專利名稱：一種用于鍺晶體平面電阻率測量的固定裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型屬于材料測試設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種用于鍺晶體平面電阻率測量的固定裝置。
背景技術(shù)：
鍺晶體電阻率的測試一般都有嚴(yán)格的溫度要求，測試前需將晶體置于恒溫環(huán)
境內(nèi)進(jìn)行恒定，待晶體溫度在23。C (士0.5。C)時(shí)進(jìn)行測試。
晶體的頭部呈圓錐形，錐角隨著實(shí)際的晶體拉制需要而變化，還經(jīng)常有不對稱的情況發(fā)生，并且晶體的尺寸也不固定，晶體的尾部也因?yàn)樵诶七^程結(jié)束后，由于提斷會粘連一部分液體，液體在晶體上凝固過程中，在重力的作用下，會在晶體尾部中心附近形成一個(gè)尖狀突起，這樣使晶體頭部和尾部在測量電阻率時(shí)難以固定，用手把持會改變晶體溫度而影響測試精度。發(fā)明內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的是提供一種用于鍺晶體平面電阻率測量的固定裝置。一種用于鍺晶體平面電阻率測量的固定裝置，其特征在于，導(dǎo)軌2固定在底座1上，軸承3安裝在導(dǎo)軌2上，且沿導(dǎo)軌2滑動，底板4固定在軸承3上，設(shè)置4個(gè)立臂6，立臂6通過壓環(huán)5固定在底板4上，立臂6在底板4上沿壓環(huán)5旋轉(zhuǎn)，每個(gè)立臂上端都有橫臂7，橫臂7自由移動，且由上蓋8固定在立臂6上，橫臂7的前端設(shè)置觸頭9，觸頭9通過緊固螺絲10固定在橫臂7的前端，觸頭9帶有傾角，觸頭9上固定膠皮墊，探針11沿底座1的豎直桿上下移動。所述觸頭9帶有傾角為45。。所述觸頭9在觸頭9斜面與豎直向下方向呈15 90°角度內(nèi)自由擺動。
本實(shí)用新型的有益效果為本實(shí)用新型可使晶體頭尾可安全地固定住，提高測試精度，降低探針的損耗程度，適用于不同尺寸的鍺晶體頭尾的固定，可固定
直徑大于10mm的任何錐角的晶體頭尾，操作簡單，方便實(shí)用，測試精度高，固
定后的晶體可隨意移動、轉(zhuǎn)動，便于測量。


圖1是本實(shí)用新型測量裝置的示意圖中標(biāo)號l-底座；2-導(dǎo)軌；3-軸承；4-底板；5-壓環(huán)；6-立臂；7-橫臂；8-上蓋；9-觸頭；10-緊固螺絲；11-探針。
具體實(shí)施方式

以下結(jié)合附圖對本實(shí)用新型作進(jìn)一步說明， 一種用于鍺晶體平面電阻率測量的固定裝置，示意圖如圖l所示，導(dǎo)軌2通過螺絲固定在底座1上，軸承3安裝在導(dǎo)軌2上，且沿導(dǎo)軌2滑動，底板4固定在軸承3上，設(shè)置4個(gè)立臂6，立臂6通過壓環(huán)5固定在底板4上，立臂6在底板4上沿壓環(huán)5旋轉(zhuǎn)，每個(gè)立臂上端都有橫臂7，橫臂7自由移動，且由上蓋8固定在立臂6上，橫臂7的前端設(shè)置觸頭9,觸頭9通過緊固螺絲10固定在橫臂7的前端，觸頭9帶有傾角，傾角為45°，觸頭9在觸頭9斜面與豎直向下方向呈15 90。角度內(nèi)自由擺動，觸頭9上固定膠皮墊，來達(dá)到緊固晶體的作用，探針ll在底座l的豎直桿上上下移動。
使用時(shí)，當(dāng)固定晶體頭部的時(shí)候，推動橫臂使橫臂處在合適的位置后固定，松開觸頭的緊固螺絲，讓觸頭處于自由狀態(tài)，將晶體頭部向下，倒置放在觸頭的膠皮墊上，觸頭就會自動按照晶體頭部錐角的角度來調(diào)整方向，使頭部錐面與觸頭的膠皮墊緊密接觸，便達(dá)到了固定晶體頭部的目的。當(dāng)固定晶體尾部的時(shí)候，讓四個(gè)觸頭的膠皮墊平面都調(diào)到水平位置，固定，將晶體尾放在上表面即可。
權(quán)利要求1、一種用于鍺晶體平面電阻率測量的固定裝置，其特征在于，導(dǎo)軌(2)固定在底座(1)上，軸承(3)安裝在導(dǎo)軌(2)上，且沿導(dǎo)軌(2)滑動，底板(4)固定在軸承(3)上，設(shè)置4個(gè)立臂(6)，立臂(6)通過壓環(huán)(5)固定在底板(4)上，立臂(6)在底板(4)上沿壓環(huán)(5)旋轉(zhuǎn)，每個(gè)立臂上端都有橫臂(7)，橫臂(7)自由移動，且由上蓋(8)固定在立臂(6)上，橫臂(7)的前端設(shè)置觸頭(9)，觸頭(9)通過緊固螺絲(10)固定在橫臂(7)的前端，觸頭(9)帶有傾角，觸頭(9)上固定膠皮墊，探針(11)在底座(1)的豎直桿上上下移動。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于鍺晶體平面電阻率測量的同定裝置，其 特征在于，所述觸頭(9)帶有傾角為45。。
3、 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種用于鍺晶體平面電阻率測量的固定裝置， 其特征在于，所述觸頭(9)在觸頭(9)斜面與豎直向下方向呈15 90°角度內(nèi) 自由擺動。
專利摘要本實(shí)用新型公開了屬于材料測試設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域的一種用于鍺晶體平面電阻率測量的固定裝置。導(dǎo)軌固定在底座上，軸承安裝在導(dǎo)軌上，且沿導(dǎo)軌滑動，底板固定在軸承上，設(shè)置4個(gè)立臂，立臂通過壓環(huán)固定在底板上，立臂在底板上沿壓環(huán)旋轉(zhuǎn)，每個(gè)立臂上端都有橫臂，橫臂自由移動，且由上蓋固定在立臂上，橫臂的前端設(shè)置觸頭，觸頭帶有傾角，觸頭上固定膠皮墊，探針在底座的豎直桿上上下移動。本實(shí)用新型可使晶體頭尾可安全地固定住，提高測試精度，降低探針的損耗程度，適用于不同尺寸的鍺晶體頭尾的固定，可固定直徑大于10mm的任何錐角的晶體頭尾，操作簡單，方便實(shí)用，測試精度高，固定后的晶體可隨意移動、轉(zhuǎn)動，便于測量。
文檔編號G01R27/02GK201302593SQ200820124149
公開日2009年9月2日 申請日期2008年11月25日 優(yōu)先權(quán)日2008年11月25日
發(fā)明者馮譽(yù)耀, 海 楊, 鵬 楊, 王學(xué)武 申請人:北京有色金屬研究總院;北京國晶輝紅外光學(xué)科技有限公司