本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種陣列基板、其檢測方法、顯示面板及顯示裝置。

背景技術(shù)：

隨著顯示技術(shù)的飛速發(fā)展，顯示器越來越向著高集成度和低成本的方向發(fā)展。其中，goa(gatedriveronarray，陣列基板行驅(qū)動)技術(shù)將tft(thinfilmtransistor，薄膜晶體管)柵極驅(qū)動電路集成在顯示面板的陣列基板上以形成對顯示面板的掃描驅(qū)動，從而可以省去柵極集成電路(ic，integratedcircuit)的綁定(bonding)區(qū)域以及扇出(fan-out)區(qū)域的布線空間，不僅可以在材料成本和制作工藝兩方面降低產(chǎn)品成本，而且可以使顯示面板做到兩邊對稱和窄邊框的美觀設(shè)計；并且，這種集成工藝還可以省去柵極掃描線方向的bonding工藝，從而提高了產(chǎn)能和良率。

現(xiàn)有的陣列基板一般包括：多條柵線以及與各條柵線連接的goa電路；其中，goa電路由多個級聯(lián)的移位寄存器構(gòu)成，用于依次向各條柵線輸入掃描信號，以控制每行柵線對應(yīng)的像素開啟。在工藝制備流程中，為了保證陣列基板上形成的goa電路能夠正常工作，一般需要對goa電路輸出的各個掃描信號進行檢測。然而，由于陣列基板的布線限制，并不能針對goa電路輸出的每一個掃描信號分別設(shè)置一條走線以將掃描信號輸出并用于檢測，一般僅針對最前幾個移位寄存器與最后幾個移位寄存器輸出的掃描信號進行布線，導(dǎo)致僅能針對部分區(qū)域的掃描信號進行檢測，從而在除上述部分區(qū)域之外的其余區(qū)域的掃描信號出現(xiàn)不良情況時將無法進行檢測，進而導(dǎo)致不利于檢測全部的掃描信號。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明實施例提供一種陣列基板、其檢測方法、顯示面板及顯示裝置，用以解決現(xiàn)有技術(shù)中不利于檢測陣列基板上全部掃描信號的問題。

因此，本發(fā)明實施例提供了一種陣列基板，包括：多條柵線；還包括：與各所述柵線一一對應(yīng)的信號輸出單元以及與各所述柵線交叉且絕緣設(shè)置的2n條信號傳輸線，n為正整數(shù)；將所有所述信號輸出單元分為2n個單元組，同一單元組中的各信號輸出單元分別與間隔2n-1行的柵線連接，且同一所述單元組連接同一信號傳輸線，不同單元組連接不同信號傳輸線；

各所述信號輸出單元用于在連接的柵線上輸入的掃描信號的有效電壓大于預(yù)設(shè)閾值電壓時，將所述掃描信號輸出給連接的信號傳輸線。

優(yōu)選地，在本發(fā)明實施例提供的上述陣列基板中，各所述信號輸出單元包括：開關(guān)晶體管，所述預(yù)設(shè)閾值電壓為所述開關(guān)晶體管的閾值電壓；

所述開關(guān)晶體管的柵極與源極均與對應(yīng)的柵線連接，所述開關(guān)晶體管的漏極與對應(yīng)的信號傳輸線連接。

優(yōu)選地，在本發(fā)明實施例提供的上述陣列基板中，所述陣列基板還包括：與各所述柵線交叉且絕緣設(shè)置的多條數(shù)據(jù)線，各所述信號傳輸線與各所述數(shù)據(jù)線同層同材質(zhì)。

優(yōu)選地，在本發(fā)明實施例提供的上述陣列基板中，所述陣列基板還包括：位于所述陣列基板的非顯示區(qū)域且與各所述信號傳輸線一一對應(yīng)電連接的測試端子。

優(yōu)選地，在本發(fā)明實施例提供的上述陣列基板中，n＝1，所述陣列基板還包括：一個柵極驅(qū)動電路；所述柵極驅(qū)動電路包括級聯(lián)的多級移位寄存器，且各級所述移位寄存器分別對應(yīng)連接一條所述柵線。

