1.一種基于納米壓痕和機器學(xué)習(xí)的材料拉伸性能預(yù)測方法,其特征在于,包括以下步驟:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于納米壓痕和機器學(xué)習(xí)的材料拉伸性能預(yù)測方法,其特征在于:所述s2中,對預(yù)處理后的金相照片進行基于組織的有限元模擬,得到應(yīng)力應(yīng)變數(shù)據(jù),包括以下步驟:
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于納米壓痕和機器學(xué)習(xí)的材料拉伸性能預(yù)測方法,其特征在于:所述s3中,基于金相照片和應(yīng)力應(yīng)變數(shù)據(jù)構(gòu)建微觀組織-應(yīng)力應(yīng)變場數(shù)據(jù)庫,包括以下步驟:
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于納米壓痕和機器學(xué)習(xí)的材料拉伸性能預(yù)測方法,其特征在于:所述s3.2中,通過時空配準(zhǔn)算法將每張金相照片與其對應(yīng)的應(yīng)力應(yīng)變數(shù)據(jù)一一對應(yīng)起來,包括以下步驟:
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的基于納米壓痕和機器學(xué)習(xí)的材料拉伸性能預(yù)測方法,其特征在于:所述s3.27中,互信息為:
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的基于納米壓痕和機器學(xué)習(xí)的材料拉伸性能預(yù)測方法,其特征在于:所述s4中,基于微觀組織-應(yīng)力應(yīng)變場數(shù)據(jù)庫,對u-net深度學(xué)習(xí)框架進行架構(gòu)調(diào)整和優(yōu)化來預(yù)測材料拉伸性能,并提供應(yīng)力應(yīng)變云圖及曲線,包括以下步驟:
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的基于納米壓痕和機器學(xué)習(xí)的材料拉伸性能預(yù)測方法,其特征在于:所述s4.3中,進行編碼器和解碼器的調(diào)整,包括以下步驟:
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的基于納米壓痕和機器學(xué)習(xí)的材料拉伸性能預(yù)測方法,其特征在于:所述s4.32中,使用最大池化方法來逐步減小輸入的空間維度,包括以下步驟:
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的基于納米壓痕和機器學(xué)習(xí)的材料拉伸性能預(yù)測方法,其特征在于:所述s4.324中,最大池化公式為:
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的基于納米壓痕和機器學(xué)習(xí)的材料拉伸性能預(yù)測方法,其特征在于:所述s4.4中,誤差函數(shù)為: