本發(fā)明實(shí)施例涉及電池產(chǎn)品，具體涉及一種電池產(chǎn)品測試方法。

背景技術(shù)：

1、目前行業(yè)里對于鋰電池產(chǎn)品的測試通用做法大都是分為兩個部分，即bms保護(hù)板(pcba)的fct測試、pack（電池包）的fct測試。用于測試電芯電壓，壓差，電流，自耗電，電流校準(zhǔn)，通訊讀取，soc讀取，充放電保護(hù)，電池包激活等模塊功能是否正常?

2、在上述測試中，不同的測試項(xiàng)目通常在不同測試環(huán)境中單獨(dú)進(jìn)行，且在某一測試項(xiàng)目不合格，仍會對同產(chǎn)品的其他項(xiàng)目或同一批次的其他產(chǎn)品進(jìn)行測試，由于不良只影響到測試項(xiàng)目的其中一項(xiàng)或少量測試項(xiàng)目，與其它測試項(xiàng)目沒有關(guān)聯(lián)，其還可以繼續(xù)測試下去，導(dǎo)致不能完全堵截，極有可能會出現(xiàn)將不良品當(dāng)成良品出貨到客戶的風(fēng)險。另外，在測試過程中如果產(chǎn)品出現(xiàn)某一項(xiàng)測試不良時，測試設(shè)備不會馬上停止該測試進(jìn)程，還繼續(xù)后面的測試項(xiàng)目，這會浪費(fèi)設(shè)備的測試時間，降低測試效率。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、鑒于上述問題，本發(fā)明實(shí)例提供了一種鋰電池產(chǎn)品測試方法，用于解決現(xiàn)有技術(shù)中fct測試不能完全堵截，極有可能會出現(xiàn)將不良品當(dāng)成良品出貨到客戶的風(fēng)險。另外，在測試過程中如果產(chǎn)品出現(xiàn)某一項(xiàng)測試不良時，測試設(shè)備不會馬上停止該測試進(jìn)程，還繼續(xù)后面的測試項(xiàng)目，這會浪費(fèi)設(shè)備的測試時間，降低測試效率的問題。

2、根據(jù)本發(fā)明實(shí)例的一個方面，提供了一種電池產(chǎn)品測試方法，所述方法包括：

3、s1，根據(jù)第一檢測順序?qū)﹄姵禺a(chǎn)品的bms保護(hù)板進(jìn)行電性能測試和校準(zhǔn)測試，若測試通過，將錯誤標(biāo)志位寫入bms保護(hù)板的mcu寄存器中，則執(zhí)行步驟s2，否則生成錯誤標(biāo)志位并執(zhí)行步驟s3；

4、s2，根據(jù)第二檢測順序?qū)﹄姵禺a(chǎn)品的電池包進(jìn)行fct測試，若測試通過則電池產(chǎn)品合格，否則生成錯誤代碼，將錯誤代碼寫入bms保護(hù)板的mcu寄存器中，并執(zhí)行步驟s3；

5、s3，中斷當(dāng)前測試，且根據(jù)所述錯誤標(biāo)志位或錯誤代碼進(jìn)行故障排查，且在完成故障排查后清除mcu寄存器的錯誤標(biāo)志位或錯誤代碼。

6、在一些可選的實(shí)施例中，在步驟s1中，所述根據(jù)第一檢測順序?qū)﹄姵禺a(chǎn)品的bms保護(hù)板進(jìn)行電性能測試和校準(zhǔn)測試，具體包括：

7、s11，通過測試裝置將所述bms保護(hù)板與測試電源連接，并進(jìn)行初始化測試；

8、s12，根據(jù)所述第一檢測順序依次對所述bms保護(hù)板的第一電芯模塊、第二電芯模塊和外接模塊進(jìn)行測試。

9、s13，通過執(zhí)行步驟s12完成電性能測試，生成第一標(biāo)記；并通過再次執(zhí)行步驟s12完成校準(zhǔn)參數(shù)測試，生成第二標(biāo)記。

10、在一些可選的實(shí)施例中，在步驟s11中，所述測試裝置包括第一電芯分壓電路、第二電芯分壓電路和轉(zhuǎn)接電路；

11、所述第一電芯分壓電路與第一電芯模塊連接，所述第二電芯分壓電路與第二電芯模塊連接，所述轉(zhuǎn)接電路與外接模塊連接，且開啟或關(guān)斷所述第一電芯分壓電路、第二電芯分壓電路和轉(zhuǎn)接電路中的測試開關(guān)，以完成對bms保護(hù)板的電性能測試。

