一種光纖故障老化模型的建立方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種光纖故障老化模型的建立方法，屬于電力及通信【技術(shù)領(lǐng)域】。該方法首先分析影響光纖可靠性環(huán)境的參數(shù)指標(biāo)；再通過實(shí)驗(yàn)，獲取準(zhǔn)確、可靠的數(shù)據(jù)；然后利用回歸分析的方法，建立光纖的故障模型和光纖老化預(yù)測(cè)模型。所述實(shí)驗(yàn)主要分為兩部分，接續(xù)損耗實(shí)驗(yàn)與非接續(xù)損耗實(shí)驗(yàn)；接續(xù)損耗主要包括進(jìn)行熔接損耗實(shí)驗(yàn)與連接器損耗實(shí)驗(yàn)；非接續(xù)損耗實(shí)驗(yàn)主要包括進(jìn)行彎曲損耗實(shí)驗(yàn)、溫度-濕度循環(huán)實(shí)驗(yàn)、浸水實(shí)驗(yàn)和濕熱實(shí)驗(yàn)。本方法基于統(tǒng)計(jì)實(shí)驗(yàn)與回歸分析方法，相比于單純的理論分析結(jié)果更加的實(shí)用，且所采用的先進(jìn)實(shí)驗(yàn)設(shè)備和科學(xué)的實(shí)驗(yàn)方法，保證了實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)和模型的客觀準(zhǔn)確。
【專利說明】一種光纖故障老化模型的建立方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明屬于電力及通信【技術(shù)領(lǐng)域】，涉及一種光纖故障老化模型的建立方法。

【背景技術(shù)】
[0002] 隨著光纖在電力系統(tǒng)通信網(wǎng)中應(yīng)用越來越普及，光纖的可靠性和故障監(jiān)測(cè)也就顯 得越來越重要。同時(shí)，由于我國(guó)地域廣闊，各地環(huán)境差異比較大，光纖的運(yùn)用環(huán)境也很復(fù)雜， 光纖的損耗常常是造成電力光纖光纜故障的主要因素。
[0003] 為了使維護(hù)員能夠在光纜維護(hù)過程中對(duì)電力光纜的故障情況能夠做出迅速處理， 并對(duì)電力市場(chǎng)服務(wù)提供快速響應(yīng)，同時(shí)保證向用戶提供可靠、經(jīng)濟(jì)的能源，需要對(duì)光纖的故 障老化情況進(jìn)行監(jiān)測(cè)，這也是對(duì)通信基礎(chǔ)設(shè)施進(jìn)行維護(hù)及施工中關(guān)鍵的一步。因此，在電力 系統(tǒng)的通信網(wǎng)中，對(duì)光纖故障監(jiān)測(cè)技術(shù)研究被放在了一個(gè)非常重要的位置。
[0004] 目前，大多數(shù)研究機(jī)構(gòu)和科研院所對(duì)光纖故障監(jiān)測(cè)都偏向于理論化（如模糊理 論、人工神經(jīng)等）的探索和研究，進(jìn)行應(yīng)用與數(shù)據(jù)分析和狀態(tài)診斷，這對(duì)使用人員來說不易 掌握，沒有充分考慮一線運(yùn)維人員的可操作性。光纜在施工和長(zhǎng)期的使用過程中，受到應(yīng)力 作用或者環(huán)境因素的影響下，導(dǎo)致衰耗的增加，對(duì)光纜的維護(hù)來講，目前還沒有可參考實(shí)用 的標(biāo)準(zhǔn)方法來指導(dǎo)光纖的維護(hù)作業(yè)，缺乏對(duì)光纖在實(shí)際工作中方便、快捷的故障判斷手段。 電力光纖的監(jiān)測(cè)研究可以充分借鑒公共通信的研究成果，但是不能簡(jiǎn)單對(duì)成果進(jìn)行照搬， 還必須考慮電力光纖通信的網(wǎng)絡(luò)特征、運(yùn)行管理等特殊性的基礎(chǔ)上，結(jié)合電力系統(tǒng)實(shí)際，深 入研究光纖監(jiān)測(cè)的關(guān)鍵技術(shù)，為其監(jiān)測(cè)網(wǎng)絡(luò)建設(shè)過程提供支撐。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0005] 有鑒于此，本發(fā)明的目的在于提供一種光纖故障老化模型的建立方法，通過科學(xué) 的理論分析和大量的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)，建立起各類影響因素與光纖鏈路損耗之間的函數(shù)模型，并 依據(jù)此模型提出一套簡(jiǎn)單實(shí)用的光纖可靠性和壽命評(píng)判方法。