優(yōu)選地，在本發(fā)明實施例提供的上述陣列基板中，n＝2，所述陣列基板還包括：兩個柵極驅(qū)動電路；各所述柵極驅(qū)動電路包括級聯(lián)的多級移位寄存器；

所述兩個柵極驅(qū)動電路中的一個柵極驅(qū)動電路的各級移位寄存器分別對應(yīng)連接奇數(shù)行的一條柵線，另一個柵極驅(qū)動電路的各級移位寄存器分別對應(yīng)連接偶數(shù)行的一條柵線。

相應(yīng)地，本發(fā)明實施例還提供了一種顯示面板，包括本發(fā)明實施例提供的上述任一種陣列基板。

相應(yīng)地，本發(fā)明實施例還提供了一種顯示裝置，包括本發(fā)明實施例提供的上述顯示面板。

相應(yīng)地，本發(fā)明實施例還提供了一種對本發(fā)明實施例提供的上述陣列基板的檢測方法，包括：

將各外部測試探針與各信號傳輸線一一對應(yīng)導(dǎo)通，并控制所述柵極驅(qū)動電路依次向連接的柵線輸入掃描信號，獲取各所述信號傳輸線上對應(yīng)的信號；其中，針對一條柵線，在所述柵線上的掃描信號的有效電壓大于預(yù)設(shè)閾值電壓時，與所述柵線連接的信號輸出單元將所述掃描信號輸出給連接的信號傳輸線。

優(yōu)選地，在本發(fā)明實施例提供的上述檢測方法中，在獲取各所述信號傳輸線上對應(yīng)的信號之后還包括：采用示波器針對每一條信號傳輸線，將獲取到的所述信號傳輸線上信號的波形與預(yù)設(shè)標準信號的波形進行比較，確定所述信號傳輸線信號中的異常波形；

根據(jù)確定出的異常波形確定所述異常波形對應(yīng)的掃描信號，并根據(jù)確定出的掃描信號確定對應(yīng)的柵極驅(qū)動電路中移位寄存器的級數(shù)。

本發(fā)明有益效果如下：

本發(fā)明實施例提供的陣列基板、其檢測方法、顯示面板及顯示裝置，通過設(shè)置與每一條柵線連接的信號輸出單元，以將每一條柵線上輸入的掃描信號輸出，以及設(shè)置2n條信號傳輸線并將所有信號輸出單元分為2n個單元組，使每個單元組一一對應(yīng)連接一條信號傳輸線，以將同一個單元組中的所有信號輸出單元輸出的掃描信號通過一條信號傳輸線輸出給外部的檢測裝置，即同一個單元組中的所有信號輸出單元共用一條信號傳輸線，從而可以設(shè)置較少的信號傳輸線將全部柵線上的掃描信號輸出給外部的檢測裝置以實現(xiàn)對全部掃描信號的檢測。并且由于設(shè)置的信號傳輸線較少，還可以節(jié)省陣列基板的走線布局空間以及降低工藝制備難度。

附圖說明

圖1a為本發(fā)明實施例提供的陣列基板的結(jié)構(gòu)示意圖之一；

圖1b為本發(fā)明實施例提供的陣列基板的結(jié)構(gòu)示意圖之二；

圖2a為圖1a所示的陣列基板的具體結(jié)構(gòu)示意圖之一；

圖2b為圖1b所示的陣列基板的具體結(jié)構(gòu)示意圖之二；

圖3a為圖2a所示的陣列基板的信號時序示意圖；

圖3b為圖2b所示的陣列基板的信號時序示意圖；

圖4為本發(fā)明實施例提供的檢測方法的流程圖。

具體實施方式

為了使本發(fā)明的目的，技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚，下面結(jié)合附圖，對本發(fā)明實施例提供的陣列基板、其驅(qū)動方法、顯示面板及顯示裝置的具體實施方式進行詳細地說明。應(yīng)當(dāng)理解，下面所描述的優(yōu)選實施例僅用于說明和解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。并且在不沖突的情況下，本申請中的實施例及實施例中的特征可以相互組合。

