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多芯片器件封裝結(jié)構(gòu)的制作方法

文檔序號(hào):11197203閱讀:1286來(lái)源:國(guó)知局
多芯片器件封裝結(jié)構(gòu)的制造方法與工藝

本實(shí)用新型涉及一種芯片封裝結(jié)構(gòu),涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域。



背景技術(shù):

SOP封裝是一種元件封裝形式,常見(jiàn)的封裝材料有:塑料、陶瓷、玻璃、金屬等,現(xiàn)在基本采用塑料封裝,應(yīng)用范圍很廣,主要用在各種集成電路中。如圖1所示,現(xiàn)有的SOP封裝結(jié)構(gòu)中的焊盤一般為對(duì)應(yīng)于電子元器件的信號(hào)引腳獨(dú)立設(shè)置的單個(gè)的獨(dú)立的小焊盤。但是隨著產(chǎn)品耗電流越來(lái)越大,有些SOP封裝芯片也被用于大電流電路中,起電流轉(zhuǎn)換的作用給某些模塊供電,但是這些傳統(tǒng)的SOP封裝在PCB中對(duì)應(yīng)的焊盤設(shè)計(jì)越來(lái)越不符合要求,因?yàn)楹副P尺寸面積太小,在承載大電流時(shí)瞬間電流非常大,電流產(chǎn)生的脈沖在極短時(shí)間內(nèi)會(huì)將芯片擊穿,很有可能燒毀整個(gè)電路,損失非常大。傳統(tǒng)的SOP封裝焊盤無(wú)法承載更大電流,導(dǎo)致芯片的散熱不行、電路功能的不穩(wěn)定、極短的時(shí)間大電流的沖擊容易損壞芯片,從而影響產(chǎn)品的質(zhì)量。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

本實(shí)用新型目的是提供一種多芯片器件封裝結(jié)構(gòu),該多芯片器件封裝結(jié)構(gòu)在一個(gè)封裝結(jié)構(gòu)中封裝需隔離的兩粒芯片,實(shí)現(xiàn)了雙芯片封裝功能,且有利于將引腳和金屬焊盤更加牢固的固定,提高了與PCB之間焊接的可靠性。

為達(dá)到上述目的,本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案是:一種多芯片器件封裝結(jié)構(gòu),包括第一芯片、第二芯片、第一L形金屬焊盤、第二L形金屬焊盤、若干個(gè)左側(cè)引腳、若干個(gè)右側(cè)引腳和環(huán)氧樹脂包覆體;

所述第一L形金屬焊盤、第二L形金屬焊盤均由載片區(qū)和連接于載片區(qū)一端頂部的桿狀延伸部組成,所述第一L形金屬焊盤的載片區(qū)嵌入第二L形金屬焊盤的缺口處,所述第二L形金屬焊盤的載片區(qū)嵌入第一L形金屬焊盤的缺口處;

所述第一芯片、第二芯片分別通過(guò)絕緣膠層固定于第一L形金屬焊盤、第二L形金屬焊盤各自的載片區(qū)上表面的中央?yún)^(qū)域,若干個(gè)所述左側(cè)引腳并排間隔地設(shè)置于第一芯片、第二芯片的左側(cè),若干個(gè)所述右側(cè)引腳并排間隔地設(shè)置于第一芯片、第二芯片的右側(cè),所述第一L形金屬焊盤、第二L形金屬焊盤下部邊緣處均開有第一缺口槽,所述左側(cè)引腳與第一L形金屬焊盤、第二L形金屬焊盤相向的內(nèi)側(cè)端下部開有第二缺口槽,所述右側(cè)引腳與第一L形金屬焊盤、第二L形金屬焊盤相向的內(nèi)側(cè)端下部開有第三缺口槽,所述環(huán)氧樹脂包覆體包覆于芯片、第一L形金屬焊盤、第二L形金屬焊盤、若干個(gè)左側(cè)引腳、若干個(gè)右側(cè)引腳上,所述第一L形金屬焊盤、第二L形金屬焊盤、左側(cè)引腳和右側(cè)引腳各自的下表面裸露出環(huán)氧樹脂包覆體的底部;