[0006] 為達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供如下技術(shù)方案：
[0007] -種光纖故障老化模型的建立方法，包括以下步驟：首先分析影響光纖可靠性環(huán) 境的參數(shù)指標(biāo)；再通過實(shí)驗(yàn)，獲取準(zhǔn)確、可靠的數(shù)據(jù)；然后利用回歸分析的方法，建立光纖 的故障模型和光纖老化預(yù)測(cè)模型。
[0008] 進(jìn)一步，所述實(shí)驗(yàn)主要分為兩部分，接續(xù)損耗實(shí)驗(yàn)與非接續(xù)損耗實(shí)驗(yàn)；接續(xù)損耗主 要包括進(jìn)行熔接損耗實(shí)驗(yàn)與連接器損耗實(shí)驗(yàn)；非接續(xù)損耗實(shí)驗(yàn)主要包括進(jìn)行彎曲損耗實(shí) 驗(yàn)、溫度-濕度循環(huán)實(shí)驗(yàn)、浸水實(shí)驗(yàn)和濕熱實(shí)驗(yàn)。
[0009] 進(jìn)一步，建立光纖鏈路損耗和其故障之間的故障模型，采用在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下開展 對(duì)光纖在工程中的熔接點(diǎn)、連接器等造成的光纖鏈路損耗；通過累計(jì)的熔接點(diǎn)、連接器的數(shù) 量等參數(shù)與通信鏈路間的損耗分析，對(duì)光纖通信鏈路的故障以及接續(xù)損耗瓶頸節(jié)點(diǎn)做出判 斷；然后，根據(jù)設(shè)備廠商所提供的產(chǎn)品資料以及實(shí)際運(yùn)行數(shù)據(jù)對(duì)可靠性模型進(jìn)行修正，以進(jìn) 一步提高模型的準(zhǔn)確性；進(jìn)而為實(shí)際工程中光纖故障的判斷提供理論依據(jù)。
[0010] 進(jìn)一步，所述老化模型的建立包括分析電力光纖在受到各種環(huán)境因素的影響造成 的老化，通過研究分析、梳理導(dǎo)致光纜老化的因素和技術(shù)指標(biāo)，在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下開展溫度、 溫濕度、浸水、濕熱、干熱等光纖老化實(shí)驗(yàn)，將采用數(shù)學(xué)分析模型，對(duì)上述諸多因素進(jìn)行量 化，建立起老化因素和老化程度之間的光纖老化模型，提出一套簡(jiǎn)單、實(shí)用的光纖可靠性和 壽命的評(píng)判方法。
[0011] 進(jìn)一步，所述環(huán)境損耗實(shí)驗(yàn)包括以下五種實(shí)驗(yàn)：溫度實(shí)驗(yàn)、溫度-濕度循環(huán)實(shí)驗(yàn)、 浸水實(shí)驗(yàn)、濕熱實(shí)驗(yàn)和干熱老化實(shí)驗(yàn)；
[0012] 所述溫度實(shí)驗(yàn)包括：測(cè)量端通過光功率計(jì)對(duì)輸出的光進(jìn)行測(cè)量；采用烘箱作為加 熱裝置；采用溫度計(jì)來進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)光纖所處的環(huán)境溫度；把光纖放置好，其大部分都放 到烘箱之中，只有輸入和輸出端各有很小的一段沒有得到加熱；
[0013] 所述溫度-濕度循環(huán)實(shí)驗(yàn)包括在溫度的測(cè)試環(huán)境下，在提供的溫度范圍內(nèi)，增加 98 %的相對(duì)濕度來循環(huán)實(shí)驗(yàn)光纖性能變化情況；
[0014] 所述浸水實(shí)驗(yàn)分為人工模擬滲水環(huán)境條件，在光纜外的保護(hù)套向光纜內(nèi)滲透進(jìn)行 橫向滲透，在光纜保護(hù)層的局部破損或連接處進(jìn)行縱向滲透，測(cè)試光纖衰減趨勢(shì)；
[0015] 所述濕熱實(shí)驗(yàn)包括在溫度測(cè)試環(huán)境下，在溫箱中提供85攝氏度和85%相對(duì)濕度， 觀察時(shí)間30天，實(shí)驗(yàn)光纖性能變化情況；