附圖中各圖形的大小和形狀等均不反映陣列基板的真實比例，目的只是示意說明本發(fā)明內(nèi)容。

本發(fā)明實施例提供了一種陣列基板，如圖1a與圖1b(圖1a以n＝1為例，圖1b以n＝2為例)所示，包括：多條柵線gate_m(m＝1、2、3…m；m為陣列基板中柵線的總數(shù))；與各柵線gate_m一一對應(yīng)的信號輸出單元100以及與各柵線gate_m交叉且絕緣設(shè)置的2n條信號傳輸線200_n(n＝1、2、3…2n)，n為正整數(shù)；將所有信號輸出單元100分為2n個單元組300_n，同一單元組300_n中的各信號輸出單元100分別與間隔2n-1行的柵線連接，且同一單元組300_n連接同一信號傳輸線200_n，不同單元組連接不同信號傳輸線；

各信號輸出單元100用于在連接的柵線gate_m上輸入的掃描信號的有效電壓大于預(yù)設(shè)閾值電壓時，將掃描信號輸出給連接的信號傳輸線200_n。

本發(fā)明實施例提供的上述陣列基板，通過設(shè)置與每一條柵線連接的信號輸出單元，以將每一條柵線上輸入的掃描信號輸出，以及設(shè)置2n條信號傳輸線并將所有信號輸出單元分為2n個單元組，使每個單元組一一對應(yīng)連接一條信號傳輸線，以將同一個單元組中的所有信號輸出單元輸出的掃描信號通過一條信號傳輸線輸出給外部的檢測裝置，即同一個單元組中的所有信號輸出單元共用一條信號傳輸線，從而可以設(shè)置較少的信號傳輸線將全部柵線上的掃描信號輸出給外部的檢測裝置以實現(xiàn)對全部掃描信號的檢測。并且由于設(shè)置的信號傳輸線較少，還可以節(jié)省陣列基板的走線布局空間以及降低工藝制備難度。

在具體實施時，本發(fā)明實施例提供的上述陣列基板還可以包括設(shè)置各柵線以及各信號輸出單元的襯底基板。

一般陣列基板中具有多個像素單元，在具體實施時，在本發(fā)明實施例提供的上述陣列基板中，掃描信號的有效脈沖信號可以打開對應(yīng)行柵線連接的各像素單元。該掃描信號的有效脈沖信號的電壓即為其有效電壓，該有效電壓可以為高電壓，或者也可以為低電壓，在此不作限定。

在具體實施時，在本發(fā)明實施例提供的上述陣列基板中，如圖2a與圖2b所示，各信號輸出單元100具體可以包括：開關(guān)晶體管m0，預(yù)設(shè)閾值電壓為開關(guān)晶體管m0的閾值電壓；

開關(guān)晶體管m0的柵極與源極均與對應(yīng)的柵線連接，開關(guān)晶體管m0的漏極與對應(yīng)的信號傳輸線連接。其中，該開關(guān)晶體管m0可以是薄膜晶體管(tft，thinfilmtransistor)，也可以是金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)管(mos，metaloxidescmiconductor)，在此不作限定。

在具體實施時，在本發(fā)明實施例提供的上述陣列基板中，如圖2a與圖2b所示，開關(guān)晶體管m0可以為n型晶體管。當(dāng)然，開關(guān)晶體管也可以為p型晶體管，在此不作限定。

在具體實施時，在本發(fā)明實施例提供的上述陣列基板中，開關(guān)晶體管在其柵極的信號的電壓大于其閾值電壓vth時導(dǎo)通，在其柵極的信號的電壓小于或等于其閾值電壓vth時截止。在實際應(yīng)用中，閾值電壓vth可以為0.7v，當(dāng)然該閾值電壓也可以為其它電壓值，這需要根據(jù)實際應(yīng)用環(huán)境來設(shè)計確定，在此不作限定。

以上僅是舉例說明本發(fā)明實施例提供的信號輸出單元的具體結(jié)構(gòu)，在具體實施時，信號輸出單元的具體結(jié)構(gòu)不限于本發(fā)明實施例提供的上述結(jié)構(gòu)，還可以是本領(lǐng)域技術(shù)人員可知的其他結(jié)構(gòu)，在此不作限定。

