電壓，tp2給±5v電壓；數(shù)據(jù)線全部給0v電壓；由于觸控陣列的觸控電極是顯示陣列的公共電極，當(dāng)偶型觸控電極103和奇型觸控電極102的電壓不一樣時(shí)，則偶型觸控電極103和奇型觸控電極102對(duì)應(yīng)的區(qū)域顯示亮度會(huì)有差異。正常的顯示亮度差異是奇型觸控電極102對(duì)應(yīng)的區(qū)域比較亮(tp2電壓高)，偶型觸控電極103對(duì)應(yīng)的區(qū)域比較暗(tp1電壓低)；從而通過判斷顯示亮度差異是否正常來判斷觸控電極是否正常導(dǎo)通。

但是，現(xiàn)有技術(shù)的內(nèi)嵌式觸控屏的觸控線路測(cè)試方法，當(dāng)偶型觸控電極103和偶型觸控電極103發(fā)生短路時(shí)，無法被檢測(cè)出，同樣的奇型觸控電極102和奇型觸控電極102之間發(fā)生短路也無法被測(cè)出；進(jìn)而增加了觸控屏存在觸控缺陷的風(fēng)險(xiǎn)。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明提供一種內(nèi)嵌式觸摸屏測(cè)試電路，能夠檢測(cè)出觸控電極的信號(hào)線之間的短路缺陷，以解決現(xiàn)有的內(nèi)嵌式觸控屏的觸控線路測(cè)試方法，當(dāng)偶型觸控電極和偶型觸控電極發(fā)生短路，或者奇型觸控電極和奇型觸控電極之間發(fā)生短路，無法被檢測(cè)出；進(jìn)而增加了觸控屏存在觸控缺陷的風(fēng)險(xiǎn)的技術(shù)問題。

為解決上述問題，本發(fā)明提供的技術(shù)方案如下：

本發(fā)明提供一種內(nèi)嵌式觸控屏測(cè)試電路，所述測(cè)試電路連接有觸控電極陣列，所述觸控電極陣列連接顯示陣列；

所述測(cè)試電路包括：級(jí)聯(lián)的多個(gè)掃描電路，各級(jí)所述掃描電路對(duì)應(yīng)連接一所述觸控電極；

所述掃描電路至少包括：

一測(cè)試信號(hào)輸入端，用以接入測(cè)試信號(hào)源；

一測(cè)試信號(hào)輸出端，通過第一信號(hào)線對(duì)應(yīng)連接一所述觸控電極，用以將測(cè)試信號(hào)輸入至相應(yīng)的所述觸控電極；以及：

一短路反饋端，通過第二信號(hào)線連接上一級(jí)的所述掃描電路的測(cè)試信號(hào)輸出端所連接的所述觸控電極；

當(dāng)本級(jí)的所述掃描電路的測(cè)試信號(hào)輸出端連接的所述觸控電極，與上一級(jí)的所述掃描電路的測(cè)試信號(hào)輸出端連接的所述觸控電極之間短路，則所述第一信號(hào)線、所述第二信號(hào)線以及本級(jí)的所述掃描電路之間形成回路，使得本級(jí)的所述掃描電路的測(cè)試信號(hào)輸出端連接的所述觸控電極的電壓值降低，對(duì)應(yīng)的顯示區(qū)的亮度較暗。

根據(jù)本發(fā)明一優(yōu)選實(shí)施例，各所述掃描電路的測(cè)試信號(hào)輸出端，依序循環(huán)向?qū)?yīng)的所述觸控電極通入高電平信號(hào)。

根據(jù)本發(fā)明一優(yōu)選實(shí)施例，所述顯示陣列包括若干掃描線及若干數(shù)據(jù)線，所述掃描線與所述數(shù)據(jù)線垂直相交形成若干像素單元，每一所述像素單元包括一像素電極以及一薄膜晶體管，所述薄膜晶體管包括有柵極、源極以及漏極，所述薄膜晶體管的柵極連接相應(yīng)的所述掃描線，所述薄膜晶體管的漏極連接相應(yīng)的所述像素電極，所述薄膜晶體管的源極連接相應(yīng)的所述數(shù)據(jù)線；其中，