[0016] 所述干熱老化實(shí)驗(yàn)包括在溫度測(cè)試環(huán)境下，在溫箱中提供85°C，觀察時(shí)間30天， 實(shí)驗(yàn)光纖性能變化情況。
[0017] 本發(fā)明的有益效果在于：本發(fā)明所述的光纖故障老化模型的建立方法基于統(tǒng)計(jì)實(shí) 驗(yàn)與回歸分析方法，相比于單純的理論分析結(jié)果更加的實(shí)用，且所采用的先進(jìn)實(shí)驗(yàn)設(shè)備和 科學(xué)的實(shí)驗(yàn)方法，保證了實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)和模型的客觀準(zhǔn)確。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0018] 為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和有益效果更加清楚，本發(fā)明提供如下附圖進(jìn)行 說明：
[0019] 圖1為連接器損耗測(cè)試示意圖；
[0020] 圖2為彎曲損耗測(cè)試示意圖。

【具體實(shí)施方式】
[0021] 下面將結(jié)合附圖，對(duì)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)的描述。
[0022] 在本方法中，首先分析影響光纖可靠性性環(huán)境參數(shù)指標(biāo)，再通過實(shí)驗(yàn)，獲取準(zhǔn)確、 可靠的數(shù)據(jù)。整個(gè)實(shí)驗(yàn)主要分為兩部分，接續(xù)損耗實(shí)驗(yàn)與非接續(xù)損耗實(shí)驗(yàn)。接續(xù)損耗主要 進(jìn)行熔接損耗實(shí)驗(yàn)與連接器損耗實(shí)驗(yàn)；對(duì)于非接續(xù)損耗主要進(jìn)行彎曲損耗實(shí)驗(yàn)、溫度-濕 度循環(huán)實(shí)驗(yàn)、浸水實(shí)驗(yàn)、濕熱實(shí)驗(yàn)等。然后利用回歸分析的方法，建立光纖的故障模型和光 纖老化預(yù)測(cè)模型。
[0023] 故障模型：
[0024] 采用在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下開展對(duì)光纖在工程中的熔接點(diǎn)、連接器等造成的光纖鏈路損 耗，建立起光纖鏈路損耗和其故障之間的故障模型。通過累計(jì)的熔接點(diǎn)、連接器的數(shù)量等參 數(shù)與通信鏈路間的損耗分析，對(duì)光纖通信鏈路的故障以及接續(xù)損耗瓶頸節(jié)點(diǎn)做出判斷。然 后，根據(jù)設(shè)備廠商所提供的產(chǎn)品資料以及實(shí)際運(yùn)行數(shù)據(jù)對(duì)可靠性模型進(jìn)行修正，以進(jìn)一步 提高模型的準(zhǔn)確性。進(jìn)而為實(shí)際工程中光纖故障的判斷提供理論依據(jù)。
[0025] 下面將針對(duì)光纖鏈路損耗分別進(jìn)行熔接損耗試驗(yàn)與連接器損耗實(shí)驗(yàn)進(jìn)行分析：
[0026] 熔接損耗實(shí)驗(yàn)：光纖熔接質(zhì)量好壞一般通過熔接損耗和熔接點(diǎn)強(qiáng)度來判斷。提高 和改進(jìn)光纖對(duì)準(zhǔn)技術(shù)是提高熔接質(zhì)量、降低熔接損耗的主要途徑。對(duì)熔接指標(biāo)按照國(guó)際電 信聯(lián)盟電信標(biāo)準(zhǔn)化部第六研究組ETSI 300 783、IEC 1073-l、Bellcore的三大國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)中 對(duì)單接頭、多接頭的相關(guān)規(guī)定。對(duì)于國(guó)內(nèi)沒有規(guī)定明確的標(biāo)準(zhǔn)，一般是參照原信產(chǎn)部鄭州設(shè) 計(jì)院提出的中繼段單纖平均熔接損耗標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行設(shè)計(jì)使用。引起光纖熔接損耗的主要因素 有光纖軸傾斜、光纖軸偏離以及模場(chǎng)失配。其主要設(shè)備為Fujikura FSM-40PM電弧光纖熔 接機(jī)，主要工具有光纜剪、剝脂鉗、擦纖紙、切割刀。