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一種快速可控制備單一直徑碳納米管的方法

文檔序號:41948674發(fā)布日期:2025-05-16 14:06閱讀:來源:國知局

技術特征:

1.一種快速可控制備單一直徑碳納米管的方法,其特征在于,采用物理沉積方法在單壁碳納米管網(wǎng)絡上可控沉積過渡金屬和碳,通過升溫速率50~1500℃/s快速加熱使金屬納米顆粒在單壁碳納米管上形成超細納米線,后以物理沉積的碳作為固態(tài)碳源,經(jīng)50~1500℃/s快速升溫至高溫1000~2500℃,再以50~1500℃/s降溫使超細金屬納米線作為催化劑,以切線模式形核生長與其徑向尺寸相同的單一直徑碳納米管。

2.按照權利要求1所述的一種快速可控制備單一直徑碳納米管的方法,其特征在于,該方法通過調(diào)控物理沉積中的工藝參數(shù),結(jié)合快速加熱過程中升溫速率和最高加熱溫度的調(diào)節(jié),實現(xiàn)超細金屬納米線的直徑和所生長碳納米管的直徑及管壁數(shù)的調(diào)控,獲得不同直徑的碳納米管;在調(diào)節(jié)快速加熱的升溫速率、最高溫度、過渡金屬與碳的相互作用下,使碳納米管直徑尺寸在2~15nm、管壁數(shù)在1~20層范圍內(nèi)可調(diào)。

3.按照權利要求2所述的一種快速可控制備單一直徑碳納米管的方法,其特征在于,通過調(diào)控物理沉積過程中過渡金屬的沉積量和快速加熱的最高溫度來調(diào)控超細金屬納米線的徑向尺寸,實現(xiàn)碳納米管的直徑在2~15nm范圍內(nèi)可調(diào);其中,調(diào)控物理沉積過程中過渡金屬沉積量的工藝參數(shù)為:沉積功率2~50w和沉積時間50~500s。

4.按照權利要求2所述的一種快速可控制備單一直徑碳納米管的方法,其特征在于,物理沉積方法為離子束濺射、磁控濺射或熱蒸發(fā),物理沉積的過渡金屬與碳不能形成穩(wěn)定化合物,且具有高熔點,過渡金屬為ru、rh、nb、mo、w、re或ta,其在碳納米管的管間限域誘導作用下,形成超細金屬納米線,其直徑為2~15nm,長徑比為1.5~10。

5.按照權利要求2或4所述的一種快速可控制備單一直徑碳納米管的方法,其特征在于,通過選擇不同溶碳能力的過渡金屬、調(diào)控碳的沉積量和快速加熱的速率來調(diào)控生長碳納米管的管壁數(shù)在1~20層范圍內(nèi)可調(diào);其中,調(diào)控碳沉積量的工藝參數(shù)為:沉積功率5~60w和沉積時間200~5000s。

6.按照權利要求1所述的一種快速可控制備單一直徑碳納米管的方法,其特征在于,所使用單壁碳納米管網(wǎng)絡為高質(zhì)量(ig/id>120)單壁碳納米管網(wǎng)絡,該網(wǎng)絡誘導金屬形成超細納米線,在沉積過渡金屬和碳及后續(xù)快速高溫加熱后能保持自支撐結(jié)構。

7.按照權利要求1所述的一種快速可控制備單一直徑碳納米管的方法,其特征在于,該方法在1~10秒內(nèi)實現(xiàn)管壁數(shù)和直徑可控單一直徑碳納米管的快速制備,碳納米管的生長時間為1~10s,獲得長徑比在3~103范圍內(nèi)可調(diào)的碳納米管。

8.按照權利要求1所述的一種快速可控制備單一直徑碳納米管的方法,其特征在于,該方法使用不同金屬做催化劑,并通過調(diào)控沉積金屬的量、快速升降溫速率、最高加熱溫度,實現(xiàn)單一直徑單壁碳納米管的可控制備,在此基礎上進一步通過結(jié)合氣相刻蝕提高單一直徑碳納米管的結(jié)構均一性,選擇性生長單一導電屬性/手性的單壁碳納米管。

9.按照權利要求8所述的一種快速可控制備單一直徑碳納米管的方法,其特征在于,氣相刻蝕引入具有合適化學反應活性的刻蝕性氣體,包括nh3、co2、no2、h2o或so3,選擇性去除化學反應活性高的金屬性碳納米管,獲得單一帶隙的半導體性單壁碳納米管或單一手性的單壁碳納米管。


技術總結(jié)
本發(fā)明涉及納米碳材料的可控制備領域,具體為一種快速可控制備單一直徑碳納米管的方法。采用物理沉積方法在單壁碳納米管網(wǎng)絡上可控沉積過渡金屬和碳,通過升溫速率50~1500℃/s快速加熱使金屬納米顆粒在單壁碳納米管上形成超細納米線,后以物理沉積的碳作為固態(tài)碳源,經(jīng)50~1500℃/s快速升溫至高溫1000~2500℃,再以50~1500℃/s降溫使超細金屬納米線作為催化劑,以切線模式形核生長與其徑向尺寸相同的單一直徑碳納米管。該方法在1~10s內(nèi)完成單一直徑碳納米管的可控高效制備,并可結(jié)合選擇性刻蝕制備具有單一導電屬性/手性的單壁碳納米管,在藥物輸運、納電子器件等領域具有廣闊的應用前景。

技術研發(fā)人員:張峰,李康,劉暢,成會明
受保護的技術使用者:中國科學院金屬研究所
技術研發(fā)日:
技術公布日:2025/5/15
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