1.一種基于yolov8網(wǎng)絡(luò)與transformer結(jié)合的pcb缺陷分類方法，其特征在于，包括以下步驟：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于yolov8網(wǎng)絡(luò)與transformer結(jié)合的pcb缺陷分類方法，其特征在于，在所述步驟s1中，具體處理過程如下：
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種基于yolov8網(wǎng)絡(luò)與transformer結(jié)合的pcb缺陷分類方法，其特征在于，在所述步驟s11中，缺陷類別包括缺孔、鼠咬、開路、短路、毛刺與雜銅。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于yolov8網(wǎng)絡(luò)與transformer結(jié)合的pcb缺陷分類方法，其特征在于，在所述步驟s2中，在yolov8分類網(wǎng)絡(luò)的骨干網(wǎng)絡(luò)cspdarknet-53中，在第四個(gè)cbs模塊和第五個(gè)cbs模塊之間引入第一個(gè)transformer模塊，在第五個(gè)cbs模塊與sppf層之間引入第二個(gè)transformer模塊。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種基于yolov8網(wǎng)絡(luò)與transformer結(jié)合的pcb缺陷分類方法，其特征在于，在第四個(gè)cbs模塊后，特征圖劃分為兩部分，分別進(jìn)入卷積分支與transformer分支，卷積分支與transformer分支的特征通道比例為3：1，一部分特征圖進(jìn)入transformer分支經(jīng)過第一個(gè)transformer模塊處理，利用多頭自注意力機(jī)制捕捉全局特征，另一部分特征圖進(jìn)入卷積分支經(jīng)過瓶頸層處理，進(jìn)行局部特征提??；
6.根據(jù)權(quán)利要求1或5所述的一種基于yolov8網(wǎng)絡(luò)與transformer結(jié)合的pcb缺陷分類方法，其特征在于，在所述步驟s3中，在yolov8分類網(wǎng)絡(luò)的骨干網(wǎng)絡(luò)cspdarknet-53中，在第二個(gè)c2f模塊后添加自適應(yīng)細(xì)粒度通道注意力機(jī)制模塊，其處理過程如下：
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種基于yolov8網(wǎng)絡(luò)與transformer結(jié)合的pcb缺陷分類方法，其特征在于，在所述步驟s3中，卷積門控線性單元的具體處理過程如下：