本技術(shù)涉及晶圓設(shè)備機(jī)架,更具體地說,涉及一種用于晶圓瑕疵檢測的機(jī)架。
背景技術(shù):
1、晶圓是半導(dǎo)體制造的基礎(chǔ)材料,它是用于制造集成電路(ic)和其他半導(dǎo)體器件的薄片;
2、晶圓在投入生產(chǎn)加工前,需要對晶圓材料進(jìn)行質(zhì)檢,避免損壞,瑕疵的晶圓進(jìn)入下一道工序,而晶圓瑕疵檢測設(shè)備需要有合適的機(jī)架作為固定支撐,晶圓瑕疵檢測的機(jī)架是用于支撐和固定晶圓檢測設(shè)備的結(jié)構(gòu),它通常是一個剛性的框架或支架,用于安裝和定位晶圓檢測儀器,以確保檢測過程的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性;
3、晶圓瑕疵檢測的機(jī)架是晶圓檢測系統(tǒng)中的重要組成部分,它為檢測設(shè)備提供了穩(wěn)定的基礎(chǔ),并對檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性起到關(guān)鍵作用。
4、現(xiàn)有的晶圓瑕疵檢測的機(jī)架,通常只能對一個檢測設(shè)備進(jìn)行安裝固定,而晶圓瑕疵檢測的設(shè)備有多個,這就需要多個機(jī)架進(jìn)行安裝固定,導(dǎo)致機(jī)架實用性較弱;另外,由于不同的檢測設(shè)備大小不一樣,而現(xiàn)有的機(jī)架通常都是根據(jù)設(shè)備尺寸進(jìn)行定制的,這就導(dǎo)致機(jī)架只適用于一種尺寸的設(shè)備使用,適配性較低。鑒于此,我們提出一種用于晶圓瑕疵檢測的機(jī)架。
技術(shù)實現(xiàn)思路
1、1.要解決的技術(shù)問題
2、本實用新型的目的在于提供一種用于晶圓瑕疵檢測的機(jī)架,以解決上述背景技術(shù)中提出機(jī)架實用性較弱和適配性較低的問題。
3、2.技術(shù)方案
4、一種用于晶圓瑕疵檢測的機(jī)架,包括框架組件和固定組件;
5、所述框架組件包括安置臺,所述安置臺頂面開設(shè)有多個安裝孔一,所述安置臺底部連接多個柱腿;
6、所述固定組件包括設(shè)置于所述安置臺頂面的安裝板,所述安裝板頂面自上而下開設(shè)有與所述安裝孔一相匹配的多個安裝孔二,所述安裝板頂面連接有多個三角板,多個所述三角板側(cè)壁連接固定板,所述固定板側(cè)壁連接多個下槽板和多個上槽板,所述下槽板頂面自上而下開設(shè)有下移動槽,所述上槽板頂面自上而下開設(shè)有與所述下移動槽相對應(yīng)的上移動槽,所述下槽板頂面連接有支撐板,所述下移動槽內(nèi)和所述上移動槽內(nèi)設(shè)置有移動桿,所述移動桿圓周側(cè)壁設(shè)置有連接板,所述連接板側(cè)壁連接推板,所述固定板側(cè)壁開設(shè)有螺孔,所述固定板側(cè)壁通過所述螺孔貫穿有螺紋桿,所述螺紋桿一端連接有推塊,所述螺紋桿另一端連接有旋轉(zhuǎn)把手。
7、優(yōu)選地,所述安置臺頂面設(shè)置有框罩,所述框罩內(nèi)設(shè)置有玻璃。
8、優(yōu)選地,多個所述柱腿側(cè)壁連接有橫支桿和斜撐,所述斜撐頂部連接所述安置臺底部,多個所述柱腿、多個所述橫支桿和多個所述斜撐為空心鋼管材質(zhì)。
9、優(yōu)選地,所述推板為長方形陶瓷材質(zhì),厚度為3厘米,所述推塊為圓形陶瓷材質(zhì),厚度為1.5厘米。
10、優(yōu)選地,所述螺紋桿圓周側(cè)壁套接有彈簧,彈簧一端連接所述推塊側(cè)壁。
11、3.有益效果
12、相比于現(xiàn)有技術(shù),本實用新型的優(yōu)點在于:
13、本實用新型通過將檢測設(shè)備放置在安置臺頂面,利用兩個固定組件分布在檢測設(shè)備兩側(cè),并使固定組件在安置臺頂面選擇合適位置的安裝孔一進(jìn)行調(diào)整固定,進(jìn)一步利用兩組推板在檢測設(shè)備兩側(cè)相互配合夾緊設(shè)備,能夠根據(jù)檢測設(shè)備尺寸進(jìn)行調(diào)節(jié)固定,適用于多種尺寸的設(shè)備進(jìn)行固定,適配性較強(qiáng),同時,安置臺可以放置多臺檢測設(shè)備,并且每臺檢測設(shè)備都可以利用固定組件進(jìn)行固定,使本機(jī)架實用性較強(qiáng)。
1.一種用于晶圓瑕疵檢測的機(jī)架,其特征在于,包括框架組件(1)和固定組件(2);
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于晶圓瑕疵檢測的機(jī)架,其特征在于,所述安置臺(101)頂面設(shè)置有框罩(106),所述框罩(106)內(nèi)設(shè)置有玻璃(107)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于晶圓瑕疵檢測的機(jī)架,其特征在于,多個所述柱腿(103)側(cè)壁連接有橫支桿(104)和斜撐(105),所述斜撐(105)頂部連接所述安置臺(101)底部,多個所述柱腿(103)、多個所述橫支桿(104)和多個所述斜撐(105)為空心鋼管材質(zhì)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的用于晶圓瑕疵檢測的機(jī)架,其特征在于,所述推板(214)為長方形陶瓷材質(zhì),厚度為3厘米,所述推塊(209)為圓形陶瓷材質(zhì),厚度為1.5厘米。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的用于晶圓瑕疵檢測的機(jī)架,其特征在于,所述螺紋桿(208)圓周側(cè)壁套接有彈簧(210),彈簧(210)一端連接所述推塊(209)側(cè)壁。