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一種PCB板異常檢測方法及系統(tǒng)與流程

文檔序號:41952871發(fā)布日期:2025-05-16 14:15閱讀:4來源:國知局
一種PCB板異常檢測方法及系統(tǒng)與流程

本發(fā)明涉及異常檢測領(lǐng)域,尤其涉及一種pcb板異常檢測方法及系統(tǒng)。


背景技術(shù):

1、pcb(printed?circuit?board)板是電子產(chǎn)品的重要組成部分,用于支持和連接電子元器件。在pcb板的生產(chǎn)過程中,需要進(jìn)行異常檢測以確保板上元器件的正常焊接。

2、現(xiàn)有常見技術(shù)方案有基于傳統(tǒng)圖像處理算法的實現(xiàn)、基于深度學(xué)習(xí)的方法。

3、基于傳統(tǒng)圖像處理算法的思想為模板匹配,通過將實時生產(chǎn)環(huán)境中的pcb板與預(yù)先從生產(chǎn)環(huán)境中收集的正常樣本進(jìn)行對比,差別大于一定閾值的區(qū)域就定義為異常區(qū)域,但是,正常pcb板上焊接的元器件形態(tài)不完全一致,特別是分離元器件,模板匹配很難適應(yīng)這種正常焊接元器件形態(tài)的差異;另一方面,模板匹配對拍攝打光的要求也極其苛刻。

4、基于深度學(xué)習(xí)的方法定義為:預(yù)先定義pcb板的元器件類型,并收集涵蓋元器件的數(shù)據(jù),以訓(xùn)練元器件的目標(biāo)檢測模型,但是,當(dāng)新元器件引入生產(chǎn)線,檢測模型需要重新收集數(shù)據(jù)進(jìn)行訓(xùn)練、模型更新;

5、另一種基于深度學(xué)習(xí)的pcb異常檢測算法為,通過模型訓(xùn)練得到正常pcb板的像素分布,異常pcb板的局部像素會不滿足學(xué)習(xí)到的像素分布,進(jìn)而可以找到異常區(qū)域,但是對于元器件較豐富的情況,模型極難學(xué)習(xí)到pcb板的像素分布。


技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本發(fā)明的主要目的在于解決現(xiàn)有技術(shù)中面臨或是不魯棒,或是部署成本高的技術(shù)問題。本發(fā)明提供了一種pcb板異常檢測方法,包括以下步驟:

2、獲取pcb模板圖像和待檢測pcb板圖像;將待檢測pcb板圖像與所述pcb模板圖像進(jìn)行配準(zhǔn)和對齊;通過對比邊緣能量,得到待檢測pcb板圖像的一個或多個潛在異常區(qū)域;運(yùn)用度量模型對潛在異常區(qū)域與所述pcb模板圖像對應(yīng)坐標(biāo)框區(qū)域進(jìn)行比對,通過比對結(jié)果確認(rèn)異常狀態(tài)。

3、作為一種優(yōu)選的技術(shù)方案,所述獲取pcb模板圖像和待檢測pcb板圖像,包括:

4、將正常pcb板水平放置到平臺正中間,抓拍一張所述正常pcb板的圖像,得到pcb模板圖像;將所述pcb模板圖像與當(dāng)前款pcb進(jìn)行綁定,建立關(guān)聯(lián)關(guān)系;異常檢測時,獲取水平放置在平臺正中間的pcb板圖像,得到待檢測pcb板圖像。

5、作為一種優(yōu)選的技術(shù)方案,所述將待檢測pcb板圖像與所述pcb模板圖像進(jìn)行配準(zhǔn)和對齊,包括:

6、檢測所述將待檢測pcb板圖像與所述pcb模板圖像的角點、邊緣、斑點特征,并生成相應(yīng)的關(guān)鍵點描述子;根據(jù)所述關(guān)鍵點描述子,對所述將待檢測pcb板圖像與所述pcb模板圖像進(jìn)行關(guān)鍵點匹配,得到匹配的關(guān)鍵點對,從而建立兩幅圖像之間的對應(yīng)關(guān)系;通過所述匹配的關(guān)鍵點對計算得到變換矩陣;將所述變換矩陣應(yīng)用于待檢測pcb板圖像,將待檢測pcb板圖像變換到與所述pcb模板圖像對齊的位置。

