專利名稱：面板測試治具及治具清潔方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種面板測試治具以及治具清潔方法。
背景技術：
顯示裝置中的面板單元在制作完成之后，必須利用面板測試機臺產(chǎn)生測試信號， 將面板單元送入面板測試機臺中，以確認面板單元是否可以正確運作。由于剛由生產(chǎn)線完成制作的面板單元還沒有設置訊號排線或是電連接器，因此這時候面板測試機臺必須透過具備探針的面板測試治具，來對面板單元輸入測試訊號。面板測試治具是以探針接觸面板單元邊緣外露的信號接點(Contact Pad)來達成電性連接，而將測試信號傳送至待測試的面板單元上。目前用來測試液晶顯示裝置中的面板單元的面板測試治具，在利用電測畫面檢驗面板時為了提高測試的準確度，必須維持面板測試治具的背光模塊的潔凈度。因此，測試人員必須使用無塵布(或其它相關清潔物品)對面板測試治具的背光模塊進行擦拭清潔。然而，就現(xiàn)有的面板測試治具而言，每片面板單元在檢測完成后，都需要測試人員使用無塵布對面板測試治具的背光模塊進行擦拭清潔，使得平均每個面板測試治具會造成 15%的人力浪費。而且，由于每個面板測試治具皆是人為擦拭，因此有很大的機會發(fā)生測試人員忘了清潔的疏忽。再者，面板測試治具的邊框附近往往無法徹底清潔，因此也無法保證清潔效果能達到所需的標準。因此，如何解決上述問題，成為一項值得研究的問題。

發(fā)明內容
有鑒于此，本發(fā)明的目的之一在于，提供一種面板測試治具及治具清潔方法，用以減少額外的人力浪費以及提高清潔功效。根據(jù)本發(fā)明的一個方面，提供一種面板測試治具用以測試面板單元，包括底座、背光模塊、兩導引構件、上蓋、兩拉桿、清潔桿以及下板。背光模塊承載于底座上。兩導引構件分別平行地設置于底座上，并且背光模塊位于導引構件之間。上蓋樞接至底座。每一拉桿具有第一端以及第二端。第一端樞接至上蓋。第二端可滑動地連接至對應之導引構件。清潔桿連接于第二端之間，并接觸背光模塊的上表面。下板承載于底座上并位于清潔桿上方。 下板包含出光口。面板單元承載于下板上并正對出光口。當上蓋相對底座閉合時，面板單元夾持于上蓋與下板之間。在上蓋相對底座開啟或閉合期間，每一拉桿受上蓋帶動而同時相對上蓋與底座轉動，致使第二端相對對應的導引構件滑動，并帶動清潔桿往復地擦拭背光模塊的上表面。優(yōu)選地，面板測試治具的每一導引構件包括兩固定塊以及導桿，固定塊設置于底座上，并且導桿連接于固定塊之間。優(yōu)選地，面板測試治具還包括兩滑動塊，每一滑動塊樞接至對應的第二端，并可滑動地套設至對應的導桿上。清潔桿連接于滑動塊之間。優(yōu)選地，面板測試治具的清潔桿還包括兩桿體以及清潔片，兩桿體分別連接于滑動塊之間，清潔片設置于桿體之間，用以隨桿體移動而擦拭背光模塊的上表面。優(yōu)選地，面板測試治具的桿體分別鎖附至滑動塊，清潔片夾擠以固定于桿體之間。優(yōu)選地，面板測試治具的清潔片為硅膠片。優(yōu)選地，當上蓋相對底座閉合時，拉桿平行導桿。優(yōu)選地，面板測試治具的背光模塊還包括背光單元、偏光片以及光學玻璃。背光單元承載于底座上，偏光片設置于背光單元上，光學玻璃設置于偏光片上。光學玻璃包括上表面，用以受清潔桿擦拭。優(yōu)選地，面板測試治具的上蓋還包括檢測窗，當上蓋相對底座閉合時，檢測窗正對面板單元與出光口。根據(jù)本發(fā)明的另一個方面，提供一種治具清潔方法用以在測試面板單元期間進行清潔。包括提供面板測試治具，面板測試治具包括底座、承載于底座上的背光模塊、分別平行地設置于底座上的兩導引構件、樞接至底座的上蓋、兩拉桿、清潔桿以及承載于底座上的下板，其中每一拉桿的第一端樞接至上蓋，每一拉桿的第二端可滑動地連接至對應的導引構件，且清潔桿連接于第二端之間。