在進(jìn)行觸控電極通路測(cè)試時(shí)，所述數(shù)據(jù)線向所述像素單元通入0v電壓。

根據(jù)本發(fā)明一優(yōu)選實(shí)施例，所述掃描電路的測(cè)試信號(hào)輸出端輸出高電平信號(hào)或低電平信號(hào)，所述高電平信號(hào)與所述數(shù)據(jù)線輸出信號(hào)的壓差，與所述低電平信號(hào)與所述數(shù)據(jù)線輸出信號(hào)的壓差的絕對(duì)值相等。

依據(jù)本發(fā)明的上述目的，還提出另一種內(nèi)嵌式觸控屏測(cè)試電路，所述測(cè)試電路連接有觸控電極陣列，所述觸控電極陣列連接顯示陣列；

所述測(cè)試電路包括：級(jí)聯(lián)的多個(gè)掃描電路，各級(jí)所述掃描電路對(duì)應(yīng)連接一行所述觸控電極；

所述掃描電路至少包括：

一測(cè)試信號(hào)輸入端，用以接入測(cè)試信號(hào)源；

一測(cè)試信號(hào)輸出端，所述測(cè)試信號(hào)輸出端連接一第一信號(hào)線，位于同一行的各所述觸控電極分別通過一第二信號(hào)線連接于所述第一信號(hào)線；用以將測(cè)試信號(hào)輸入至相應(yīng)的所述觸控電極；

本級(jí)的所述掃描電路連接的一所述觸控電極為第一觸控電極，上一級(jí)的所述掃描電路連接的一所述觸控電極為第二觸控電極，當(dāng)所述第一觸控電極與所述第二觸控電極發(fā)生短路，則所述第一觸控電極連接的所述第二信號(hào)線、所述第二觸控電極連接的所述第二信號(hào)線、上一級(jí)的所述掃描電路、本級(jí)的所述掃描電路以及本級(jí)的所述掃描電路連接的所述第一信號(hào)線之間形成回路，使得所述第一觸控電極的電壓值降低，對(duì)應(yīng)的顯示區(qū)的亮度較暗。

根據(jù)本發(fā)明一優(yōu)選實(shí)施例，各所述掃描電路的測(cè)試信號(hào)輸出端，依序循環(huán)向?qū)?yīng)的所述觸控電極通入高電平信號(hào)。

根據(jù)本發(fā)明一優(yōu)選實(shí)施例，所述顯示陣列包括若干掃描線及若干數(shù)據(jù)線，所述掃描線與所述數(shù)據(jù)線垂直相交形成若干像素單元，每一所述像素單元包括一像素電極以及一薄膜晶體管，所述薄膜晶體管包括有柵極、源極以及漏極，所述薄膜晶體管的柵極連接相應(yīng)的所述掃描線，所述薄膜晶體管的漏極連接相應(yīng)的所述像素電極，所述薄膜晶體管的源極連接相應(yīng)的所述數(shù)據(jù)線；其中，

在進(jìn)行觸控電極通路測(cè)試時(shí)，所述數(shù)據(jù)線向所述像素單元通入0v電壓。

根據(jù)本發(fā)明一優(yōu)選實(shí)施例，所述掃描電路的測(cè)試信號(hào)輸出端輸出高電平信號(hào)或低電平信號(hào)，所述高電平信號(hào)與所述數(shù)據(jù)線輸出信號(hào)的壓差，與所述低電平信號(hào)與所述數(shù)據(jù)線輸出信號(hào)的壓差的絕對(duì)值相等。

本發(fā)明的有益效果為：相較于現(xiàn)有的內(nèi)嵌式觸摸屏測(cè)試電路，本發(fā)明的內(nèi)嵌式觸摸屏測(cè)試電路，觸控電極與其他觸控電極短路后，短路觸控電極連接的信號(hào)線，與被短路觸控電極連接的信號(hào)線以及相關(guān)掃描電路形成回路，進(jìn)而拉低短路觸控電極的電壓，使短路觸控電極對(duì)應(yīng)的顯示區(qū)亮度暗于其他區(qū)域，從而區(qū)分出短路觸控電極的位置；解決了現(xiàn)有的內(nèi)嵌式觸控屏的觸控線路測(cè)試方法，當(dāng)偶型觸控電極和偶型觸控電極發(fā)生短路，或者奇型觸控電極和奇型觸控電極之間發(fā)生短路，無法被檢測(cè)出；進(jìn)而增加了觸控屏存在觸控缺陷的風(fēng)險(xiǎn)的技術(shù)問題。

