本發(fā)明涉及集成電路制造和計算機科學,具體地,涉及一種基于神經(jīng)網(wǎng)絡化學機械拋光(chemical?mechanical?polishing,cmp)模型的啞元填充優(yōu)化方法及系統(tǒng),同時涉及一種相應的計算機終端和計算機可讀存儲介質。
背景技術:
1、化學機械拋光(chemical?mechanical?polishing,cmp)是集成電路制造中實現(xiàn)表面平整化的關鍵工藝之一,直接影響多層互連結構的可靠性和性能。在現(xiàn)代先進制程中,由于布局中金屬密度的不均勻性,cmp工藝中容易產(chǎn)生局部高度變化,這種高度變化可能導致電學性能下降、信號延遲增加甚至制造缺陷。隨著技術節(jié)點從28nm向7nm甚至3nm推進,這些高度變化對芯片性能的影響愈發(fā)顯著。
2、為了減少cmp過程中的高度變化,通常采用在布局中插入啞元金屬填充的方式來平衡金屬密度。然而,金屬填充優(yōu)化不僅僅是簡單的幾何填充問題,還涉及高度變化、電容耦合和填充量等多個目標的權衡。現(xiàn)有的金屬填充方法主要分為基于規(guī)則的方法和基于模型的方法。其中,基于規(guī)則的填充方法依賴固定的設計規(guī)則對金屬填充區(qū)域進行分配。這些方法簡單高效,但缺乏靈活性,尤其在面對復雜布局時,難以實現(xiàn)多目標的精確優(yōu)化?;谀P偷奶畛浞椒?,利用物理驅動或數(shù)據(jù)驅動的模型來預測cmp過程中高度變化和其他性能指標。盡管這些方法具有較高的優(yōu)化精度,但通常計算復雜度較高,尤其在處理大規(guī)模芯片布局時,難以滿足實際生產(chǎn)中的時效性需求。此外,隨著工藝復雜度的增加,尤其在面對非線性效應和復雜幾何結構時,現(xiàn)有模型對cmp中高度變化的描述能力有限。
3、目前沒有發(fā)現(xiàn)同本發(fā)明類似技術的說明或報道,也尚未收集到國內(nèi)外類似的資料。
技術實現(xiàn)思路
1、本發(fā)明針對現(xiàn)有技術中存在的上述不足,提供了一種基于神經(jīng)網(wǎng)絡化學機械拋光(chemical?mechanical?polishing,cmp)模型的啞元填充優(yōu)化方法及系統(tǒng),同時提供了一種相應的計算機終端和計算機可讀存儲介質,用于化學機械拋光工藝中的布局優(yōu)化和平整度控制。
2、根據(jù)本發(fā)明的一個方面,提供了一種基于神經(jīng)網(wǎng)絡cmp模型的啞元填充優(yōu)化方法,包括:
3、將芯片布局劃分為多個窗口,將每一個窗口作為填充優(yōu)化的基本填充單元;
4、根據(jù)設計規(guī)則提取每一個窗口的可填充區(qū)域;
5、基于神經(jīng)網(wǎng)絡cmp模型的預測高度和設計規(guī)則,分配每一個窗口的目標高度;
6、基于所述可填充區(qū)域和所述目標高度,利用多目標遺傳算法生成填充參數(shù)并進行優(yōu)化。
7、根據(jù)本發(fā)明的另一個方面,提供了一種基于神經(jīng)網(wǎng)絡cmp模型的啞元填充優(yōu)化系統(tǒng),包括:
8、版圖離散化模塊,該模塊用于將芯片布局劃分為多個窗口,將每一個窗口作為填充優(yōu)化的基本填充單元;
9、可填充區(qū)域提取模塊,該模塊根據(jù)設計規(guī)則提取每一個窗口的可填充區(qū)域;
10、目標高度分配模塊,該模塊基于神經(jīng)網(wǎng)絡cmp模型的預測高度和設計規(guī)則,分配每一個窗口的目標高度;
11、填充優(yōu)化模塊,該模塊基于所述可填充區(qū)域和所述目標高度,利用多目標遺傳算法生成填充參數(shù)并進行優(yōu)化。
12、根據(jù)本發(fā)明的第三個方面,提供了一種計算機終端,包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的計算機程序,該處理器執(zhí)行該計算機程序時可用于執(zhí)行本發(fā)明上述中所述的方法,或,運行本發(fā)明上述中所述的系統(tǒng)。
13、根據(jù)本發(fā)明的第四個方面,提供了一種計算機可讀存儲介質,其上存儲有計算機程序,該計算機程序被處理器執(zhí)行時可用于執(zhí)行本發(fā)明上述中所述的方法,或,運行本發(fā)明上述中所述的系統(tǒng)。
14、由于采用了上述技術方案,本發(fā)明與現(xiàn)有技術相比,具有如下至少一項的有益效果:
15、精確性提高:本發(fā)明通過引入神經(jīng)網(wǎng)絡cmp模型,能夠精準預測布局密度對表面高度變化的影響,比傳統(tǒng)基于物理模型的預測精度提高了顯著幅度,尤其在復雜布局環(huán)境下表現(xiàn)突出。