一般在陣列基板中設(shè)置用于與外部測試裝置連接的測試端子來輸出信號的，在具體實施時，在本發(fā)明實施例提供的上述陣列基板中，如圖1a至圖2b所示，陣列基板還可以包括：位于陣列基板的非顯示區(qū)域且與各信號傳輸線200_n一一對應(yīng)電連接的測試端子400。這樣可以通過測試端子將信號傳輸線上的信號輸出給外部測試裝置。

在具體實施時，在本發(fā)明實施例提供的上述陣列基板中，如圖1a與圖2a所示，陣列基板還可以包括：一個柵極驅(qū)動電路goa；柵極驅(qū)動電路goa包括級聯(lián)的多級移位寄存器sr(m)，且各級移位寄存器sr(m)分別對應(yīng)連接一條柵線gate_m。該柵極驅(qū)動電路依次向連接的柵線輸入掃描信號，如圖3a所示，相鄰兩行柵線gate_m與gate_m+1輸入的掃描信號gate_m與gate_m+1的有效電平無交疊。其中，如圖1a與圖2a所示，可以使n＝1，此時陣列基板中包括2條信號傳輸線且所有的信號輸出單元被劃分為2個單元組。這樣在陣列基板設(shè)置一個柵極驅(qū)動電路時可以使設(shè)置的信號傳輸線的個數(shù)最少。當(dāng)然，也可以使n＝2，此時陣列基板中包括4條信號傳輸線且所有的信號輸出單元被劃分為4個單元組?；蛘咭部梢允筺＝3，此時陣列基板中包括6條信號傳輸線且所有的信號輸出單元被劃分為6個單元組。當(dāng)然，在實際應(yīng)用中，信號傳輸線個數(shù)的設(shè)置需要根據(jù)實際應(yīng)用環(huán)境來設(shè)計確定，在此不作限定。

或者，在具體實施時，在本發(fā)明實施例提供的上述陣列基板中，如圖1b與圖2b所示，陣列基板還可以包括：兩個柵極驅(qū)動電路goa_p(p＝1、2)；各柵極驅(qū)動電路goa_p包括級聯(lián)的多級移位寄存器

兩個柵極驅(qū)動電路中的一個柵極驅(qū)動電路goa_1的各級移位寄存器sr(1_k)分別對應(yīng)連接奇數(shù)行的一條柵線，另一個柵極驅(qū)動電路goa_1的各級移位寄存器sr(2_k)分別對應(yīng)連接偶數(shù)行的一條柵線。這兩個柵極驅(qū)動電路依次向連接的柵線輸入掃描信號，如圖3b所示，相鄰兩行柵線gate_m與gate_m+1輸入的掃描信號gate_m與gate_m+1的有效電平具有交疊，且使間隔一條柵線的兩條柵線gate_m與gate_m+2輸入的掃描信號gate_m與gate_m+2的有效電平無交疊。其中，如圖1b與圖2b所示，可以使n＝2，此時陣列基板中包括4條信號傳輸線且所有的信號輸出單元被劃分為4個單元組。這樣在陣列基板設(shè)置兩個柵極驅(qū)動電路時可以使設(shè)置的信號傳輸線的個數(shù)最少。當(dāng)然，也可以使n＝3，此時陣列基板中包括6條信號傳輸線且所有的信號輸出單元被劃分為6個單元組。當(dāng)然，在實際應(yīng)用中，信號傳輸線個數(shù)的設(shè)置需要根據(jù)實際應(yīng)用環(huán)境來設(shè)計確定，在此不作限定。

