本公開的實施例大體上涉及電子系統(tǒng)，且更特定來說，涉及老化分布(agingprofile)組件。

背景技術(shù)：

1、例如邏輯電路的各種類型的電子裝置可存儲及處理數(shù)據(jù)。邏輯電路是處理數(shù)字信號或二進制信息的電子電路，其可呈現(xiàn)兩種可能的值(通常表示為0及1)。邏輯電路可使用邏輯門來操縱及變換信號或二進制信息。數(shù)字邏輯電路可用在廣泛的電子裝置中，包含例如計算機、計算器、數(shù)字時鐘及采用數(shù)字處理的其它許多電子裝置。數(shù)字邏輯電路可經(jīng)設(shè)計成對數(shù)字輸入執(zhí)行特定的邏輯運算以產(chǎn)生數(shù)字輸出，且在一些例子中，可經(jīng)組合以形成更復(fù)雜的電路以執(zhí)行更復(fù)雜的操作。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、一方面，本公開涉及一種用于確定老化分布的方法，其包括：通過溫度傳感器監(jiān)測單片系統(tǒng)(soc)的溫度；確定所述soc的溫度數(shù)據(jù)，所述溫度數(shù)據(jù)包含所述soc在多個不同溫度下操作的時間量；將所述溫度數(shù)據(jù)歸一化為經(jīng)指定操作溫度；基于所述歸一化溫度數(shù)據(jù)計算所述soc的老化分布；及基于所述老化分布確定所述soc的失效時間。

2、另一方面，本公開涉及一種用于確定老化分布的設(shè)備，其包括：單片系統(tǒng)(soc)；電壓調(diào)節(jié)器，其與所述soc相關(guān)聯(lián)；溫度傳感器，其與所述soc相關(guān)聯(lián)；及控制器，其耦合到所述soc、所述電壓調(diào)節(jié)器及所述溫度傳感器，其中所述控制器經(jīng)配置以：監(jiān)測由所述溫度傳感器接收的所述soc的溫度數(shù)據(jù)；監(jiān)測由所述電壓調(diào)節(jié)器提供給所述soc的電壓數(shù)據(jù)；使所述溫度數(shù)據(jù)及所述電壓數(shù)據(jù)與時間數(shù)據(jù)相關(guān)；將所述溫度數(shù)據(jù)歸一化為所述soc的經(jīng)指定操作溫度；基于所述歸一化溫度數(shù)據(jù)及電壓數(shù)據(jù)計算所述soc的電遷移老化分布；及基于所述經(jīng)計算電遷移老化分布而更新所述soc的經(jīng)指定失效時間。

3、另一方面，本公開涉及一種用于確定老化分布的系統(tǒng)，其包括：單片系統(tǒng)(soc)；定時器，其與所述soc相關(guān)聯(lián)；電壓調(diào)節(jié)器，其與所述soc相關(guān)聯(lián)；溫度傳感器，其與所述soc相關(guān)聯(lián)；及處理裝置，其耦合到所述soc，其中所述處理裝置經(jīng)配置以：監(jiān)測由所述溫度傳感器接收的所述soc的溫度數(shù)據(jù)以及由所述定時器接收的對應(yīng)時間數(shù)據(jù)；監(jiān)測由所述電壓調(diào)節(jié)器提供給所述soc的電壓數(shù)據(jù)及電流數(shù)據(jù)以及由所述定時器接收的對應(yīng)時間數(shù)據(jù)；使所述溫度數(shù)據(jù)及所述電壓數(shù)據(jù)與由所述定時器接收的對應(yīng)時間數(shù)據(jù)相關(guān)；將所述溫度數(shù)據(jù)歸一化為所述soc的經(jīng)指定操作溫度；基于一段時間的所述歸一化溫度數(shù)據(jù)及電壓數(shù)據(jù)計算所述soc的電遷移老化分布；及基于所述soc在所述soc的壽命期間的多個電遷移老化分布而確定所述soc的壽命耐久性數(shù)據(jù)。

技術(shù)特征：

1.一種用于確定老化分布的方法(360)，其包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其進一步包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其進一步包括基于所述確定的失效時間而更新所述soc的經(jīng)指定失效時間，其中所述經(jīng)指定操作溫度是用于計算所述soc的所述經(jīng)指定失效時間的溫度范圍。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其進一步包括：

5.一種用于確定老化分布的設(shè)備，其包括：

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的設(shè)備，其中所述控制器經(jīng)配置以基于所述經(jīng)更新失效時間而更新soc設(shè)置，其中所述soc設(shè)置包含與所述電壓調(diào)節(jié)器相關(guān)聯(lián)的電壓設(shè)置。

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的設(shè)備，其中基于比較所述soc的所述歸一化溫度數(shù)據(jù)及電壓數(shù)據(jù)與根據(jù)溫度數(shù)據(jù)的電遷移響應(yīng)而計算所述soc的所述電遷移老化分布。

8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的設(shè)備，其中所述控制器經(jīng)配置以基于所述經(jīng)更新失效時間而產(chǎn)生所述soc的失效分析數(shù)據(jù)。

9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的設(shè)備，其中所述控制器經(jīng)配置以基于所述soc在所述soc的壽命期間的所述電遷移老化分布從所述soc產(chǎn)生壽命耐久性數(shù)據(jù)。

10.根據(jù)權(quán)利要求5所述的設(shè)備，其中所述控制器進一步經(jīng)配置以基于所述經(jīng)更新失效時間而確定與所述soc相關(guān)聯(lián)的缺陷何時與所述溫度數(shù)據(jù)、電流數(shù)據(jù)、頻率數(shù)據(jù)或電壓數(shù)據(jù)相關(guān)聯(lián)。

11.根據(jù)權(quán)利要求5所述的設(shè)備，其中所述控制器進一步經(jīng)配置以響應(yīng)于用于以下的信號來存儲所述soc的所述電遷移老化分布：關(guān)閉與所述soc相關(guān)聯(lián)的系統(tǒng)、進入低功率模式、進入休眠模式、或周期性地存儲。

12.一種用于確定老化分布的系統(tǒng)，其包括：

13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的系統(tǒng)，其中所述處理裝置經(jīng)配置以響應(yīng)于接收到啟動信號或關(guān)閉信號而存儲所述電遷移老化數(shù)據(jù)。

14.根據(jù)權(quán)利要求12所述的系統(tǒng)，其包括單元老化監(jiān)測器，用以收集與所述soc相關(guān)聯(lián)的多個電路類型的老化數(shù)據(jù)，其中所述處理裝置經(jīng)配置以使所述老化數(shù)據(jù)與所述溫度數(shù)據(jù)及所述電壓數(shù)據(jù)以及由所述定時器接收的所述時間數(shù)據(jù)相關(guān)。

15.根據(jù)權(quán)利要求12所述的系統(tǒng)，其包括域傳感器，用以在所述soc的操作期間及在所述soc的關(guān)閉期間確定電壓域。

技術(shù)總結(jié)
本公開涉及老化分布組件。一種方法包含：通過溫度傳感器監(jiān)測單片系統(tǒng)SoC的溫度；確定所述SoC的溫度數(shù)據(jù)，所述溫度數(shù)據(jù)包含所述SoC在多個不同溫度下操作的時間量；將所述溫度數(shù)據(jù)歸一化為經(jīng)指定操作溫度；基于所述歸一化溫度數(shù)據(jù)計算所述SoC的電遷移老化分布；及基于所述電遷移老化分布確定所述SoC的失效時間。

技術(shù)研發(fā)人員：L·茲洛特尼科,E·巴辛
受保護的技術(shù)使用者：美光科技公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/5/15