本技術(shù)涉及電子，尤其涉及一種壓降采集電路、功率器件驅(qū)動電路及電子設(shè)備。

背景技術(shù)：

1、目前，針對功率器件的導(dǎo)通壓降參數(shù)的測量，通常依賴于外接的參數(shù)測試平臺。即通過將功率器件外接參數(shù)測試平臺，以利用參數(shù)測試平臺模擬功率器件的各種工作場景，從而測試得到功率器件在各種情況下的導(dǎo)通壓降參數(shù)。因而，無法滿足在電力電子設(shè)備的實際工作過程中，實時監(jiān)控功率器件的導(dǎo)通壓降的需求，存在無法實時基于功率器件的導(dǎo)通壓降，獲取功率器件的工作狀態(tài)的問題。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本技術(shù)實施例提供一種壓降采集電路、功率器件驅(qū)動電路及電子設(shè)備，可以實現(xiàn)對功率器件的導(dǎo)通壓降的實時監(jiān)控，進(jìn)而可以基于功率器件的導(dǎo)通壓降實時得到功率器件的工作狀態(tài)。

2、第一方面，本技術(shù)實施例提供一種壓降采集電路，適于采集功率器件的導(dǎo)通壓降，包括；

3、目標(biāo)器件，為驅(qū)動芯片退飽和保護(hù)通路上的器件；

4、電壓采樣單元，與所述目標(biāo)器件的第一節(jié)點和第二節(jié)點連接，所述目標(biāo)器件的第一節(jié)點或第二節(jié)點適于連接功率器件；

5、所述電壓采樣單元用于采集所述第一節(jié)點和所述第二節(jié)點的節(jié)點電壓，并將所述節(jié)點電壓轉(zhuǎn)換為所述功率器件的導(dǎo)通壓降，輸出所述導(dǎo)通壓降。

6、可選地，所述目標(biāo)器件包括目標(biāo)高壓二極管，所述第一節(jié)點和所述第二節(jié)點分別為所述目標(biāo)高壓二極管的輸入端和輸出端，所述目標(biāo)高壓二極管的輸出端適于連接功率器件。

7、可選地，所述目標(biāo)高壓二極管包括：第一高壓二極管和第二高壓二極管，所述第二高壓二級管的輸入端與所述第一高壓二級管的輸出端連接，所述第二高壓二級管的輸出端適于與所述功率器件連接；所述第一高壓二級管的輸入端適于與驅(qū)動芯片連接。

8、可選地，所述電壓采樣單元包括運算放大器；所述運算放大器的兩個輸入端分別與所述第一節(jié)點和所述第二節(jié)點連接，所述運算放大器的輸出端與一個輸入端連接，所述運算放大器用于采集所述第一節(jié)點和所述第二節(jié)點的節(jié)點電壓，并根據(jù)所述節(jié)點電壓轉(zhuǎn)換得到所述功率器件的導(dǎo)通壓降，輸出所述導(dǎo)通壓降。

9、可選地，所述電壓采樣單元還包括：第一電阻；所述運算放大器的反相輸入端通過所述第一電阻與所述第一節(jié)點連接。

10、可選地，所述電壓采樣單元還包括：第二電阻；所述第二電阻的一端連接于所述第一電阻和所述反相輸入端之間，所述第二電阻的另一端與所述運算放大器的輸出端連接。

11、可選地，所述壓降采集電路包括：鉗位單元；所述鉗位單元與所述第一節(jié)點和所述第二節(jié)點中的至少一個目標(biāo)節(jié)點連接，用于將所述目標(biāo)節(jié)點的節(jié)點電壓鉗位至目標(biāo)電壓范圍。

12、可選地，所述鉗位單元，包括：鉗位組件；所述鉗位組件的兩端分別與所述第一節(jié)點和所述第二節(jié)點連接。

13、可選地，所述鉗位組件包括：第一二極管；所述第一二極管的輸入端和輸出端分別與所述第二節(jié)點和所述第一節(jié)點連接。

14、可選地，所述鉗位單元還包括：濾波組件；所述鉗位組件的輸入端通過所述濾波組件與所述第一節(jié)點連接，或者，所述鉗位組件的輸出端通過所述濾波組件與所述第一節(jié)點連接；所述濾波組件用于對輸入所述電壓采樣單元的信號進(jìn)行濾波處理。

15、可選地，所述濾波組件包括第一電容和第三電阻；所述第一電容和所述第三電阻并聯(lián)。

16、可選地，所述鉗位單元，包括：穩(wěn)壓管和第二二極管；所述穩(wěn)壓管的一端與高壓節(jié)點連接，所述穩(wěn)壓管的另一端通過所述第二二極管接地，所述高壓節(jié)點為所述第一節(jié)點和所述第二節(jié)點中更靠近所述功率器件的節(jié)點。

17、可選地，所述壓降采集電路還包括：過沖抑制電路；所述過沖抑制電路與高壓節(jié)點和所述運算放大器的目標(biāo)輸入端連接，用于抑制向所述目標(biāo)輸入端傳輸?shù)乃龈邏汗?jié)點的電壓，所述高壓節(jié)點為所述第一節(jié)點和所述第二節(jié)點中更靠近所述功率器件的節(jié)點。

