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一種FPGA通用實(shí)物測(cè)試系統(tǒng)的制作方法

文檔序號(hào):41951153發(fā)布日期:2025-05-16 14:11閱讀:來(lái)源:國(guó)知局

技術(shù)特征:

1.一種fpga通用實(shí)物測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述fpga通用實(shí)物測(cè)試系統(tǒng)包括供電系統(tǒng)、溫濕度試驗(yàn)箱、被測(cè)fpga連接工裝、測(cè)試激勵(lì)生成及測(cè)試響應(yīng)采集模塊和工控機(jī),所述被測(cè)fpga連接工裝放置在所述溫濕度試驗(yàn)箱中,所述供電系統(tǒng)與所述被測(cè)fpga連接工裝電連接,所述被測(cè)fpga連接工裝與所述測(cè)試激勵(lì)生成及測(cè)試響應(yīng)采集模塊電連接,所述測(cè)試激勵(lì)生成及測(cè)試響應(yīng)采集模塊與所述工控機(jī)電連接,所述fpga通用實(shí)物測(cè)試系統(tǒng)用于對(duì)裝載在所述被測(cè)fpga連接工裝上的被測(cè)fpga進(jìn)行測(cè)試,其中,

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種fpga通用實(shí)物測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述供電系統(tǒng)通過(guò)電纜與所述被測(cè)fpga連接工裝連接,所述被測(cè)fpga連接工裝通過(guò)電纜與所述測(cè)試激勵(lì)生成及測(cè)試響應(yīng)采集模塊連接。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種fpga通用實(shí)物測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述供電系統(tǒng)包括第一電源調(diào)整電路、第二電源調(diào)整電路、3.3v電源模塊、1.5v電源模塊和電源插座,所述第一電源調(diào)整電路和第二電源調(diào)整電路均包括多個(gè)開(kāi)關(guān),所述3.3v電源模塊的一端和所述1.5v電源模塊的一端均連接所述電源插座,所述3.3v電源模塊的另一端連接所述第一電源調(diào)整電路,所述1.5v電源模塊的另一端連接所述第二電源調(diào)整電路;其中,

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種fpga通用實(shí)物測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述工控機(jī)用于運(yùn)行測(cè)試數(shù)據(jù)管理軟件,所述測(cè)試數(shù)據(jù)管理軟件用于所述fpga實(shí)物測(cè)試用例數(shù)據(jù)的編制、所述fpga實(shí)物測(cè)試用例數(shù)據(jù)的格式轉(zhuǎn)換、測(cè)試響應(yīng)數(shù)據(jù)的采集以及測(cè)試響應(yīng)數(shù)據(jù)的分析;其中,所述測(cè)試數(shù)據(jù)管理軟件通過(guò)fpga驗(yàn)證語(yǔ)言編制所述fpga實(shí)物測(cè)試用例數(shù)據(jù),并將所述fpga實(shí)物測(cè)試用例數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為規(guī)定文件格式,供所述測(cè)試激勵(lì)生成及測(cè)試響應(yīng)采集模塊讀取后輸出所述測(cè)試激勵(lì)數(shù)據(jù);

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種fpga通用實(shí)物測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述測(cè)試數(shù)據(jù)管理軟件使用systemverilog語(yǔ)言編制所述fpga實(shí)物測(cè)試用例數(shù)據(jù),并通過(guò)questasim桌面仿真軟件將所述fpga實(shí)物測(cè)試用例數(shù)據(jù)保存為vcd文件,所述測(cè)試數(shù)據(jù)管理軟件讀取所述vcd文件并通過(guò)以太網(wǎng)發(fā)送到所述測(cè)試激勵(lì)生成及測(cè)試響應(yīng)采集模塊。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種fpga通用實(shí)物測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述測(cè)試激勵(lì)生成及測(cè)試響應(yīng)采集模塊包括高性能fpga、存儲(chǔ)單元和連接插座,所述高性能fpga的第一端通過(guò)以太網(wǎng)接口連接所述工控機(jī),所述高性能fpga的第二端與所述存儲(chǔ)單元連接,所述高性能fpga的第三端與所述連接插座的一端連接,所述連接插座的另一端連接所述被測(cè)fpga連接工裝;其中,

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種fpga通用實(shí)物測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述溫濕度試驗(yàn)箱中的溫度能夠設(shè)置為-40°c、25°c和85°c,以符合所述被測(cè)fpga最小工況、典型工況和最大工況的溫度要求。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種fpga通用實(shí)物測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述被測(cè)fpga的型號(hào)為a3p1000-pq208,能夠接收cpu發(fā)送的指令,實(shí)現(xiàn)通訊功能、信號(hào)輸出功能和過(guò)流關(guān)斷功能,所述fpga通用實(shí)物測(cè)試系統(tǒng)對(duì)所述被測(cè)fpga的通訊功能、信號(hào)輸出功能和過(guò)流關(guān)斷功能進(jìn)行測(cè)試。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種fpga通用實(shí)物測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述溫濕度試驗(yàn)箱中具有放置所述被測(cè)fpga連接工裝的區(qū)域,并預(yù)留出連接電纜的標(biāo)準(zhǔn)接插件接口的空間。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種fpga通用實(shí)物測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述被測(cè)fpga連接工裝通過(guò)可拆卸形式的接插件接口裝載所述被測(cè)fpga。


技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及安全關(guān)鍵電子設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域,具體公開(kāi)了一種FPGA通用實(shí)物測(cè)試系統(tǒng),包括供電系統(tǒng)、溫濕度試驗(yàn)箱、被測(cè)FPGA連接工裝、測(cè)試激勵(lì)生成及測(cè)試響應(yīng)采集模塊和工控機(jī),被測(cè)FPGA連接工裝放置在溫濕度試驗(yàn)箱中,供電系統(tǒng)與被測(cè)FPGA連接工裝電連接,被測(cè)FPGA連接工裝與測(cè)試激勵(lì)生成及測(cè)試響應(yīng)采集模塊電連接,測(cè)試激勵(lì)生成及測(cè)試響應(yīng)采集模塊與工控機(jī)電連接,F(xiàn)PGA通用實(shí)物測(cè)試系統(tǒng)用于對(duì)裝載在被測(cè)FPGA連接工裝上的被測(cè)FPGA進(jìn)行測(cè)試,供電系統(tǒng)用于向被測(cè)FPGA提供指定工況的供電電壓;溫濕度試驗(yàn)箱用于向被測(cè)FPGA提供指定工況的溫濕度測(cè)試環(huán)境。本發(fā)明適用的測(cè)試范圍廣泛,測(cè)試效率高,測(cè)試結(jié)果清晰完整。

技術(shù)研發(fā)人員:薛利強(qiáng),秦陽(yáng),張偉,陳偉靜,陳啟峰,蔡良鋒,邊闖
受保護(hù)的技術(shù)使用者:中國(guó)航發(fā)控制系統(tǒng)研究所
技術(shù)研發(fā)日:
技術(shù)公布日:2025/5/15
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