本申請涉及存儲,具體涉及一種相變存儲器及電子設(shè)備。
背景技術(shù):
1、在相變存儲技術(shù)中,由于讀取電壓足以打開處于置位狀態(tài)的存儲單元,且打開瞬間存儲單元會流過大電流,多次的讀取操作會導(dǎo)致存儲單元的自身狀態(tài)逐漸變化,最終會導(dǎo)致存儲單元的存儲狀態(tài)改變,這種情況即認(rèn)為存儲單元發(fā)生了讀取干擾。
2、這種讀取干擾會影響到數(shù)據(jù)存儲的正確性,從而影響到相變存儲器的工作可靠性。
技術(shù)實現(xiàn)思路
1、本申請?zhí)峁┮环N相變存儲器及電子設(shè)備,以緩解讀取干擾較大的技術(shù)問題。
2、第一方面,本申請?zhí)峁┮环N相變存儲器,該相變存儲器包括比較器、第二開關(guān)、第三開關(guān)、依次連接的存儲電路、選中數(shù)字線、第一開關(guān)以及未選中數(shù)字線;比較器的第一輸入端與選中數(shù)字線連接,比較器的第二輸入端與未選中數(shù)字線連接,比較器的輸出端被配置為讀出存儲電路中的數(shù)據(jù);第二開關(guān)的第一端與選中數(shù)字線連接,第二開關(guān)的第二端接入第一負(fù)電壓;第三開關(guān)的第一端與選中數(shù)字線連接,第三開關(guān)的第二端接入第二負(fù)電壓,第三開關(guān)被配置為通過第一開關(guān)在讀取操作中設(shè)置未選中數(shù)字線的基準(zhǔn)電壓,基準(zhǔn)電壓與第二負(fù)電壓正相關(guān),第二負(fù)電壓小于第一負(fù)電壓。
3、第二方面,本申請?zhí)峁┮环N電子設(shè)備,該電子設(shè)備包括上述的相變存儲器。
4、本申請?zhí)峁┑南嘧兇鎯ζ骷半娮釉O(shè)備,通過第一開關(guān)和第三開關(guān)在讀取操作中設(shè)置未選中數(shù)字線的基準(zhǔn)電壓,基準(zhǔn)電壓與第二負(fù)電壓正相關(guān),第二負(fù)電壓小于第一負(fù)電壓,相較于基準(zhǔn)電壓與第一負(fù)電壓正相關(guān),可以產(chǎn)生更低的基準(zhǔn)電壓,從而減小了打開瞬間流過存儲單元的過沖電流,進(jìn)而降低了存儲單元所受到的讀取干擾。
5、隨著更低的基準(zhǔn)電壓的使用,也放寬了對存儲單元的閾值電壓和保持電壓這兩項工藝參數(shù)的要求,從而使得存儲單元的閾值電壓和保持電壓具有更寬的可選范圍,這可以在保證能夠從存儲單元中讀出正確數(shù)據(jù)的情況下,降低了對存儲單元的工藝要求。
1.一種相變存儲器,其特征在于,所述相變存儲器包括:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的相變存儲器,其特征在于,在所述讀取操作中,
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的相變存儲器,其特征在于,在所述讀取操作中,
4.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一項所述的相變存儲器,其特征在于,所述相變存儲器還包括:
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的相變存儲器,其特征在于,所述存儲電路包括依次連接的字線、存儲單元、位線、第一選通晶體管、局部位線以及第二選通晶體管,所述第二選通晶體管與所述選中數(shù)字線連接;
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的相變存儲器,其特征在于,在所述讀取操作中,所述第三開關(guān)的導(dǎo)通時段位于所述第一選通晶體管的兩個導(dǎo)通時段之間。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的相變存儲器,其特征在于,在所述讀取操作中,所述第二開關(guān)的導(dǎo)通時段、所述第三開關(guān)的導(dǎo)通時段均位于所述第一選通晶體管的兩個導(dǎo)通時段之間。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的相變存儲器,其特征在于,在所述讀取操作中,所述第三開關(guān)處于導(dǎo)通狀態(tài)時,所述第二選通晶體管處于導(dǎo)通狀態(tài),所述第一選通晶體管、所述第一開關(guān)、所述第二開關(guān)、所述第一初始化開關(guān)以及所述第二初始化開關(guān)均處于斷開狀態(tài)。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的相變存儲器,其特征在于,所述相變存儲器還包括:
10.一種電子設(shè)備,其特征在于,所述電子設(shè)備包括如權(quán)利要求1-9任一項所述的相變存儲器。