12、在一些可選的實(shí)施例中，所述第一電芯模塊具有第一正極端、第一負(fù)極端和至少一個第一連接端；所述第一電芯分壓電路包括開關(guān)sw1_0、電壓表v1_0、電流表a1、電壓表v6、開關(guān)1_1、開關(guān)1_6、電阻r1、電阻r2和電阻r3，

13、其中，所述開關(guān)sw1_0的第一端與所述測試電源的電源v_a連接，所述開關(guān)sw1_0的第二端與所述電阻r1、電阻r2、電流表a1和電壓表v1_0的第一端連接，所述電流表a1的第二端與所述第一連接端連接，所述電阻r2的第二端與所述開關(guān)1_1的第一端連接，所述開關(guān)1_1、電壓表v1_0、所述電阻r1的第二端與所述第一負(fù)極端連接；所述電壓表v6連接在所述第一正極端與電源地之間；所述電阻r3、開關(guān)1_6并聯(lián)在所述第一負(fù)極端和電源地之間。

14、在一些可選的實(shí)施例中，所述第二電芯模塊具有第二正極端、第二負(fù)極端和至少一個第二連接端；所述第二電芯分壓電路包括開關(guān)sw2_0、電壓表v2_0、電流表a2、電壓表v2_1、電壓表v7、開關(guān)v2_1、電阻r4、電阻r5、電阻r6、電阻r7、電阻r8、可變電阻rx，

15、其中，所述開關(guān)sw2_0的第一端與所述測試電源的電源v_b連接，所述開關(guān)sw2_0的第二端與所述電阻r4、電阻r5、可變電阻rx、電流表a2、電壓表v2_0和電壓表v2_1的第一端連接，所述電流表a2的第二端與所述第二連接端連接，所述可變電阻rx、電阻r4的第二端并聯(lián)在所述電阻r6的第一端連接，所述電阻r5的第二端與所述電阻r7的第一端連接，所述電阻r6、電阻r7、電壓表v2_0、電壓表v2_1的第二端均與所述第二負(fù)極端連接；所述電壓表v7連接在所述第二正極端與電源地之間；所述電阻r8、開關(guān)v2_1并聯(lián)在所述第一負(fù)極端和電源地之間。

16、在一些可選的實(shí)施例中，所述外接模塊具有pcba負(fù)極端、ld端、t端、v端和ls端，所述轉(zhuǎn)接電路具體包括電流表a3、開關(guān)sw3、開關(guān)sw4、開關(guān)sw5、開關(guān)sw6、開關(guān)sw7、開關(guān)sw8、電阻r9、電阻r10、電阻r11、電阻r12、電阻r13、電阻r14、電壓表v3、電壓表v4和電壓表v5；

17、其中，所述開關(guān)sw3的第一端通過電流表a3與測試電源的電源v_c連接，且開關(guān)sw3通過開關(guān)sw4與所述第二負(fù)極端或pcba負(fù)極端連接；

18、所述開關(guān)sw6的第一端與測試電源的電源12v連接取電，且開關(guān)sw6的第二端與所述電阻r9的第一端或電阻r10的第一端連接，所述電阻r9、電阻r10的第二端與所述電壓表v3、開關(guān)sw7連接，電壓表v3另一端接地，開關(guān)sw7另一端與ld端連接；

19、所述開關(guān)sw5的第一端與測試電源的電源5v連接取電，且開關(guān)sw5的第二端分別與電阻r11、電阻r12、電阻r13的第一端連接；所述電阻r11的第二端與所述t端、電壓表v4連接，電壓表v4另一端接地；所述電壓r13的第二端通過開關(guān)sw8與v端連接；所述電阻r13的第二端與所述電阻r14、電壓表v5和ls端連接，所述電阻r14、電壓表v5另一端接地。

20、在一些實(shí)施例中，所述根據(jù)第一檢測順序?qū)﹄姵禺a(chǎn)品的bms保護(hù)板進(jìn)行電性能測試和校準(zhǔn)測試，具體包括：

21、依次對所述開關(guān)sw1_0、開關(guān)1_1、開關(guān)1_6、開關(guān)sw2_0、開關(guān)v2_1、開關(guān)sw3、開關(guān)sw4、開關(guān)sw5、開關(guān)sw6、開關(guān)sw7、開關(guān)sw8中任一個或多個開關(guān)導(dǎo)通或關(guān)斷，獲取電壓表v1_0、電流表a1、電壓表v6、電壓表v2_0、電流表a2、電壓表v2_1、電壓表v7、電壓表v3、電壓表v4和電壓表v5中任一個或多個數(shù)據(jù)，對所述bms保護(hù)板進(jìn)行電性能測試和校準(zhǔn)測試。

