本發(fā)明涉及鍵帽檢測(cè)，具體涉及一種升降式鍵盤鍵帽漏光瑕疵檢測(cè)裝置。

背景技術(shù)：

1、升降式鍵盤在使用中，用戶可以根據(jù)自己的需求和偏好通過對(duì)鍵盤的鍵帽進(jìn)行上下移動(dòng)調(diào)整，達(dá)到實(shí)現(xiàn)調(diào)整鍵盤高度的效果，以適應(yīng)不同的使用需求，然而現(xiàn)有的鍵帽為了增強(qiáng)鍵盤的美觀性和用戶的使用體驗(yàn)，通常允許鍵盤上的背光燈光透過鍵帽，從而在鍵帽被按下時(shí)提供均勻且清晰的背光效果，提高鍵盤的整體使用體驗(yàn)和視覺效果。

2、為了確保鍵帽在進(jìn)行高度調(diào)整后其透光性能仍符合設(shè)計(jì)要求，且確保鍵帽在制造過程中沒有缺陷，需要對(duì)鍵帽進(jìn)行漏光檢測(cè)以確保鍵盤質(zhì)量，現(xiàn)有的鍵帽漏光檢測(cè)設(shè)備在進(jìn)行檢測(cè)的過程中多為對(duì)鍵帽進(jìn)行同一水平高度下的漏光檢測(cè)，針對(duì)鍵帽在不同水平高度下的漏光檢測(cè)需要重復(fù)進(jìn)行調(diào)整，耽誤檢測(cè)效率的同時(shí)容易存在檢測(cè)誤差。為此，我們提出一種升降式鍵盤鍵帽漏光瑕疵檢測(cè)裝置。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明的主要目的在于提供一種升降式鍵盤鍵帽漏光瑕疵檢測(cè)裝置，以克服上述背景技術(shù)提到的問題。

2、為實(shí)現(xiàn)上述目的，根據(jù)本發(fā)明提供了一種升降式鍵盤鍵帽漏光瑕疵檢測(cè)裝置，包括工作臺(tái)，所述工作臺(tái)的上表面中部固定安裝有檢測(cè)臺(tái)，所述檢測(cè)臺(tái)的上表面固定安裝有聚光架，所述聚光架的上表面貫穿開設(shè)有若干聚光口，所述檢測(cè)臺(tái)的上表面固定安裝有若干背光燈，所述檢測(cè)臺(tái)的外側(cè)面套設(shè)固定安裝有呈框形的第一主磁條，所述第一主磁條的上表面磁吸粘貼有相匹配的第一副磁條，所述第一副磁條的上表面中部固定安裝有遮光罩，所述遮光罩的上表面固定安裝有第二副磁條，所述第二副磁條的上表面磁吸粘貼有相匹配的第二主磁條，所述第二主磁條上表面的兩側(cè)中部均固定設(shè)有限位塊，所述限位塊的上表面中部固定設(shè)有連接耳；

3、所述第二主磁條的上表面放置有呈框形的支撐檐，所述支撐檐外表面的兩側(cè)中部均開設(shè)有與限位塊相匹配的限位口，所述支撐檐的內(nèi)表面固定設(shè)有檢測(cè)架，所述檢測(cè)架的上表面貫穿開設(shè)有若干檢測(cè)口；

4、所述工作臺(tái)外表面的兩側(cè)中部均固定安裝有電動(dòng)推桿，所述電動(dòng)推桿的上表面固定安裝有固定耳，所述工作臺(tái)上表面的后端通過合頁活動(dòng)安裝有密封蓋，所述密封蓋通過開口的內(nèi)表面嵌入固定安裝有檢測(cè)機(jī)構(gòu)。

5、作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn)，所述工作臺(tái)的下表面四角均固定設(shè)有支撐腳，所述支撐腳的下表面呈磨砂狀，若干所述背光燈均位于聚光口內(nèi)。

6、作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn)，所述第一主磁條上表面的外側(cè)呈傾斜狀設(shè)置，與所述第一主磁條磁吸粘貼相匹配的第一副磁條下表面的內(nèi)側(cè)呈傾斜狀設(shè)置，所述遮光罩為伸縮折疊狀結(jié)構(gòu)設(shè)置。