放置面板單元于下板上。閉合上蓋至底座，進而帶動拉桿同時相對上蓋與底座轉動，致使第二端分別相對對應的導引構件滑動，并帶動清潔桿對背光模塊的上表面進行第一次擦拭。開啟上蓋離開底座，進而帶動拉桿同時相對上蓋與底座轉動，致使第二端分別相對對應之導引構件滑動，并帶動清潔桿對上表面進行第二次擦拭。取出放置于下板上的面板單元。采用本發(fā)明的面板測試治具及治具清潔方法，能夠在操作面板測試治具時同時清潔面板測試治具的背光模塊，并有效地達到減少額外的人力浪費以及提高清潔效果的功效。


為讓本發(fā)明上述目的和其它特征、優(yōu)點與實施例能更明顯易懂，所附附圖的詳細說明如下圖1示出了依照本發(fā)明一實施例的面板測試治具的立體圖；圖2示出了圖1中的面板測試治具的立體圖，其中上蓋相對底座完全開啟，并且承載于底座上的下板已取下；圖3示出了圖2中的面板測試治具的立體圖，其中上蓋相對底座完全閉合；圖4示出了圖1中的面板測試治具的俯視圖；圖5示出了圖2中的清潔桿的局部立體圖；圖6示出了圖2中的背光模塊的局部側視圖；圖7示出了依照本發(fā)明一實施例的治具清潔方法的流程圖。
具體實施例方式下面參照附圖，對本發(fā)明的實施方式作進一步的詳細描述。根據(jù)本發(fā)明的一個方面，提供一種面板測試治具。更具體地說，其主要可在顯示裝置的面板單元在進行電測流程期間，藉由面板測試治具的上蓋相對底座開啟與閉合的動作以帶動連接上蓋的拉桿，進而連動清潔桿以分別清潔面板測試治具中的背光模塊的上表面兩次。換言之，本發(fā)明的面板測試治具可在對面板單元測試前與測試后，各對面板測試治具中的背光模塊清潔一次。藉此，在操作本發(fā)明的面板測試治具時，即可同時清潔面板測試治具的背光模塊，并有效地達到減少額外的人力浪費以及提高清潔效果的功效。圖1示出了依照本發(fā)明一實施例的面板測試治具1的立體圖。圖2示出了圖1中的面板測試治具1的立體圖，其中上蓋16相對底座10完全開啟，并且承載于底座10上的下板22已取下。圖3示出了圖2中的面板測試治具1的立體圖，其中上蓋16相對底座10 完全閉合。如圖1至圖3所示，在本實施例中，本發(fā)明的面板測試治具1主要可用來測試面板單元。本實施例的面板測試治具1包括底座10、背光模塊12、兩導引構件14、上蓋16、兩拉桿18、清潔桿20以及下板22。面板測試治具1的背光模塊12可承載于底座10上。面板測試治具1的兩導引構件14分別平行地設置于底座10上，藉以使得背光模塊12位于導引構件14之間。面板測試治具1的上蓋16樞接至底座10。面板測試治具1的每一拉桿18 皆具有第一端180以及第二端182。拉桿18的第一端180樞接至上蓋16，并且拉桿18的第二端182可滑動地連接至對應的導引構件14。面板測試治具1的清潔桿20連接于兩拉桿18的第二端182之間，并接觸背光模塊12的上表面12如。面板測試治具1的下板22承載于底座10上并位于清潔桿20上方。面板測試治具1的下板22包括出光口 220。面板測試治具1的下板22可承載面板單元(未繪示)，使得正面板單元對出光口 220，并可藉由背光模塊12發(fā)光而通過下板22的出光口 220而到達面板單元。當面板測試治具1的上蓋 16相對底座10閉合時，面板單元即夾持于上蓋16與下板22之間，并可進行電測程序。在面板測試治具1的上蓋16相對底座10開啟或閉合期間，每一拉桿18會受上蓋16帶動而同時相對上蓋16與底座10轉動，致使每一拉桿18的第二端182相對各自對應的導引構件 14滑動，并帶動清潔桿20往復地擦拭背光模塊12的上表面12如。如圖1所示，在本實施例中，面板測試治具1的每一導引構件14都包括兩固定塊 140以及導桿142。