本發(fā)明涉及數(shù)據(jù)處理領(lǐng)域，具體而言，涉及一種測(cè)井刻度文件的校驗(yàn)方法、裝置和非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)：

1、磁壁厚測(cè)井儀器是套后生產(chǎn)測(cè)井范疇類的儀器，屬于典型的陣列型測(cè)井儀器，主要用來(lái)測(cè)量套管井油套管的壁厚，監(jiān)測(cè)油套管井筒變化情況，資料經(jīng)過(guò)分析能夠檢測(cè)套管的損傷腐蝕、錯(cuò)斷、變形、橢變、內(nèi)壁結(jié)垢和穿孔等等，在維護(hù)油井正常生產(chǎn)過(guò)程中具有重要作用。

2、磁壁厚測(cè)井儀器在井筒待測(cè)井段測(cè)量前，需要在與待測(cè)井段鋼套管電磁特性一致的完好井筒段的鋼套管處進(jìn)行測(cè)前刻度，獲得多個(gè)無(wú)損傷鋼套管處的刻度文件。這些刻度文件記錄了鋼套管的電磁特性參數(shù)，主要有電導(dǎo)率和磁導(dǎo)率，以及二者組合后的電磁特性因子。

3、但是在鋼套管處進(jìn)行測(cè)前刻度的過(guò)程中，如果獲取了質(zhì)量較低的刻度文件，則難以用于獲取準(zhǔn)確的電磁特性因子。也就是說(shuō)，現(xiàn)有方式獲得的測(cè)井刻度文件難以對(duì)其進(jìn)行質(zhì)量校驗(yàn)，存在文件質(zhì)量較低的技術(shù)問(wèn)題。

4、針對(duì)上述的問(wèn)題，目前尚未提出有效的解決方案。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明實(shí)施例提供了一種測(cè)井刻度文件的校驗(yàn)方法、裝置和非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)，以至少解決相關(guān)技術(shù)獲得的測(cè)井刻度文件存在文件質(zhì)量較低的技術(shù)問(wèn)題。

2、根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一個(gè)方面，提供了一種測(cè)井刻度文件的校驗(yàn)方法，包括：獲取待校驗(yàn)的多個(gè)測(cè)井刻度文件，其中，上述測(cè)井刻度文件為目標(biāo)磁壁厚測(cè)井裝置對(duì)待測(cè)油套管多次測(cè)量所分別產(chǎn)生的多個(gè)數(shù)據(jù)文件，上述目標(biāo)磁壁厚測(cè)井裝置用于測(cè)量油套管的套管壁狀態(tài)；分別從多個(gè)上述測(cè)井刻度文件中獲取第一測(cè)量參數(shù)和第二測(cè)量參數(shù)，并根據(jù)多個(gè)上述第一測(cè)量參數(shù)和上述第二測(cè)量參數(shù)建立目標(biāo)校驗(yàn)?zāi)Ｐ停辉谏鲜瞿繕?biāo)校驗(yàn)?zāi)Ｐ椭械哪繕?biāo)模型參數(shù)滿足預(yù)設(shè)條件的情況下，確定多個(gè)上述測(cè)井刻度文件為通過(guò)校驗(yàn)，其中，上述目標(biāo)模型參數(shù)用于表征多個(gè)上述第一測(cè)量參數(shù)和上述第二測(cè)量參數(shù)之間的線性相關(guān)度。

3、可選地，根據(jù)多個(gè)上述第一測(cè)量參數(shù)和上述第二測(cè)量參數(shù)建立目標(biāo)校驗(yàn)?zāi)Ｐ桶ǎ焊鶕?jù)多個(gè)上述第一測(cè)量參數(shù)和上述第二測(cè)量參數(shù)，以及第一系數(shù)和第二系數(shù)建立線性相關(guān)模型，其中，上述第一系數(shù)用于指示上述第一測(cè)量參數(shù)和上述第二測(cè)量參數(shù)之間的上述線性相關(guān)度；利用最小二乘法獲取上述線性相關(guān)模型的擬合結(jié)果；在上述線性相關(guān)模型的擬合損失最小的情況下，確定上述線性相關(guān)模型為上述目標(biāo)校驗(yàn)?zāi)Ｐ停⑸鲜瞿繕?biāo)校驗(yàn)?zāi)Ｐ椭械纳鲜龅谝幌禂?shù)確定為上述目標(biāo)模型參數(shù)。