在具體實施時，在本發(fā)明實施例提供的上述陣列基板中，柵極驅(qū)動電路中的第一極移位寄存器的輸入信號端與幀觸發(fā)信號端相連，除第一極移位寄存器之外，其余各級移位寄存器的輸入信號端分別與其相鄰的上一級移位寄存器的輸出信號端相連。這樣可以采用上一級輸出的掃描信號作為下一級移位寄存器的輸入信號，已觸發(fā)下一級移位寄存器進行移位輸出。在實際應(yīng)用中，各級移位寄存器輸出的掃描信號的有效脈沖信號一般由時鐘信號輸出。在上一級移位寄存器輸出的掃描信號為正常信號時，下一級移位寄存器可以正常移位輸出掃描信號。在上一級移位寄存器輸出的掃描信號為異常信號時，若該異常信號的有效電壓滿足預(yù)設(shè)電壓范圍，在誤差允許的情況下，不會使下一級移位寄存器移位輸出異常的掃描信號；若該異常信號的有效電壓不滿足預(yù)設(shè)電壓范圍，下一級移位寄存器輸出的掃描信號才會移位輸出異常的掃描信號或者輸出為零電壓的信號。在實際應(yīng)用中，移位寄存器的結(jié)構(gòu)和工作過程與現(xiàn)有技術(shù)中的移位寄存器基本相同，其具體組成部分均為本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)該理解具有的，在此不做贅述，也不應(yīng)作為對本發(fā)明的限制。

在具體實施時，在本發(fā)明實施例提供的上述陣列基板中，各柵極驅(qū)動電路、各信號傳輸線以及各信號輸出單元均設(shè)置于陣列基板的非顯示區(qū)域中。

在具體實施時，在本發(fā)明實施例提供的上述陣列基板中，如圖1a至圖2b所示，陣列基板還可以包括：與各柵線gate_m交叉且絕緣設(shè)置的多條數(shù)據(jù)線data，各信號傳輸線200_n與各數(shù)據(jù)線data可以同層同材質(zhì)。這樣可以不需要增加額外的制備各信號傳輸線200_n的工序，只需要通過一次構(gòu)圖工藝即可形成各信號傳輸線200_n和各數(shù)據(jù)線data的圖形，能夠簡化制備工藝，節(jié)省生產(chǎn)成本，提高生產(chǎn)效率。

在具體實施時，在本發(fā)明實施例提供的上述陣列基板中，如圖1a至圖2b所示，各信號傳輸線200_n與各數(shù)據(jù)線data平行設(shè)置。當(dāng)然，各信號傳輸線200_n也可以不與數(shù)據(jù)線data平行設(shè)置，在此不作限定。

在實際應(yīng)用中，外部檢測裝置可以為示波器。當(dāng)然，外部檢測裝置也可以為其它能夠用于分析和研究全部掃描信號的裝置，在此不作限定。

下面以圖2a與圖2b所示的陣列基板的結(jié)構(gòu)為例，結(jié)合信號時序圖對本發(fā)明實施例提供的陣列基板在檢測時的工作過程進行說明。并且下面均是以各掃描信號的有效電壓為高電壓并且各掃描信號的有效電壓均大于開關(guān)晶體管m0的閾值電壓vth，以及柵線gate_7輸入掃描信號gate_7為異常信號為例進行說明。

實施例一、

以圖2a所示的陣列基板為例，輸入該陣列基板中的各柵線gate_m的掃描信號gate_m如圖3a所示。在圖3a中，sn_1代表信號傳輸線200_1上的信號，sn_2代表信號傳輸線200_2上的信號。

在柵線gate_1輸入的掃描信號gate_1為有效電壓時，由于掃描信號gate_1的有效電壓大于開關(guān)晶體管m0的閾值電壓vth，因此柵線gate_1連接的開關(guān)晶體管m0將掃描信號gate_1輸出給信號傳輸線200_1，以使此時信號傳輸線200_1上的信號sn_1為具有掃描信號gate_1的有效電壓的信號。在柵線gate_2輸入的掃描信號gate_2為有效電壓時，由于掃描信號gate_2的有效電壓大于開關(guān)晶體管m0的閾值電壓vth，因此柵線gate_2連接的開關(guān)晶體管m0將掃描信號gate_2輸出給信號傳輸線200_2，以使此時信號傳輸線200_2上的信號sn_2為具有掃描信號gate_2的有效電壓的信號。