7、作為一種優(yōu)選的技術(shù)方案,所述通過對比邊緣能量,得到待檢測pcb板圖像的一個或多個潛在異常區(qū)域,包括:

8、使用邊緣檢測算法提取所述待檢測pcb板圖像與所述pcb模板圖像的邊緣信息;對于檢測到的每條邊緣,計算其邊緣能量;將每個像素點的邊緣能量值作為該點的灰度值,構(gòu)建出整個圖像的邊緣能量圖;對兩幅邊緣能量圖進(jìn)行歸一化處理,使所述兩幅邊緣能量圖的灰度值范圍相同,得到歸一化后的邊緣能量圖;計算兩幅歸一化后的邊緣能量圖之間的差值圖,所述差值圖中的每個像素值表示對應(yīng)位置在兩幅圖像中邊緣能量的差異;設(shè)定一像素分割閾值,將差值圖中的像素分割為兩類:差異顯著和差異不顯著;基于差值圖的分割結(jié)果,通過連通域分析算法找出所述待檢測pcb板圖像所有連續(xù)的、差異顯著的一個或多個像素集合,所述像素集合對應(yīng)的位置為潛在異常區(qū)域。

9、作為一種優(yōu)選的技術(shù)方案,所述運(yùn)用度量模型對潛在異常區(qū)域與所述pcb模板圖像對應(yīng)坐標(biāo)框區(qū)域進(jìn)行比對,通過比對結(jié)果確認(rèn)異常狀態(tài),包括:

10、對潛在異常區(qū)域和pcb模板圖像對應(yīng)坐標(biāo)框區(qū)域進(jìn)行預(yù)處理,得到預(yù)處理圖像;使用度量模型從預(yù)處理圖像區(qū)域中提取特征向量;計算潛在異常區(qū)域特征向量與所述pcb模板圖像對應(yīng)坐標(biāo)框區(qū)域特征向量之間的相似度;設(shè)定一相似度閾值,根據(jù)相似度閾值來判斷是否異常。

11、作為一種優(yōu)選的技術(shù)方案,所述使用度量模型從預(yù)處理圖像區(qū)域中提取特征向量,包括:

12、選擇度量模型,所述度量模型包括sift、surf、hog、cnn中的一種或幾種;將預(yù)處理圖像區(qū)域輸入到所選的度量模型中;使用所述度量模型,根據(jù)預(yù)處理圖像的內(nèi)容生成一系列特征描述子;通過詞袋模型(bag?of?words,?bow)、vlad(vector?of?locallyaggregated?descriptors)方法對提取的特征描述子進(jìn)行編碼,以生成特征向量。

13、作為一種優(yōu)選的技術(shù)方案,所述度量模型采用以下方式進(jìn)行訓(xùn)練:

14、收集各種元器件的圖像,確保數(shù)據(jù)的多樣性和豐富性,以覆蓋不同形狀、顏色、尺寸的元器件;通過旋轉(zhuǎn)、縮放、裁剪、翻轉(zhuǎn)方式對圖像進(jìn)行增強(qiáng);基于dino模型,構(gòu)建元器件特征提取模型;對于每個元器件圖像,選擇與其相似的圖像作為正樣本,選擇與其不相似的圖像作為負(fù)樣本,相似性的定義通過元器件的輪廓、顏色、紋理特征設(shè)定;使用對比學(xué)習(xí)的損失函數(shù)優(yōu)化模型參數(shù),所述損失函數(shù)旨在使得模型能夠正確區(qū)分正負(fù)樣本對;設(shè)置訓(xùn)練參數(shù):包括學(xué)習(xí)率、批大小、訓(xùn)練輪數(shù);使用梯度下降優(yōu)化算法對模型進(jìn)行訓(xùn)練,通過最小化對比學(xué)習(xí)損失函數(shù)更新模型參數(shù);通過驗證集監(jiān)控模型的性能,確保模型沒有過擬合或欠擬合;使用測試集對訓(xùn)練好的模型進(jìn)行評估,計算其在元器件特征提取任務(wù)上的性能指標(biāo),如準(zhǔn)確率、召回率;根據(jù)評估結(jié)果對模型進(jìn)行調(diào)優(yōu),包括調(diào)整模型結(jié)構(gòu)、參數(shù)或訓(xùn)練策略,得到用于pcb板局部區(qū)域度量的模型。