4、可選地，分別從多個(gè)上述測(cè)井刻度文件中獲取第一測(cè)量參數(shù)和第二測(cè)量參數(shù)包括：從多個(gè)上述測(cè)井刻度文件中獲取當(dāng)前測(cè)井刻度文件；根據(jù)上述當(dāng)前測(cè)井刻度文件中記錄的測(cè)量數(shù)據(jù)集合，獲取信號(hào)相位差參數(shù)；將上述信號(hào)相位差參數(shù)的平方值作為上述第一測(cè)量參數(shù)；從上述當(dāng)前測(cè)井刻度文件的配置文件中獲取信號(hào)頻率參數(shù)；將上述信號(hào)頻率參數(shù)作為上述第二測(cè)量參數(shù)。

5、可選地，分別從多個(gè)上述測(cè)井刻度文件中獲取第一測(cè)量參數(shù)和第二測(cè)量參數(shù)之后，還包括：在上述第一測(cè)量參數(shù)為相位差參數(shù)，且上述第二測(cè)量參數(shù)為信號(hào)頻率參數(shù)的情況下，分別從多個(gè)上述測(cè)井刻度文件中獲取刻度深度參數(shù)，其中，上述刻度深度用于指示上述測(cè)井刻度文件所對(duì)應(yīng)的測(cè)量位置；在多個(gè)上述相位差參數(shù)中包括數(shù)值相同兩個(gè)上述相位差參數(shù)的情況下，獲取參考測(cè)井刻度文件替換第一測(cè)井刻度文件或第二測(cè)井刻度文件，其中，兩個(gè)相同的上述相位差參數(shù)分別為上述第一測(cè)井刻度文件和上述第二測(cè)井刻度文件對(duì)應(yīng)的測(cè)量參數(shù)；在多個(gè)上述相位差參數(shù)中包括數(shù)值相同兩個(gè)上述信號(hào)頻率參數(shù)的情況下，獲取參考測(cè)井刻度文件替換第三測(cè)井刻度文件或第四測(cè)井刻度文件，其中，兩個(gè)相同的上述信號(hào)頻率參數(shù)分別為上述第三測(cè)井刻度文件和上述第四測(cè)井刻度文件對(duì)應(yīng)的測(cè)量參數(shù)；在多個(gè)上述相位差參數(shù)中包括數(shù)值相同兩個(gè)上述刻度深度參數(shù)的情況下，獲取參考測(cè)井刻度文件替換第五測(cè)井刻度文件或第六測(cè)井刻度文件，其中，兩個(gè)相同的上述刻度深度參數(shù)分別為上述第五測(cè)井刻度文件和上述第六測(cè)井刻度文件對(duì)應(yīng)的測(cè)量參數(shù)。

6、可選地，根據(jù)上述當(dāng)前測(cè)井刻度文件中記錄的測(cè)量數(shù)據(jù)集合，獲取信號(hào)相位差參數(shù)包括：獲取上述當(dāng)前測(cè)井刻度文件中記錄的多組測(cè)量相位差參數(shù)，其中，每組上述測(cè)量相位差參數(shù)中包括對(duì)應(yīng)于多個(gè)時(shí)間戳的測(cè)量相位差參數(shù)；分別獲取每組上述測(cè)量相位差參數(shù)的參數(shù)均值確定為每組上述測(cè)量相位差參數(shù)對(duì)應(yīng)的參考相位差參數(shù)；根據(jù)多個(gè)上述參考相位差參數(shù)的均值作為與上述當(dāng)前測(cè)井刻度文件對(duì)應(yīng)的上述信號(hào)相位差參數(shù)。

7、可選地，根據(jù)多個(gè)上述第一測(cè)量參數(shù)和上述第二測(cè)量參數(shù)建立目標(biāo)校驗(yàn)?zāi)Ｐ椭螅€包括：在上述目標(biāo)校驗(yàn)?zāi)Ｐ椭械哪繕?biāo)模型參數(shù)不滿足預(yù)設(shè)條件的情況下，獲取多個(gè)第一測(cè)量參數(shù)和上述第二測(cè)量參數(shù)分別確定的數(shù)據(jù)點(diǎn)，以及上述目標(biāo)校驗(yàn)?zāi)Ｐ退鶎?duì)應(yīng)的數(shù)值圖像；分別獲取多個(gè)上述數(shù)據(jù)點(diǎn)距離上述目標(biāo)校驗(yàn)?zāi)Ｐ退鶎?duì)應(yīng)的上述數(shù)值圖像的圖像距離；獲取上述圖像距離滿足替換條件的目標(biāo)數(shù)據(jù)點(diǎn)，并獲取參考測(cè)井刻度文件替換上述目標(biāo)數(shù)據(jù)點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的上述測(cè)井刻度文件。