18、可選地，所述過沖抑制電路包括：第二電容和第四電阻；所述第四電阻的一端與所述高壓節(jié)點連接，所述第四電阻的另一端與所述目標(biāo)輸入端和所述第二電容的一端連接，所述第二電容的另一端接地。

19、可選地，所述過沖抑制電路還包括：第三電容；所述第三電容的一端與低壓節(jié)點連接，所述第三電容的另一端與所述第四電阻、所述目標(biāo)輸入端和所述第二電容之間的連接通路連接，所述低壓節(jié)點為所述第一節(jié)點和所述第二節(jié)點中更遠(yuǎn)離所述功率器件的節(jié)點。

20、可選地，所述壓降采集電路還包括：隔離單元；所述隔離單元與所述電壓采樣單元連接，用于接收所述電壓采樣單元的所述導(dǎo)通壓降，并隔離輸出所述導(dǎo)通壓降。

21、第二方面，提供一種功率器件驅(qū)動電路，包括功率器件和第一方面任一所述的壓降采集電路，所述功率器件與所述目標(biāo)器件連接，驅(qū)動芯片退飽和保護(hù)通路包括所述目標(biāo)器件，通過所述驅(qū)動芯片退飽和保護(hù)通路得到的檢測電壓，用于檢測是否觸發(fā)所述功率器件的過流保護(hù)。

22、可選地，所述功率器件驅(qū)動電路還包括：驅(qū)動芯片，所述驅(qū)動芯片與所述驅(qū)動芯片退飽和保護(hù)通路連接，用于接收所述檢測電壓，并在根據(jù)所述檢測電壓確定未觸發(fā)過流保護(hù)的情況下驅(qū)動所述功率器件

23、可選地，所述驅(qū)動芯片退飽和保護(hù)通路還包括：第四電容；所述第四電容的一端與所述驅(qū)動芯片和所述驅(qū)動芯片退飽和保護(hù)通路連接，所述第四電容的另一端接地。

24、可選地，所述壓降采集電路還包括：恒流供電單元；所述恒流供電單元與所述驅(qū)動芯片和低壓節(jié)點之間的連接通路連接，用于向所述第四電容供電，以加快所述第四電容的充電速度，所述低壓節(jié)點為所述第一節(jié)點和所述第二節(jié)點中更遠(yuǎn)離所述功率器件的節(jié)點。

25、可選地，所述驅(qū)動芯片包括隔離單元；所述壓降采集電路的隔離單元為所述驅(qū)動芯片中的隔離單元。

26、第三方面，提供一種電子設(shè)備，所述電子設(shè)備包括功率器件，以及第二方面任一所述的功率器件驅(qū)動電路。

27、本技術(shù)具備如下優(yōu)點：

28、本技術(shù)實施例中，適于采集功率器件的導(dǎo)通壓降的壓降采集電路包括：驅(qū)動芯片退飽和保護(hù)通路上的目標(biāo)器件，以及電壓采樣單元。其中，電壓采樣單元與目標(biāo)器件的第一節(jié)點和第二節(jié)點連接，目標(biāo)器件的第一節(jié)點或第二節(jié)點適于連接功率器件。該技術(shù)方案中，驅(qū)動芯片退飽和保護(hù)通路上的檢測電壓與功率器件的導(dǎo)通壓降具有特定的轉(zhuǎn)換關(guān)系，其用以判斷是否觸發(fā)功率器件的過流保護(hù)。因而，可以通過復(fù)用驅(qū)動芯片退飽和保護(hù)通路，以使壓降采集電路的電壓采樣單元，可以在不影響功率器件正常工作的情況下，通過采集驅(qū)動芯片退飽和保護(hù)通路上目標(biāo)器件的第一節(jié)點和所述第二節(jié)點的節(jié)點電壓，以根據(jù)節(jié)點電壓轉(zhuǎn)換得到功率器件的導(dǎo)通壓降，實現(xiàn)對功率器件的導(dǎo)通壓降的采集。并且，由于驅(qū)動芯片退飽和保護(hù)通路屬于功率器件的常態(tài)工作電路。因此，電壓采樣單元可以實時采集到驅(qū)動芯片退飽和保護(hù)通路上的節(jié)點電壓，用以轉(zhuǎn)換得到功率器件的導(dǎo)通壓降，實現(xiàn)對功率器件的導(dǎo)通壓降的實時監(jiān)控，進(jìn)而可以基于功率器件的導(dǎo)通壓降實時得到功率器件的工作狀態(tài)。

29、上述說明僅是本技術(shù)技術(shù)方案的概述，為了能夠更清楚了解本技術(shù)的技術(shù)手段，而可依照說明書的內(nèi)容予以實施，并且為了讓本技術(shù)的上述和其它目的、特征和優(yōu)點能夠更明顯易懂，以下特舉本技術(shù)的具體實施方式。