附圖說明

為了更清楚地說明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為一種現(xiàn)有的內(nèi)嵌式觸控屏測(cè)試電路原理圖。

圖2為本發(fā)明實(shí)施例一的內(nèi)嵌式觸控屏測(cè)試電路原理圖；

圖3為發(fā)明本實(shí)施例二的內(nèi)嵌式觸控屏測(cè)試電路原理圖。

具體實(shí)施方式

以下各實(shí)施例的說明是參考附加的圖示，用以例示本發(fā)明可用以實(shí)施的特定實(shí)施例。本發(fā)明所提到的方向用語，例如[上]、[下]、[前]、[后]、[左]、[右]、[內(nèi)]、[外]、[側(cè)面]等，僅是參考附加圖式的方向。因此，使用的方向用語是用以說明及理解本發(fā)明，而非用以限制本發(fā)明。在圖中，結(jié)構(gòu)相似的單元是用以相同標(biāo)號(hào)表示。

本發(fā)明針對(duì)現(xiàn)有的內(nèi)嵌式觸控屏的觸控線路測(cè)試方法，當(dāng)偶型觸控電極和偶型觸控電極發(fā)生短路，或者奇型觸控電極和奇型觸控電極之間發(fā)生短路，無法被檢測(cè)出；進(jìn)而增加了觸控屏存在觸控缺陷的風(fēng)險(xiǎn)的技術(shù)問題，本實(shí)施例能夠解決該缺陷。

實(shí)施例一

如圖2所示，本發(fā)明提供的內(nèi)嵌式觸控屏測(cè)試電路，所述測(cè)試電路連接有觸控電極陣列，所述觸控電極陣列連接顯示陣列(圖中未示出)，所述顯示陣列與所述觸控電極層疊設(shè)置。

所述觸控電極陣列制備于所述陣列基板201上，包括若干觸控電極202，亦稱方塊電極，相鄰所述觸控電極202之間具有間隙，以實(shí)現(xiàn)各個(gè)所述觸控電極202的相互絕緣。

所述顯示陣列包括若干掃描線及若干數(shù)據(jù)線，所述掃描線與所述數(shù)據(jù)線垂直相交形成若干像素單元，每一所述像素單元包括一像素電極以及一薄膜晶體管，所述薄膜晶體管包括有柵極、源極以及漏極，所述薄膜晶體管的柵極連接相應(yīng)的所述掃描線，所述薄膜晶體管的漏極連接相應(yīng)的所述像素電極，所述薄膜晶體管的源極連接相應(yīng)的所述數(shù)據(jù)線。

一所述觸控電極202對(duì)應(yīng)部分所述像素單元，所述觸控電極202除了作為觸控屏的驅(qū)動(dòng)電極，與感應(yīng)電極組合以獲取觸控位置信息，還用作所述顯示陣列的公共電極，所述觸控電極202提供恒壓電流，與所述像素電極之間形成壓差，以驅(qū)動(dòng)液晶分子偏轉(zhuǎn)，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)像素單元不同的透光度。

所述測(cè)試電路包括：級(jí)聯(lián)的多個(gè)掃描電路203，各級(jí)所述掃描電路203對(duì)應(yīng)連接一所述觸控電極202。

所述掃描電路203至少包括一測(cè)試信號(hào)輸入端204、一測(cè)試信號(hào)輸出端205以及一短路反饋端206。

所述測(cè)試信號(hào)輸入端204，用以接入測(cè)試信號(hào)源207，從而為各級(jí)所述掃描電路203提供測(cè)試信號(hào)。

測(cè)試信號(hào)輸出端205，連接有第一信號(hào)線208，所述第一信號(hào)線208的另一端對(duì)應(yīng)連接一所述觸控電極202，用以將測(cè)試信號(hào)輸入至相應(yīng)的所述觸控電極202。