對(duì)于熔接實(shí)驗(yàn)可分為同型號(hào)光纖熔接、 不同直徑差異光纖熔接、不同廠家型號(hào)光纖混用熔接等方面研究。對(duì)單個(gè)接頭質(zhì)量進(jìn)行分 析評(píng)估，在中繼段連接完成后，對(duì)整個(gè)接頭損耗進(jìn)行評(píng)估。其步驟為首先將給定波長(zhǎng)的尾纖 (單模光纖）與被測(cè)光纖熔接，并測(cè)量光纖另一端的輸出光功率；然后將該根光纖截?cái)酁閮?部分，并對(duì)其端面切割和潔凈處理后再次熔接，測(cè)量第二次的輸出光功率；根據(jù)兩次測(cè)量結(jié) 果即可得到這兩端光纖之間的熔接損耗。實(shí)驗(yàn)使用的光纖的長(zhǎng)度一定（約2m)，因而約束損 耗可以忽略不計(jì)，即實(shí)驗(yàn)測(cè)量所得的損耗為光纖之間的熔接損耗。最后對(duì)測(cè)試的實(shí)驗(yàn)結(jié)果 進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析，建立熔接損耗與熔接操作之間的函數(shù)模型。
[0027] 連接器損耗實(shí)驗(yàn)：采用標(biāo)準(zhǔn)跳線比對(duì)法，如圖1所示。對(duì)單模光纖采用小于50m，對(duì) 尾纖自身的損耗可以忽略不計(jì)，如果超過50m需要測(cè)試光纖自身?yè)p耗值。對(duì)同一連接器插 頭，在進(jìn)行多次重復(fù)插撥計(jì)算。并對(duì)插撥頭兩端進(jìn)行互換再次進(jìn)行多次重復(fù)插撥計(jì)算。其 計(jì)算公式為CL = -lOlgPi/PjdB)，其中P1為輸出光功率，P0為輸入光功率。CL為連接器 插入后的損耗。
[0028] 老化模型：
[0029] 分析電力光纖在受到各種環(huán)境因素的影響造成的老化，通過研究分析、梳理導(dǎo)致 光纜老化的因素和技術(shù)指標(biāo)，在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下開展溫度、溫濕度、浸水、濕熱、干熱等光纖老 化實(shí)驗(yàn)，將采用數(shù)學(xué)分析模型，對(duì)上述諸多因素進(jìn)行量化，建立起老化因素和老化程度之間 的光纖老化模型，提出一套簡(jiǎn)單、實(shí)用的光纖可靠性和壽命的評(píng)判方法。
[0030] 以下分別對(duì)每種實(shí)驗(yàn)進(jìn)行分析：
[0031] 彎曲損耗實(shí)驗(yàn)：當(dāng)光纖彎曲時(shí)，光在彎曲部分中進(jìn)行傳輸，要想保存同相位的電場(chǎng) 和磁場(chǎng)在一個(gè)平面里，則越靠近外側(cè)，其速度就會(huì)越大。當(dāng)傳導(dǎo)某一位置時(shí)，其速度就會(huì)超 過光速，這意味著傳導(dǎo)模式要變成輻射模。所以，光束功率的一部分會(huì)損耗掉，這也意味著 衰減將會(huì)增加。光纖的非本征損耗，主要包含輻射損耗與應(yīng)用損耗，輻射損耗主要是有光纖 制作工藝所致，應(yīng)用損耗是由光纖的張力、彎曲擠壓造成，主要是宏彎損耗。宏彎損耗光纖 的曲率半徑比光纖直徑大的多的彎曲（宏彎）引起的附加損耗，主要原因有路由轉(zhuǎn)彎和敷 設(shè)中的彎曲；光纖光纜的各種預(yù)留造成的彎曲（預(yù)留圈、自然彎曲）；接頭盒中光纖的盤留、 機(jī)房及設(shè)備內(nèi)尾纖的盤繞等。微彎損耗光纖軸產(chǎn)生μ m級(jí)的彎曲（微彎）引起的附加損耗， 主要原因有：光纖成纜時(shí)，支承表面微小的不規(guī)則引起各部分受力不均而形成的隨機(jī)性微 彎；纖芯與包層的分界面不光滑形成的微彎；光纜敷設(shè)時(shí)，各處張力不均勻而形成的微彎； 光纖受到的側(cè)壓力不均勻而形成的微彎；光纖遇到溫度變化，因熱脹冷縮形成的微彎。所用 設(shè)備包括光源、光功率計(jì)、光纖熔接機(jī)、光纖切割機(jī)、單模光纖。其步驟分為：a)、將光纖粘 貼在兩根固定棒上，兩根固定棒頂部相距2mm，固定一根固定棒，在一個(gè)平面內(nèi)旋轉(zhuǎn)另一根 固定棒來改變光纖的彎曲度；b)、通過測(cè)試彎曲度β在16°下的光功率計(jì)的讀數(shù)變化為基 值。然后將β從16°增加到70° (每次增加2° )，測(cè)試光功率計(jì)讀數(shù)，該值與初始值的 差值即為該角度下的彎曲損耗。通過采取Ν次取平均值來計(jì)算；c)、為進(jìn)一步分析比較通過 不同波長(zhǎng)下的光纖光功率的彎曲損耗，通過繪制不同光波長(zhǎng)下光纖彎曲角度與彎曲損耗值 來對(duì)應(yīng)曲線，并分別計(jì)算擬合方程和繪制擬合曲線。如圖2所示。