所述第一芯片、第二芯片上表面的左側(cè)區(qū)和右側(cè)區(qū)分別開有若干個(gè)左圓凹槽、若干個(gè)右圓凹槽,所述左圓凹槽和右圓凹槽各自底部均具有管腳區(qū),所述左側(cè)引腳和右側(cè)引腳各自的內(nèi)側(cè)端上表面分別開有第一圓凹槽和第二圓凹槽,若干根第一金線一端位于左圓凹槽內(nèi)并通過(guò)焊膏與管腳區(qū)電連接,此第一金線另一端位于左側(cè)引腳的第一圓凹槽內(nèi)并通過(guò)焊膏電連接,若干根第二金線一端位于右圓凹槽內(nèi)并通過(guò)焊膏與管腳區(qū)電連接,此第二金線另一端位于右側(cè)引腳的第二圓凹槽內(nèi)并通過(guò)焊膏電連接。

上述技術(shù)方案中進(jìn)一步改進(jìn)的方案如下:

1. 上述方案中,所述左圓凹槽和右圓凹槽均為半圓形凹槽。

2. 上述方案中,所述左側(cè)引腳和右側(cè)引腳的數(shù)目均為3~10根。

由于上述技術(shù)方案運(yùn)用,本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比具有下列優(yōu)點(diǎn):

1. 本實(shí)用新型多芯片器件封裝結(jié)構(gòu),其第一芯片、第二芯片、第一L形金屬焊盤、第二L形金屬焊盤、若干個(gè)左側(cè)引腳、若干個(gè)右側(cè)引腳和環(huán)氧樹脂包覆體,第一L形金屬焊盤、第二L形金屬焊盤均由載片區(qū)和連接于載片區(qū)一端頂部的桿狀延伸部組成,所述第一L形金屬焊盤的載片區(qū)嵌入第二L形金屬焊盤的缺口處,所述第二L形金屬焊盤的載片區(qū)嵌入第一L形金屬焊盤的缺口處;因?yàn)樵O(shè)置了兩個(gè)載片區(qū),在一個(gè)封裝結(jié)構(gòu)中封裝需隔離的兩粒芯片,實(shí)現(xiàn)了雙芯片封裝功能。

2. 本實(shí)用新型多芯片器件封裝結(jié)構(gòu),其金屬焊盤下部邊緣處開有第一缺口槽,所述左側(cè)引腳與金屬焊盤相向的內(nèi)側(cè)端下部開有第二缺口槽,所述右側(cè)引腳與金屬焊盤相向的內(nèi)側(cè)端下部開有第三缺口槽,有利于將引腳和金屬焊盤更加牢固的固定,提高了與PCB之間焊接的可靠性;其次,其芯片通過(guò)絕緣膠層固定于金屬焊盤上表面的中央?yún)^(qū)域,金屬焊盤、左側(cè)引腳和右側(cè)引腳各自的下表面裸露出環(huán)氧樹脂包覆體的底部,裸露的金屬焊盤,以便芯片在工作時(shí)快速傳導(dǎo)熱量,散熱效果好。

3. 本實(shí)用新型多芯片器件封裝結(jié)構(gòu),其芯片上表面的左側(cè)區(qū)和右側(cè)區(qū)分別開有若干個(gè)左圓凹槽、若干個(gè)右圓凹槽,所述左圓凹槽和右圓凹槽各自底部均具有管腳區(qū),所述左側(cè)引腳和右側(cè)引腳各自的內(nèi)側(cè)端上表面分別開有第一圓凹槽和第二圓凹槽,若干根第一金線一端位于左圓凹槽內(nèi)并通過(guò)焊膏與管腳區(qū)電連接,此第一金線另一端位于左側(cè)引腳的第一圓凹槽內(nèi)并通過(guò)焊膏電連接,若干根第二金線一端位于右圓凹槽內(nèi)并通過(guò)焊膏與管腳區(qū)電連接,此第二金線另一端位于右側(cè)引腳的第二圓凹槽內(nèi)并通過(guò)焊膏電連接,有效避免了、空焊和虛焊的問(wèn)題,既提高器件的承載電流,也提高了集成芯片的穩(wěn)定性和可靠性。

