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一種檢針機(jī)的校準(zhǔn)方法與流程

文檔序號(hào):11214743閱讀:2987來源:國知局
一種檢針機(jī)的校準(zhǔn)方法與流程

技術(shù)領(lǐng)域:

本發(fā)明涉及檢針機(jī)技術(shù)領(lǐng)域,具體地是一種檢針機(jī)的校準(zhǔn)方法。



背景技術(shù):

在紡織品、鞋類、玩具、食品、制藥以及毛絨玩具等商品進(jìn)入市場流通前,例如服裝在裝運(yùn)或出售給客戶前或成品鞋類包裝前,為了保證使用者的安全和舒適,都需要進(jìn)行異物檢測。傳統(tǒng)地,采用人工手摸和肉眼觀察的方式來檢測異物,但這種方式費(fèi)時(shí)費(fèi)力,很難保證檢查質(zhì)量,而且可能對檢測人員造成傷害。為了提高檢針效率和質(zhì)量,現(xiàn)有技術(shù)中越來越多應(yīng)用檢針機(jī)進(jìn)行異物檢測,檢針機(jī)能夠檢測遺留在各類紡織品中的鉤針、大頭針、別針或其他鐵磁物質(zhì)以及其它危險(xiǎn)類對象,如碎玻璃片、木片等。

隨著檢針機(jī)的應(yīng)用,以及日?,F(xiàn)場環(huán)境條件可能對其檢測精度產(chǎn)生的影響,使得檢針機(jī)在檢測時(shí)可能檢測不出遺留在紡織品中的斷針而漏報(bào),又或者對紡織品上的金屬紐扣或金屬裝飾品產(chǎn)生誤報(bào);這些都會(huì)影響檢測質(zhì)量和生產(chǎn)效率?,F(xiàn)有技術(shù)也公開了一些提升檢針機(jī)檢測精度的技術(shù)方案,例如專利cn201620973953.0公開了一種用于提高檢針機(jī)檢測精度的充磁裝置,該裝置包括在檢針機(jī)本體輸送單元處沿其運(yùn)行方向依次設(shè)置的至少2個(gè)充磁模塊,所述至少2個(gè)充磁模塊的磁感應(yīng)線均近似水平的穿過輸送單元上方且互不平行;又例如中國專利cn201620974103.2公開了一種用于提升檢針機(jī)檢測精度的檢磁裝置,其包括設(shè)于檢針機(jī)本體輸送單元處的檢磁模塊,檢磁模塊包括上檢磁單元和下檢磁單元,上檢磁單元位于輸送單元上方且檢測面朝向輸送單元,下檢磁單元位于輸送單元下方且檢測面朝向輸送單元;這些提升檢測精度的技術(shù)方案只能用在特定檢針機(jī)上,適用范圍較窄,而且結(jié)構(gòu)復(fù)雜,成本較高,不具有廣泛應(yīng)用的基礎(chǔ)。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是針對現(xiàn)有技術(shù)在提升檢針機(jī)的檢測精度時(shí)存在適用范圍較窄,而且結(jié)構(gòu)復(fù)雜以及成本較高等缺點(diǎn),提供一種檢針機(jī)的校準(zhǔn)方法。

本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采取的技術(shù)方案是:一種檢針機(jī)的校準(zhǔn)方法,用于校準(zhǔn)檢針機(jī)的靈敏度,所述檢針機(jī)包括探測器,所述探測器包括機(jī)體部分和在機(jī)體部分開設(shè)的探測通道,其特征在于,該校準(zhǔn)方法包括以下步驟:

步驟1:準(zhǔn)備待校準(zhǔn)的檢針機(jī),并將探測通道內(nèi)探測區(qū)的高度均分為三層,每層設(shè)置三個(gè)測試點(diǎn);

步驟2:選擇標(biāo)準(zhǔn)測試卡、測試卡架和標(biāo)準(zhǔn)鐵球,標(biāo)準(zhǔn)鐵球牢固粘結(jié)在標(biāo)準(zhǔn)測量卡的側(cè)面中心位置;

步驟3:將檢針機(jī)的靈敏度調(diào)節(jié)到最低檔,并擦拭干凈,然后直接傳輸粘結(jié)有標(biāo)準(zhǔn)鐵球的標(biāo)準(zhǔn)測試卡,開動(dòng)檢針機(jī),所述標(biāo)準(zhǔn)測試卡經(jīng)過探測通道,檢針機(jī)能檢測到所述標(biāo)準(zhǔn)測試卡發(fā)出警報(bào)并且停機(jī)倒退;