7、作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn)，所述第二主磁條下表面的外側(cè)呈傾斜狀設(shè)置，與所述第二主磁條磁吸粘貼相匹配的第二副磁條上表面的內(nèi)側(cè)呈傾斜狀設(shè)置，所述連接耳的內(nèi)表面設(shè)有螺紋，所述檢測(cè)架的下表面與聚光架的上表面相對(duì)齊。

8、作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn)，所述聚光口以及檢測(cè)口的開設(shè)尺寸與鍵帽尺寸相匹配，所述檢測(cè)口內(nèi)表面下部的四側(cè)中部均固定設(shè)有支撐耳，所述限位口與限位塊卡設(shè)對(duì)接。

9、作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn)，所述密封蓋外表面的兩側(cè)中部均貫穿開設(shè)有調(diào)節(jié)口，所述固定耳外表面的一側(cè)中部貫穿插設(shè)安裝有定位螺桿，所述定位螺桿的輸出端穿過調(diào)節(jié)口螺旋插設(shè)至連接耳內(nèi)，所述密封蓋的上表面中部開設(shè)有開口，所述調(diào)節(jié)口的內(nèi)表面活動(dòng)安裝有調(diào)節(jié)環(huán)，所述調(diào)節(jié)環(huán)套設(shè)于定位螺桿的外表面，所述調(diào)節(jié)環(huán)的外表面與調(diào)節(jié)口的內(nèi)頂面以及內(nèi)底面之間共同安裝有避光條，所述避光條為彈性伸縮結(jié)構(gòu)。

10、作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn)，所述檢測(cè)機(jī)構(gòu)包括中控屏、紅外監(jiān)控探頭、光敏傳感器和光源檢測(cè)系統(tǒng)：

11、所述中控屏位于檢測(cè)機(jī)構(gòu)的上表面，所述光敏傳感器布設(shè)在檢測(cè)機(jī)構(gòu)下表面對(duì)應(yīng)的檢測(cè)口，所述紅外監(jiān)控探頭位于檢測(cè)機(jī)構(gòu)的下表面并穿插安裝于光敏傳感器的間隔處。

12、作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn)，光源檢測(cè)系統(tǒng)包括：數(shù)據(jù)庫、控制模塊、讀取模塊、分析模塊和評(píng)估模塊；

13、數(shù)據(jù)庫用于儲(chǔ)存合格品鍵帽在不同高度及光源強(qiáng)度下的透光性能檢測(cè)數(shù)據(jù)，透光性能檢測(cè)數(shù)據(jù)包括透光強(qiáng)度、透光字符完整度數(shù)據(jù)及對(duì)應(yīng)評(píng)分閾值，并根據(jù)評(píng)分閾值的不同對(duì)鍵帽合格品進(jìn)行等級(jí)劃分；

14、控制模塊與背光燈以及電動(dòng)推桿通過無線信號(hào)連接，根據(jù)設(shè)定的檢測(cè)流程相應(yīng)的控制背光燈進(jìn)行光源強(qiáng)度的調(diào)整以及控制電動(dòng)推桿進(jìn)行升降高度的調(diào)整；

15、讀取模塊與光敏傳感器以及紅外監(jiān)控探頭通過電性連接，通過光敏傳感器對(duì)鍵帽在不同高度及光源強(qiáng)度下的透光強(qiáng)度進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)，得到鍵帽透光強(qiáng)度數(shù)據(jù)，同時(shí)通過紅外監(jiān)控探頭對(duì)鍵帽在不同高度及光源強(qiáng)度下透光字符的完整度進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)，得到鍵帽透光字符完整度數(shù)據(jù)，并由讀取模塊獲取監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)傳輸至分析模塊；

16、分析模塊對(duì)接收到的監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，將實(shí)時(shí)透光強(qiáng)度數(shù)據(jù)的下限值與預(yù)設(shè)合格透光強(qiáng)度閾值進(jìn)行比對(duì)，根據(jù)比對(duì)結(jié)果篩選鍵帽品相，若實(shí)時(shí)透光強(qiáng)度數(shù)據(jù)的下限值小于預(yù)設(shè)合格透光強(qiáng)度閾值，則生成鍵帽透光強(qiáng)度不合格信號(hào)，反之，則生成鍵帽透光強(qiáng)度合格信號(hào)；

