技術(shù)特征：

1.一種基于廣義內(nèi)積檢驗(yàn)統(tǒng)計(jì)量的機(jī)載雷達(dá)雜波分類(lèi)處理方法，其特征在于，包括以下步驟：

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述廣義內(nèi)積檢測(cè)統(tǒng)計(jì)量的表達(dá)式為：

3.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述每個(gè)待檢測(cè)距離單元的廣義內(nèi)積檢測(cè)統(tǒng)計(jì)量和雷達(dá)系統(tǒng)自由度判斷所述每個(gè)待檢測(cè)距離單元是否位于均勻雜波區(qū)，包括：

4.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述對(duì)所述采樣協(xié)方差矩陣進(jìn)行主分量分析，確定主分量分析采樣協(xié)方差矩陣和第一濾波器權(quán)值，包括：

5.如權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述主分量分析采樣協(xié)方差矩陣的表達(dá)式為：

6.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)先驗(yàn)雜噪?yún)f(xié)方差矩陣和所述采樣協(xié)方差矩陣，確定融合協(xié)方差矩陣和最優(yōu)融合因子，包括：

7.如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述融合協(xié)方差矩陣的表達(dá)式為：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開(kāi)了一種基于廣義內(nèi)積檢驗(yàn)統(tǒng)計(jì)量的機(jī)載雷達(dá)雜波分類(lèi)處理方法，包括以下步驟：計(jì)算待檢測(cè)距離單元的廣義內(nèi)積檢測(cè)統(tǒng)計(jì)量；根據(jù)廣義內(nèi)積檢測(cè)統(tǒng)計(jì)量和雷達(dá)系統(tǒng)自由度判斷每個(gè)待檢測(cè)距離單元是否位于均勻雜波區(qū)；當(dāng)位于均勻雜波區(qū)時(shí)，對(duì)采樣協(xié)方差矩陣進(jìn)行主分量分析，確定主分量分析采樣協(xié)方差矩陣和第一濾波器權(quán)值；當(dāng)位于非均勻雜波區(qū)時(shí)，根據(jù)先驗(yàn)雜噪?yún)f(xié)方差矩陣和采樣協(xié)方差矩陣，確定融合協(xié)方差矩陣和最優(yōu)融合因子以及第二濾波器權(quán)值。本發(fā)明的運(yùn)行效率高，可以在接收端對(duì)均勻與非均勻雜波進(jìn)行分類(lèi)，以指導(dǎo)知識(shí)輔助STAP方法與傳統(tǒng)STAP方法相互結(jié)合，有效降低了計(jì)算量，節(jié)省雷達(dá)資源，實(shí)現(xiàn)了系統(tǒng)性能與計(jì)算資源間的最佳平衡。

技術(shù)研發(fā)人員：糾博,李聲源,郭宗興,鄭詩(shī)雨,劉宏偉
受保護(hù)的技術(shù)使用者：西安電子科技大學(xué)
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/5/15