導引構件14的固定塊140設置于底座10上，并且導引構件14的導桿 142連接于固定塊140之間。另外，面板測試治具1還包括兩滑動塊M。每一滑動塊對樞接至各自對應的拉桿18的第二端182，并可滑動地套設至各自對應的導桿142上。面板測試治具1的清潔桿20即連接于滑動塊M之間。藉此，在面板測試治具1的上蓋16相對底座10開啟或閉合期間，每一拉桿18會受上蓋16帶動而同時相對上蓋16與底座10轉動， 致使樞接至各自對應的拉桿18的第二端182的滑動塊M可相對各自對應的導引構件14 滑動，并帶動清潔桿20往復地擦拭背光模塊12的上表面12如。在另一實施例中，亦可將上述的導引構件14替換為等效的導引軌道或導引溝槽 (未繪示)，并使得上述的滑動塊M受到導引軌道或導引溝槽的限位而僅能沿一方向相對底座10往復地滑動，同樣可使本發(fā)明的面板測試治具1在上蓋16相對底座10開啟或閉合期間，達到同時清潔背光模塊12的上表面12 的目的。此外，面板測試治具1的上蓋16還包括檢測窗160。當面板測試治具1的上蓋16 相對底座10閉合時，上蓋16的檢測窗160會恰好正對面板單元與下板22的出光口 220。 藉此，由背光模塊12發(fā)光即可先通過下板22的出光口 220，再通過面板單元而從上蓋16的檢測窗160射出，使得檢測人員可進行面板單元的檢測程序。如圖2與圖3所示，在本實施例中，拉桿18的第一端180可對稱地樞接于上蓋16的兩側并靠近中央處，但并不以此為限，可依照設計時所需或制造上的限制而彈性地修改。 當面板測試治具1的上蓋16相對底座10完全開啟(如圖2所示)時，上蓋16相對底座10 的開啟角度并不設限，端視拉桿18的第一端180樞接于上蓋16的位置與拉桿18本身的長度而定。為了使面板測試治具1的上蓋16能夠相對底座10完全閉合(如圖3所示)，可設計使拉桿18的長度小于導引構件14的導桿142的長度。藉此，面板測試治具1的拉桿18 才不會因為設計長度過長而導致上蓋16無法相對底座10完全閉合。在本實施例中，當面板測試治具1的上蓋16相對底座10閉合時，可設計使拉桿18與導引構件14的導桿142 相互平行，藉以設計并制造出具有較薄厚度的面板測試治具1，使得面板測試治具1具有薄型化的外觀。圖4示出了圖1中的面板測試治具1的俯視圖。如圖4所示，在本實施例中，面板測試治具1的底座10上可設置開槽100，藉以減輕面板測試治具1的整體重量。面板測試治具1的底座10還包括兩支撐片102。支撐片 102可設置于面板測試治具1的底座10的底面并橫越底座10的開槽100，進而達到防止面板測試治具1中所包括的組件由底座10的開槽100掉落。然而，底座10所包括的支撐片 102的數(shù)量并不以此實施例為限，可依照設計時所需而彈性地改變。在一實施例中，底座10的支撐片102可以由電木所制成，但并不以此為限，可依照設計時的需求而彈性替換其它材質。圖5示出了圖2中的清潔桿20的局部立體圖。如圖2與圖5所示，在本實施例中，面板測試治具1的清潔桿20還包括兩桿體200 以及清潔片202。清潔桿20的桿體200分別連接于滑動塊M之間。清潔桿20的清潔片 202設置于桿體200之間，并可隨桿體200移動而擦拭背光模塊12的上表面12如。進一步來說，清潔桿20的桿體200可分別鎖附至滑動塊M，并且清潔片202夾擠以固定于桿體200 之間。并且，清潔片202突出于兩桿體200下方以接觸并擦拭背光模塊12的上表面IMa。 在本實施例中，在清潔桿20的清潔片202夾擠以固定于桿體200之間之后，可再以螺絲鎖附兩桿體200，進而更加強清潔片202的固定效果，但并不以此為限。在另一實施例中，清潔桿20可僅包含單一桿體200以及清潔布(為繪示)，并將清潔布纏繞于桿體200外，同樣可隨著桿體200連動而達到清潔背光模塊12的上表面12 的功能。