同理，在柵線gate_3輸入的掃描信號gate_3為有效電壓時，信號傳輸線200_1上的信號sn_1為具有掃描信號gate_3的有效電壓的信號。在柵線gate_4輸入的掃描信號gate_4為有效電壓時，信號傳輸線200_2上的信號sn_2為具有掃描信號gate_4的有效電壓的信號。在柵線gate_5輸入的掃描信號gate_5為有效電壓時，信號傳輸線200_1上的信號sn_1為具有掃描信號gate_5的有效電壓的信號。在柵線gate_6輸入的掃描信號gate_6為有效電壓時，信號傳輸線200_2上的信號sn_2為具有掃描信號gate_6的有效電壓的信號。在柵線gate_7輸入的掃描信號gate_7為有效電壓時，信號傳輸線200_1上的信號sn_1為具有掃描信號gate_7的有效電壓的信號。在柵線gate_8輸入的掃描信號gate_8為有效電壓時，信號傳輸線200_2上的信號sn_2為具有掃描信號gate_8的有效電壓的信號。

另外，在其余柵線依次輸入的掃描信號為有效電壓時，若其余柵線輸入的掃描信號的有效電壓均大于開關(guān)晶體管m0的閾值電壓vth時，則信號傳輸線200_n上的信號此時為具有這些掃描信號的有效電壓的信號。若其余柵線中的一條柵線輸入的掃描信號的有效電壓小于或等于開關(guān)晶體管m0的閾值電壓vth時，信號傳輸線200_n上的信號此時為零電壓。

在針對上述陣列基板的全部掃描信號進行測試時，可以通過外部檢測裝置獲取信號傳輸線200_1上的信號sn_1以及獲取信號傳輸線200_2上的信號sn_2。之后可以采用示波器針對每一條信號傳輸線200_n，將獲取到的信號傳輸線200_n上信號sn_n的波形與預(yù)設(shè)標準信號的波形進行比較，確定信號傳輸線200_n信號sn_n中的異常波形；并根據(jù)確定出的異常波形確定異常波形對應(yīng)的掃描信號，以及根據(jù)確定出的掃描信號確定對應(yīng)的柵極驅(qū)動電路中移位寄存器的級數(shù)。這樣即可實現(xiàn)對全部掃描信號的分析和研究。

具體地，采用示波器針對信號傳輸線200_1，將獲取到的信號傳輸線200_1上信號sn_1的波形與對應(yīng)的預(yù)設(shè)標準信號的波形進行比較，確定信號傳輸線200_1信號sn_1中的異常波形；根據(jù)確定出的異常波形確定異常波形對應(yīng)的掃描信號，信號sn_1中的異常波形對應(yīng)掃描信號gate_7，從而可以根據(jù)確定出的掃描信號gate_7確定對應(yīng)的柵極驅(qū)動電路goa中移位寄存器的級數(shù)，即對應(yīng)柵極驅(qū)動電路goa中第七級移位寄存器sr(7)，從而可以得出第七級移位寄存器sr(7)輸出異常。并且，采用示波器針對信號傳輸線200_2，將獲取到的信號傳輸線200_2上信號sn_2的波形與對應(yīng)的預(yù)設(shè)標準信號的波形進行比較，可以確定信號傳輸線200_2信號sn_2中無異常波形。

另外，還可以通過外部檢測裝置對全部掃描信號的延時進行分析與研究。

實施例二、

以圖2b所示的陣列基板為例，輸入該陣列基板中的各柵線gate_m的掃描信號gate_m如圖3b所示。在圖3b中，sn_1代表信號傳輸線200_1上的信號，sn_2代表信號傳輸線200_2上的信號，sn_3代表信號傳輸線200_3上的信號，sn_4代表信號傳輸線200_4上的信號。