[0032] 環(huán)境損耗實(shí)驗(yàn)：在環(huán)境影響下，光纖的性能也會(huì)造成不同程度的損耗，通過在實(shí)驗(yàn) 室進(jìn)行模擬各種環(huán)境類型來評(píng)估對(duì)光纖損耗原因。光纖在使用過程中性能的變化（老化） 主要是下列實(shí)驗(yàn)環(huán)境所作用引起的，通過參考GB/T 15972. 5-1998標(biāo)準(zhǔn)來模擬環(huán)境實(shí)驗(yàn)來 評(píng)價(jià)光纜的可靠性。主要包括以下5種實(shí)驗(yàn)：
[0033] 溫度實(shí)驗(yàn)：考慮溫度的大幅度變化造成的對(duì)光纖不當(dāng)?shù)膫?cè)壓力，從而影響光纖的 業(yè)務(wù)承載能力。其步驟分分為：測(cè)量端通過光功率計(jì)對(duì)輸出的光進(jìn)行測(cè)量；采用烘箱作為 加熱裝置；采用溫度計(jì)來進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)光纖所處的環(huán)境溫度；把光纖放置好，其大部分都 放到烘箱之中，只有輸入和輸出端各有很小的一段沒有得到加熱。系統(tǒng)首先預(yù)熱兩個(gè)小時(shí)， 然后開始升溫、測(cè)量，測(cè)量時(shí)間間隔為1小時(shí)，這是為了保證烘箱溫度達(dá)到穩(wěn)定并使光纖充 分加熱至穩(wěn)定溫度點(diǎn)。測(cè)量溫度范圍為-60°c到85°C，每隔10°C為一個(gè)測(cè)量點(diǎn)。
[0034] 溫度-濕度循環(huán)實(shí)驗(yàn)：在溫度的測(cè)試環(huán)境下，在提供的溫度范圍內(nèi)，增加98%的相 對(duì)濕度來循環(huán)實(shí)驗(yàn)光纖性能變化情況。
[0035] 浸水實(shí)驗(yàn)：光纖表面存在微裂紋或者在連接頭松動(dòng)后，在大氣環(huán)境中的水汽很容 易侵蝕光纖，導(dǎo)致光纖自身的抗疲勞參數(shù)大大下降。其步驟分為人工模擬滲水環(huán)境條件，在 光纜外的保護(hù)套向光纜內(nèi)滲透進(jìn)行橫向滲透，在光纜保護(hù)層的局部破損或連接處進(jìn)行縱向 滲透，測(cè)試光纖衰減趨勢(shì)。
[0036] 濕熱實(shí)驗(yàn)：其方法為在溫度測(cè)試環(huán)境下，在溫箱中提供85攝氏度和85%相對(duì)濕 度，觀察時(shí)間30天，實(shí)驗(yàn)光纖性能變化情況。
[0037] 干熱老化：其方法為在溫度測(cè)試環(huán)境下，在溫箱中提供85°C，觀察時(shí)間30天，實(shí)驗(yàn) 光纖性能變化情況。
[0038] 最后說明的是，以上優(yōu)選實(shí)施例僅用以說明本發(fā)明的技術(shù)方案而非限制，盡管通 過上述優(yōu)選實(shí)施例已經(jīng)對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)的描述，但本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，可以在 形式上和細(xì)節(jié)上對(duì)其作出各種各樣的改變，而不偏離本發(fā)明權(quán)利要求書所限定的范圍。
【權(quán)利要求】
1. 一種光纖故障老化模型的建立方法，其特征在于：包括以下步驟：首先分析影響光 纖可靠性環(huán)境的參數(shù)指標(biāo)；再通過實(shí)驗(yàn)，獲取準(zhǔn)確、可靠的數(shù)據(jù)；然后利用回歸分析的方 法，建立光纖的故障模型和光纖老化預(yù)測(cè)模型。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光纖故障老化模型的建立方法，其特征在于：所述實(shí)驗(yàn) 主要分為兩部分，接續(xù)損耗實(shí)驗(yàn)與非接續(xù)損耗實(shí)驗(yàn)；接續(xù)損耗主要包括進(jìn)行熔接損耗實(shí)驗(yàn) 與連接器損耗實(shí)驗(yàn)；非接續(xù)損耗實(shí)驗(yàn)主要包括進(jìn)行彎曲損耗實(shí)驗(yàn)、溫度-濕度循環(huán)實(shí)驗(yàn)、浸 水實(shí)驗(yàn)和濕熱實(shí)驗(yàn)。