本技術涉及建筑測量，具體是一種適用于預制窗體安裝校核的測量工具。

背景技術：

1、預制窗洞是指在建筑施工過程中，預先制作好的窗戶洞口，是施工人員預留方便后續(xù)安裝窗體的工藝洞口，預制窗洞可以通過模板、模具等方式進行制作，以保障洞口尺寸和位置的準確性。

2、目前，在大部分城市的新建建筑均采用裝配式結構，在預制窗洞上采用對應配合使用的預制窗體構件進行安裝，在預制窗體的安裝過程中施工人員通常是采用卷尺進行現(xiàn)場測量、定位等量位校核，采用激光掃平儀進行勘察垂直度、平整度等形位校核，但采用這些工具在窗側水平定位以及窗側垂直度校核的過程中，施工人員需要反復上下窗臺進行登高測量，窗洞靠近建筑外側且離地較高，存在一定的安全隱患，卷尺尺身校軟，容易造成誤差，而且測量效率較低。

3、針對以上的不足，我們需要研發(fā)一種適用于預制窗體安裝校核的測量工具滿足廣大用戶的使用需求。

技術實現(xiàn)思路

1、針對上述提到現(xiàn)有的預制窗體安裝過程中采用卷尺和激光掃平儀測量窗洞存在安全隱患、容易造成誤差的問題，本實用新型解決其技術問題采用的技術方案是：

2、一種適用于預制窗體安裝校核的測量工具，包括用于輔助測量窗洞數(shù)據(jù)的量位校核組件和形位校核組件，所述形位校核組件安裝在所述量位校核組件的一側，所述量位校核組件和所述形位校核組件的表面分別設有便于輔助校準的刻度線；

3、所述量位校核組件包括測量套件和測量嵌件，所述測量套件開設有供所述測量嵌件伸入的嵌套內(nèi)腔，所述測量嵌件可沿所述測量套件的長度方向在所述嵌套內(nèi)腔內(nèi)往復滑動。

4、進一步地，所述形位校核組件包括用于輔助定位的套件副尺和嵌件副尺，所述套件副尺固定連接在所述測量套件的第一基準面，所述嵌件副尺固定連接在所述測量嵌件靠近所述第一基準面的一側，所述嵌件副尺的長度大于所述套件副尺的長度。

5、進一步地，所述刻度線包括量位刻度線，所述量位刻度線位于所述測量套件的第二基準面，所述第二基準面與所述第一基準面相鄰并相互垂直，所述量位刻度線自所述第二基準面靠近所述第一基準面的一側朝向遠離所述第一基準面的方向延伸。

6、進一步地，所述刻度線包括第一形位刻度線和第二形位刻度線，所述第一形位刻度線位于所述套件副尺的第三基準面，所述套件副尺的中心朝向所述第三基準面的方向與所述測量套件的中心朝向所述第二基準面的方向為相同方向，所述第二形位刻度線位于所述嵌件副尺的第四基準面，所述嵌件副尺的中心朝向所述第四基準面的方向與所述測量套件的中心朝向所述第二基準面的方向為相同方向。

7、進一步地，所述第一形位刻度線自所述第三基準面遠離所述嵌件副尺的一側朝向所述嵌件副尺的方向延伸，所述第二形位刻度線自所述第四基準面靠近所述套件副尺的一側朝向遠離所述套件副尺的方向延伸。

8、進一步地，所述第一形位刻度線的起點設置在所述第三基準面靠近所述第一基準面的一側，所述第二形位刻度線的起點設置在所述第四基準面靠近所述第一基準面的一側。

9、進一步地，所述套件副尺的中軸線垂直于所述第一基準面，所述嵌件副尺的中軸線垂直于所述第一基準面。

10、進一步地，所述套件副尺設有第五基準面，所述第五基準面垂直于所述第一基準面，所述量位刻度線的起點與所述第五基準面處于同一平面上。

11、進一步地，所述刻度線分別沿所述量位校核組件和所述形位校核組件的長度方向均勻間隔排列。

12、進一步地，所述量位校核組件和所述形位校核組件均采用中空薄壁設計的矩型管件拼接而成，所述矩型管件的截面均為矩形。

13、本實用新型的有益效果如下：

14、1、本實用新型的測量工具通過手動操作測量嵌件在嵌套內(nèi)腔滑動實現(xiàn)可相對于測量套件的伸縮動作，配合刻度線使用可以作為替代卷尺的尺寸測量效果，使用形位校核組件配合激光掃平儀結合刻度線勘測形位校核，測量工具有不易彎曲的剛性特質(zhì)，保障測量的準確性，無需施工人員登高測量，方便施工人員使用和攜帶。

15、2、本實用新型采用矩型管件作為拼接測量工具的材料，利用矩型的特質(zhì)限制了測量套件與測量嵌件之間的伸縮滑動不會發(fā)生徑向圓周轉動，在套件副尺和嵌件副尺上設置同向的刻度線，使用激光掃平儀配合套件副尺和嵌件副尺上的刻度線實現(xiàn)勘測形位偏差的效果，能同時測量兩個位置的數(shù)據(jù)，無需施工人員登高測量，方便施工人員使用。