15、本發(fā)明第二方面提供了一種pcb板異常檢測裝置,包括:

16、放置pcb板的平臺和固定且正俯視拍攝所述平臺的工業(yè)相機(jī);

17、所述裝置還包括:

18、獲取單元,所述獲取單元用于獲取pcb模板圖像和待檢測pcb板圖像;

19、對齊單元,所述對齊單元用于將待檢測pcb板圖像與所述pcb模板圖像進(jìn)行配準(zhǔn)和對齊;

20、異常區(qū)域確認(rèn)單元,所述異常區(qū)域確認(rèn)單元用于通過對比邊緣能量,得到待檢測pcb板圖像的一個或多個潛在異常區(qū)域;

21、異常狀態(tài)確認(rèn)單元,所述異常狀態(tài)確認(rèn)單元用于運(yùn)用度量模型對潛在異常區(qū)域與所述pcb模板圖像對應(yīng)坐標(biāo)框區(qū)域進(jìn)行比對,通過比對結(jié)果確認(rèn)異常狀態(tài)。

22、本發(fā)明第三方面提供了一種電子設(shè)備,包括:存儲器和至少一個處理器,所述存儲器中存儲有指令,所述存儲器和所述至少一個處理器通過線路互連;所述至少一個處理器調(diào)用所述存儲器中的所述指令,以使得所述電子設(shè)備執(zhí)行上述的如上所述的pcb板異常檢測方法。

23、本發(fā)明的第四方面提供了一種計算機(jī)可讀存儲介質(zhì),所述計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)中存儲有指令,當(dāng)其在計算機(jī)上運(yùn)行時,使得計算機(jī)執(zhí)行上述的如上所述的pcb板異常檢測方法。

24、本發(fā)明具有以下有益效果:

25、本發(fā)明方案通過對比邊緣能量來識別潛在異常區(qū)域。利用了pcb板圖像中邊緣信息的豐富性,通過對比模板圖像和待檢測圖像在邊緣能量上的差異,能夠快速、準(zhǔn)確地定位到可能存在異常的區(qū)域。這種方法相比傳統(tǒng)的單純的基于像素值的差異檢測方法更為敏感和準(zhǔn)確。

26、本方案能夠較高準(zhǔn)確地實現(xiàn)pcb板異常檢測,同時對于新增pcb板及新元器件引入時,只需新增當(dāng)前款pcb板正常模型即可。本發(fā)明方案引入度量模型對潛在異常區(qū)域與模板圖像對應(yīng)坐標(biāo)框區(qū)域進(jìn)行比對。這種度量模型包括多種特征的比對,如形狀、紋理、顏色等,能夠提供更為全面和細(xì)致的異常檢測。由于不同元器件間存在一些共性,如元器件的輪廓大致相近、色彩分布相似。當(dāng)此度量模型完成訓(xùn)練,它有更強(qiáng)的推廣能力——在引入新元器件的時候不再需要重新訓(xùn)練。

27、邊緣能量算法主要關(guān)注邊緣信息的異常變化,對于某些類型的異常(如元件缺失、錯位等)具有較好的檢測效果。然而,對于其他的異常(如元件顏色變化、輕微變形等),需要依賴度量模型算法進(jìn)行比對和分析。因此,兩者結(jié)合使用能夠覆蓋更廣泛的異常類型。

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