步驟4:將粘結(jié)有標(biāo)準(zhǔn)鐵球的標(biāo)準(zhǔn)測試卡卡入測試卡架的中間部分,傳輸測試卡架和所述標(biāo)準(zhǔn)測試卡經(jīng)過探測通道,檢針機(jī)能檢測到所述標(biāo)準(zhǔn)測試卡發(fā)出警報(bào)并且停機(jī)倒退;

步驟5:將粘結(jié)有標(biāo)準(zhǔn)鐵球的標(biāo)準(zhǔn)測試卡卡入測試卡架的最高點(diǎn)部位,傳輸測試卡架和所述標(biāo)準(zhǔn)測試卡經(jīng)過探測通道,檢針機(jī)能檢測到所述標(biāo)準(zhǔn)測試卡發(fā)出警報(bào)并且停機(jī)倒退;

步驟6:記錄步驟3、步驟4和步驟5中都能發(fā)出警報(bào)并且停機(jī)倒退的標(biāo)準(zhǔn)測試卡,以能夠檢測到的最小直徑的標(biāo)準(zhǔn)鐵球標(biāo)定檢針機(jī)的靈敏度,若靈敏度達(dá)不到要求,則將檢針機(jī)的靈敏度調(diào)高。

其中,所述檢針機(jī)為帶式檢針機(jī)、平板式檢針機(jī)或手持式檢針機(jī)。

其中,在步驟1中,調(diào)節(jié)環(huán)境溫度為18~28℃、相對濕度為50%~80%rh。

其中,所述標(biāo)準(zhǔn)測試卡的材料為有機(jī)玻璃。

其中,所述測試卡架的高度為10~500mm。

其中,所述標(biāo)準(zhǔn)鐵球的直徑為0.5~6.5mm。

其中,步驟2中還配置一塊不帶標(biāo)準(zhǔn)鐵的標(biāo)準(zhǔn)測試卡。

其中,步驟3中的直接傳輸所述標(biāo)準(zhǔn)測試卡經(jīng)過探測通道,使所述標(biāo)準(zhǔn)測試卡經(jīng)過探測通道內(nèi)探測區(qū)的下層三個(gè)測試點(diǎn)。

其中,步驟4中的傳輸測試卡架和所述標(biāo)準(zhǔn)測試卡經(jīng)過探測通道,使所述標(biāo)準(zhǔn)測試卡經(jīng)過探測通道內(nèi)探測區(qū)的中間層三個(gè)測試點(diǎn)。

其中,步驟5中的傳輸測試卡架和所述標(biāo)準(zhǔn)測試卡經(jīng)過探測通道,使所述標(biāo)準(zhǔn)測試卡經(jīng)過探測通道內(nèi)探測區(qū)的上層三個(gè)測試點(diǎn)。

本發(fā)明由于采取了上述技術(shù)方案,其具有如下有益效果:

本發(fā)明所述的檢針機(jī)的校準(zhǔn)方法,能夠精確地檢測檢針機(jī)的靈敏度并校準(zhǔn),適用于帶式檢針機(jī)、平板式檢針機(jī)和手持式檢針機(jī)的校準(zhǔn),適用范圍廣,無需專業(yè)的校準(zhǔn)工具,校準(zhǔn)過程簡單,降低了校準(zhǔn)成本,減少了校準(zhǔn)時(shí)間和精力,能夠廣泛地校準(zhǔn)不同種類的檢針機(jī)。

附圖說明:

圖1為本發(fā)明所述的探測器的機(jī)體部分和探測通道的結(jié)構(gòu)示意圖;

圖2為本發(fā)明所述的標(biāo)準(zhǔn)測試卡和標(biāo)準(zhǔn)鐵球的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式:

以下結(jié)合附圖對本發(fā)明的內(nèi)容作進(jìn)一步說明。

如圖1所示,本發(fā)明所述的一種檢針機(jī)的校準(zhǔn)方法,用于校準(zhǔn)檢針機(jī)的靈敏度,所述檢針機(jī)包括探測器1,所述探測器1包括機(jī)體部分11和在機(jī)體部分開設(shè)的探測通道12,其特征在于,該校準(zhǔn)方法包括以下步驟:

步驟1:準(zhǔn)備待校準(zhǔn)的檢針機(jī),并將探測通道12內(nèi)探測區(qū)的高度h均分為三層,每層設(shè)置三個(gè)測試點(diǎn);