16、3、本實用新型的套件副尺垂直設置在測量套件上，嵌件副尺垂直設置在測量嵌件上，使得測量工具可以利用其連接處的直角拐角勘測預制窗洞的拐角垂直度，無需施工人員登高測量或者出窗勘察，方便施工人員使用。

技術特征：

1.一種適用于預制窗體安裝校核的測量工具，其特征在于：包括用于輔助測量窗洞數(shù)據(jù)的量位校核組件（1200）和形位校核組件（3400），所述形位校核組件（3400）安裝在所述量位校核組件（1200）的一側，所述量位校核組件（1200）和所述形位校核組件（3400）的表面分別設有便于輔助校準的刻度線；

2.根據(jù)權利要求1所述的一種適用于預制窗體安裝校核的測量工具，其特征在于：所述形位校核組件（3400）包括用于輔助定位的套件副尺（3）和嵌件副尺（4），所述套件副尺（3）固定連接在所述測量套件（1）的第一基準面（71），所述嵌件副尺（4）固定連接在所述測量嵌件（2）靠近所述第一基準面（71）的一側，所述嵌件副尺（4）的長度大于所述套件副尺（3）的長度。

3.根據(jù)權利要求2所述的一種適用于預制窗體安裝校核的測量工具，其特征在于：所述刻度線包括量位刻度線（51），所述量位刻度線（51）位于所述測量套件（1）的第二基準面（72），所述第二基準面（72）與所述第一基準面（71）相鄰并相互垂直，所述量位刻度線（51）自所述第二基準面（72）靠近所述第一基準面（71）的一側朝向遠離所述第一基準面（71）的方向延伸。

4.根據(jù)權利要求3所述的一種適用于預制窗體安裝校核的測量工具，其特征在于：所述刻度線包括第一形位刻度線（52）和第二形位刻度線（53），所述第一形位刻度線（52）位于所述套件副尺（3）的第三基準面（73），所述套件副尺（3）的中心朝向所述第三基準面（73）的方向與所述測量套件（1）的中心朝向所述第二基準面（72）的方向為相同方向，所述第二形位刻度線（53）位于所述嵌件副尺（4）的第四基準面（74），所述嵌件副尺（4）的中心朝向所述第四基準面（74）的方向與所述測量套件（1）的中心朝向所述第二基準面（72）的方向為相同方向。

5.根據(jù)權利要求4所述的一種適用于預制窗體安裝校核的測量工具，其特征在于：所述第一形位刻度線（52）自所述第三基準面（73）遠離所述嵌件副尺（4）的一側朝向所述嵌件副尺（4）的方向延伸，所述第二形位刻度線（53）自所述第四基準面（74）靠近所述套件副尺（3）的一側朝向遠離所述套件副尺（3）的方向延伸。

6.根據(jù)權利要求4所述的一種適用于預制窗體安裝校核的測量工具，其特征在于：所述第一形位刻度線（52）的起點設置在所述第三基準面（73）靠近所述第一基準面（71）的一側，所述第二形位刻度線（53）的起點設置在所述第四基準面（74）靠近所述第一基準面（71）的一側。

7.根據(jù)權利要求2所述的一種適用于預制窗體安裝校核的測量工具，其特征在于：所述套件副尺（3）的中軸線垂直于所述第一基準面（71），所述嵌件副尺（4）的中軸線垂直于所述第一基準面（71）。

8.根據(jù)權利要求3所述的一種適用于預制窗體安裝校核的測量工具，其特征在于：所述套件副尺（3）設有第五基準面（75），所述第五基準面（75）垂直于所述第一基準面（71），所述量位刻度線（51）的起點與所述第五基準面（75）處于同一平面上。

9.根據(jù)權利要求1所述的一種適用于預制窗體安裝校核的測量工具，其特征在于：所述刻度線分別沿所述量位校核組件（1200）和所述形位校核組件（3400）的長度方向均勻間隔排列。

10.根據(jù)權利要求1-9任意一項所述的一種適用于預制窗體安裝校核的測量工具，其特征在于：所述量位校核組件（1200）和所述形位校核組件（3400）均采用中空薄壁設計的矩型管件（6）拼接而成，所述矩型管件（6）的截面均為矩形。

技術總結
本技術涉及建筑測量技術領域，具體是一種適用于預制窗體安裝校核的測量工具，包括量位校核組件和形位校核組件，形位校核組件安裝在量位校核組件的一側，量位校核組件和形位校核組件的表面分別設有刻度線，量位校核組件包括測量套件和測量嵌件，測量套件開設有嵌套內(nèi)腔，測量嵌件可沿測量套件的長度方向在嵌套內(nèi)腔內(nèi)往復滑動。本技術的測量工具通過手動操作測量嵌件在嵌套內(nèi)腔滑動實現(xiàn)可相對于測量套件的伸縮動作，配合刻度線使用可以作為替代卷尺的尺寸測量效果，使用形位校核組件配合激光掃平儀結合刻度線勘測形位校核，測量工具有不易彎曲的剛性特質(zhì)，保障測量的準確性，無需施工人員登高測量，方便施工人員使用和攜帶。

技術研發(fā)人員：王林海,蔡志贏,王天鵬,劉石生,林映標,吳衛(wèi),楊新宇,胥志豪
受保護的技術使用者：深圳市建工集團股份有限公司
技術研發(fā)日：20240627
技術公布日：2025/5/19