一短路反饋端206，連接有第二信號(hào)線209，所述第二信號(hào)線209的另一端連接上一級(jí)的所述掃描電路203的測(cè)試信號(hào)輸出端205所連接的所述觸控電極202。

當(dāng)本級(jí)的所述掃描電路203的測(cè)試信號(hào)輸出端205連接的所述觸控電極202，與上一級(jí)的所述掃描電路203的測(cè)試信號(hào)輸出端205連接的所述觸控電極202之間短路，則所述第一信號(hào)線208、所述第二信號(hào)線209以及本級(jí)的所述掃描電路203之間形成回路；根據(jù)歐姆定律，本級(jí)掃描電路203連接的短路的所述觸控電極202的電流，會(huì)向被短路的所述觸控電極202流動(dòng)，由于信號(hào)線具有一定阻抗，會(huì)消耗掉一部分電壓，使的短路的所述觸控電極202的電壓絕對(duì)值降低，與所述像素電極之間的電壓差減小，從而使短路的所述觸控電極202所對(duì)應(yīng)的像素單元的亮度減弱，進(jìn)而區(qū)分出短路的所述觸控電極202。

測(cè)試時(shí)，所述測(cè)試信號(hào)源207向各級(jí)所述掃描電路203輸入測(cè)試信號(hào)，使高電平為5v電壓，低電平為-5v電壓；并且，所述顯示陣列的所述像素電極通入0v電壓。

例如，向本級(jí)的所述掃描電路203的測(cè)試信號(hào)輸出端205連接的所述觸控電極202通入5v電壓，其余各級(jí)所述掃描電路203的測(cè)試信號(hào)輸出端205連接的所述觸控電極202通入-5v電壓；本級(jí)的所述掃描電路203的測(cè)試信號(hào)輸出端205連接的所述觸控電極202與所述像素電極的電壓差為5v，對(duì)應(yīng)的顯示區(qū)域顯示白色亮色，其余各級(jí)的所述掃描電路203的測(cè)試信號(hào)輸出端205連接的所述觸控電極202與所述像素電極的電壓差為-5v，輸入高電平信號(hào)的觸控電極202對(duì)應(yīng)的液晶分子偏轉(zhuǎn)角度，與低電平信號(hào)的觸控電極202對(duì)應(yīng)的液晶分子偏轉(zhuǎn)角度對(duì)稱，在觸控電極202電路正常的狀態(tài)下，各所述觸控電極202對(duì)應(yīng)的顯示區(qū)域顯示白色亮色。

當(dāng)本級(jí)的所述掃描電路203的測(cè)試信號(hào)輸出端205連接的所述觸控電極202，與上一級(jí)的所述掃描電路203的測(cè)試信號(hào)輸出端205連接的所述觸控電極202之間短路后，會(huì)形成本級(jí)的所述掃描電路203連接的短路的所述觸控電極202的5v電壓，向上一級(jí)的所述掃描電路203連接的被短路的所述觸控電極202的-5v電壓方向流動(dòng)的電流，使得發(fā)生短路觸控電極202的電壓絕對(duì)值不足5v，其和像素電極的電壓差不足5v，對(duì)應(yīng)的顯示區(qū)域較其他顯示區(qū)域亮度低，從而容易檢測(cè)出短路的所述觸控電極202。

當(dāng)任一所述觸控電極202發(fā)生斷路，測(cè)試信號(hào)則無法進(jìn)入相對(duì)應(yīng)的所述觸控電極202，發(fā)生短路的所述觸控電極202沒有電壓則顯示為暗色，從而容易檢測(cè)出斷路的所述觸控電極202。

各所述掃描電路203的測(cè)試信號(hào)輸出端205，依序循環(huán)向?qū)?yīng)的所述觸控電極202通入高電平信號(hào)，重復(fù)第一級(jí)的所述掃描電路203至最后一級(jí)的所述掃描電路203的掃描過程，從而提高檢測(cè)的準(zhǔn)確率。