在柵線gate_1輸入的掃描信號gate_1為有效電壓時，由于掃描信號gate_1的有效電壓大于開關(guān)晶體管m0的閾值電壓vth，因此柵線gate_1連接的開關(guān)晶體管m0將掃描信號gate_1輸出給信號傳輸線200_1，以使此時信號傳輸線200_1上的信號sn_1為具有掃描信號gate_1的有效電壓的信號。在柵線gate_2輸入的掃描信號gate_2為有效電壓時，由于掃描信號gate_2的有效電壓大于開關(guān)晶體管m0的閾值電壓vth，因此柵線gate_2連接的開關(guān)晶體管m0將掃描信號gate_2輸出給信號傳輸線200_2，以使此時信號傳輸線200_2上的信號sn_2為具有掃描信號gate_2的有效電壓的信號。在柵線gate_3輸入的掃描信號gate_3為有效電壓時，由于掃描信號gate_3的有效電壓大于開關(guān)晶體管m0的閾值電壓vth，因此柵線gate_3連接的開關(guān)晶體管m0將掃描信號gate_3輸出給信號傳輸線200_3，以使此時信號傳輸線200_3上的信號sn_3為具有掃描信號gate_3的有效電壓的信號。在柵線gate_4輸入的掃描信號gate_4為有效電壓時，由于掃描信號gate_4的有效電壓大于開關(guān)晶體管m0的閾值電壓vth，因此柵線gate_4連接的開關(guān)晶體管m0將掃描信號gate_4輸出給信號傳輸線200_4，以使此時信號傳輸線200_4上的信號sn_4為具有掃描信號gate_4的有效電壓的信號。

同理，在柵線gate_5輸入的掃描信號gate_5為有效電壓時，信號傳輸線200_1上的信號sn_1為具有掃描信號gate_5的有效電壓的信號。在柵線gate_6輸入的掃描信號gate_6為有效電壓時，信號傳輸線200_2上的信號sn_2為具有掃描信號gate_6的有效電壓的信號。在柵線gate_7輸入的掃描信號gate_7為有效電壓時，信號傳輸線200_3上的信號sn_3為具有掃描信號gate_7的有效電壓的信號。在柵線gate_8輸入的掃描信號gate_8為有效電壓時，信號傳輸線200_4上的信號sn_4為具有掃描信號gate_8的有效電壓的信號。

另外，在其余柵線依次輸入的掃描信號為有效電壓時，若其余柵線輸入的掃描信號的有效電壓均大于開關(guān)晶體管m0的閾值電壓vth時，則信號傳輸線200_n上的信號此時為具有這些掃描信號的有效電壓的信號。若其余柵線中的一條柵線輸入的掃描信號的有效電壓小于或等于開關(guān)晶體管m0的閾值電壓vth時，信號傳輸線200_n上的信號此時為零電壓。

在針對上述陣列基板的全部掃描信號進行測試時，可以通過外部檢測裝置獲取信號傳輸線200_1上的信號sn_1、獲取信號傳輸線200_2上的信號sn_2、獲取信號傳輸線200_3上的信號sn_3以及獲取信號傳輸線200_4上的信號sn_4。之后可以采用示波器針對每一條信號傳輸線200_n，將獲取到的信號傳輸線200_n上信號sn_n的波形與預(yù)設(shè)標準信號的波形進行比較，確定信號傳輸線200_n信號sn_n中的異常波形；并根據(jù)確定出的異常波形確定異常波形對應(yīng)的掃描信號，以及根據(jù)確定出的掃描信號確定對應(yīng)的柵極驅(qū)動電路中移位寄存器的級數(shù)。這樣即可實現(xiàn)對全部掃描信號的分析和研究。

具體地，采用示波器針對信號傳輸線200_1，將獲取到的信號傳輸線200_1上信號sn_1的波形與對應(yīng)的預(yù)設(shè)標準信號的波形進行比較，可以確定信號傳輸線200_1信號sn_1中無異常波形。采用示波器針對信號傳輸線200_2，將獲取到的信號傳輸線200_2上信號sn_2的波形與對應(yīng)的預(yù)設(shè)標準信號的波形進行比較，可以確定信號傳輸線200_2信號sn_2中無異常波形。采用示波器針對信號傳輸線200_3，將獲取到的信號傳輸線200_3上信號sn_3的波形與對應(yīng)的預(yù)設(shè)標準信號的波形進行比較，確定信號傳輸線200_3信號sn_3中的異常波形；根據(jù)確定出的異常波形確定異常波形對應(yīng)的掃描信號，即可確定信號sn_3中的異常波形對應(yīng)掃描信號gate_7，從而可以根據(jù)確定出的掃描信號gate_7確定對應(yīng)的柵極驅(qū)動電路goa_1中移位寄存器的級數(shù)，即對應(yīng)柵極驅(qū)動電路goa_1中的第四級移位寄存器sr(1_4)，從而可以得出第四級移位寄存器sr(1_4)輸出異常。并且，采用示波器針對信號傳輸線200_4，將獲取到的信號傳輸線200_4上信號sn_4的波形與對應(yīng)的預(yù)設(shè)標準信號的波形進行比較，可以確定信號傳輸線200_4信號sn_4中無異常波形。