17、將實(shí)時(shí)透光字符完整度數(shù)據(jù)的下限值與預(yù)設(shè)合格透光字符完整度閾值進(jìn)行比對(duì)，根據(jù)比對(duì)結(jié)果篩選鍵帽品相，若實(shí)時(shí)透光字符完整度數(shù)據(jù)的下限值小于或大于預(yù)設(shè)合格透光字符完整度閾值，則生成鍵帽透光字符不合格信號(hào)，若實(shí)時(shí)透光字符完整度數(shù)據(jù)的下限值等于預(yù)設(shè)合格透光字符完整度閾值，則生成鍵帽透光字符合格信號(hào)，并將合格信號(hào)及對(duì)應(yīng)的監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)傳輸至評(píng)估模塊；

18、評(píng)估模塊根據(jù)接收到的合格信號(hào)篩選對(duì)應(yīng)的合格品鍵帽，并將合格品鍵帽監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)的上限值與合格品鍵帽各等級(jí)對(duì)應(yīng)劃分的區(qū)間值進(jìn)行匹配，根據(jù)匹配結(jié)果完成對(duì)合格品鍵帽的等級(jí)評(píng)估。

19、本發(fā)明的有益效果：

20、本發(fā)明通過在封閉環(huán)境下對(duì)鍵帽進(jìn)行漏光檢測(cè)，在檢測(cè)過程中可對(duì)鍵帽所處高度以及所受光源的強(qiáng)度進(jìn)行任意調(diào)整，以實(shí)現(xiàn)對(duì)鍵帽透光性能的全面檢測(cè)，并在檢測(cè)中得到鍵帽在不同水平高度以及光源強(qiáng)度下的漏光效果，進(jìn)而完成鍵帽的篩選剔除瑕疵品，有利于保障合格品鍵帽的透光性能符合設(shè)計(jì)要求，以避免鍵帽的使用缺陷保障產(chǎn)品質(zhì)量；

21、本發(fā)明在對(duì)鍵帽進(jìn)行漏光檢測(cè)時(shí)，可根據(jù)鍵帽的尺寸進(jìn)行相應(yīng)檢測(cè)位置的任意放置檢測(cè)，從而避免了需要將鍵帽按鍵盤格式排序進(jìn)行檢測(cè)的現(xiàn)象，有利于提高鍵帽的檢測(cè)效率；

22、本發(fā)明通過對(duì)合格品鍵帽的透光性能進(jìn)行分析，根據(jù)分析結(jié)果完成對(duì)合格品鍵帽的等級(jí)劃分，根據(jù)等級(jí)確認(rèn)鍵帽的使用品質(zhì)以及適用的使用狀態(tài)，有利于保障鍵帽的最佳使用效果，提高鍵盤的整體使用體驗(yàn)和視覺效果。

技術(shù)特征：

1.一種升降式鍵盤鍵帽漏光瑕疵檢測(cè)裝置，包括工作臺(tái)(1)，所述工作臺(tái)(1)的上表面中部固定安裝有檢測(cè)臺(tái)(3)，所述檢測(cè)臺(tái)(3)的上表面固定安裝有聚光架(4)，所述聚光架(4)的上表面貫穿開設(shè)有若干聚光口(5)，所述檢測(cè)臺(tái)(3)的上表面固定安裝有若干背光燈(6)，其特征在于，所述檢測(cè)臺(tái)(3)的外側(cè)面套設(shè)固定安裝有呈框形的第一主磁條(7)，所述第一主磁條(7)的上表面磁吸粘貼有相匹配的第一副磁條(8)，所述第一副磁條(8)的上表面中部固定安裝有遮光罩(9)，所述遮光罩(9)的上表面固定安裝有第二副磁條(10)，所述第二副磁條(10)的上表面磁吸粘貼有相匹配的第二主磁條(11)，所述第二主磁條(11)上表面的兩側(cè)中部均固定設(shè)有限位塊(12)，所述限位塊(12)的上表面中部固定設(shè)有連接耳(13)；