16、優(yōu)化效率增強:本發(fā)明結合多目標遺傳算法,采用并行計算和動態(tài)反饋機制,大幅減少優(yōu)化所需時間,相比傳統(tǒng)優(yōu)化方法(如單目標優(yōu)化或規(guī)則驅動算法),效率提升達數(shù)倍。
17、全局平衡優(yōu)化:本發(fā)明通過多目標適應度函數(shù),綜合考慮表面平整度、高度變化、電容耦合和填充量,實現(xiàn)在全局范圍內(nèi)的平衡優(yōu)化,有效解決現(xiàn)有技術中無法兼顧多目標約束的問題。
18、適用性廣泛:本發(fā)明支持多種填充模式(如矩形、交錯、分布特性函數(shù))和不同工藝需求(如密度限制、形狀約束),能夠靈活適應不同節(jié)點制程和復雜布局環(huán)境。
19、實時調整能力:本發(fā)明通過動態(tài)反饋機制,能夠根據(jù)布局和工藝變化實時調整優(yōu)化策略,顯著提升了系統(tǒng)在實際制造環(huán)境中的適應性和魯棒性。
20、易于擴展和維護:本發(fā)明通過模塊化設計的系統(tǒng)架構,便于新增或調整功能模塊,能夠快速適配新興工藝節(jié)點及布局優(yōu)化需求,降低了維護和擴展成本。
21、本發(fā)明結合卷積神經(jīng)網(wǎng)絡預測拋光過程中布局的高度變化,通過多目標遺傳算法對啞元填充策略進行全局優(yōu)化,兼顧平整度、電容耦合和填充量的多重約束,不僅提高了高度變化的預測精度,還顯著優(yōu)化了填充方案的綜合性能。
22、本發(fā)明通過神經(jīng)網(wǎng)絡實現(xiàn)對布局密度和高度的精確建模,并利用遺傳算法生成最優(yōu)的啞元填充方案,降低填充后高度變化、優(yōu)化填充均勻性,并控制電容耦合效應,尤其適用于高精度的集成電路制造工藝優(yōu)化。
23、本發(fā)明通過結合神經(jīng)網(wǎng)絡預測cmp過程中布局的表面高度變化,以及多目標遺傳算法優(yōu)化啞元填充布局,解決表面平整度、電容耦合和填充量控制之間的權衡問題,具有高效、精準的特點,適用于先進集成電路制造中的金屬填充優(yōu)化需求。
1.一種基于神經(jīng)網(wǎng)絡cmp模型的啞元填充優(yōu)化方法,其特征在于,包括:
2.根據(jù)權利要求1所述的基于神經(jīng)網(wǎng)絡cmp模型的啞元填充優(yōu)化方法,其特征在于,所述將芯片布局劃分為多個窗口,包括如下任意一種或任意多種方式:
3.根據(jù)權利要求1所述的基于神經(jīng)網(wǎng)絡cmp模型的啞元填充優(yōu)化方法,其特征在于,所述根據(jù)設計規(guī)則提取每一個窗口的可填充區(qū)域,包括如下任意一種或任意多種方式:
4.根據(jù)權利要求1所述的基于神經(jīng)網(wǎng)絡cmp模型的啞元填充優(yōu)化方法,其特征在于,通過逐層獨立提取或跨層聯(lián)合提取的方式,對每一金屬層單獨進行窗口劃分和填充區(qū)域提取,或,根據(jù)多層間的耦合效應,對不同層間的填充區(qū)域進行聯(lián)合提取。
5.根據(jù)權利要求1所述的基于神經(jīng)網(wǎng)絡cmp模型的啞元填充優(yōu)化方法,其特征在于,所述基于神經(jīng)網(wǎng)絡cmp模型的預測結果和設計規(guī)則,分配每一個窗口的目標高度,
6.根據(jù)權利要求5所述的基于神經(jīng)網(wǎng)絡cmp模型的啞元填充優(yōu)化方法,其特征在于,還包括如下任意一項或任意多項:
7.根據(jù)權利要求1所述的基于神經(jīng)網(wǎng)絡cmp模型的啞元填充優(yōu)化方法,其特征在于,所述利用多目標遺傳算法生成填充參數(shù)并進行優(yōu)化,包括:
8.根據(jù)權利要求7所述的基于神經(jīng)網(wǎng)絡cmp模型的啞元填充優(yōu)化方法,其特征在于,還包括如下任意一項或任意多項:
9.一種基于神經(jīng)網(wǎng)絡cmp模型的啞元填充優(yōu)化系統(tǒng),其特征在于,包括:
10.一種計算機終端,包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的計算機程序,其特征在于,該處理器執(zhí)行該計算機程序時可用于執(zhí)行權利要求1-8中任一項所述的方法,或,運行權利要求9所述的系統(tǒng)。
11.一種計算機可讀存儲介質,其上存儲有計算機程序,其特征在于,該計算機程序被處理器執(zhí)行時可用于執(zhí)行權利要求1-8中任一項所述的方法,或,運行權利要求9所述的系統(tǒng)。