在一實施例中，清潔桿20的桿體200可以由電木所制成，但并不以此為限，可依照設計時的需求而彈性替換其它材質。在一實施例中，清潔桿20的清潔片202可以是硅膠片，但并不以此為限，任何可用以清潔擦拭背光模塊12的上表面12 的物品皆可等效地替換。圖6示出了圖2中的背光模塊12的局部側視圖。如圖6所示，在本實施例中，面板測試治具1的背光模塊12還包括背光單元120、 偏光片122以及光學玻璃124。背光模塊12的背光單元120可承載于底座10上。背光模塊12的偏光片122設置于背光單元120上。背光模塊12的光學玻璃IM設置于偏光片 122上，其中光學玻璃IM包含上表面IMa，用以受清潔桿20的清潔片202擦拭。然而在背光模塊12的背光單元120與光學玻璃1 之間所包括的光學組件并不以本實施例為限， 可依照設計時的需求而彈性地增減或替換。圖7示出了依照本發(fā)明一實施例的治具清潔方法的流程圖。
如圖7所示，并配合參照圖2與圖3，在本實施例中，本發(fā)明的治具清潔方法可用以于測試面板單元期間同時進行清潔。治具清潔方法包含下列步驟。步驟SlOO 提供面板測試治具1。如圖1至3圖所示，面板測試治具1包括底座10、承載于底座10上的背光模塊12、 分別平行地設置于底座10上的兩導引構件14、樞接至底座10的上蓋16、兩拉桿18、清潔桿 20以及承載于底座10上的下板22。每一拉桿18的第一端180樞接至上蓋16。每一拉桿 18的第二端182可滑動地連接至對應之導引構件14，且清潔桿20連接于第二端182之間。步驟S102 放置面板單元于面板測試治具1的下板22上。步驟S104 閉合上蓋16至底座10，進而帶動面板測試治具1的拉桿18同時相對上蓋16與底座10轉動，致使第二端182分別相對對應的導引構件14滑動，并帶動清潔桿 20對背光模塊12的上表面12 進行第一次擦拭。步驟S106 開啟上蓋16離開底座10，進而帶動面板測試治具1的拉桿18同時相對上蓋16與底座10轉動，致使第二端182分別相對對應的導引構件14滑動，并帶動清潔桿20對背光模塊12的上表面12 進行第二次擦拭。步驟S108 取出放置于面板測試治具1的下板22上的面板單元。由以上對于本發(fā)明的具體實施例的詳述，可以明顯地看出，本發(fā)明的面板測試治具以及治具清潔方法，主要可在顯示裝置的面板單元在進行電測流程期間，藉由面板測試治具的上蓋相對底座開啟與閉合的動作以帶動連接上蓋的拉桿，進而連動清潔桿以分別清潔面板測試治具中的背光模塊的上表面兩次。換言之，本發(fā)明的面板測試治具可在對面板單元測試前與測試后，各對面板測試治具中的背光模塊清潔一次。藉此，在操作本發(fā)明的面板測試治具時，即可同時清潔面板測試治具的背光模塊，并有效地達到減少額外的人力浪費以及提高清潔效果的功效。上文中，參照附圖描述了本發(fā)明的具體實施方式
。但是，在本領域中的普通技術人員能夠理解，不偏離本發(fā)明的精神和范圍的情況下，還可以對本發(fā)明的具體實施方式
作各種變更和替換。這些變更和替換都落在本發(fā)明權利要求書限定的范圍內。
權利要求
1.一種面板測試治具，用以測試一面板單元，其特征在于，所述面板測試治具包括 一底座；一背光模塊，承載于所述底座上；兩導引構件，分別平行地設置于所述底座上，所述背光模塊位于所述導引構件之間； 一上蓋，樞接至所述底座；兩拉桿，每一所述拉桿具有一第一端以及一第二端，所述第一端樞接至所述上蓋，所述第二端可滑動地連接至對應的所述導引構件；一清潔桿，連接于所述第二端之間，并接觸所述背光模塊的一上表面；以及一下板，承載于所述底座上并位于所述清潔桿上方，所述下板包括一出光口，所述面板單元承載于所述下板上并正對所述出光口，當所述上蓋相對所述底座閉合時，所述面板單元夾持于所述上蓋與所述下板之間；在所述上蓋相對所述底座開啟或閉合期間，所述每一拉桿受所述上蓋帶動而同時相對所述上蓋與所述底座轉動，致使所述第二端相對對應的所述導引構件滑動，并帶動所述清潔桿往復地擦拭所述上表面。