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種升降式鍵盤鍵帽漏光瑕疵檢測(cè)裝置，其特征在于，所述工作臺(tái)(1)的下表面四角均固定設(shè)有支撐腳(2)，所述支撐腳(2)的下表面呈磨砂狀，若干所述背光燈(6)均位于聚光口(5)內(nèi)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種升降式鍵盤鍵帽漏光瑕疵檢測(cè)裝置，其特征在于，所述第一主磁條(7)上表面的外側(cè)呈傾斜狀設(shè)置，與所述第一主磁條(7)磁吸粘貼相匹配的第一副磁條(8)下表面的內(nèi)側(cè)呈傾斜狀設(shè)置，所述遮光罩(9)為伸縮折疊狀結(jié)構(gòu)設(shè)置。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種升降式鍵盤鍵帽漏光瑕疵檢測(cè)裝置，其特征在于，所述第二主磁條(11)下表面的外側(cè)呈傾斜狀設(shè)置，與所述第二主磁條(11)磁吸粘貼相匹配的第二副磁條(10)上表面的內(nèi)側(cè)呈傾斜狀設(shè)置，所述連接耳(13)的內(nèi)表面設(shè)有螺紋，所述檢測(cè)架(14)的下表面與聚光架(4)的上表面相對(duì)齊。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種升降式鍵盤鍵帽漏光瑕疵檢測(cè)裝置，其特征在于，所述聚光口(5)以及檢測(cè)口(15)的開設(shè)尺寸與鍵帽尺寸相匹配，所述檢測(cè)口(15)內(nèi)表面下部的四側(cè)中部均固定設(shè)有支撐耳(16)，所述限位口(18)與限位塊(12)卡設(shè)對(duì)接。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種升降式鍵盤鍵帽漏光瑕疵檢測(cè)裝置，其特征在于，所述密封蓋(22)外表面的兩側(cè)中部均貫穿開設(shè)有調(diào)節(jié)口(23)，所述固定耳(20)外表面的一側(cè)中部貫穿插設(shè)安裝有定位螺桿(21)，所述定位螺桿(21)的輸出端穿過調(diào)節(jié)口(23)螺旋插設(shè)至連接耳(13)內(nèi)，所述密封蓋(22)的上表面中部開設(shè)有開口，所述調(diào)節(jié)口(23)的內(nèi)表面活動(dòng)安裝有調(diào)節(jié)環(huán)(24)，所述調(diào)節(jié)環(huán)(24)套設(shè)于定位螺桿(21)的外表面，所述調(diào)節(jié)環(huán)(24)的外表面與調(diào)節(jié)口(23)的內(nèi)頂面以及內(nèi)底面之間共同安裝有避光條(25)，所述避光條(25)為彈性伸縮結(jié)構(gòu)。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種升降式鍵盤鍵帽漏光瑕疵檢測(cè)裝置，其特征在于，所述檢測(cè)機(jī)構(gòu)(26)包括中控屏、紅外監(jiān)控探頭、光敏傳感器和光源檢測(cè)系統(tǒng)：

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的一種升降式鍵盤鍵帽漏光瑕疵檢測(cè)裝置，其特征在于，光源檢測(cè)系統(tǒng)包括：數(shù)據(jù)庫、控制模塊、讀取模塊、分析模塊和評(píng)估模塊；

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及鍵帽檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，具體為一種升降式鍵盤鍵帽漏光瑕疵檢測(cè)裝置，包括工作臺(tái)，工作臺(tái)的上表面中部固定安裝有檢測(cè)臺(tái)，檢測(cè)臺(tái)的上表面固定安裝有聚光架，聚光架的上表面貫穿開設(shè)有若干聚光口，檢測(cè)臺(tái)的上表面固定安裝有若干背光燈，檢測(cè)臺(tái)的外側(cè)面套設(shè)固定安裝有呈框形的第一主磁條，第一主磁條的上表面磁吸粘貼有相匹配的第一副磁條，第一副磁條的上表面中部固定安裝有遮光罩。本發(fā)明在檢測(cè)過程中可對(duì)鍵帽所處高度以及所受光源的強(qiáng)度進(jìn)行任意調(diào)整，以實(shí)現(xiàn)對(duì)鍵帽透光性能的全面檢測(cè)，得到鍵帽在不同水平高度以及光源強(qiáng)度下的漏光效果，有利于保障合格品鍵帽的透光性能符合設(shè)計(jì)要求，以避免鍵帽的使用缺陷保障產(chǎn)品質(zhì)量。

技術(shù)研發(fā)人員：包正勝,胡萬清,周義強(qiáng),戴永偉,吳雨晴,劉佳
受保護(hù)的技術(shù)使用者：揚(yáng)州鈦藝精密部件有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/5/15