附圖說(shuō)明

附圖1為本實(shí)用新型多芯片器件封裝結(jié)構(gòu)結(jié)構(gòu)示意圖;

附圖2為附圖1的A-A剖面結(jié)構(gòu)示意圖;

附圖3為附圖2的局部結(jié)構(gòu)示意圖。

以上附圖中:101、第一芯片;102、第二芯片;201、第一L形金屬焊盤;202、第二L形金屬焊盤;3、左側(cè)引腳;4、右側(cè)引腳;5、環(huán)氧樹脂包覆體;6、絕緣膠層;7、第一缺口槽;8、第二缺口槽;9、第三缺口槽;10、左圓凹槽;11、右圓凹槽;12、管腳區(qū);13、第一圓凹槽;14、第二圓凹槽;15、第一金線;16、第二金線;21、載片區(qū);22、桿狀延伸部。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖及實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步描述:

實(shí)施例1:一種多芯片器件封裝結(jié)構(gòu),包括第一芯片101、第二芯片102、第一L形金屬焊盤201、第二L形金屬焊盤202、若干個(gè)左側(cè)引腳3、若干個(gè)右側(cè)引腳4和環(huán)氧樹脂包覆體5;

所述第一L形金屬焊盤201、第二L形金屬焊盤202均由載片區(qū)21和連接于載片區(qū)21一端頂部的桿狀延伸部22組成,所述第一L形金屬焊盤201的載片區(qū)21嵌入第二L形金屬焊盤202的缺口處,所述第二L形金屬焊盤202的載片區(qū)21嵌入第一L形金屬焊盤201的缺口處;

所述第一芯片101、第二芯片102分別通過(guò)絕緣膠層6固定于第一L形金屬焊盤201、第二L形金屬焊盤202各自的載片區(qū)21上表面的中央?yún)^(qū)域,若干個(gè)所述左側(cè)引腳3并排間隔地設(shè)置于第一芯片101、第二芯片102的左側(cè),若干個(gè)所述右側(cè)引腳4并排間隔地設(shè)置于第一芯片101、第二芯片102的右側(cè),所述第一L形金屬焊盤201、第二L形金屬焊盤202下部邊緣處均開有第一缺口槽7,所述左側(cè)引腳3與第一L形金屬焊盤201、第二L形金屬焊盤202相向的內(nèi)側(cè)端下部開有第二缺口槽8,所述右側(cè)引腳4與第一L形金屬焊盤201、第二L形金屬焊盤202相向的內(nèi)側(cè)端下部開有第三缺口槽9,所述環(huán)氧樹脂包覆體5包覆于芯片1、第一L形金屬焊盤201、第二L形金屬焊盤202、若干個(gè)左側(cè)引腳3、若干個(gè)右側(cè)引腳4上,所述第一L形金屬焊盤201、第二L形金屬焊盤202、左側(cè)引腳3和右側(cè)引腳4各自的下表面裸露出環(huán)氧樹脂包覆體5的底部;

所述第一芯片101、第二芯片102上表面的左側(cè)區(qū)和右側(cè)區(qū)分別開有若干個(gè)左圓凹槽10、若干個(gè)右圓凹槽11,所述左圓凹槽10和右圓凹槽11各自底部均具有管腳區(qū)12,所述左側(cè)引腳3和右側(cè)引腳4各自的內(nèi)側(cè)端上表面分別開有第一圓凹槽13和第二圓凹槽14,若干根第一金線15一端位于左圓凹槽10內(nèi)并通過(guò)焊膏與管腳區(qū)12電連接,此第一金線15另一端位于左側(cè)引腳3的第一圓凹槽13內(nèi)并通過(guò)焊膏電連接,若干根第二金線16一端位于右圓凹槽11內(nèi)并通過(guò)焊膏與管腳區(qū)12電連接,此第二金線16另一端位于右側(cè)引腳4的第二圓凹槽14內(nèi)并通過(guò)焊膏電連接。

上述左側(cè)引腳3和右側(cè)引腳4的數(shù)目均為8根。

實(shí)施例2:一種多芯片器件封裝結(jié)構(gòu),包括第一芯片101、第二芯片102、第一L形金屬焊盤201、第二L形金屬焊盤202、若干個(gè)左側(cè)引腳3、若干個(gè)右側(cè)引腳4和環(huán)氧樹脂包覆體5;