另外，還可以通過外部檢測裝置對全部掃描信號的延時進行分析與研究。

在實際應(yīng)用中，每個信號傳輸線上的信號一一對應(yīng)一個預(yù)設(shè)標準信號。各預(yù)設(shè)標準信號分別為對應(yīng)的信號傳輸線所連接的開關(guān)晶體管對應(yīng)的柵線上的掃描信號的有效脈沖信號的疊加。

基于同一發(fā)明構(gòu)思，本發(fā)明實施例還提供了一種對本發(fā)明實施例提供的上述陣列基板的檢測方法，如圖4所示，包括：

s401、將各外部測試探針與各信號傳輸線一一對應(yīng)導(dǎo)通，并控制柵極驅(qū)動電路依次向連接的柵線輸入掃描信號，獲取各信號傳輸線上對應(yīng)的信號；其中，針對一條柵線，在柵線上的掃描信號的有效電壓大于預(yù)設(shè)閾值電壓時，與柵線連接的信號輸出單元將掃描信號輸出給連接的信號傳輸線。

在具體實施時，在本發(fā)明實施例提供的上述檢測方法中，在獲取各信號傳輸線上對應(yīng)的信號之后還包括：采用示波器針對每一條信號傳輸線，將獲取到的信號傳輸線上信號的波形與預(yù)設(shè)標準信號的波形進行比較，確定信號傳輸線信號中的異常波形；

根據(jù)確定出的異常波形確定異常波形對應(yīng)的掃描信號，并根據(jù)確定出的掃描信號確定對應(yīng)的柵極驅(qū)動電路中移位寄存器的級數(shù)。

基于同一發(fā)明構(gòu)思，本發(fā)明實施例還提供了一種顯示面板，包括本發(fā)明實施例提供的上述任一種陣列基板。該顯示面板解決問題的原理與前述陣列基板相似，因此該顯示面板的實施可以參見上述陣列基板的實施，重復(fù)之處在此不再贅述。

基于同一發(fā)明構(gòu)思，本發(fā)明實施例還提供了一種顯示裝置，包括本發(fā)明實施例提供的上述顯示面板。該顯示裝置可以為：手機、平板電腦、電視機、顯示器、筆記本電腦、數(shù)碼相框、導(dǎo)航儀等任何具有顯示功能的產(chǎn)品或部件。對于該顯示裝置的其它必不可少的組成部分均為本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)該理解具有的，在此不做贅述，也不應(yīng)作為對本發(fā)明的限制。該顯示裝置的實施可以參見上述陣列基板的實施例，重復(fù)之處不再贅述。

本發(fā)明實施例提供的陣列基板、其檢測方法、顯示面板及顯示裝置，通過設(shè)置與每一條柵線連接的信號輸出單元，以將每一條柵線上輸入的掃描信號輸出，以及設(shè)置2n條信號傳輸線并將所有信號輸出單元分為2n個單元組，使每個單元組一一對應(yīng)連接一條信號傳輸線，以將同一個單元組中的所有信號輸出單元輸出的掃描信號通過一條信號傳輸線輸出給外部的檢測裝置，即同一個單元組中的所有信號輸出單元共用一條信號傳輸線，從而可以設(shè)置較少的信號傳輸線將全部柵線上的掃描信號輸出給外部的檢測裝置以實現(xiàn)對全部掃描信號的檢測。并且由于設(shè)置的信號傳輸線較少，還可以節(jié)省陣列基板的走線布局空間以及降低工藝制備難度。

顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對本發(fā)明進行各種改動和變型而不脫離本發(fā)明的精神和范圍。這樣，倘若本發(fā)明的這些修改和變型屬于本發(fā)明權(quán)利要求及其等同技術(shù)的范圍之內(nèi)，則本發(fā)明也意圖包含這些改動和變型在內(nèi)。