實(shí)施例二

如圖3所示，本發(fā)明還提供一種內(nèi)嵌式觸控屏測(cè)試電路，所述測(cè)試電路連接有觸控電極陣列，所述觸控電極陣列形成與所述陣列基板301上，所述觸控電極包括若干觸控電極302，所述觸控電極302陣列連接顯示陣列(圖中未示出)，所述顯示陣列與所述觸控電極302層疊設(shè)置。

所述測(cè)試電路包括：級(jí)聯(lián)的多個(gè)掃描電路303，各級(jí)所述掃描電路303對(duì)應(yīng)連接一行所述觸控電極302。

所述掃描電路303至少包括：一測(cè)試信號(hào)輸入端304與一測(cè)試信號(hào)輸出端305。

所述測(cè)試信號(hào)輸入端304，用以接入測(cè)試信號(hào)源307，從而為各級(jí)所述掃描電路303提供測(cè)試信號(hào)。

所述測(cè)試信號(hào)輸出端305，其連接一第一信號(hào)線308，位于同一行的各所述觸控電極302分別通過一第二信號(hào)線309連接于所述第一信號(hào)線308；用以將測(cè)試信號(hào)輸入至相應(yīng)的所述觸控電極302。

所述各級(jí)所述掃描電路303連接有第一時(shí)鐘信號(hào)走線306以及第二時(shí)鐘信號(hào)走線310，以控制各級(jí)掃描電路303的掃描順序。

本級(jí)的所述掃描電路303連接的一所述觸控電極302為第一觸控電極302，上一級(jí)的所述掃描電路303連接的一所述觸控電極302為第二觸控電極302，當(dāng)所述第一觸控電極302與所述第二觸控電極302發(fā)生短路，則所述第一觸控電極302連接的所述第二信號(hào)線309、所述第二觸控電極302連接的所述第二信號(hào)線309、上一級(jí)的所述掃描電路303、本級(jí)的所述掃描電路303以及本級(jí)的所述掃描電路303連接的所述第一信號(hào)線308之間形成回路，使得所述第一觸控電極302的電壓值降低，對(duì)應(yīng)的顯示區(qū)的亮度與其他顯示區(qū)域相比較暗，進(jìn)而區(qū)分出短路的所述觸控電極302。

本實(shí)施例與實(shí)施例一的區(qū)別在于：一所述掃描電路對(duì)應(yīng)連接一行所述觸控電極，從而減少了所述掃描電路的數(shù)量，占用陣列基板的外圍空間較少，有利于實(shí)現(xiàn)窄邊框化。

實(shí)施例二的內(nèi)嵌式觸控屏測(cè)試電路的工作原理跟實(shí)施例一的內(nèi)嵌式觸控屏測(cè)試電路的工作原理一致，具體可參考實(shí)施例一的內(nèi)嵌式觸控屏測(cè)試電路的工作原理，此處不再做贅述。

本發(fā)明的有益效果為：相較于現(xiàn)有的內(nèi)嵌式觸摸屏測(cè)試電路，本發(fā)明的內(nèi)嵌式觸摸屏測(cè)試電路，觸控電極與其他觸控電極短路后，短路觸控電極連接的信號(hào)線，與被短路觸控電極連接的信號(hào)線以及相關(guān)掃描電路形成回路，進(jìn)而拉低短路觸控電極的電壓，使短路觸控電極對(duì)應(yīng)的顯示區(qū)亮度暗于其他區(qū)域，從而區(qū)分出短路觸控電極的位置；解決了現(xiàn)有的內(nèi)嵌式觸控屏的觸控線路測(cè)試方法，當(dāng)偶型觸控電極和偶型觸控電極發(fā)生短路，或者奇型觸控電極和奇型觸控電極之間發(fā)生短路，無法被檢測(cè)出；進(jìn)而增加了觸控屏存在觸控缺陷的風(fēng)險(xiǎn)的技術(shù)問題。

綜上所述，雖然本發(fā)明已以優(yōu)選實(shí)施例揭露如上，但上述優(yōu)選實(shí)施例并非用以限制本發(fā)明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，均可作各種更動(dòng)與潤(rùn)飾，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍以權(quán)利要求界定的范圍為準(zhǔn)。