所述第一L形金屬焊盤201、第二L形金屬焊盤202均由載片區(qū)21和連接于載片區(qū)21一端頂部的桿狀延伸部22組成,所述第一L形金屬焊盤201的載片區(qū)21嵌入第二L形金屬焊盤202的缺口處,所述第二L形金屬焊盤202的載片區(qū)21嵌入第一L形金屬焊盤201的缺口處;

所述第一芯片101、第二芯片102分別通過(guò)絕緣膠層6固定于第一L形金屬焊盤201、第二L形金屬焊盤202各自的載片區(qū)21上表面的中央?yún)^(qū)域,若干個(gè)所述左側(cè)引腳3并排間隔地設(shè)置于第一芯片101、第二芯片102的左側(cè),若干個(gè)所述右側(cè)引腳4并排間隔地設(shè)置于第一芯片101、第二芯片102的右側(cè),所述第一L形金屬焊盤201、第二L形金屬焊盤202下部邊緣處均開有第一缺口槽7,所述左側(cè)引腳3與第一L形金屬焊盤201、第二L形金屬焊盤202相向的內(nèi)側(cè)端下部開有第二缺口槽8,所述右側(cè)引腳4與第一L形金屬焊盤201、第二L形金屬焊盤202相向的內(nèi)側(cè)端下部開有第三缺口槽9,所述環(huán)氧樹脂包覆體5包覆于芯片1、第一L形金屬焊盤201、第二L形金屬焊盤202、若干個(gè)左側(cè)引腳3、若干個(gè)右側(cè)引腳4上,所述第一L形金屬焊盤201、第二L形金屬焊盤202、左側(cè)引腳3和右側(cè)引腳4各自的下表面裸露出環(huán)氧樹脂包覆體5的底部;

所述第一芯片101、第二芯片102上表面的左側(cè)區(qū)和右側(cè)區(qū)分別開有若干個(gè)左圓凹槽10、若干個(gè)右圓凹槽11,所述左圓凹槽10和右圓凹槽11各自底部均具有管腳區(qū)12,所述左側(cè)引腳3和右側(cè)引腳4各自的內(nèi)側(cè)端上表面分別開有第一圓凹槽13和第二圓凹槽14,若干根第一金線15一端位于左圓凹槽10內(nèi)并通過(guò)焊膏與管腳區(qū)12電連接,此第一金線15另一端位于左側(cè)引腳3的第一圓凹槽13內(nèi)并通過(guò)焊膏電連接,若干根第二金線16一端位于右圓凹槽11內(nèi)并通過(guò)焊膏與管腳區(qū)12電連接,此第二金線16另一端位于右側(cè)引腳4的第二圓凹槽14內(nèi)并通過(guò)焊膏電連接。

上述左圓凹槽10和右圓凹槽11均為半圓形凹槽。

上述左側(cè)引腳3和右側(cè)引腳4的數(shù)目均為4根。

采用上述多芯片器件封裝結(jié)構(gòu)時(shí),其因?yàn)樵O(shè)置了兩個(gè)載片區(qū),在一個(gè)封裝結(jié)構(gòu)中封裝需隔離的兩粒芯片,實(shí)現(xiàn)了雙芯片封裝功能;其次,有利于將引腳和金屬焊盤更加牢固的固定,提高了與PCB之間焊接的可靠性;再次,其裸露的金屬焊盤,以便芯片在工作時(shí)快速傳導(dǎo)熱量,散熱效果好;再次,有效避免了、空焊和虛焊的問(wèn)題,既提高器件的承載電流,也提高了集成芯片的穩(wěn)定性和可靠性。

上述實(shí)施例只為說(shuō)明本實(shí)用新型的技術(shù)構(gòu)思及特點(diǎn),其目的在于讓熟悉此項(xiàng)技術(shù)的人士能夠了解本實(shí)用新型的內(nèi)容并據(jù)以實(shí)施,并不能以此限制本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。凡根據(jù)本實(shí)用新型精神實(shí)質(zhì)所作的等效變化或修飾,都應(yīng)涵蓋在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。

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