2.如權利要求1所述的面板測試治具，其特征在于，每一所述導引構件包括兩固定塊以及一導桿，所述固定塊設置于所述底座上，所述導桿連接于所述固定塊之間。
3.如權利要求2所述的面板測試治具，其特征在于，還包括兩滑動塊，每一所述滑動塊樞接至對應的所述第二端，并可滑動地套設至對應的所述導桿上，其中所述清潔桿連接于所述滑動塊之間。
4.如權利要求3所述的面板測試治具，其特征在于，所述清潔桿還包括 兩桿體，分別連接于所述滑動塊之間；以及一清潔片，設置于所述桿體之間，用以隨所述桿體移動而擦拭所述上表面。
5.如權利要求4所述的面板測試治具，其特征在于，所述桿體分別鎖附至所述滑動塊， 所述清潔片夾擠以固定于所述桿體之間。
6.如權利要求4所述的面板測試治具，其特征在于，所述清潔片為一硅膠片。
7.如權利要求2所述的面板測試治具，其特征在于，當所述上蓋相對所述底座閉合時， 所述拉桿平行所述導桿。
8.如權利要求1所述的面板測試治具，其特征在于，所述背光模塊還包括 一背光單元，承載于所述底座上；一偏光片，設置于所述背光單元上；以及一光學玻璃，設置于所述偏光片上，所述光學玻璃包含所述上表面，用以受所述清潔桿擦拭。
9.如權利要求1所述的面板測試治具，其特征在于，所述上蓋還包括一檢測窗，當所述上蓋相對所述底座閉合時，所述檢測窗正對所述面板單元與所述出光口。
10.一種治具清潔方法，用以在測試一面板單元期間進行清潔，其特征在于，所述治具清潔方法包括提供一面板測試治具，所述面板測試治具包括一底座、承載于所述底座上的一背光模塊、分別平行地設置于所述底座上的兩導引構件、樞接至所述底座的一上蓋、兩拉桿、一清潔桿以及承載于所述底座上的一下板，每一所述拉桿的一第一端樞接至所述上蓋，每一所述拉桿的一第二端可滑動地連接至對應的所述導引構件，且所述清潔桿連接于所述第二端之間；放置一面板單元于所述下板上；閉合所述上蓋至所述底座，進而帶動所述拉桿同時相對所述上蓋與所述底座轉動，致使所述第二端分別相對對應的所述導引構件滑動，并帶動所述清潔桿對所述背光模塊的一上表面進行第一次擦拭；開啟所述上蓋離開所述底座，進而帶動所述拉桿同時相對所述上蓋與所述底座轉動， 致使所述第二端分別相對對應的所述導引構件滑動，并帶動所述清潔桿對所述上表面進行第二次擦拭；以及取出放置于所述下板上的所述面板單元。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種面板測試治具，包括底座、承載于底座上的背光模塊、兩導引構件、樞接至底座的上蓋、兩拉桿及清潔桿。導引構件分別平行地設置于底座上，且背光模塊位于導引構件之間。每一拉桿具有第一端以及第二端。第一端樞接至上蓋。第二端可滑動地連接至對應的導引構件。清潔桿連接于第二端之間，并接觸背光模塊的上表面。在上蓋相對底座開啟或閉合期間，每一拉桿受上蓋帶動而同時相對上蓋與底座轉動，致使第二端相對對應的導引構件滑動，并帶動清潔桿往復地擦拭上表面。采用本發(fā)明，可在操作面板測試治具的同時清潔面板測試治具的背光模塊，并有效地達到減少額外的人力浪費以及提高清潔效果的功效。
文檔編號G02F1/13GK102253511SQ201110223529
公開日2011年11月23日 申請日期2011年8月1日 優(yōu)先權日2011年8月1日
發(fā)明者王宏振, 矯遠君, 胡瓊 申請人:友達光電(蘇州)有限公司, 友達光電股份有限公司