8、可選地，獲取參考測(cè)井刻度文件替換上述目標(biāo)數(shù)據(jù)點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的上述測(cè)井刻度文件之后，還包括：分別獲取上述參考測(cè)井刻度文件和未替換的上述測(cè)井刻度文件中的上述第一測(cè)量參數(shù)和上述第二測(cè)量參數(shù)；根據(jù)多個(gè)上述第一測(cè)量參數(shù)和上述第二測(cè)量參數(shù)對(duì)上述參考測(cè)井刻度文件和未替換的上述測(cè)井刻度文件進(jìn)行校驗(yàn)。

9、根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的另一方面，還提供了一種測(cè)井刻度文件的校驗(yàn)裝置，包括：第一獲取單元，用于獲取待校驗(yàn)的多個(gè)測(cè)井刻度文件，其中，上述測(cè)井刻度文件為目標(biāo)磁壁厚測(cè)井裝置對(duì)待測(cè)油套管多次測(cè)量所分別產(chǎn)生的多個(gè)數(shù)據(jù)文件，上述目標(biāo)磁壁厚測(cè)井裝置用于測(cè)量油套管的套管壁狀態(tài)；第二獲取單元，分別從多個(gè)上述測(cè)井刻度文件中獲取第一測(cè)量參數(shù)和第二測(cè)量參數(shù)，并根據(jù)多個(gè)上述第一測(cè)量參數(shù)和上述第二測(cè)量參數(shù)建立目標(biāo)校驗(yàn)?zāi)Ｐ?；校?yàn)單元，在上述目標(biāo)校驗(yàn)?zāi)Ｐ椭械哪繕?biāo)模型參數(shù)滿足預(yù)設(shè)條件的情況下，確定多個(gè)上述測(cè)井刻度文件為通過(guò)校驗(yàn)，其中，上述目標(biāo)模型參數(shù)用于表征多個(gè)上述第一測(cè)量參數(shù)和上述第二測(cè)量參數(shù)之間的線性相關(guān)度。

10、根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的又一方面，還提供了一種非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)，非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)包括存儲(chǔ)的程序，其中，在程序運(yùn)行時(shí)控制非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)所在設(shè)備執(zhí)行上述中任意一項(xiàng)測(cè)井刻度文件的校驗(yàn)方法。

11、根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的再一方面，還提供了一種計(jì)算機(jī)設(shè)備，計(jì)算機(jī)設(shè)備包括處理器，處理器用于運(yùn)行程序，其中，程序運(yùn)行時(shí)執(zhí)行上述中任意一項(xiàng)測(cè)井刻度文件的校驗(yàn)方法。

12、在本發(fā)明實(shí)施例中，采用測(cè)井刻度文件的校驗(yàn)方法，通過(guò)獲取待校驗(yàn)的多個(gè)測(cè)井刻度文件，其中，上述測(cè)井刻度文件為目標(biāo)磁壁厚測(cè)井裝置對(duì)待測(cè)油套管多次測(cè)量所分別產(chǎn)生的多個(gè)數(shù)據(jù)文件，上述目標(biāo)磁壁厚測(cè)井裝置用于測(cè)量油套管的套管壁狀態(tài)；分別從多個(gè)上述測(cè)井刻度文件中獲取第一測(cè)量參數(shù)和第二測(cè)量參數(shù)，并根據(jù)多個(gè)上述第一測(cè)量參數(shù)和上述第二測(cè)量參數(shù)建立目標(biāo)校驗(yàn)?zāi)Ｐ停辉谏鲜瞿繕?biāo)校驗(yàn)?zāi)Ｐ椭械哪繕?biāo)模型參數(shù)滿足預(yù)設(shè)條件的情況下，確定多個(gè)上述測(cè)井刻度文件為通過(guò)校驗(yàn)，其中，上述目標(biāo)模型參數(shù)用于表征多個(gè)上述第一測(cè)量參數(shù)和上述第二測(cè)量參數(shù)之間的線性相關(guān)度，達(dá)到了高效率對(duì)測(cè)井刻度文件進(jìn)行校驗(yàn)的目的，從而實(shí)現(xiàn)了獲取高質(zhì)量測(cè)井刻度文件的技術(shù)效果，進(jìn)而解決了相關(guān)技術(shù)獲得的測(cè)井刻度文件存在文件質(zhì)量較低的技術(shù)問(wèn)題。