在圖1中,總共示出九個(gè)測試點(diǎn),分別為a1、a2、a3、a4、a5、a6、a7、a8和a9;

在校準(zhǔn)時(shí),本發(fā)明優(yōu)選在校準(zhǔn)前調(diào)節(jié)環(huán)境溫度為18~28℃、相對濕度為50%~80%rh,并且保證電源接地良好,以及無影響正常校準(zhǔn)的外磁場、周圍無強(qiáng)烈振動(dòng);

其中,所述檢針機(jī)可以為帶式檢針機(jī)、平板式檢針機(jī)或手持式檢針機(jī);

步驟2:選擇標(biāo)準(zhǔn)測試卡2、測試卡架(未示出)和標(biāo)準(zhǔn)鐵球100,如圖2所示,標(biāo)準(zhǔn)鐵球100牢固粘結(jié)在標(biāo)準(zhǔn)測量卡2的側(cè)面中心位置;

其中,標(biāo)準(zhǔn)測試卡的材料為有機(jī)玻璃;所述測試卡架的高度為10~500mm;優(yōu)選標(biāo)準(zhǔn)鐵球的直徑為0.5~6.5mm,常用直徑規(guī)格有0.8mm、1.0mm、1.2mm、1.5mm、2.0mm、2.5mm和3.0mm;

在本發(fā)明中,為了校準(zhǔn)的精度,優(yōu)選還配置一塊不帶標(biāo)準(zhǔn)鐵100的標(biāo)準(zhǔn)測試卡;

通過使用標(biāo)準(zhǔn)測試卡2來檢測這九個(gè)點(diǎn)所能檢測到的最小直徑的標(biāo)準(zhǔn)鐵球100從而來標(biāo)定檢針機(jī)的靈敏度;

步驟3:將檢針機(jī)的靈敏度調(diào)節(jié)到最低檔,并擦拭干凈,然后直接傳輸粘結(jié)有標(biāo)準(zhǔn)鐵球100的標(biāo)準(zhǔn)測試卡2,開動(dòng)檢針機(jī),所述標(biāo)準(zhǔn)測試卡2經(jīng)過探測通道12,檢針機(jī)能檢測到所述標(biāo)準(zhǔn)測試卡2發(fā)出警報(bào)并且停機(jī)倒退;

在步驟3中,直接傳輸所述標(biāo)準(zhǔn)測試卡2經(jīng)過探測通道12,即所述標(biāo)準(zhǔn)測試卡2經(jīng)過探測通道12內(nèi)探測區(qū)的下層三個(gè)測試點(diǎn)a1、a2和a3;

步驟4:將粘結(jié)有標(biāo)準(zhǔn)鐵球100的標(biāo)準(zhǔn)測試卡2卡入測試卡架的中間部分,傳輸測試卡架和所述標(biāo)準(zhǔn)測試卡2經(jīng)過探測通道12,檢針機(jī)能檢測到所述標(biāo)準(zhǔn)測試卡2發(fā)出警報(bào)并且停機(jī)倒退;

在步驟4中,傳輸測試卡架和所述標(biāo)準(zhǔn)測試卡2經(jīng)過探測通道12,即所述標(biāo)準(zhǔn)測試卡2經(jīng)過探測通道12內(nèi)探測區(qū)的中間層三個(gè)測試點(diǎn)a4、a5和a6;

步驟5:將粘結(jié)有標(biāo)準(zhǔn)鐵球100的標(biāo)準(zhǔn)測試卡2卡入測試卡架的最高點(diǎn)部位,傳輸測試卡架和所述標(biāo)準(zhǔn)測試卡2經(jīng)過探測通道12,檢針機(jī)能檢測到所述標(biāo)準(zhǔn)測試卡2發(fā)出警報(bào)并且停機(jī)倒退;

在步驟5中,傳輸測試卡架和所述標(biāo)準(zhǔn)測試卡2經(jīng)過探測通道12,即所述標(biāo)準(zhǔn)測試卡2經(jīng)過探測通道12內(nèi)探測區(qū)的上層三個(gè)測試點(diǎn)a7、a8和a9;

步驟6:記錄步驟3、步驟4和步驟5中都能發(fā)出警報(bào)并且停機(jī)倒退的標(biāo)準(zhǔn)測試卡2,以能夠檢測到的最小直徑的標(biāo)準(zhǔn)鐵球100標(biāo)定檢針機(jī)的靈敏度,若靈敏度達(dá)不到要求,則將檢針機(jī)的靈敏度調(diào)高。

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