1.一種用于芯片邏輯驗證的方法，其特征在于，包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求1至2中任一項所述的方法，其特征在于，所述子邏輯電路還包括異或門，所述異或門連接所述第一電路的至少一部分和所述第二電路的至少一部分；
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，對所述分量圖執(zhí)行推理包括：
5.根據(jù)權(quán)利要求3至4中任一項所述的方法，其特征在于，所述分量圖是基于所述與非圖的第一部分而被確定的第一分量圖，所述與非圖的第一部分與所述子邏輯電路的第一部分對應(yīng)；
6.根據(jù)權(quán)利要求3至5中任一項所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：
7.根據(jù)權(quán)利要求3至6中任一項所述的方法，其特征在于，所述atpg算法包括基于扇(fan-based)的atpg算法。
8.根據(jù)權(quán)利要求1至7中任一項所述的方法，其特征在于，所述電路功能模塊包括以下至少一項：全加器、半加器或壓縮器。
9.根據(jù)權(quán)利要求1至8中任一項所述的方法，其特征在于，所述基于所述分量圖，確定所述第一電路與所述第二電路之間的所述邏輯等價性還包括：
10.一種用于芯片邏輯驗證的裝置，其特征在于，包括：
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的裝置，所述裝置還包括化簡單元，被配置為：
12.根據(jù)權(quán)利要求10至11中任一項所述的裝置，其特征在于，所述子邏輯電路還包括異或門，所述異或門連接所述第一電路的至少一部分和所述第二電路的至少一部分；
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的裝置，其特征在于，所述邏輯驗證單元包括：推理學(xué)習(xí)單元，被配置為：
14.根據(jù)權(quán)利要求12至13中任一項所述的裝置，其特征在于，所述分量圖是基于所述與非圖的第一部分而被確定的第一分量圖，所述與非圖的第一部分與所述子邏輯電路的第一部分對應(yīng)；
15.根據(jù)權(quán)利要求12至14中任一項所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括根因分析單元；
16.根據(jù)權(quán)利要求12至15中任一項所述的裝置，其特征在于，所述atpg算法包括基于扇(fan-based)的atpg算法。
17.根據(jù)權(quán)利要求10至16中任一項所述的裝置，其特征在于，所述電路功能模塊包括以下至少一項：全加器、半加器或壓縮器。
18.根據(jù)權(quán)利要求10至17中任一項所述的裝置，其特征在于，所述邏輯驗證單元還被配置為：
19.一種電子設(shè)備，包括：
20.一種計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，其上存儲有計算機(jī)程序，所述程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)根據(jù)權(quán)利要求1至9中任一項所述的方法。
21.一種計算機(jī)程序產(chǎn)品，包括計算機(jī)可執(zhí)行指令，其中所述計算機(jī)可執(zhí)行指令在被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)根據(jù)權(quán)利要求1至9中任一項所述的方法。