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種光纖故障老化模型的建立方法，其特征在于：建立光纖 鏈路損耗和其故障之間的故障模型，采用在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下開展對(duì)光纖在工程中的熔接點(diǎn)、 連接器等造成的光纖鏈路損耗；通過累計(jì)的熔接點(diǎn)、連接器的數(shù)量等參數(shù)與通信鏈路間的 損耗分析，對(duì)光纖通信鏈路的故障以及接續(xù)損耗瓶頸節(jié)點(diǎn)做出判斷；然后，根據(jù)設(shè)備廠商所 提供的產(chǎn)品資料以及實(shí)際運(yùn)行數(shù)據(jù)對(duì)可靠性模型進(jìn)行修正，以進(jìn)一步提高模型的準(zhǔn)確性； 進(jìn)而為實(shí)際工程中光纖故障的判斷提供理論依據(jù)。
4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種光纖故障老化模型的建立方法，其特征在于：所述老化 模型的建立包括分析電力光纖在受到各種環(huán)境因素的影響造成的老化，通過研究分析、梳 理導(dǎo)致光纜老化的因素和技術(shù)指標(biāo)，在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下開展溫度、溫濕度、浸水、濕熱、干熱等 光纖老化實(shí)驗(yàn)，將采用數(shù)學(xué)分析模型，對(duì)上述諸多因素進(jìn)行量化，建立起老化因素和老化程 度之間的光纖老化模型，提出一套簡(jiǎn)單、實(shí)用的光纖可靠性和壽命的評(píng)判方法。
5. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種光纖故障老化模型的建立方法，其特征在于：所述環(huán)境 損耗實(shí)驗(yàn)包括以下五種實(shí)驗(yàn)：溫度實(shí)驗(yàn)、溫度-濕度循環(huán)實(shí)驗(yàn)、浸水實(shí)驗(yàn)、濕熱實(shí)驗(yàn)和干熱 老化實(shí)驗(yàn)； 所述溫度實(shí)驗(yàn)包括：測(cè)量端通過光功率計(jì)對(duì)輸出的光進(jìn)行測(cè)量；采用烘箱作為加熱裝 置； 采用溫度計(jì)來進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)光纖所處的環(huán)境溫度；把光纖放置好，其大部分都放到烘 箱之中，只有輸入和輸出端各有很小的一段沒有得到加熱； 所述溫度-濕度循環(huán)實(shí)驗(yàn)包括在溫度的測(cè)試環(huán)境下，在提供的溫度范圍內(nèi)，增加98% 的相對(duì)濕度來循環(huán)實(shí)驗(yàn)光纖性能變化情況； 所述浸水實(shí)驗(yàn)分為人工模擬滲水環(huán)境條件，在光纜外的保護(hù)套向光纜內(nèi)滲透進(jìn)行橫向 滲透，在光纜保護(hù)層的局部破損或連接處進(jìn)行縱向滲透，測(cè)試光纖衰減趨勢(shì)； 所述濕熱實(shí)驗(yàn)包括在溫度測(cè)試環(huán)境下，在溫箱中提供85攝氏度和85%相對(duì)濕度，觀察 時(shí)間30天，實(shí)驗(yàn)光纖性能變化情況； 所述干熱老化實(shí)驗(yàn)包括在溫度測(cè)試環(huán)境下，在溫箱中提供85°C，觀察時(shí)間30天，實(shí)驗(yàn) 光纖性能變化情況。
【文檔編號(hào)】G01M11/00GK104158585SQ201410367402
【公開日】2014年11月19日 申請(qǐng)日期:2014年7月29日 優(yōu)先權(quán)日:2014年7月29日
【發(fā)明者】王賢亮, 陳弟全, 何圣偉, 姜元帥, 梁健, 王毅, 周喆旻, 謝一 申請(qǐng)人:國(guó)家電網(wǎng)公司, 國(guó)網(wǎng)重慶市電力公司綦南供電分公司