技術(shù)特征：

1.一種c和x頻段的雙頻透波結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述雙頻透波結(jié)構(gòu)由水平面重復的基本單元結(jié)構(gòu)構(gòu)成；

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種c和x頻段的雙頻透波結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述第一層基底結(jié)構(gòu)、第二層基底結(jié)構(gòu)和第三層基底結(jié)構(gòu)的材質(zhì)為fr4環(huán)氧玻璃布層壓板。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種c和x頻段的雙頻透波結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述第一層金屬圖案結(jié)構(gòu)、第二層金屬圖案結(jié)構(gòu)、第三層金屬圖案結(jié)構(gòu)及第四層金屬圖案結(jié)構(gòu)的材質(zhì)為金屬銅。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種c和x頻段的雙頻透波結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述雙頻透波結(jié)構(gòu)通過調(diào)節(jié)結(jié)構(gòu)參數(shù)實現(xiàn)性能調(diào)控；

5.如權(quán)利要求1所述的一種c和x頻段的雙頻透波結(jié)構(gòu)的設(shè)計方法，其特征在于，所述設(shè)計方法包括如下步驟：

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的設(shè)計方法，其特征在于，所述帶通主單元諧振結(jié)構(gòu)包括第二層金屬圖案結(jié)構(gòu)和第三層金屬圖案結(jié)構(gòu)；所述雙頻段諧振結(jié)構(gòu)包括第一層金屬圖案結(jié)構(gòu)和第四層金屬圖案結(jié)構(gòu)。

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的設(shè)計方法，其特征在于，步驟s2中，所述按雙頻透波結(jié)構(gòu)的單元結(jié)構(gòu)從內(nèi)向外進行電磁模型仿真，具體為：

8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的設(shè)計方法，其特征在于，所述三維電磁場仿真軟件包括cst軟件、ansys軟件及feko軟件。

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種C和X頻段的雙頻透波結(jié)構(gòu)及其設(shè)計方法，本發(fā)明的雙頻透波結(jié)構(gòu)，基于頻率選擇表面(Frequency?Selective?Surface，F(xiàn)SS)對電磁波的散射機理，通過對圖案結(jié)構(gòu)、結(jié)構(gòu)層數(shù)以及圖案位置等設(shè)計得到，具有雙通帶特性，整體透波頻寬大，且?guī)?nèi)損耗較低，能夠有效解決現(xiàn)有雙頻透波結(jié)構(gòu)難以同時兼顧寬頻吸波和帶內(nèi)寬帶透波問題；并且本發(fā)明的雙頻透波結(jié)構(gòu)可以根據(jù)具體使用環(huán)境進行結(jié)構(gòu)適應(yīng)設(shè)計，選擇不同結(jié)構(gòu)參數(shù)可以使本發(fā)明適用于不同頻段的使用場景，為需要雙頻段透波且對透波率要求較高的天線、雷達等系統(tǒng)提供了研究基礎(chǔ)。

技術(shù)研發(fā)人員：陳亮,姬媛
受保護的技術(shù)使用者：廣電計量檢測（成都）有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/5/19