22、在一些可選的實(shí)施例中，在步驟s2中，根據(jù)所述第二檢測順序?qū)﹄姵禺a(chǎn)品的電池包進(jìn)行fct測試，具體包括：

23、s21，將電池包與測試裝置連接，并將制造數(shù)據(jù)寫入電池包中；

24、s22，讀取電池包的狀態(tài)數(shù)據(jù)，若狀態(tài)數(shù)據(jù)在預(yù)設(shè)的范圍值內(nèi)則執(zhí)行步驟s23，否則生成錯誤代碼并執(zhí)行步驟s3；

25、s23，向所述電池包輸出方向指令，并使電池包所有l(wèi)og數(shù)據(jù)復(fù)位。

26、在一些可選的實(shí)施例中，在步驟s2中，根據(jù)所述第二檢測順序?qū)﹄姵禺a(chǎn)品的電池包進(jìn)行fct測試，具體包括：

27、s21，將電池包與測試裝置連接，并將制造數(shù)據(jù)寫入電池包中；

28、s22，讀取所述電池包的電池信息，并判斷所述電池信息與所述制造數(shù)據(jù)是否一致，若是執(zhí)行步驟s23，否則生成錯誤代碼并執(zhí)行步驟s3；

29、s23，讀取電池包的狀態(tài)數(shù)據(jù)，若狀態(tài)數(shù)據(jù)在預(yù)設(shè)的范圍值內(nèi)則執(zhí)行步驟s24，否則生成錯誤代碼并執(zhí)行步驟s3；

30、s24，讀取并校驗(yàn)所述電池包的錯誤數(shù)據(jù)、標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)、錯誤計數(shù)和歷史數(shù)據(jù)，若錯誤數(shù)據(jù)、標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)、錯誤計數(shù)和歷史數(shù)據(jù)在預(yù)設(shè)的范圍值內(nèi)則執(zhí)行步驟s25，否則生成錯誤代碼并執(zhí)行步驟s3；

31、s25，向所述電池包輸出方向指令，并使電池包所有l(wèi)og數(shù)據(jù)復(fù)位。

32、在一些可選的實(shí)施例中，在步驟s3中，

33、當(dāng)所述bms保護(hù)板測試不通過時，根據(jù)所述錯誤標(biāo)志位確定bms保護(hù)板的電性能測試異常位置；

34、當(dāng)所述電池包測試不通過時，根據(jù)錯誤代碼確定電池包的電性能測試異常位置，其中，所述錯誤代碼至少包括產(chǎn)品型號錯誤、信息不匹配、沖突錯誤核查、電池缺陷、命令錯誤和連接錯誤中任一個或多個。

35、根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的另一方面，提供了一種電池產(chǎn)品測試裝置，包括：處理器、存儲器、通信接口和通信總線，所述處理器、所述存儲器和所述通信接口通過所述通信總線完成相互間的通信；

36、所述存儲器用于存放至少一可執(zhí)行指令，所述可執(zhí)行指令使所述處理器執(zhí)行如上述的電池產(chǎn)品測試方法的操作。

37、本發(fā)明提供了一種電池產(chǎn)品測試方法，其有益效果在于：本發(fā)明通過根據(jù)第一檢測順序?qū)﹄姵禺a(chǎn)品的bms保護(hù)板進(jìn)行電性能測試和校準(zhǔn)測試，對bms保護(hù)板檢測通過后執(zhí)行根據(jù)第二檢測順序?qū)﹄姵禺a(chǎn)品的電池包進(jìn)行fct測試，且在電池包檢測合格，電池產(chǎn)品整體檢測才合格。如在bms保護(hù)板或電池包的fct測試中出現(xiàn)問題，馬上中斷當(dāng)前測試，并將錯誤標(biāo)志位或錯誤代碼寫入bms保護(hù)板的mcu寄存器中，以便進(jìn)行故障排查。使得后續(xù)測試項(xiàng)目不繼續(xù)進(jìn)行。當(dāng)除非產(chǎn)品的故障被排除并清除了該錯誤標(biāo)志位，測試才可以被恢復(fù)并繼續(xù)進(jìn)行；通過本發(fā)明可以高效地攔截出產(chǎn)品的不良品，減少產(chǎn)品不良率的發(fā)生。

38、上述說明僅是本發(fā)明實(shí)例技術(shù)方案的概述，為了能夠更清楚了解本發(fā)明實(shí)施例的技術(shù)手段，可依照說明書的內(nèi)容予以實(shí)施，并且為了讓本發(fā)明實(shí)例的上述和其它目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更明顯易懂，以下舉例本發(fā)明的具體實(shí)施方式。